Title:
アクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験方法及び装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2015527762
Kind Code:
A
Abstract:
アクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験方法及び装置であって、該方法は、被試験アクティブアンテナシステムを試験カバー内に設置して無線周波数インデックスの試験を行い、そのうち前記試験カバーはアンテナアレイ部分及び受動ネットワーク部分を含み、前記アンテナアレイ部分は前記被試験アクティブアンテナシステムのアンテナ給電部分と同一であり、前記試験方法は、試験カバー単体校正、近接場結合校正及び無線周波数インデックス試験を含む。上記アクティブアンテナシステム無線周波数インデックスの試験方法及び装置は、付加的な試験インターフェースを増加する必要がない場合には、直接で、有効的にアクティブアンテナシステムの無線周波数インデックスを測定することができる。【選択図】図１
Inventors:
One, Bomin
Lee, Shanlin
Khao, Chang Jiang
Han, Shanchi
Lee, Shanlin
Khao, Chang Jiang
Han, Shanchi
Application Number:
JP2015515387A
Publication Date:
September 17, 2015
Filing Date:
July 24, 2013
Export Citation:
Assignee:
ZTE CORPORATION
International Classes:
H04B17/12; G01R29/10; H01Q3/26; H01Q17/00; H01Q21/06; H04B17/21
Domestic Patent References:
| JPS62237365A | 1987-10-17 | |||
| JP2005017241A | 2005-01-20 | |||
| JPS61172408A | 1986-08-04 |
Foreign References:
| WO2010131409A1 | 2010-11-18 | |||
| WO2007112546A1 | 2007-10-11 |
Attorney, Agent or Firm:
Yusuke Hiraki
Sekiya Mitsuo
Hidekazu Matsumaru
Sekiya Mitsuo
Hidekazu Matsumaru