Title:
A noise figure measuring method, a noise figure measuring device, and a measurement system
Document Type and Number:
Japanese Patent JP6039744
Kind Code:
B1
Abstract:
【課題】光増幅器位相感応光増幅器の雑音指数を高精度に測定する。【解決手段】本発明に係る雑音指数測定方法は、光増幅器位相感応光増幅器に入力する入力光を光電変換して得られた電力に基づいて測定された入力光の相対強度雑音（ＲＩＮｉｎ）と、光増幅器位相感応光増幅器によって増幅された増幅光を光電変換して得られた電力に基づいて測定された増幅光の相対強度雑音（ＲＩＮｔｏｔａｌ）とに基づいて、光増幅器位相感応光増幅器における自然放出光に基づく雑音と自然放出光以外の要因に基づく過剰雑音とを含む光増幅器位相感応光増幅器の雑音指数（ＮＦ）を算出することを特徴とする。【選択図】図１
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Inventors:
圓佛 晃次
Hirotaka Ono
Hirokazu Takenouchi
Osamu Tadanaga
Akio Tokura
Takeshi Umeki
Kazama Takushi
Hirotaka Ono
Hirokazu Takenouchi
Osamu Tadanaga
Akio Tokura
Takeshi Umeki
Kazama Takushi
Application Number:
JP2015101173A
Publication Date:
December 07, 2016
Filing Date:
May 18, 2015
Export Citation:
Assignee:
Nippon Telegraph and Telephone Corporation
International Classes:
G02F1/39; G01J9/00; G01M11/00
Domestic Patent References:
| JP9214035A |
Foreign References:
| WO2012098911A1 |
Other References:
M. Asobe, et al.,Phase sensitive amplification with noise figure below the 3 dB quantum limit using CW pumped PPLN waveguide,Optics Express,2012年 6月 4日,Vol.20, No.12,pp.13164-13172
Attorney, Agent or Firm:
Masaki Yamakawa
Shigeki Yamakawa
Yuzo Koike
Shigeki Yamakawa
Yuzo Koike