Title:
A test probe, a test-probe assembly, and a test platform
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2016520835
Kind Code:
A
Abstract:
本発明は、テストプローブ、テストプローブアセンブリ及びテストプラットフォームを開示する。該テストプローブは、プローブ本体３０１を備え、コンタクトフィンガー４０と挿嵌するため、プローブ本体３０１の一端を中空に設計する。当該設計を基づいて、現時点のプローブが組み立てにくい、スルーホールの加工に対する要求が高い、且つ電気的に不安定になるという技術的課題を解決できる。【選択図】図８
Inventors:
Liao Lin
Application Number:
JP2016515631A
Publication Date:
July 14, 2016
Filing Date:
May 27, 2014
Export Citation:
Assignee:
Shenzhen City Technology Co., Ltd.
International Classes:
G01R1/067; G01R1/073; H01R13/24
Domestic Patent References:
| JPS6039973U | 1985-03-20 |
Foreign References:
| WO2001088557A1 | 2001-11-22 |
Attorney, Agent or Firm:
Etsushi Kotani
Masataka Otani
Fukuyama Higashinari
Masataka Otani
Fukuyama Higashinari