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Title:
スペクトラム符号化に基づく高い消光比特性を有する偏光顕微鏡
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2016521866
Kind Code:
A
Abstract:
【解決手段】スペクトル符号化された細胞の偏光状態を利用する偏光顕顕微鏡に関する発明。このスペクトル符号化に基づく偏光顕微鏡は、細胞撮像に十分高速であり、分子構造や分子集団の撮像を必要とする高い消光比特性を有する光学と互換性がある。符号化された偏光顕微鏡は、観察する細胞複屈折のヌル測定値を可能にすると同時に、試料にあてられた偏光状態がポアンカレ球全体における個々の分離した状態をサンプルすることができる。ポアンカレ球全体のサンプリングは、顕微鏡に直線そして円形複屈折により生じる試料の位相差の判別を可能にする。スペクトル符号化に基づく偏光顕微鏡はわずかにヌル状態でない状態でも作動可能であり、信号対雑音比を向上させる。【選択図】図1

Inventors:
Martin Poeni
Milner, Thomas
Inn, Beway
Application Number:
JP2016518063A
Publication Date:
July 25, 2016
Filing Date:
June 09, 2014
Export Citation:
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Assignee:
BOARD OF REGENTS, THE UNIVERSITY OF TEXAS SYSTEM
International Classes:
G02B21/00; G01J4/04; G01N21/21; G01N21/27; G02B5/30
Domestic Patent References:
JPH09297004A1997-11-18
JPH05232384A1993-09-10
JP2004279365A2004-10-07
JPH1020198A1998-01-23
JP2005017282A2005-01-20
JPH03287104A1991-12-17
JP2009533693A2009-09-17
JP2008541058A2008-11-20
JP2007513342A2007-05-24
Attorney, Agent or Firm:
Maruyama International Patent Office