Title:
光学特性計測装置および方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP5041508
Kind Code:
B2
Inventors:
Shigetoshi Maekawa
Yukitoshi Otani
Wakayama Toshitaka
Yukitoshi Otani
Wakayama Toshitaka
Application Number:
JP2006116844A
Publication Date:
October 03, 2012
Filing Date:
April 20, 2006
Export Citation:
Assignee:
TORAY INDUSTRIES,INC.
International Classes:
G01J4/04; G01M11/00; G01N21/21
Domestic Patent References:
| JP2005241406A | ||||
| JP2103427A |
Other References:
2003年(平成15年)秋季 第64回応用物理学会学術講演会講演予稿集 第3分冊,(社)応用物理学会,2003年 8月30日,p.893
Attorney, Agent or Firm:
Toshimitsu Ban