KIRCHHOFF, Volker (Wetroer Strasse 7, Dresden, 01324, DE)
MATTAUSCH, Gösta (Dorfstrasse 42, Ullersdorf, 01454, DE)
RÖDER, Olaf (Weisser-Hirsch-Strasse 9, Dresden, 01326, DE)
KUBUSCH, Jörg (Troppauer Strasse 19, Dresden, 01279, DE)
BARTEL, Rainer (Stangestrasse 2, Dresden, 01324, DE)
KIRCHHOFF, Volker (Wetroer Strasse 7, Dresden, 01324, DE)
MATTAUSCH, Gösta (Dorfstrasse 42, Ullersdorf, 01454, DE)
RÖDER, Olaf (Weisser-Hirsch-Strasse 9, Dresden, 01326, DE)
KUBUSCH, Jörg (Troppauer Strasse 19, Dresden, 01279, DE)
Patentansprüche
1 Vorrichtung zur Eigenschaftsanderung eines dreidimensionalen Formteils (2) mittels Elektronen, umfassend mindestens einen Elektronenbeschleuniger (3a, 3b) zum Erzeugen von beschleunigten Elektronen und zwei Elektronenaustrittsfenster (5a, 5b), wobei die beiden Elektronenaustrittsfenster (5a, 5b) gegenüberliegend angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, dass die beiden Elektronenaustrittsfenster (5a, 5b) und mindestens ein Reflektor (7a1, 7a2, 7b1, 7b2) einen Prozessraum begrenzen, in welchem die Oberflache oder eine Randschicht des Formteils (2) mit Elektronen beaufschlagbar ist, wobei mittels eines Sensorsystems eine Energiedichteverteilung innerhalb des Prozessraumes zumindest über eine räumliche Dimension erfassbar ist
2 Vorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Flachen der Elektronenaustrittsfenster (5a, 5b) eben ausgebildet sind
3 Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Flachen der Elektronenaustrittsfenster (5a, 5b) parallel zueinander ausgerichtet sind
4 Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Flachen der Elektronenaustrittsfenster einen Winkel zueinander aufweisen
5 Vorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Flache mindestens eines Elektronenaustrittsfensters zum Formteil hin konkav ausgebildet ist
6 Vorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Flache mindestens eines Elektronenaustrittsfensters der Geometrie des Formteils angepasst ist
7 Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine erste Einrichtung, mittels der die über die Flache mindestens eines Elektronen- austrittsfensters (5a, 5b) abgegebene Elektronenenergiedichte derart steuerbar ist, dass über einzelne Teilbereiche des Elektronenaustrittsfensters (5a, 5b) unterschiedliche Elektronenenergiedichten abgegeben werden
8. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, das mindestens zwei Reflektoren (7a 1 zu 7a2 und 7b 1 zu 7b2) spiegelsymmetrisch an gegenüberliegenden Seiten des Prozessraumes angeordnet sind.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Reflektoren (7a 1; 7a2; 7bl ; 7b2) Bestandteile eines Sensorsystems zum Erfassen einer Energiedichteverteilung innerhalb des Prozessraumes sind.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass an mindestens zwei Reflektoren oder Teilreflektoren die elektrische Spannung gegenüber der elektrischen
Masse oder einem anderen elektrischen Potential erfassbar ist.
1 1 . Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Energiedichteverteilung in x-, y- und/oder z-Richtung eines rechtwinkligen Koordinatensystems erfassbar ist
12. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein Elektronenaustrittsfenster in Abhängigkeit von der Geometrie des Formteils oder/und der Position des Formteils zwischen den Elektronenaustritts- fenstern bewegbar ist.
13. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein Elektronenaustrittsfenster (5a; 5b) als vakuumdichte Folie ausgebildet ist.
14. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein Elektronenaustrittsfenster als gasdurchlässige Druckstufenanordnung zwischen Elektronenbeschleuniger und Prozessraum ausgebildet ist.
15. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch ein Sensorsystem, mittels dem die Leistung der Elektronenerzeuger in Abhängigkeit davon, ob sich ein Formteil im Prozessraum befindet, auf einen prozessspezifischen Wert einstellbar ist. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch eine zweite Einrichtung, mittels der die Austrittsrichtung eines Elektrons aus einem Elektronenaustrittsfenster steuerbar ist
Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Elektronenbeschleuniger als Bandstrahler oder Axialstrahlerzeuger ausgebildet ist
Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Elektronenaustrittsfenster (5a, 5b) einen Abstand a aufweisen, der 'sich in einem Bereich befindet resultierend aus der Berechnung
6,67 * 10 -λUb* kJ' 3 ■ * k 2 - p F * d f
'W a = f
Ub = Beschleunigungsspannung p w = Dichte von Wasser p G = Dichte des Mediums zwischen den Elektronenaustrittsfenstern
P F = Dichte der Fensterfolie d F = Dicke der Fensterfohe k, = 1 *V ' k 2 = 1 *(g/m 2 ) ' mit einem Abstandsfaktor f (0,5 < f < 1 ,5)
Verfahren zur Eigenschaftsanderung eines dreidimensionalen Formteils (2) mittels Elektronen, bei dem mittels mindestens einem Elektronenbeschleuniger (3a, 3b) Elektronen erzeugt, beschleunigt und über die Flache von zwei gegenüberliegenden
Elektronenaustrittsfenstern (5a, 5b) abgestrahlt werden, dadurch gekennzeichnet, dass die beiden Elektronenaustrittsfenster (5a, 5b) und mindestens ein Reflektor (7a1 , 7a2, 7b1 , 7b2) einen Prozessraum begrenzen, in welchem die Oberflache oder eine Randschicht des Formteils (2) mit Elektronen beaufschlagt wird, wobei mittels eines Sensorsystems eine Energiedichteverteilung innerhalb des Prozessraumes zumindest über eine räumliche Dimension erfasst und der Abstand der Elektronenaustrittsfenster derart eingestellt wird, dass eine Beeinflussung eines Elektronenaustrittsfensters (5a, 5b) durch die abgestrahlte Energie des gegenüberliegenden Elektronenaustrittsfensters (5b, 5a) vernachlassigbar ist
Verfahren nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass der Abstand der Elektronenaustrittsfenster in Abhängigkeit von der Beschleunigungsspannung der
Elektronen und der Dicke und der Dichte der Elektronenaustrittsfenster (5a, 5b) eingestellt wird
Verfahren nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet, dass der Abstand a der Elektronenaustrittsfenster (5a, 5b) in einem Bereich eingestellt wird, der sich aus
6,67 * 10 -, (w*,r * k 2 - p F * d F a = f
Ub = Beschleunigungsspannung p w = Dichte von Wasser p G = Dichte des Mediums zwischen den Elektronenaustrittsfenstern
P P = Dichte der Fensterfolie d F = Dicke der Fensterfolie k, = 1 *V 1 k 2 = 1 *(g/m 2 ) ' mit einem Abstandsfaktor f (0,5 < f < 1 ,5) ergibt
Verfahren nach Anspruch 19 oder 21 , dadurch gekennzeichnet, dass das Formteil (2) mit konstanter Geschwindigkeit durch den Prozessraum gefuhrt und wahrend- dessen mit Elektronen beaufschlagt wird
Verfahren nach Anspruch 19 oder 21 , dadurch gekennzeichnet, dass das Formteil in den Prozessraum gefuhrt und dort im stationären Zustand durch einen einmaligen oder mehrfachen Bestrahlungsvorgang mit Elektronen beaufschlagt wird
Verfahren nach Anspruch 19 oder 21 , dadurch gekennzeichnet, dass das Formteil im Step-and-Repeat-Modus mit Elektronen beaufschlagt wird Verfahren nach Anspruch 19 oder 21 , dadurch gekennzeichnet, dass das Formteil im Prozessraum um eine sich zwischen den beiden Elektronenaustπttsfenstem erstreckende Achse rotiert und währenddessen durch einen einmaligen oder mehrfachen Bestrahlungsvorgang mit Elektronen beaufschlagt wird
Verwendung eines Verfahrens nach einem der vorhergehenden Ansprüche zum Modifizieren von Kunststoffen, Sterilisieren von Produkten/Zwischenprodukten der Pharmaindustrie, Desinfizieren oder/und Sterilisieren von Verpackungen, Harten von Beschichtungen oder Desinfizieren oder/und Sterilisieren von Gegenstanden, Fruchten oder anderen Naturprodukten |
Vorrichtung und Verfahren zur Eigenschaftsänderung dreidimensionaler Formteile mittels Elektronen sowie Anwendung des Verfahrens
Beschreibung
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zum Modifizieren von Stoffeigenschaften an der Oberf'^che und im Randbereich dreidimensionaler Formteile mittels der Energie von Elektronen Des Weiteren werden Anwendungen des Verfahrens aufgezeigt
Mittels Elektronen kann Energie räumlich und zeitlich determiniert in Materialien eingetragen werden, um deren Stoffeigenschaften an der Oberflache, in der Randschicht oder im Volumen zu verandern Die dazu benotigten Elektronen werden in Elektronenbeschleunigern erzeugt, formiert und beschleunigt, ehe sie über ein meist ebenes Elektronenaustrittsfenster aus dem Hochvakuum an ein höheres Druckniveau im Prozessraum gefuhrt werden Dabei ist meist eine konstante Elektronendichte über der gesamten Ausdehnung des Elektronenaustrittsfensters gewünscht Nach dem Durchdringen der Gasschicht (zum Beispiel Luft) in der Distanz zwischen Elektronenaustrittsfenster und Produkt erreichen die Elektronen die zu behandelnde Produktoberflache
Als Elektronenbeschleuniger werden Flachenstrahlerzeuger, auch Bandstrahler genannt, oder Axialstrahlerzeuger eingesetzt Ein als Axialstrahlerzeuger ausgebildeter Elektronenbeschleuniger nach dem Stand der Technik umfasst zusätzlich einen Elektronenstrahl- ablenkraum mit einem Strahlablenksystem, mittels dem ein erzeugter Elektronenstrahl periodisch über das gesamte Elektronenaustrittsfenster und im zeitlichen Mittel in allen Teilbereichen des Fensters mit annähernd gleicher Verweildauer abgelenkt wird
Dreidimensionale Formteile, wie beispielsweise Verpackungen, medizinische Implantate, OP- Bestecke, Prothesen aus verschiedenen Materialien (zum Beispiel Kunststoff, Papier, Metall, Keramik) werden in unterschiedlichen Branchen (zum Beispiel Verpackungsindustrie,
Pharmazie, Medizintechnik, Kunststoffindustrie) eingesetzt Für bestimmte Anwendungen ist eine Eigenschaftsanderung (zum Beispiel Sterilisation, Oberflachenfunktionalisierung, Vernetzung, Härtung) der gesamten Oberflache und der Randschicht des Formteiles erforderlich
Stand der Technik
Es ist bekannt, Eigenschaften der gesamten Oberflache von dreidimensionalen Formteilen mittels Elektronenenergie zu beeinflussen, indem ein Formteil in mehreren Durchlaufen (DE 199 42 142 A1) und in veränderter Position an einem Elektronenaustπttsfenster vorbeigefuhrt wird Bekannte Vorrichtungen zum Erzeugen von Elektronen für das Modifizieren von Formteileigenschaften sind derart gestaltet, dass über das gesamte Elektronenaustrittsfenster eine annähernd gleiche Elektronenenergiedichte erzeugt und abgegeben wird
Durch das Verandern der Position eines Formteils wird sichergestellt, dass die gesamte Formteiloberflache mit Elektronenenergie beaufschlagt wird Ein Nachteil derartiger Vorrichtungen besteht darin, dass ein Mehrfachdurchlauf mit einem relativ hohen Zeitaufwand verbunden ist Das Verandern der Position des Formteils zwischen den einzelnen Durch- laufen kann auch nicht wahllos erfolgen, sondern muss derart abgestimmt sein, dass einzelne Oberflachenbereiche in der Summe nicht mit unterschiedlichen Elektronen- energiedichten beaufschlagt werden, was zu unterschiedlichen Eigenschaften fuhren wurde
Nach dem Stand der Technik wird die gesamte Oberflache eines dreidimensionalen Formteils wahrend nur eines Durchlaufs mittels Elektronenenergie modifiziert, indem mehrere (mindestens zwei oder drei) Elektronenaustrittsfenster derart angeordnet werden, dass diese den Querschnitt des Formteils umschließen, wobei das Formteil zwischen diesen Elektronenaustrittsfenstern hindurchgefuhrt und somit die gesamte dreidimensionale Oberflache mit Elektronen beaufschlagt wird
Von der Firma LINAC Technologies (Technische Beschreibung „ELECTRON BEAM SURFACE STERILISATION SYSTEM 200 KeV - The Ke VAC S") ist eine Vorrichtung zum Sterilisieren der Oberflache von Formteilen mittels Elektronenenergie bekannt, bei der drei Elektronen- beschleuniger derart angeordnet sind, dass deren zugehörige Elektronenaustrittsfenster ein Volumen mit dem Querschnitt eines gleichschenkligen Dreiecks umschließen, durch das die zu sterilisierenden Formteile in einem Durchlauf hindurchgefuhrt werden Mit derartigen Vorrichtungen wird zwar gegenüber bekannten Losungen, bei denen ein Formteil in mehreren Durchlaufen mit Elektronen beaufschlagt wird, der zeitliche Aufwand verringert,
der technische Aufwand ist jedoch wegen des Einsatzes von drei Elektronenbeschleunigern sehr groß
Es sind ähnliche Anordnungen von drei Elektronenaustrittsfenstern bekannt, bei denen die Elektronen jedoch nur mittels eines Elektronenbeschleunigers erzeugt und mit Hilfe eines Ablenksystems auf die drei Elektronenaustrittsfenster aufgeteilt werden
Alle bekannten Losungen mit drei Elektronenaustrittsfenstern nutzen den Vorteil, dass sich die Elektronenbeschleuniger durch deren Dreiecksanordnung nicht oder vernachlassigbar gegenseitig beeinflussen, dass heißt, dass die beschleunigten Elektronen eines Elektronenbeschleunigers keine erheblichen Energieanteile auf die jeweils anderen Elektronenbeschleuniger abgeben Dies ist erforderlich, um den im Elektronenaustrittsfenster absorbierten Energieanteil und damit dessen Betriebstemperatur auf ein unterkritisches Maß zu begrenzen Bei überschreitung der Matenaleinsatztemperatur wurde das empfindliche Material der Fensterabdeckung anderenfalls durch die mechanische Belastung des von außen anliegenden Atmospharendruckes, im Verhältnis zum Hochvakuum im Inneren des Strahlerzeugers, zerstört Für die üblicherweise in Elektronenaustrittsfenstern eingesetzte Titanfolie darf eine Maximaltemperatur von etwa 400 0 C keinesfalls überschritten werden Für den Dauerbetrieb geht man von maximal 200-250 0 C aus
Die Anordnung von nur zwei gegenüberliegenden Elektronenaustrittsfenstern ist ebenfalls bekannt Bei der technologisch erforderlichen geringen Distanz zwischen den Elektronenaustrittsfenstern wird dabei ein erheblicher Energieanteil in das gegenüberliegende Elektronenaustrittsfenster eingebracht, was je nach Konstruktion eine Temperaturerhöhung um den Faktor 2 bis 5 zur Folge hat Die notwendige Begrenzung der Maximaltemperatur kann nur durch proportionale Begrenzung des Strahlstromes erreicht werden Dies jedoch begrenzt die Leistungsfähigkeit des Gesamtsystems
Eine weitere Möglichkeit zur Begrenzung der Temperatur zweier gegenüberliegender Elektronenaustrittsfenster ist die Anordnung eines zusätzlichen Absorbers wie z B eines (zumindest teiltransparenten) Transportbandes zwischen den Elektronenaustrittsfenstern (US 2,741 ,704) Ein erheblicher Energieanteil fallt dann auf den Absorber, was die Einstrahlung zusätzlicher Energie auf das gegenüberliegende Elektronenaustrittsfenster begrenzt
Ebenfalls bekannt ist die Losung, zwei Elektronenaustrittsfenster gegenüberliegend und seitlich in Produkt-Transportrichtung versetzt anzuordnen Dadurch wird die Einstrahlung von Leistung in den jeweils gegenüberliegenden Elektronenbeschleuniger und damit dessen Uberhitzung verhindert
Bei den bekannten Einrichtungen, bei denen zwei und mehr Elektronenaustrittsfenster ein Formteil umschließen und bei denen über ein gesamtes Elektronenaustrittsfenster eine annähernd gleiche Elektronenenergiedichte abgegeben und ein Formteil nur in einem Durchlauf mit Elektronen beaufschlagt wird, können einzelne Oberflachenteilbereiche des Formteils in Abhängigkeit von dessen Geometrie und dem daraus resultierenden unterschiedlichen Abstand der Oberflachenteilbereiche von einem Elektronenaustrittsfenster mit einer unterschiedlichen Dosis (Energie pro Flächeneinheit oder Energie pro Masseeinheit) an Elektronenenergie beaufschlagt werden
Um eine bestimmte Eigenschaft an einem Formteil zu realisieren, ist eine bestimmte Dosis an Elektronenenergie erforderlich Zweckmaßigerweise wird die Leistung der Elektronenerzeuger derart eingestellt, dass an jenen Oberflachenbereichen, an denen die geringste Dosis ankommt, die dort ankommende Dosis genau oder mindestens der Dosis entspricht, die für das Modifizieren der Eigenschaft erforderlich ist Alle anderen Oberflachenbereiche des Formteils werden zwangsläufig mit einer erhöhten Dosis beaufschlagt Diese erhöhte Dosis an Energie wird auch als Uberdosis bezeichnet Je hoher die Uberdosis in einzelnen Bereichen eines Formteils ist, umso starker weichen die Eigenschaften in diesen Bereichen von den Zielparametern ab Eine Uberdosis an Elektronenenergie wirkt sich jedoch nicht nur negativ auf die zu modifizierenden Eigenschaften eines Formteils aus, sondern kann auch zu unerwünschten oder gar prozessschadlichen Nebenwirkungen durch das Bilden unerwünschter Reaktionsprodukte (zum Beispiel Ozon) im Prozessgas (zum Beispiel Luft) fuhren
Ein als Uberdosisfaktor bezeichneter Parameter gibt an, um das Wievielfache eine er- forderliche Dosis zum Einstellen einer gewünschten Eigenschaft überschritten wird Mit den bekannten Einrichtungen werden in Abhängigkeit von der Geometrie zu modifizierender Formteile in einzelnen Oberflachenbereichen Uberdosisfaktoren erreicht, die für viele Anwendungen nicht akzeptabel sind, um hinreichend gleichmäßige Eigenschaften über die gesamte Oberflache zu realisieren und was auch die bereits genannten unerwünschten Nebenwirkungen mit sich bringt
Für die Erzielung hoher Produktivitäten ist eine angepasst hohe Transportgeschwindigkeit der Formteile erforderlich Wegen der Proportionalität von Transportgeschwindigkeit und Strahlstrom erfordert die Erzielung einer technologisch vorgegebenen Mindestdosis (für den Aufgabenbereich der Sterilisation hegt diese z B bei 25 kGy) eine mit der Geschwindigkeit proportionale Erhöhung des Strahlstromes, was zur uberproportionalen Erhöhung der Betriebstemperatur der Elektronenaustrittsfenster fuhrt Für den Fall der gegenüberliegenden Anordnung zweier Elektronenbeschleuniger ohne zusätzlichen Absorber oder seitlichen Versatz der Systeme existiert derzeit keine praxistaugliche Losung
Aufgabenstellung
Der Erfindung liegt daher das technische Problem zugrunde, eine Vorrichtung und ein Verfahren zu schaffen, mittels denen die Nachteile des Standes der Technik überwunden werden Insbesondere sollen Vorrichtung und Verfahren geeignet sein, Eigenschaften drei- dimensionaler Formteile mit einem geringen zeitlichen und technischen Aufwand derart zu modifizieren, dass eine hinreichend gleichmäßige Modifizierung der gesamten Oberflache oder einer Randschicht der Formteile erfolgt und dennoch keine die Produktivität begrenzenden Nachteile aus der Gesamtanordnung der Elektronenbeschleuniger aufweisen Dabei soll der Uberdosisfaktor so gering sein, dass dieser den technisch/technologischen Anforderungen der Formteile entspricht
Die Losung des technischen Problems ergibt sich durch die Gegenstande mit den Merkmalen der Patentansprüche 1 und 19 Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den abhangigen Patentansprüchen
Nach dem Stand der Technik ging man bisher davon aus, dass mindestens zwei Elektronenaustrittsfenster mit seitlichem Versatz oder mit dazwischen liegendem Absorber oder mit begrenztem Strahlstrom bzw drei Elektronenaustrittsfenster erforderlich sind, um den Querschnittsumfang eines dreidimensionalen Formteils in einem Durchlauf vollständig mit Elektronen beaufschlagen und gewünschte Eigenschaftsveranderungen herbeifuhren zu können Erfmdungsgemaß wird gezeigt, dass eine aus einer gegenüberliegenden Anordnung von Elektronenaustrittsfenstern resultierende Begrenzung des Strahlstromes nicht erforderlich ist und zusatzlich eine Beaufschlagung einer Formteiloberflache mit einer annähernd gleichmaßig verteilten Energiedosis möglich ist
Eine erfindungsgemaße Vorrichtung zur Eigenschaftsanderung eines dreidimensionalen Formteils mittels Elektronen umfasst mindestens einen Elektronenbeschleuniger zum Erzeugen von beschleunigten Elektronen und zwei Elektronenaustrittsfenster, wobei die beiden Elektronenaustrittsfenster gegenüberliegend angeordnet sind Gemeinsam mit mindestens einem Reflektor begrenzen die beiden Elektronenaustrittsfenster einen
Prozessraum, in welchem das Formteil mit Elektronen beaufschlagt wird Die Elektronenaustrittsfenster sind dabei so weit voneinander beabstandet, dass eine Beeinflussung eines Elektronenaustrittsfensters durch die abgestrahlte Energie des gegenüberliegenden Elektronenaustrittsfensters vernachlassigbar ist Der hierfür erforderliche Abstand weist im Wesentlichen eine Abhängigkeit von der Beschleunigungsspannung der Elektronen, der Dicke und Dichte der Folie eines Elektronenaustrittsfensters und der Dichte des Gases zwischen den Elektronenaustrittsfenstern auf
Der Nachteil, dass bei einem derartigen Abstand nicht mehr alle Oberflachenbereiche (insbesondere die Bereiche, die weitgehend senkrecht zur Oberflache der Elektronenaustrittsfenster verlaufen) des zu modifizierenden Formteils hinreichend mit Elektronen beaufschlagt werden, wird ausgeglichen, indem der Reflektor derart geformt und angeordnet ist, dass Elektronen (insbesondere aus den Randbereichen der Elektronenaustrittsfenster), welche das Formteil nicht treffen wurden, vom Reflektor auf die Ober- flachenbereiche des Formteils reflektiert werden, die ein Defizit bei der Beaufschlagung mit Elektronen aufweisen
Des Weiteren umfasst eine erfindungsgemaße Vorrichtung ein Sensorsystem, mittels dem die Energiedichteverteilung im Prozessraum über mindestens eine räumliche Dimension erfasst werden kann In Abhängigkeit von den hierbei erfassten Daten kann dann die über die Elektronenaustrittsfenster abgegebene Energiedichte derart gesteuert werden, dass innerhalb der Dimension, in welcher die Energiedichteverteilung erfasst wurde, eine gleichmäßige Beaufschlagung mit Elektronen auf die Formteiloberflache erfolgt
Eine derartige Vorrichtung ist besonders geeignet für Formteile, die einen weitestgehend runden, ovalen oder trapezförmigen Querschnitt aufweisen Damit können jedoch auch Formteile mit andersartigem Querschnitt modifiziert werden
Zum Erzeugen der beschleunigten Elektronen kann ein Elektronenbeschleuniger verwendet werden, von dem die Elektronen mit einer entsprechenden Umlenksteuerung auf die
beiden Elektronenaustrittsfenster aufgeteilt werden. Alternativ kann jedoch auch jedem Elektronenaustrittsfenster ein separater Elektronenbeschleuniger zugeordnet sein. Als Elektronenbeschleuniger sind sowohl Flächenbeschleuniger, auch als Bandstrahler bezeichnet, als auch Axialstrahlerzeuger geeignet.
Bei einer parallelen Ausrichtung zweier gegenüberliegender, eben ausgebildeter Elektronenaustrittsfenster mit optimalem Abstand und erfindungsgemäßer Anordnung eines Reflektorsystems konnten während der Elektronenbehandlung von Formteilen mit weitest- gehend trapezförmigem Querschnitt überdosisfaktoren realisiert werden, die unter dem Wert 4 lagen, wohingegen bei der Behandlung gleicher Formteile in Vorrichtungen nach dem Stand der Technik mit drei Elektronenaustrittsfenstern oder mit zwei gegenüberliegenden Elektronenaustrittsfenstern und dazwischen liegendem Absorber überdosisfaktoren von weit über 4 hingenommen werden mussten. Gegenüber bekannten Lösungen werden somit bei hoher Produktivität einerseits Energie gespart und andererseits die Oberfläche des dreidimensionalen Produktes vor strahlenchemischen Schäden bewahrt sowie aufgrund des geringeren Ausstoßes von Ozon prozessschädigende Nebenwirkungen reduziert.
Eine Ausführungsform der Erfindung umfasst zwei Reflektoren, welche den Prozessraum begrenzen und spiegelsymmetrisch gegenüberliegend angeordnet sind. Dabei kann jeder der beiden Reflektoren aus einer Vielzahl von Teilreflektoren bestehen.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform sind die Reflektoren gleichzeitig Bestandteil des Sensorsystems zum Erfassen einer Energiedichteverteilung. Hierbei kann beispielsweise eine Anzahl von Reflektoren bzw. Teilreflektoren, die bevorzugt aus einem Material mit hoher Ordnungszahl (beispielsweise Gold, Wolfram oder Molybdän) bestehen, über einen Widerstand elektrisch mit der elektrischen Masse oder einem anderen elektrischen Potential verbunden sein. Elektronen, die nicht von einem Reflektor/Teilreflektor reflektiert werden, bilden dann einen Stromfluss aus, so dass über einem zum Reflektor/Teil reflektor zu- gehörigen Widerstand eine Spannung erfasst werden kann. über die Werte der erfassten Spannung an den einzelnen Reflektoren/Teilreflektoren kann dann auch eine entsprechende Aussage bezüglich der Energiedichte der von einem Reflektor reflektierten Elektronen getroffen und entsprechende Regelschritte bezüglich einer gleichmäßigen Energiedichteverteilung eingeleitet werden.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn auf diese Weise die Energiedichteverteilungen in x-, y- und z-Richtung eines rechtwinkligen Koordinatensystems erfasst und entsprechend ausgewertet werden.
Mit Hilfe einer derartigen Kombination von Reflektoren und Sensorsystem kann beispielsweise auch erfasst werden, ob sich ein Formteil im Prozessraum befindet. In Abhängigkeit davon kann das Erzeugen von Elektronen gesteuert werden, so dass die Leistung der Elektronenbeschleuniger beispielsweise dann, wenn sich ein Formteil im Prozessraum befindet, auf einen prozessspezifischen Wert eingestellt wird und anderenfalls abgesenkt bzw. auf Null reduziert wird.
Bei einer erfindungsgemäßen Einrichtung kann der maximal auftretende überdosisfaktor bzw. ein gleichmäßiges Beaufschlagen der Formteiloberfläche mit Elektronen weiter optimiert werden, indem die beiden Elektronenaustrittsfenster in Abhängigkeit von der Geometrie eines zu behandelnden Formteils in einem Winkel zueinander ausgerichtet werden, so dass möglichst viele Oberflächenabschnitte des Formteils mit annähernd gleichem Maß vom jeweils Energie einstrahlenden Elektronenaustrittsfenster beabstandet sind.
Neben eben geformten Elektronenaustrittsfenstern können diese beispielsweise auch zum Formteil hin konkav ausgebildet oder auch der Geometrie des Formteils angepasst sein, was ebenfalls bewirkt, dass möglichst viele Oberflächenabschnitte des Formteils mit annähernd gleichem Maß vom jeweils Energie einstrahlenden Elektronenaustrittsfenster beabstandet sind, wodurch geringere überdosisfaktoren erzielt werden können.
Bei einer Ausführungsform umfasst ein Elektronenerzeuger eine Einrichtung, mittels der die über die Fläche mindestens eines Elektronenaustrittsfensters abgegebene Elektronen- energiedichte derart steuerbar ist, dass über einzelne Teilbereiche des Elektronenaustrittsfensters unterschiedliche Elektronenenergiedichten abgegeben werden. So kann beispiels- weise in den Teilbereichen des Fensters, in denen dem Fenster Oberflächenbereiche eines Formteils mit großem Abstand gegenüberliegen, die Elektronenenergiedichte erhöht werden gegenüber Teilbereichen des Fensters, in denen dem Fenster Oberflächenbereiche des Formteils mit geringem Abstand gegenüberliegen, so dass möglichst alle Oberflächenbereiche des Formteils die gleiche Dosis absorbieren und somit über die gesamte Oberfläche in der zu modifizierenden Bearbeitungstiefe (Oberfläche oder Randschicht) gleichmäßige
Eigenschaften ausgebildet werden Als Mittel zum Modifizieren der Elektronenenergiedichte über einzelne Teilbereiche eines Elektronenaustrittsfensters können innerhalb eines Flachen- strahlerzeugers (ohne elektromagnetische Strahlablenkung) liegende konstruktive, in die Elektronenoptik eingreifende Systeme, wie Blenden, Hilfselektroden oder die Temperatur der Katode beeinflussende Bauteile verwendet werden, welche die Verteilung des Elektronenstromes beeinflussen
Eine weitere Möglichkeit besteht in der Anordnung von Mitteln außerhalb des Elektronenbeschleunigers, insbesondere von magnetischen oder/und elektrischen Systemen, welche die Richtung der beschleunigten Elektronen beeinflussen
Eine weitere Ausfuhrungsform der Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass mindestens ein Elektronenaustrittsfenster bewegbar angeordnet ist So kann dieses Elektronenaustrittsfenster beispielsweise zu Beginn, wenn ein Formteil in den Prozessraum zwischen beiden Fenstern eingebracht wird, zur Stirnseite des Formteils hin verkippt werden, um stirnseitig das Beaufschlagen mit Elektronen zu verbessern Beim weiteren Transport des Formteils durch den Prozessraum hindurch kann das Fenster dann in Richtung paralleler Ausrichtung zum gegenüberliegenden Fenster und beim Verlassen des Prozessraumes in Richtung Ruckseite des Formteiles verkippt werden Es ist jedoch auch möglich, dass mit dem Fenster andere Bewegungsformen ausgeführt werden So kann das Fenster beispielsweise zeitweise in Bewegungsrichtung des Formteils mitgefuhrt werden
Eine weitere Optimierung bei der Zielstellung, die Eigenschaften gleichmäßig über die gesamte Oberflache eines Formteils zu modifizieren, ist mittels einer Einrichtung möglich, die über magnetische oder/und elektrische Ablenksysteme nicht nur den Punkt steuert, an dem ein Elektron ein Elektronenaustrittsfenster verlasst, sondern auch die Austrittsrichtung des Elektrons an diesem Punkt Damit lassen sich noch gezielter bestimmte Oberflachen- bereiche des Formteils mit Elektronen beaufschlagen
Bei einer bevorzugten Ausfuhrungsform ist zumindest ein Elektronenaustrittsfenster als vakuumdichte Folie und somit als Druckbarriere zwischen Strahlfuhrungsraum und Prozessraum ausgebildet Alternativ kann ein Elektronenaustrittsfenster auch als gasdurchlässige Druckstufenanordnung zwischen Elektronengenerator und Prozessraum ausgebildet sein
Ein erfindungsgemäßes Verfahren zur Eigenschaftsänderung eines dreidimensionalen Formteils mittels Elektronen zeichnet sich dadurch aus, dass mittels mindestens einem Elektronenbeschleuniger Elektronen erzeugt, beschleunigt und über die Fläche von zwei gegenüberliegenden Elektronenaustrittsfenstern abgestrahlt werden, wobei die beiden Elektronenaustrittsfenster und mindestens ein Elektronen-Reflektor einen Prozessraum begrenzen, in welchem die Oberfläche oder eine Randschicht des Formteils mit Elektronen beaufschlagt wird, wobei mittels e>nes Sensorsystems eine Energiedichteverteilung innerhalb des Prozessraumes zumindest über eine räumliche Dimension erfasst und der Abstand der Elektronenaustrittsfenster derart eingestellt wird, dass eine Beeinflussung eines Elektronenaustrittsfensters durch die abgestrahlte Energie des gegenüberliegenden Elektronenaustrittsfensters vernachlässigbar ist.
Vorteilhaft wird der Abstand der Elektronenaustrittsfenster in Abhängigkeit von der Beschleunigungsspannung der Elektronen und der Dicke und der Dichte der Elektronen- austrittsfenster eingestellt.
Bei einer Ausführungsform wird der Abstand a der Elektronenaustrittsfenster in einem Bereich eingestellt, der sich aus der Formel
6,67 * 10 -λ Ub * k J" * k 2 - p F * d F
'w fl = / !
a = Distanz der Elektronenbeschleuniger
Ub = Beschleunigungsspannung p w = Dichte von Wasser p G = Dichte des Mediums zwischen den Elektronenaustrittsfenstern p F = Dichte der Fensterfolie d F = Dicke der Fensterfolie k, = 1 *V k 2 = 1 *(g/m 2 ) - 1 f = Abstandsfaktor (0,5 < f < 1 ,5) ergibt.
Der Bereich für den Abstand a ergibt sich hierbei aus dem Wertebereich des Abstandsfaktors f, wobei aus einem Abstandsfaktor mit einem Wert von 1 ein optimaler Rechenwert für den Abstand a resultiert.
Für das Bestrahlen eines Formteils innerhalb des Prozessraumes zwischen den beiden Elektronenaustrittsfenstern stehen verschiedene alternative Möglichkeiten zur Verfügung
So kann ein Formtei! mit konstanter Geschwindigkeit durch den Prozessraum geführt und währenddessen mit Elektronen beaufschlagt werden.
Alternativ besteht auch die Möglichkeit, dass ein Formteil in den Prozessraum geführt und dort im stationären Zustand durch einen einmaligen oder mehrfachen Bestrahlungsvorgang mit Elektronen beaufschlagt wird.
Bei einer weiteren alternativen Ausführungsform wird ein Formteil im so genannten Step- and-Repeat-Modus mit Elektronen beaufschlagt. Hierunter ist zu verstehen, dass das Formteil derart in den Prozessraum geführt wird, dass zumindest ein Stück des Formteils in den Prozessraum ragt. Im stationären Zustand wird das Formteil dann mit Elektronen aus den Elektronenaustrittsfenstern beaufschlagt. Hieran schließt sich ein erneuter Transportschritt an, in welchem das Formteil eine weitere Strecke in bzw. durch den Prozessraum bewegt wird. Im bewegungslosen Zustand erfolgt dann wiederum ein Bestrahlungsschritt, in welchem das Formteil erneut mit Elektronen beaufschlagt wird. So wechseln sich Transport- und Bestrahlungsschritte ab, bis das Formteil vollständig durch den Prozessbereich bewegt wurde. Ein jeweiliger Transportschritt kann dabei derart ausgeführt werden, dass die einzelnen Oberflächenbereiche, die nach den jeweiligen Transportschritten mit Elektronen beaufschlagt werden, aneinandergrenzen oder sich bei einer alternativen Variante überlappen.
Schließlich ist auch eine Modifikation eines Formteils durchführbar, indem das Formteil im Prozessraum um eine sich zwischen die beiden Elektronenaustrittsfenster erstreckende Achse rotiert und währenddessen durch einen einmaligen oder mehrfachen Bestrahlungsvorgang mit Elektronen beaufschlagt wird.
Erfindungsgemäße Verfahren können beispielsweise zur Sterilisation von Verpackungen und Produkten der Pharmaindustrie und der Medizintechnik, zur Sterilisation/Desinfektion oder
Entkeimung von Produkten wie Fruchten, Eiern oder anderen Naturprodukten, zur Modifikation von Kunststoffen, Harten von Beschichtungen oder zur Steπlisation/Des- infektion von Gegenstanden verwendet werden
Ausfuhrungsbeispiel
Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines bevorzugten Ausfuhrungsbeispiels naher erläutert Die Fig zeigen
Fig 1 eine schematische Querschnittsdarstellung einer erfindungsgemaßen Vorrichtung, Fig 2 eine graphische Darstellung der Tiefendosisverteilung der von den gegenüberliegenden Elektronenaustrittsfenstern 5a und 5b aus Fig 1 abgestrahlten Elektronen, Fig 3 eine schematische Darstellung eines Sensorsystems, umfassend die Reflektoren 7a 1 und 7b1 aus Fig 1
In Fig 1 ist schematisch eine Vorrichtung 1 zur Elektronenbehandlung zum Zwecke der Sterilisation der Oberflache eines Formteils 2 im Querschnitt dargestellt Formteil 2 ist ein länglicher Gegenstand mit trapezförmigem Querschnitt Vorrichtung 1 besteht aus zwei als Flachenstrahlerzeuger ausgebildeten Elektronenbeschleunigern 3a, 3b, die jeweils einen Elektronenbeschleunigungsraum 4a, 4b und ein Elektronenaustrittsfenster 5a, 5b umfassen Hierbei sind die Elektronenaustrittsfenster als 1 1 μm dicke Titanfolie ausgebildet Die Elektronenbeschleuniger 3a, 3b sind derart angeordnet, dass die eben geformten Elektronenaustrittsfenster 5a, 5b parallel gegenüberliegend ausgerichtet sind Zwischen beiden Elektronenaustrittsfenstern 5a, 5b wird Formteil 2 auf einem auf Hohe des Elektronenaustrittsfensters 5b unterbrochenen und in Fig 1 gepunktet dargestellten
Forderbandsystem 6 kontinuierlich hindurchgefuhrt und dabei dessen gesamte Oberflache mit Elektronenenergie beaufschlagt An den schrägen Seitenflächen des Formteils 2 wurde dabei jeweils die geringste Energiedosis an den am weitesten von den Elektronenaustrittsfenstern entfernten Punkten übertragen, was durch die Anordnung von Elektronen- reflektoren 7a1 , 7b1 , 7a2, 7b2 aus Gold kompensiert wird Dies geschieht, indem die ungenutzten Randstrahlen 8a1 , 8a2, 8b1 , 8b2 des jeweiligen Elektronenstrahles der beiden Elektronenbeschleuniger 3a, 3b auf den jeweils nachstgelegenen Elektronenreflektor treffen, dort reflektiert werden und durch die Winkelanordnung der Reflektoren in den Bereich der niedrigsten Dosis auf das Formteil gefuhrt werden Aus einer derartigen Gesamtanordnung resultiert eine Energiedosis auf der gesamten Oberflache oder auch in
einer Randschicht des Formteiles mit einem minimalen Uberdosisfaktor, einer maximalen Ausnutzung des Elektronenstromes und einem Minimum an in der Luftstrecke entstehendem reaktiven Ozon
Der in der Anordnung gewählte Abstand der beiden Elektronenaustrittsfenster 5a und 5b entspricht weitgehend folgendem Zusammenhang
(ub x k y /3
6,67 * 10 "7 ^ ιJ — * k 2 - p F * d F
Pw a = f
a = Distanz der Elektronenbeschleuniger
Ub = Beschleunigungsspannung p w = Dichte von Wasser p G = Dichte des Mediums zwischen den Elektronenaustrittsfenstern p F = Dichte der Fensterfohe d F = Dicke der Fensterfohe k, = 1 *V 1 k 2 = 1 *(g/m 2 ) 1 f = Abstandsfaktor (0,5 < f < 1 ,5), wobei f=1 einen optimalen Abstand definiert
Bei 1 1 μm dicken Titanfolien als Elektronenaustrittsfenster 5a, 5b und dem Medium Luft (hier angenommen 1 188 g/m 3 ) zwischen diesen Elektronenaustrittsfenstern ergibt sich ein optimaler Abstand von 196 mm
Fig 2 zeigt beispielhaft die Tiefendosisverteilung der erfindungsgemaßen Anordnung zweier Elektronenbeschleuniger gemäß Fig 1 mit einer Dicke der Elektronenaustπttsfenster- folien (Titan) von 1 1 μm bei einer Beschleunigungsspannung von 150 kV und einem optimalen Abstand der Elektronenaustrittsfenster von 196 mm Kurve 10 stellt die Verteilung der durch Elektronenbeschleuniger 3a erzeugten Energiedosis über der Eindringtiefe der Elektronen dar Die Energie der Elektronen ist an Punkt 1 1 bei einer Flachenmasse von 280 g/m 2 (entspricht bei einer Dichte von 1000 g/m 3 einer dem Zahlenwert gemäßen Eindringtiefe in mm - beim angegebenen Fall also 280 mm), auf Null abgefallen Erst in dieser Distanz befindet sich das Elektronenaustrittsfenster 5b, dessen Flachenmasse als
schraffierte Flache 12 in Figur 2 dargestellt ist Die gleichen Bedingungen ergeben sich für den Elektronenbeschleuniger 3b, dessen erzeugte Energiedosis als Kurve 13 dargestellt, an Punkt 14 auf Null abgebaut ist (in der Darstellung Fig 2 bei etwa 50 g/m 2 ) Die Distanz der Punkte 1 1 und 14 stellt die Distanz zwischen den beiden Elektronenaustrittsfenstern 5a und 5b dar und entspricht der Flachenmasse von etwa 230 g/m 2 , was multipliziert mit der
Dichte von Luft (hier angenommen 1 188 g/m 3 ) etwa 196 mm entspricht Erfindungsgemaß ergibt sich unter den angenommenen Bedingungen also ein optimaler Abstand von 196 mm, bei dem keine Leistung im jeweils gegenüberliegenden Elektronenaustrittsfenster absorbiert wird Die Distanz kann entsprechend des Abstandsfaktors variiert werden
Fig 2 zeigt auch den Punkt 16 mit der höchsten Energiedosis, die bei etwa 100 g/m 2 durch den Elektronenbeschleuniger 3a erzeugt wird In etwa an diesem Punkt sind die Elektronenreflektoren 7a1 und 7a2 angeordnet Unter Berücksichtigung der als schraffierte Flache 15 dargestellten Flachenmasse des Elektronenaustrittsfensters 5a von etwa 50 g/m 2 ergibt sich an Luft die optimale Distanz der Reflektoren 7a1 und 7a2 zum Elektronenaustrittsfenster 5a von etwa 42 mm Gleiche Verhaltnisse gelten für den Elektronenbeschleuniger 3b mit den Reflektoren 7b 1 und 7b2
Fig 3 zeigt eine Detailansicht eines Reflektorsystems, umfassend die Reflektoren 7a 1 und 7b1 aus Fig 1 , welche gleichzeitig als Bestandteile eines Sensorsystems ausgebildet sind
Aus Fig 3 ist ersichtlich, das die Reflektoren 7a1 und 7b1 in y-Rιchtung, also in Bewegungsrichtung des Formteils 2, in Teilreflektoren 7a1 1 und 7a1 2 bzw 7b1 1 und 7b1 2 unterteilt sind Dabei ist jeder Teilreflektor gegenüber allen anderen Teilreflektoren elektrisch isoliert angeordnet So wie dem Teilreflektor 7a 1 1 eine Messeinrichtung 9a 1 1 zugeordnet ist, ist auch jedem weiteren Teilreflektor eine Messeinrichtung zugeordnet, mittels der die auf dem zugeordneten Teilreflektor auftreffenden Elektronenstrome erfassbar sind
Wie eben in Bezug auf die Reflektoren 7a1 und 7b1 beschrieben, sind auch die zu den Reflektoren 7a1 und 7b1 spiegelsymmetπsch angeordneten Reflektoren 7a2 und 7b2 in Teilreflektoren unterteilt, welche gleichzeitig mit zugehörigen Messeinrichtungen Bestandteile eines Sensorsystems sind
Auf diese Weise gibt es jeweils in x-, y- und z- Richtung mindestens zwei Messpunkte mit entsprechenden Messergebnissen, mittels denen somit eine Aussage bezüglich der Elektronenstromdichteverteilung in x-, y- und z-Rιchtung möglich ist Dabei sollte erkennbar
sein, dass eine umso genauere Aussage bezüglich der Elektronenstromdichteverteilung getroffen werden kann, je hoher die Anzahl der in x-, y- und/oder z-Rιchtung ausgebildeten Teilreflektoren ist
In Abhängigkeit von den auf diese Weise ermittelten Elektronenstromdichteverteilungen ist Vorrichtung 1 daher für die kontinuierliche Prozesskontrolle durch überwachung und ggf Steuerung der Strahlstromdichteverteilung der beiden gegenüberliegenden Elektronenbeschleuniger 3a und 3b geeignet Mittels der erfindungsgemaßen Vorrichtung 1 ist es daher möglich, zum einen die gesamte Oberflache eines Formteils 2 trotz nur zweier Elektronenaustrittsfenster 5a, 5b flachendeckend mit Elektronen zu beaufschlagen, andererseits ist dabei der Vorgang derart steuerbar, dass alle Oberflachenabschnitte mit einer weitgehend gleichmäßigen Energiedosis beaufschlagt werden
Durch die Kombination aus Reflektor- und Sensorsystem ist es außerdem möglich, den Aufenthalt der Formteile 2 in der Prozesszone räumlich und zeitlich zu überwachen Bei Abwesenheit eines Formteils 2 treffen die Randstrahlen 8 auf den jeweils gegenüberliegenden Reflektor (z B Randstrahl 8a 1 auf Reflektor 7a 1 und dann auf Reflektor 7a2) und werden im Sensorsystem als ansteigender Elektronenstromwert registriert Bei Anwesenheit eines Formteils 2 in der Prozesszone absorbiert das Formteil 2 hingegen die reflektierten Randstrahlen und das registrierte Signal verringert sich Zusatzlich verringert sich der Anteil an sonstigen Streuelektronen, die auf das Sensorsystem treffen So kann eine Aussage getroffen werden, ob sich ein Formteil 2 im Prozessraum befindet