reçues par le Bureau international le 22.Dec.2017 (22.12.2017)

1. Mire d'étalonnage (30) d'un système optique (10), formée d'une plaque (32) comportant des première et deuxième faces opposées (34, 36) et comportant des trous (38) traversants, la section droite d'au moins l'un des trous (38) augmentant de la première face (34) à la deuxième face (36) .

2. Mire selon la revendication 1, dans laquelle chaque trou (38) traversant la plaque de la première face (34) à la deuxième face (36).. -

3. Mire selon la revendication 1 ou 2, dans laquelle au moins l'un des trous (38) est un trou tronconique.

4. Mire selon la revendication 1 ou 2, dans laquelle au moins l'un des trous (38) comprend une première portion cylindrique (44) se prolongeant par une deuxième portion cylindrique (46) , le diamètre de la première portion cylindrique étant inférieur strictement au diamètre de la deuxième portion cylindrique .

5. Mire selon l'une quelconque des revendications 1 à 4, appliquée à un étalonnage d'une installation d'inspection optique de cartes électroniques.

6. Système optique (10) comprenant un premier système

(15) d'acquisition d'images bidimensionnelles ou tridimensionnelles et un deuxième système (20) d'acquisition d'images et une mire d'étalonnage (30) selon l'une quelconque des revendications 1 à 5.

7. Procédé d'étalonnage du système optique (10), utilisant une mire (30) selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, comprenant les étapes suivantes :

acquisition d'une première image de la mire par un premier système (15) d'acquisition d'images ;

acquisition d'une deuxième image de la mire par un deuxième système (20) d'acquisition d'images ;

détermination de premiers points de repérage sur la première image, chaque premier point de repérage étant associé à 17

la représentation (60) de l'un des trous de la mire sur la première image ;

détermination de deuxièmes points de repérage sur la deuxième image, chaque deuxième point de repérage étant associé à la représentation de 1¹ un des trous de la mire sur la deuxième image ; et

mise en correspondance des premiers points de repérage avec les deuxièmes points de repérage.

8. Procédé selon la revendication 7, comprenant la ^"détermination d'une fonction de transformation adaptée ^~ à ^" faire correspondre à chaque point de la première image un point de la deuxième image .

9. Procédé selon la revendication 7 ou 8, dans lequel la mire (30) est selon la revendication 3 et dans lequel la première face (34) de la mire est orientée vers le premier système (15) d'acquisition d'images et le deuxième système (20) d'acquisition d'images.

10. Procédé selon l'une quelconque des revendications 7 à 9, dans lequel le premier système (15) d'acquisition d'images est adapté à détecter un premier signal, les trous (38) de la mire (10) apparaissant sur la première image par une absence de détection du premier signal par le premier système (15) d'acquisition d'images et dans lequel le deuxième système (20) d'acquisition d'images est adapté à détecter un deuxième signal, les trous de la mire apparaissant sur la deuxième image par une absence de détection du deuxième signal par le deuxième système (20) d'acquisition d'images.