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Patent Searching and Data


Title:
ACOUSTIC MICROSCOPE
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/1995/003531
Kind Code:
A1
Abstract:
An acoustic microscope allows both the topography and the elasticity properties of a sample (11) to be measured at the same time. For that purpose, the deviation of a measurement point (1) is measured by the deflection of a laser beam (22). In order to measure the topography, the mean deviation of the measurement point (1) is held constant by a regulation circuit. The regulation circuit consists of a segmented photodiode (24) which supplies a neutral signal to the output of a standardising amplifier (29) when the deviation of the measurement point (1) is an average deviation. Deviations from the neutral signal may be compensated by a z-electrode (8) of a piezoelectric crystal. The elasticity properties of the sample (11) may be measured by coupling ultra-sound into the sample (11) by means of a transmission head (9) and the high-frequency deviation of the measurement point (1) may be detected by a second detection device that consists of a shadowing device (36) and of a rapid photodiode (37). The second detection device may also consist of a heterodyne propagation time interferometer or of a purely electronic capacitive detection device.

Inventors:
ARNOLD WALTER (DE)
RABE UTE (DE)
Application Number:
PCT/DE1994/000765
Publication Date:
February 02, 1995
Filing Date:
June 30, 1994
Export Citation:
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Assignee:
FRAUNHOFER GES FORSCHUNG (DE)
ARNOLD WALTER (DE)
RABE UTE (DE)
International Classes:
G01N29/00; B81B3/00; G01H3/12; G01H9/00; G01N29/06; G01N29/24; G01N29/46; (IPC1-7): G01H3/12
Domestic Patent References:
WO1989012805A11989-12-28
Foreign References:
US4941753A1990-07-17
EP0383323A11990-08-22
US5166516A1992-11-24
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Claims:
P A T E N T A N S P R Ü C H E
1. Akustisches Mikroskop zum Untersuchen einer Probe (11) mit einer an einem Federbalken (2) angebrachten, im oberflächennahen Bereich einer Oberfläche der Probe (11) angeordneten Meßspitze (1), mit einem an die Probe (11) angekoppelten Ultraschallwandler, mit einer Bewegungsvorrich tung zum Positionieren der Probe (11) bezüglich der Meßspitze (1), wobei die Meßspitze (1) zeit¬ lich gemittelt einen gleichbleibenden Abstand von der Oberfläche aufweist, und mit einer Regel und Meßdatenerfassungsvorrichtung (17), dadurch gekennzeichnet, daß der Ultraschall¬ wandler ein Sendekopf (9) ist, mit dem in einem Abstand von der Meßspitze (1) Ultraschall in die Probe (11) einkoppelbar ist, wobei der Ultra¬ schall eine Frequenz aufweist, die höher als die Resonanzfrequenz des Federbalkens (2) mit der daran angebrachten Meßspitze (1) ist, daß der Federbalken (2), die Bewegungsvorrichtung, der Sendekopf (9) und die Probe (11) mechanisch steif miteinander verbunden sind und daß mit einer Detektionsvorrichtung (36, 37, 39, 41; 58;.
2. 77, 85, 87) die durch den eingekoppelten Ultraschall hervorgerufenen Auslenkungen der Meßspitze (1) bei über einen Regelkreis (8, 17, 24, 29; 2, 8, 17, 77, 85, 86) konstant gehaltenem, über die Auslenkungen gemittelten gleichbleibenden Abstand zwischen der Meßspitze (1) und der Oberfläche der Probe (11) erfaßbar sind.
3. 2 Akustisches Mikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Frequenz des ein¬ gekoppelten Ultraschalles wenigstens eine Größenordnung höher als die Resonanzfrequenz des Federbalkens (2) mit der daran angebrachten Meßspitze (1) ist.
4. Akustisches Mikroskop nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Federbalken (2), die Bewegungsvorrichtung, der Sendekopf (9) und die Probe (11) über eine Haltevorrichtung (4) mechanisch steif miteinander verbunden sind, wobei die Resonanzfrequenz der Haltevorrichtung (4) kleiner als die Frequenz des eingekoppelten Ultraschalles ist.
5. Akustisches Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein von dem Federbalken (2) reflektierter Lichtstrahl (22) über optische Umlenkvorrichtungen (23, 32) in den Regelkreis (8, 17, 24, 29), der eine erste optische Detektionseinheit (24, 29) aufweist, und in die Detektionsvorrichtung (36, 37; 58) als einer zweiten optischen Detektionseinheit einkoppelbar ist.
6. Akustisches Mikroskop nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Detektionseinheit einen zweifach segmentierten lichtempfindlichen Detektor (24) und einen Normierungsverstärker (29) aufweist, wobei der Lichtstrahl (22) in der Mittelposition der Meßspitze (1) mittig auf den zweifach segmentierten Detektor (24) fällt und in der Mittelposition ein Neutralsignal an dem Ausgang des Normierungsverstärkers (29) anliegt, das aus der auf die Summe der Ausgangsspannungen der Elemente (25, 26) des segmentierten Detek¬ tors (24) normierte Differenz der Ausgangs¬ spannungen gebildet ist.
7. Akustisches Mikroskop nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite Detektionseinheit einen einzelligen licht¬ empfindlichen Detektor (37) und eine Strahl abschattungsvorrichtung (36) aufweist, wobei die Strahlabschattungsvorrichtung (36) in Bezug auf den einzelligen lichtempfindlichen Detektor (37) so angeordnet ist, daß in der Mittelposition der Meßspitze (1) der auf den einzelligen Detektor (37) fallende Lichtstrahl (33) mittig abge¬ schattet ist.
8. Akustisches Mikroskop nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektions Vorrichtung als eine zweite Detektionseinheit ein HeterodyneLaufzeitInterferometer (58) aufweist, in dessen langem Arm (60) eine Frequenzverschiebüngsvorrichtung (63) zum Ver¬ schieben der Frequenz des in dem langen Arm (60) laufenden Lichtstrahles angeordnet ist.
9. Akustisches Mikroskop nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Interferenzstrahlen (68, 69) des HeterodyneLaufzeitInterferometers (58) jeweils einen lichtempfindlichen Detektor (70, beaufschlagen, deren Ausgangssignale in einem Differenzdemodulationsverstärker (72) voneinander subtrahiert und von der Frequenz der Frequenzverschiebevorrichtung (63) demoduliert verstärkbar sind.
10. Akustisches Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Detek¬ tionsvorrichtung eine durch den metallisch be¬ schichteten Federbalken (2) und eine nadel förmige Gegenelektrode (77) gebildete Me߬ kapazität aufweist.
11. Akustisches Mikroskop nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß mittels eines Kapazitätsmeß kreises (85) die Veränderungen in der Me߬ kapazität durch die Auslenkungen der Meßspitze (1) erfaßbar sind.
12. Akustisches Mikroskop nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß mittels eines Tiefpasses (86) und eines Hochpasses (87) die hochfrequen¬ ten, ultraschallinduzierten Auslenkungen der Meßspitze (1) von den niederfrequenten Aus¬ lenkungen aus dem Ausgangssignal des Kapazitäts meßkreises (85) separierbar sind, wobei das Ausgangssignal des Tiefpasses (86) als Regel¬ signal für den Regelkreis (2, 8, 17, 77, 85, 86) dient.
13. Akustisches Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß mittels einer Sende und Empfangseinheit (19) über eine Zeittorschaltung (48) in einem durch einen Impulsgenerator (49) und eine Verzögerungs Schaltung (52) vorbestimmbaren Zeitbereich die mittlere ultraschallinduzierte Auslenkung der Meßspitze (1) nach Aussenden des Ultraschalles durch den Sendekopf (9) erfaßbar ist.
14. Akustisches Mikroskop nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß der Zeitbereich so einge¬ stellt ist, daß der Mittelwert der ersten ultra¬ schallinduzierten Auslenkung der Meßspitze (1) erfaßbar ist.
15. Akustisches Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß in der Regel und Meßdatenerfassungsvorrichtung (17) die Meßdaten der Topographie und einer der Aus¬ lenkung der Meßspitze (1) proportionalen Me߬ größe in Abhängigkeit von der Position der Probe (11) abspeicherbar sind.
Description:
Akustisches Mikroskop

Die Erfindung betrifft ein akustisches Mikroskop zum 5 Untersuchen einer Probe mit einer an einem Federbalken angebrachten, im oberflächennahen Bereich einer Ober¬ fläche der Probe angeordneten Meßspitze, mit einem an die Probe angekoppelten Ultraschallwandler, mit einer Bewegungsvorrichtung zum Positionieren der Probe be- 10 züglich der Meßspitze, wobei die Meßspitze zeitlich gemittelt einen gleichbleibenden Abstand von der Ober¬ fläche aufweist, und mit einer Regel- und Meßdaten- erfassungsVorrichtung.

15 Ein derartiges akustisches Mikroskop ist aus der WO 89/12805 bekannt. Bei diesem akustischen Mikroskop ist eine an einer Stimmgabel angebrachte Meßspitze im ober¬ flächennahen Bereich einer Oberfläche einer Probe an¬ geordnet. Die einen Federbalken bildende Stimmgabel aus

20 piezoelektrischem Quarz ist über an ihren Schenkeln angebrachte Elektroden mit einer angelegten elektrischen WechselSpannung zu mechanischen Schwingungen anregbar. Diese mechanischen Schwingungen koppeln über die Me߬ spitze als Ultraschall in die Oberfläche ein und führen

25 in Abhängigkeit der Wechselwirkung zwischen der schwingenden Meßspitze und der Oberfläche der Probe durch die Dämpfung der Schwingung zu einer Verschiebung der Schwingungsfrequenz und/oder der Amplitude der Stimmgabel gegenüber einer freien Schwingung. Mit einer

30 Bewegungsvorrichtung sind die Probe und die Meßspitze t relativ zueinander positionierbar, wobei die Meßspitze

• zeitlich gemittelt in einem gleichbleibenden Abstand von der Oberfläche angeordnet ist. Eine Regel- und Meßdaten- erfassungsvorrichtung dient dem Zuordnen der durch die

Meßspitze aufgenommenen Meßwerte in Abhängigkeit der Relativposition der Meßspitze zu.der Probe.

Bei diesem akustischem Mikroskop dient die Stimmgabel mit der daran angebrachten Meßspitze sowohl als Ultra¬ schallsender als auch als Sensor. Dadurch bedingt muß zur Gewinnung der Meßwerte eine elektronisch durchzu¬ führende Subtraktion von im wesentlichen gleich großen Werten für die Frequenz und die Amplitude der mechanischen Schwingung durchgeführt werden, die ver¬ hältnismäßig fehlerträchtig ist. Dies hat insbesondere bei kurzen Meßzeiten pro Meßpunkt auf der Oberfläche ein nachteilig schlechtes Signal/Rauschverhältnis zur Folge. Durch die resonante Anregung der Stimmgabel im Dauer- betrieb ist eine Detektion der Topographie der Ober¬ fläche getrennt von einem Erfassen von beispielsweise elastischen Eigenschaften im Kopplungsbereich zwischen der Meßspitze und der Oberfläche prinzipiell nicht durchführbar. Weiterhin ist bei diesem akustischen Mikroskop vorgesehen, die Stimmgabel vorzugsweise bei ihrer Resonanzfrequenz im Bereich von etwa 32 Kilohertz anzuregen, so daß zwar die Amplitude im Verhältnis zu der anregenden Kraft groß ist, jedoch einkoppelnde störende Schwingungen in diesem Frequenzbereich eben- falls zu das Signal/Rauschverhältnis nachteilig be¬ einflußenden verhältnismäßig hohen Störamplituden führt.

Ein weiteres akustisches Mikroskop ist aus der Publika¬ tion "Scanning Microdeformation Microscopy" von B. Cretin und F. Sthal in der Zeitschrift "Applied Physics Letters" 6j2, Seiten 829 bis 831 (1993) bekannt. Bei dieser Vorrichtung werden durch Schwingungen der Me߬ spitze mit etwa 50 Kilohertz bei der Resonanzfrequenz des Federbalkens auf der Probenoberfläche Mikrodeforma- tionen erzeugt, welche in der Probe eine akustische

Welle induzieren. Die akustische Welle ist mit einem Ultraschallwandler in Amplitude und Phase bezüglich der Schwingungen der Meßspitze detektierbar. Durch Abtragen der Amplitude und/oder der Phase der Ultraschallwelle ist in Abhängigkeit von der Position der Meßspitze ein Bild der elastischen Eigenschaften der von der Meßspitze abgetasteten Probenoberfläche erzeugbar. Es ist auch möglich, unter der Oberfläche befindliche Material¬ inhomogenitäten zu detektieren und abzubilden. Die Ortsauflösung dieses Mikroskopes liegt bei etwa 10 Mikrometer.

Mit einem derartigen akustischen Mikroskop ist es mög¬ lich, mechanisch harte und weiche Bereiche der Proben- Oberfläche zu detektieren. Die Topographie der Proben¬ oberfläche ist jedoch nur indirekt durch Auswertung der empfangenen Ultraschallsignale möglich und erweist sich insbesondere bei verhältnismäßig komplizierten Halblei¬ tertopographien als sehr schwierig. Da moderne Halb- leiterStrukturen im Größenbereich von wenigen Mikro¬ metern liegen, ist eine Verwendung dieses Mikroskopes für hochaufgelöste Untersuchungen an derartigen Proben nicht möglich.

Ein weiterer Nachteil dieses akustischen Mikroskopes ist das verhältnismäßig kleine Signal/Rauschverhältnis. Die schwingende Meßspitze wirkt als Punktquelle, so daß die Amplitude der Ultraschallwelle nach Durchlaufen der Probe zusätzlich zu der Dämpfung in dem Ausbreitungs- medium durch die Kugelwellencharakteristik des ausge¬ sandten Ultraschalles an dem Detektionsort sehr gering ist. Aus diesem Grund ist vorgesehen, das durch den Ultraschallwandler detektierte Signal mit einem Lock-in- Verstärker zu verstärken, um das Signal/Rauschverhältnis

zu verbessern. Dies hat jedoch eine verhältnismäßig lange Meßzeit zur Folge.

In der Publikation "Using Force Modulation to Image Surface Elasticities with the Atomic Force Microscope" von P. Maivald, H.J. Butt, S.A.C. Gould et al. in der Zeitschrift "Nanotechnology" 2 , Seiten 103 folgende (1991) ist ein atomares Kraftmikroskop beschrieben, welches es gestattet, neben der unmittelbaren Messung der Topographie einer Probe bei Konstanthalten der mittleren Kraft auf den Federbalken über ein Verstell¬ element durch zyklisches Zu- und Wegbewegen der Probe in Bezug auf die Meßspitze ortsabhängig die Elastizitäts¬ eigenschaften im Bereich der Probenoberfläche zu messen. In mechanisch weicheren Bereichen ist die Auslenkung des Federbalkens größer als in mechanisch härteren Berei¬ chen. Somit ist durch Auftragen der Maximalauslenkungen der Meßspitze bei gleichbleibender aufgeprägter Kraft in Abhängigkeit von der Position der Meßspitze ein Bild der Topographie sowie der Elastizitätseigenschaften im oberflächennahen Bereich erzeugbar.

Bei einem derartigen atomaren Kraftmikroskop ist es schwierig, die von der Elastizität und die von der Topographie stammenden Anteile in dem Kontrast zu tren¬ nen. Die Modulationsfrequenz zum Hin- und Wegbewegen der Probe liegt im Bereich von wenigen Kilohertz, damit die Phasenverschiebung zwischen Anregung und Auslenkung möglichst geringgehalten ist. Bei dem beschriebenen Kraftmikroskop beträgt die Wiederholungsrate 5 Kilohertz und dadurch ergibt sich neben der Gefahr einer Über¬ lagerung durch Schwingungen des mechanischen Aufbaues des akustischen Mikroskopes eine verhältnismäßig lange Meßzeit für die Elastizitätsmessung.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein akustisches Mikroskop zu schaffen, das es gestattet, sowohl die Topographie als auch die Elastizität der Probe mit einer hohen Ortsauflösung und einem hohen Signal/Rauschverhältnis sowie Kontrast schnell und unabhängig voneinander zu messen.

Die Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß der Ultraschallwandler ein Sendekopf ist, mit dem in einem Abstand von der Meßspitze Ultraschall in die Probe einkoppelbar ist, wobei der Ultraschall eine Frequenz aufweist, die höher als die Resonanzfrequenz des Feder¬ balkens mit der daran angebrachten Meßspitze ist, daß der Federbalken, die Bewegungsvorrichtung, der Sendekopf und die Probe mechanisch steif miteinander verbunden sind und daß mit einer Detektionsvorrichtung die durch den eingekoppelten Ultraschall hervorgerufenen Aus¬ lenkungen der Meßspitze bei über einen Regelkreis konstantgehaltenem, über die Auslenkungen gemittelten gleichbleibenden Abstand zwischen der Meßspitze und der Oberfläche der Probe erfaßbar sind.

Die Detektion der Auslenkungen der Meßspitze gestattet ein direktes Erfassen der Amplituden der ultraschall- induzierten Oberflächenwellen als ein Meßsignal für die Elastizitätsmessung. Durch das Konstanthalten eines mittleren Abstandes zwischen der Meßspitze und der Oberfläche der Probe über einen Regelkreis läßt sich mit einem zugeordneten Regelsignal unabhängig von den ultra- schallinduzierten Auslenkungen der Meßspitze ein Bild der Topographie der Oberfläche erzeugen. Durch die mechanisch steife Verbindung der Bauelemente und das Vorsehen einer gegenüber der Resonanzfrequenz des Feder¬ balkens mit der daran angebrachten Meßspitze höheren

Ultraschallfrequenz ist ein hohes Signal/Rauschver¬ hältnis und ein hoher Kontrast erreicht.

Vorteilhafterweise ist in dem Regelkreis zum Konstant- halten der mittleren Auslenkung der Meßspitze über einen Piezokristall eine erste Detektionseinheit mit einer langsamen Ansprechzeit verwendet. Es ist aber auch möglich, ein Regelsignal über eine niederfrequente Filterung aus einem Signal aus einer einzigen breit- bandigen Detektoreinheit zu gewinnen, welches auch das hochfrequente, ultraschallinduzierte Signal enthält.

Vorzugsweise findet Ultraschall mit einer Frequenz von wenigstens einigen Megahertz Verwendung, so daß nieder- frequente Störungen im Bereich der Resonanzfrequenz des Federbalkens mit der daran angebrachten Meßspitze in einfacher Weise abtrennbar sind.

Der Federbalken, die Positioniervorrichtung und der Sendekopf sind vorteilhafterweise über eine Halte¬ vorrichtung mechanisch steif miteinander verbunden, wobei die Resonanzfrequenz der Haltevorrichtung kleiner als die Ultraschallfrequenz ist, so daß eine aus¬ reichende mechanische Stabilität des akustischen Mikroskopes gewährleistet ist. Durch die Messung der Auslenkungen der Meßspitze weit oberhalb der Eigen¬ frequenz des Federbalkens mit der daran angebrachten Meßspitze sind niederfrequente Störungen wie beispiels¬ weise mechanische Schwingungen in dem Aufbau ohne nach- teiligen Einfluß.

In einem Ausführungsbeispiel der Erfindung erfolgt die

Erfassung der Auslenkungen der Meßspitze über eine

Ablenkung eines an dem Federbalken reflektierten Licht- Strahles. Der Regelkreis weist als erste optische Detek-

tionseinheit eine zweifach segmentierte Photodiode auf, die so angeordnet ist, daß bei einer bestimmten Wechsel¬ wirkungskraft zwischen der Meßspitze und der Oberfläche der Probe der Lichtstrahl mittig zwischen die beiden Segmente der Photodiode fällt. Die Bandbreite der zwei¬ fach segmentierten Photodiode ist wesentlich kleiner als die Frequenz des eingekoppelten Ultraschalles, so daß die hochfrequenten Auslenkungen der Meßspitze mit der ersten Detektionseinheit nicht erfaßbar sind.

Die Detektionsvorrichtung weist eine zweite optische Detektionseinheit auf, die in diesem Ausführungsbeispiel durch eine Einzelphotodiode mit einer Bandbreite von wenigstens der Ultraschallfrequenz und eine glattkantige Abschattungsvorrichtung, beispielsweise eine Rasier¬ klinge, gebildet ist, welche zueinander so einjustiert sind, daß bei konstantgehaltener mittlerer Wechsel¬ wirkungskraft zwischen der Meßspitze und der Probenober- fläche ohne eingekoppelten Ultraschall die Abschattungs- Vorrichtung im wesentlichen die Hälfte des Lichtstrahles blockiert.

In einem weiteren Ausführungsbeispiel besteht die zweite optische Detektionseinheit aus einem Heterodyne-Lauf- zeit-Interferometer, bei dem in dem langen Interfero- meterarm mittels einer Frequenzverschiebevorrichtung die Frequenz des Lichtes in diesem Arm um einen vorbestimm¬ ten Betrag verschiebbar ist und die beiden überlagerten Ausgangsstrahlen auf jeweils eine Photodiode auftreffen. Mit einem Differenzdemodulationsverstärker ist das ver¬ stärkte Differenzsignal der beiden Photodioden bildbar, das anschließend durch Demodulation von der Verschiebe¬ frequenz ein der Auslenkung der Meßspitze und damit des Federbalkens entsprechendes Ausgangssignal enthält.

In einer anderen Ausführungsform der Erfindung ist der Regelkreis und die Detektionsvorrichtung in einem kapa¬ zitiven Detektor integriert, bei dem die Meßkapazität aus dem Federbalken und einer gegenüberliegend angeord- neten nadeiförmigen Gegenelektrode gebildet ist. Die hochfrequenten Änderungen der Meßkapazität sind durch einen Hochpaß von dem als Regelsignal verwendeten, über einen Tiefpaß abgetrennten Teil der Meßkapazitäts- änderungen abtrennbar. Dadurch läßt sich der mitunter justierempfindliche optische Aufbau umgehen.

Weitere Ausführungsformen und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen und der nachfolgen¬ den Figurenbeschreibung. Es zeigen:

Fig. 1: in einer schematischen Darstellung ein aku¬ stisches Mikroskop mit einer Detektions¬ vorrichtung und einem Regelkreis mit zwei optischen Detektionseinheiten zum Erfassen der Topographie und der ultraschallinduzier¬ ten Auslenkungen der Meßspitze,

Fig. 2: das Blockschaltbild einer Sende- und Em¬ pfangseinheit zum Hervorrufen und Aufnehmen der Auslenkungen der Meßspitze,

Fig. 3: ein akustisches Mikroskop in schematischer Darstellung mit einem Heterodyne-Laufzeit- Interferometer als zweiter optischer Detek- tionseinheit zum Erfassen der ultraschall¬ induzierten Auslenkungen der Meßspitze und

Fig. 4: ein akustisches Mikroskop in einer schema¬ tischen Darstellung, bei dem zum Erfassen der ultraschallinduzierten Auslenkungen des

Federbalkens ein kapazitive Detektions¬ vorrichtung Verwendung findet.

In Fig. 1 ist schematisch ein akustisches Mikroskop dargestellt. Eine Meßspitze 1 ist mit ihrer Basis an einem Ende eines Federbalkens 2 aus Si 3 N 4 von etwa 100 Mikrometer Länge befestigt. In diesem Ausführungsbei¬ spiel ist die Meßspitze 1 von pyramidenartiger Form und hat in der Spitze einen Krümmungsradius von etwa 50 Nanometer. Der Federbalken 2 hat eine Federkonstante von etwa 0,1 Newton pro Meter. Der Federbalken 2 ist mit dem anderen Ende an dem oberen Ende 3 einer mechanisch steifen Haltevorrichtung 4 angebracht.

An der Basis 5 der Haltevorrichtung 4 ist ein röhren¬ förmiger Piezo-Kristall von etwa 1 Zentimeter Durch¬ messer und 1 Millimeter Wandstärke aufgebracht. Der Piezokristall weist zum Ausführen von rechtwinklig aufeinanderstehenden Bewegungen in einer Ebene um seine Außenfläche 4 Elektroden auf, die jeweils um 90 Grad versetzt jeweils ein Viertel der Außenfläche bedecken. Die Innenfläche ist mit einer an Masse angeschlosenen Elektrode beschichtet. In Fig. 1 sind zwei Elektroden 6, 7 schematisch gezeichnet. Durch Beaufschlagen der zwei sichtbaren, um 90 Grad versetzten Elektroden 6, 7 mit Steuerspannungen ist eine rechtwinklige Bewegung in einer Ebene ausführbar. Die beiden nicht sichtbaren, umfänglich aufgebrachten Elektroden sind mit der negati¬ ven Spannung der jeweils gegenüberliegenden Elektrode beschaltet. Eine der sichtbaren Elektroden 6, 7 dient zusammen mit der zugehörigen, um 180 Grad versetzten nicht sichtbaren Elektrode der Bewegung in der x-Rich- tung und ist im weiteren als x-Elektrode 6 bezeichnet. Die Elektrode 7 dient zusammen mit der entsprechend beschalteten gegenüberliegenden Elektrode der Bewegung

in der y-Richtung, die rechtwinklig auf der x-Richtung steht, und ist im weiteren als y-Elektrode 7 bezeichnet.

Ein Ende des röhrenförmigen Piezoelementes ist mit einer ringförmigen, den gesamten Umfang umschließenden z-Elek¬ trode 8 zum Ausführen einer senkrecht auf der Bewegungs¬ ebene der x-Elektrode 6 und y-Elektrode 7 versehen. In der Zeichnung sind der besseren Übersichtlichkeit wegen die Größenverhältnisse verzerrt wiedergegeben.

Auf der z-Elektrode 8 befindet sich ein Sendekopf 9, mit dem über einen Vorlaufkörper 10 Ultraschall in eine Probe 11 einkoppelbar ist. Die Meßspitze 1 liegt auf einer Oberfläche der Probe 11 auf. Sie kann aber auch einen Abstand von wenigen 100 Nanometer von der Ober¬ fläche der Probe 11 aufweisen.

Die Elektroden 6, 7, 8 sind jeweils über zugehörige Piezosteuerleitungen 12, 13, 14 über einen Hoch- spannungsverstarker 15 und einen Digital-Analog-Wandler 16 mit einer Regel- und Meßdatenerfassungsvorrichtung 17 verbunden. Der Sendekopf 9 ist über eine Leitung 18 an eine Sende- und Empfangseinheit 19 angeschlossen, mittels der, wie weiter unten mit Bezug auf die Fig. 2 genauer beschrieben wird, die Auslenkungen der Meßspitze 1 durch den Ultraschall meßbar sind. Die Auslenkungen der Meßspitze 1 betragen in diesem Ausführungsbeispiel etwa 10 Nanometer.

Aus einer Halbleiterlaserdiode 20, die bei einer Wellen¬ länge von etwa 670 Nanometer emittiert, fällt ein durch eine Linse 21 fokussierter Laserstrahl 22 auf das abge¬ flachte, freie Ende des Federbalkens 2, an dem die Meßspitze 1 angebracht ist. Der reflektierte Teil des Laserstrahles 22 fällt auf einen Spiegel 23, der den

Laserstrahl 22 durch einen Strahlteiler 32 hindurch auf eine im Vergleich zu der Frequenz des Ultraschalles langsame zweifach segmentierte Photodiode 24 lenkt.

Der Spiegel 23 und die Photodiode 24 sind so angeordnet, daß der Laserstrahl 22 bei einer bestimmten Wechsel¬ wirkungskraft zwischen der Meßspitze 1 und der Probe 11 in der Mittelposition der Meßspitze 1 mittig zwischen das erste Element 25 und das zweite Element 26 der zweifach segmentierten Photodiode 24 fällt.

Über Ausgangsleitungen 27, 28 beaufschlagen die Photo¬ spannungen des ersten Elementes 25 und zweiten Elementes 26 einen Normierungsverstärker 29, der die Differenz zwischen den PhotoSpannungen der Elemente 25, 26 auf deren Summenwert normiert und verstärkt. Das Ausgangs¬ signal des Normierungsverstärkers 29 beaufschlagt über eine Leitung 30 einen Eingang eines Analog-Digital- Wandlers 31, der die Spannungen digitalisiert.

Der Strahlteiler 32 teilt den von dem Spiegel 23 ein¬ fallenden Laserstrahl 22 im Verhältnis von etwa 1:1 auf. Der Strahlteiler 32 ist so angeordnet, daß der an ihm reflektierte Laserstrahl 33 auf einen Spiegel 34 auf- trifft, der wiederum den reflektierten Laserstrahl 33 durch eine Kollimationslinse 35 an einer Rasierklinge 36 vorbei auf eine einzellige Photodiode 37 lenkt, deren Bandbreite wenigstens gleich der Frequenz des Ultra¬ schalles ist.

Der Strahlteiler 32, der Spiegel 34, die Kollimations¬ linse 35 und die Rasierklinge 36 sind so angeordnet, daß bei mittiger Ausrichtung des durch den Strahlteiler 32 durchlaufenden Teiles des Laserstrahles 22 auf die zweifach segmentierte Photodiode 24 die Rasierklinge 36

den reflektierten Laserstrahl 33 im wesentlichen mitten¬ symmetrisch abschattet. Der nichtabgeschattete Anteil des reflektierten Laserstrahles 33 trifft auf die ein¬ zellige Photodiode 37. Die optischen Weglängen in diesem Aufbau liegen im Zentimeterbereich.

Die einzellige Photodiode 37 ist über eine Leitung 38 mit einem Lastwiderstand von 50 Ohm und einem Schutz¬ widerstand beschaltet, die als eine Widerstandsschaltung 39 dargestellt sind. Die einzellige Photodiode 37 ist in dieser Ausführungsform eine Silizum-Pin-Diode mit einer Anstiegszeit von etwa 1 Nanosekunde. Es sind aber auch andere lichtempfindliche Detektoren mit einer größeren Bandbreite als die Frequenz des eingekoppelten Ultra- schalles wie Avalanche-Dioden verwendbar. Das Ausgangs¬ signal der Widerstandsschaltung 39 beaufschlagt über eine Leitung 40 den Eingang eines Verstärkers 41 mit einer Verstärkung von etwa 60 Dezibel. Das Ausgangs¬ signal des Verstärkers 41 beaufschlagt über eine Leitung 42 einen Spannungseingang der Sende- und Empfangseinheit 19.

Der Datenausgang der Sende- und Empfangseinheit 19 ist über eine Leitung 43 mit einem zweiten Eingang des Analog-Digital-Wandlers 31 verbunden, mit dem die Span¬ nungen aus der Sende- und Empfangseinheit 19 digitali¬ sierbar sind. Über eine Leitung 44 sind die von dem Analog-Digital-Wandler 31 digitalisierten Daten in die Regel- und Meßdatenerfassungsvorrichtung 17 einspeisbar. In einem Speicher der Regel- und Meßdatenerfassungsvor¬ richtung 17 sind in Abhängigkeit von der Position der Probe 11 die digitalisierten Ausgangssignale aus dem Normierungsverstärker 29 und der Sende- und Empfangs¬ einheit 19 abspeicherbar. Eine Ausgabeeinheit 76, zum Beispiel ein Bildschirm, ist zur Ausgabe des Inhaltes

des Speichers der Regel- und Meßdatenerfassungsvorrich- tung 17 in Form einer Färb- , oder Grauwertkodierung vorgesehen.

Die Fig. 2 zeigt in einem Blockschaltbild den inneren Aufbau der Sende- und Empfangseinheit 19. Das in der Leitung 42 anliegende Signal des Verstärkers 41 der Fig. 1 liegt an einem Kanal 45 eines Oszilloskopes 46 und an dem Signaleingang 47 eines Zeittorintegrators 48 an.

Ein Ultraschallsender 57 sendet einen kurzen Puls mit etwa 15 Nanosekunden Anstiegszeit über die Leitung 18 an den Sendekopf 9. Gleichzeitig erhält ein Impulsgenerator 49 über eine Leitung 56 einen Startpuls. Der Impuls- generator 49 gibt daraufhin über eine Leitung 51 einen Rechteckimpuls einstellbarer Zeitdauer auf eine Ver¬ zögerungsschaltung 52, mit der der Rechteckimpuls ein¬ stellbar gegenüber dem Startpuls verzögerbar ist. Über eine Leitung 53 ist der verzögerte Rechteckimpuls einer- seits in einen zweiten Kanal 54 des Oszilloskopes 46 und andererseits auf den Zeittoreingang 55 des Zeittorinte¬ grators 48 einspeisbar. Die Zeitablenkung des Oszil¬ loskopes 46 ist über eine Leitung 75 von dem Impuls¬ generator 49 ausgelöst. Mit Hilfe des Oszilloskopes 46 ist die Lage des verzögerten Rechteckimpulses aus der Verzögerungsschaltung 52 bezüglich des an dem Kanal 45 anliegenden Signales kontrollierbar.

Mit dem Zeittorintegrator 48 ist während des an dem Zeittoreingang 55 anliegenden hohen Pegels des zeitver¬ zögerten Rechteckimpulses aus dem Impulsgenerator 49 die an dem Signaleingang 47 anliegende mittlere Amplitude bestimmbar. Der mittlere Amplitudenwert ist über die Leitung 43 in den Analog-Digital-Wandler 31 der Fig. 1 zur Digitalisierung einspeisbar.

Die Wiederholrate des Ultraschallsenders 57 ist so groß, daß der Ultraschallamplitudenwert in jeder Position der Probe 11 wenigstens einmal aktualisiert ist, bevor die Regel- und Meßdatenerfassungseinrichtung 17 einen neuen Amplitudenwert einliest. In diesem Ausführungsbeispiel beträgt die Ultraschallwiederholungsrate etwa 1 Kilo¬ hertz, so daß bis zu einer Einlesefrequenz von etwa 500 Hertz sichergestellt ist, daß wenigstens ein Ultra¬ schallpuls an einer Position der Probe 11 ausgesendet ist.

Wie bereits erwähnt, ist die mittlere Wechselwirkungs¬ kraft zwischen der Meßspitze 1 und der Probe 11 während der Messung konstantzuhalten. Dies ist dadurch erreich- bar, daß in einem Regelkreis der durch den Strahlteiler 32 transmittierte Teil des Laserstrahles 22 über die Regel- und Meßdatenerfassungsvorrichtung 17 durch ent¬ sprechende Verstellung der z-Elektrode 8 mittig zwischen dem ersten Element 25 und zweiten Element 26 der zwei- fach segmentierten Photodiode 24 haltbar ist. Bei posi¬ tiven oder negativen Änderungen des Ausgangspegels des Normierungsverstärkers 29 ist die Spannung in der Piezo- steuerleitung 14 an der z-Elektrode 8 so nachregelbar, daß die Ausgangsspannung des Normierungsverstärkers 29 sich dem Neutralwert nähert. Die Regelspannung für die z-Elektrode 8 gibt in Abhängigkeit der x- und y- Posi¬ tion der Probe 11 ein Bild der Topographie der Probe 11.

Die Frequenz des Ultraschalls ist zwischen etwa 5 Mega- hertz und etwa 100 Megahertz einstellbar und liegt somit weit oberhalb der Resonanzfrequenz des in diesem Aus¬ führungsbeispiel verwendeten Federbalkens 2 mit der Meßspitze 1 von einigen Kilohertz.

Bei dem eingekoppelten Ultraschall handelt es sich in diesem Ausführungsbeispiel um Longitudinalwellen, so daß die Oberfläche der Probe 11 Normalschwingungen ausführt. Diese Normalschwingungen führen zu einer hochfrequenten Auslenkung des Federbalkens 2, welche jedoch durch die zu geringe Bandbreite der langsamen zweifach segmen¬ tierte Photodiode 24 nicht erfaßbar sind, in der einzel¬ ligen Photodiode 37 mit einer Bandbreite im Megahertz¬ bereich jedoch durch die Abschattung eines Teiles der reflektierten Laserstrahles 33 mit der Rasierklinge 36 zu einem Meßsignal führt.

In diesem Ausführungsbeispiel ist die Verzögerungsschal¬ tung 52 so eingestellt, daß in dem Zeittorintegrator 48 die mittlere Amplitude des ersten hochfrequenten Aus¬ schlages des Federbalkens 2 in Folge der Oberflächen¬ schwingung der Probe 11 bestimmbar ist. Nach dem Ab¬ speichern eines Meßwertes für die Auslenkung der Me߬ spitze 1 ist die Probe 11 mittels entsprechender Aus- gangssignale der Regel- und Meßdatenerfassungsvorrich- tung 17 auf die x-Elektrode 6 und die y-Elektrode 7 an der nächsten Meßstelle positionierbar. Anschließend erfolgt der nächste Ultraschallmeßzyklus.

Während der Abrasterung der Oberfläche der Probe 11 über den vorbestimmten Meßbereich erfolgt in der Ausgabe¬ einheit 76 eine ortsabhängige Darstellung der Regelspan¬ nungen der z-Elektrode 8 zur Darstellung der Topographie der Oberfläche der Probe 11 sowie eine ortsabhängige Darstellung der ultraschallinduzierten Auslenkung der Meßspitze 1 über die entsprechenden Meßwerte. Diese Darstellung erfolgt vorzugsweise in einer üblichen Grau¬ oder Farbwertkodierung. Auf diese Weise ist gleichzeitig in meßtechnisch voneinander unabhängiger Weise sowohl ein Bild der Topographie der Oberfläche der Probe 11

sowie ein den Elastizitätseigenschaften der Probenober¬ fläche entsprechendes Bild der. Amplituden der Ultra¬ schallwellen an der Oberfläche der Probe 11 erzeugbar.

Zur meßtechnischen Erfassung anderer zeitlicher Bereiche des ausgesandten Ultraschalls ist es möglich, das Zeit¬ tor mittels der Verzögerungsschaltung 52 zeitlich zu verändern. Dies ist insbesondere auch dann erforderlich, wenn ein Wechsel des Vorlaufkörpers 10 mit einer Ver- änderung der Durchlaufzeit erfolgt ist.

In Fig. 3 ist schematisch ein weiteres Ausführungs¬ beispiel eines akustischen Mikroskopes dargestellt, bei dem die denen der Fig. 1 entsprechenden Bauelemente mit den gleichen Bezugszeichen versehen und im folgenden nicht weiter erläutert sind. Bei dem Ausführungsbeispiel der Fig. 3 ist der von dem Strahlteiler 32 reflektierte Laserstrahl 33 in ein Heterodyne-Laufzeit-Interferometer 58 eingekoppelt. Der reflektierte Laserstrahl 33 trifft auf einen Eingangsstrahlteiler 59, der die auftreffende Intensität etwa zur Hälfte in den langen Arm 60 des Heterodyne-Laufzeit-Interferometers 58 einkoppelt.

In dem langen Arm 60 befinden sich zwei Spiegel 61, 62, welche das Licht in dem langen Arm 60 durch eine auf der Grundlage des akusto-optischen Effektes arbeitenden Bragg-Zelle 63 hindurch auf einen Ausgangsstrahlteiler 64 lenken. Die Spiegel 61, 62 sowie die Bragg-Zelle 63 sind so angeordnet, daß das in die erste Ordnung ge- brochene, frequenzverschobene Ausgangslicht der Bragg- Zelle 63 auf den Ausgangsstrahlteiler 64 fällt. Die Bragg-Zelle 63 ist über eine Leitung 65 mit einer An¬ steuerschaltung 66 verbunden, mittels der der Betrag der Frequenzverschiebung in diesem Ausführungsbeispiel auf etwa 80 Megahertz eingestellt ist.

Der kurze Arm 67 des Heterodyne-Laufzeit-Interferometers 58 ist durch den durch den Eingangsstrahlteiler 59 transmittierten Anteil von etwa der halben Intensität des Laserstrahles 33 gebildet. Die Lichtbündel des langen Armes 60 und des kurzen Armes 67 sind über den Ausgangsstrahlteiler 64 kollinear in den Interferenz¬ strahlen 68, 69 überlagert.

Der erste Interferenzstrahl 68 trifft auf eine erste Interferenzphotodiode 70, deren Ausgangssignal über eine Leitung 71 einen ersten Eingang eines Differenzdemodula- tionsverstärkers 72 beaufschlagt. Der zweite Inter¬ ferenzstrahl 69 trifft auf eine zweite Interferenzphoto¬ diode 73, deren Ausgangssignal über eine Leitung 74 einen zweiten Eingang des Differenzdemodulations- verstärkers 72 beaufschlagt.

In den Ausgangssignalen der Interferenzphotodiode 70, 73 sind in bekannter Weise durch die Laufzeitdifferenz des Lichtes zwischen dem kurzen Arm 67 und dem langen Arm 60 Phasenmodulation enthalten, die der Auslenkungsdifferen¬ zen der Meßspitze 1 proportional sind. Der Wegunter¬ schied zwischen den Armen 60, 67 ist vorzugsweise so gewählt, daß die Empfindlichkeit des Interferometers für die eingestrahlte Ultraschallfrequenz maximal ist, das heißt, daß die Armlängendifferenz etwa gleich der Licht¬ geschwindigkeit dividiert durch das Zweifache der mit dem Brechungsindex multiplizierten Ultraschallfrequenz ist.

In dem Differenzdemodulationsverstärker 72 ist die Differenz des Ausgangssignales der ersten Interferenz¬ photodiode 70 und der zweiten Interferenzphotodiode 73 bildbar, wobei dieses Differenzsignal durch die Fre- quenzverschiebung in der Bragg-Zelle 63 mit an-

schließender Demodulation von tieffrequenten Störungen entkoppelbar ist. Dadurch sind beispielsweise Intensi¬ tätsschwankungen in dem reflektierten Strahl 33 oder niederfrequente mechanische Störungen ausgleichbar. Das Differenzsignal ist weiterhin in dem Differenzdemodula- tionsverstärker 72 verstärkbar und beaufschlagt über die Leitung 42 den Zeittorintegrator 48 der Sende- und Empfangseinheit 19.

In einem abgewandelten Ausführungsbeispiel ist das Heterodyne-Laufzeit-Interferometer 58 durch ein aktiv stabilisiertes faseroptisches Laufzeit-Interferometer ersetzt. Das stabilisierte Interferometer weist in seinem langen Arm einen Phasenverschieber auf, der in einem Regelkreis über eine Leitung mit einem Differenz¬ verstärker verbunden ist, so daß Änderungen der opti¬ schen Weglänge ausgleichbar sind. Die Ein- und Auskopp¬ lung erfolgt wie in dem in Fig. 3 dargestellten Aus¬ führungsbeispiel mit dem Heterodyne-Laufzeit-Interfero- meter.

In Fig. 4 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel der Erfindung dargestellt, bei dem die denen in Fig. 1 und Fig. 3 dargestellten entsprechenden Bauelemente mit den gleichen Bezugszeichen versehen und im folgenden nicht weiter erläutert sind. In dem Ausführungsbeispiel der Fig. 4 sind die Auslenkungen der Meßspitze 1 mittels einer kapazitiven Detektionsvorrichtung erfaßbar. Die kapazitive Detektionsvorrichtung weist eine Meßkapazität auf, die durch die metallisch beschichtete Rückseite des Federbalkens 2 und eine nadelspitzenartige Gegen¬ elektrode 77 gebildet ist, deren Spitze in Richtung des Federbalkens 2 ausgerichtet ist. Der Federbalken 2 ist an einer elektrisch leitenden Halterung 78 angebracht, die an eine Masse 79 angeschlossen ist.

Die Gegenelektrode 77 ist mechanisch an einem Piezo- element 80 angebracht und elektrisch von diesem ent¬ koppelt. Das Piezoelement 80 ist an einem mechanischen Verschiebetisch 81 befestigt, der wiederum an der Halte- Vorrichtung 4 angebracht ist. Das Piezoelement 80 ist über eine Leitung 82 von einem regelbaren Netzgerät 83 mit Spannung beaufschlagbar. Die Gegenelektrode 77 ist grob über die mechanische Verstellung des Verschiebe¬ tisches 81 und fein über die Änderung der Versorgungs- Spannung des Piezoelementes 80 in einem Abstand über dem Federbalken 2 positionierbar.

Die Gegenelektrode 77 ist elektrisch über eine Leitung 84 mit einem Kapazitätsmeßkreis 85 verbunden. Die Meß- kapazität ist in einem Schwingkreis des Kapazitäts¬ meßkreises 85 integriert, der durch einen bei etwa 915 Megahertz schwingenden Oszillator angeregt ist. Die Frequenz des Oszillators ist so gewählt, daß sie im steilsten Bereich der Flanke der Resonanzkurve des Schwingkreises liegt. Änderungen der Meßkapazität durch Auslenkungen der Meßspitze 1 und damit des Federbalkens 2 führen zu einer Änderung der Resonanzfrequenz des Schwingkreises und damit der durch den Oszillator ange¬ regten Amplitude. Diese Amplitudenänderungen sind über einen Tiefpaß 86 und einen Hochpaß 87 in einen nieder¬ frequenten und einen hochfrequenten Anteil auftrennbar.

Der Tiefpaß 86 hat einen Durchlaßbereich bis etwa 20 Kilohertz, und der Hochpaß 87 hat einen Durchlaß ab etwa dem halben Wert der Ultraschallfrequenz. Somit sind die langsamen, durch Änderungen der Topographie der Ober¬ fläche der Probe 11 auftretenden Auslenkungen der Me߬ spitze 1 an einem Niederfrequenzausgang 88 und die hochfrequenten, ultraschallinduzierten Auslenkungen der Meßspitze 1 an einem Hochfrequenzausgang 89 abgreifbar.

Das an dem Niederfrequenzausgang 88 anliegende Signal ist über die Leitung 30 in den Analog-Digital-Wandler 31 einspeisbar und dient als Regelsignal zum Konstanthalten des mittleren Abstandes zwischen der Oberfläche der Probe 11 und der Meßspitze 1. Das an dem Hochfrequenz¬ ausgang 89 anliegende Signal ist über die Leitung 42 in die Sende- und Empfangseinheit 19 einkoppelbar. Die weitere Datenverarbeitung erfolgt wie bei Fig. 1, 2 und 3 beschrieben.