Login| Sign Up| Help| Contact|

Patent Searching and Data


Title:
DEVICE AND METHOD FOR ANALYZING A SOLID, ELONGATE TEST MATERIAL
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2006/105676
Kind Code:
A1
Abstract:
Disclosed is a device for analyzing a solid, elongate test material (9). Said device comprises a precision capacitor (2) with a test part electrode (23) and protective electrodes (24.1, 24.2) which are electrically insulated therefrom. The inventive device further comprises means (4) for applying an alternating current to the precision capacitor (2) in order to generate an alternating electrical field in the precision capacitor (2). The protective electrodes (24.1, 24.2) are designed for active guarding by being maintained on the same potential regarding the alternating voltage as the test part electrode (23). The active guarding process allows test materials (9) having different thicknesses to be analyzed using one and the same test head (1). Signal noise is reduced, the output signal is largely independent of the position of the test material (9) in the transversal direction, and the test head (1) has small geometrical dimensions.

Inventors:
OTT PHILIPP (CH)
SCHMID PETER (CH)
Application Number:
PCT/CH2006/000138
Publication Date:
October 12, 2006
Filing Date:
March 06, 2006
Export Citation:
Click for automatic bibliography generation   Help
Assignee:
USTER TECHNOLOGIES AG (CH)
OTT PHILIPP (CH)
SCHMID PETER (CH)
International Classes:
G01N27/24
Foreign References:
US3523246A1970-08-04
DE4105857A11992-08-27
GB2364777A2002-02-06
Other References:
MARIOLI D ET AL: "HIGH-ACCURACY MEASUREMENT TECHNIQUES FOR CAPACITANCE TRANSDUCERS", MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY, IOP, BRISTOL, GB, vol. 4, no. 3, 1 March 1993 (1993-03-01), pages 337 - 343, XP000349007, ISSN: 0957-0233
Download PDF:
Claims:
PATENTANSPRÜCHE
1. Vorrichtung zur Untersuchung eines festen, länglichen Prüfgutes (9) , beinhaltend einen Messkondensator (2) mit einer Messteilelektrode (23) und mindestens einer von der Messteilelektrode (23) elektrisch isolierten Schutzelektrode (24.1, 24.2), Mittel (4) zum Anlegen einer Wechselspannung an den Messkondensator (2) zwecks Erzeugung eines elektrischen Wechselfeldes (29) im Messkondensator (2), und eine Durchgangsöffnung (26) für das Prüfgut (9) im Messkondensator (2), welche Durchgangsöffnung (26) vom elektrischen Wechselfeld (29) beaufschlagbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine der mindestens einen Schutzelektrode (24.1, 24.2) für aktives Guarding eingerichtet ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei an die mindestens eine Schutzelektrode (24.1, 24.2) eine Wechselspannung derart anlegbar ist, dass die mindestens eine Schutzelektrode (24.1, 24.2) zumindest wechselspannungsmässig auf annähernd demselben Potenzial liegt wie die Messteilelektrode (23) .
3. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei dem Messkondensator (2) ein Impedanzwandler (5, 8) nachgeschaltet ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, wobei der Impedanzwandler als Kollektorschaltung (5) ausgebildet ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, wobei die Kollektorschaltung (5) einen Bipolartransistor (52) beinhaltet, mit dessen Basis (53) die Messteilelektrode (23) elektrisch verbunden ist, an dessen Kollektor (54) eine konstante Betriebsspannung (VCc) anlegbar ist und dessen Emitter (55) einerseits mit der mindestens einen Schutzelektrode (24.1, 24.2) und andererseits mit einer Ausgangsleitung (59) der Kollektorschaltung (5) elektrisch verbunden ist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 3, wobei der Impedanzwandler als Transimpedanzverstärkerschaltung (8) ausgebildet ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, wobei die Transimpedanzverstärkerschaltung (8) einen Operationsverstärker (82) beinhaltet, dessen nichtinvertierender Eingang (+) mit der Messteilelektrode (23) elektrisch verbunden ist und dessen Ausgang mit einem invertierenden Eingang () des Operationsverstärkers (82) , mit der mindestens einen Schutzelektrode (24.1, 24.2) und mit einer Ausgangsleitung (89) der Transimpedanzverstärkerschaltung (8) elektrisch verbunden ist.
8. Vorrichtung einem der vorangehenden Ansprüche, wobei die mindestens eine Schutzelektrode (24.1, 24.2) in einem Endbereich der Durchgangsöffnung (26) angebracht ist, in welchem das Prüfgut (9) in die Durchgangsöffnung (26) eintritt und/oder aus dieser austritt.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, wobei zwei Schutzelektroden (24.1, 24.2) vorhanden sind, nämlich eine erste Schutzelektrode (24.1) in einem Eingangsbereich und eine zweite Schutzelektrode (24.2) in einem Ausgangsbereich der Durchgangsöffnung (26) , und die Messteilelektrode zwischen den zwei Schutzelektroden (24.1, 24.2) angeordnet ist.
10. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei die Vorrichtung nebst dem Messkondensator (2) einen Referenzkondensator (3) beinhaltet.
11. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei die Vorrichtung ferner eine Detektorschaltung (6) zur Detektion eines Ausgangssignals des Messkondensators (2) und eine Auswerteschaltung (7) zur Auswertung des Ausgangssignals beinhaltet.
12. Verwendung von aktivem Guarding mittels mindestens einer Schutzelektrode (24.1, 24.2) bei der kapazitiven Untersuchung eines festen, länglichen Prüfgutes (9).
13. Verfahren zur Untersuchung eines festen, länglichen Prüfgutes (9), wobei das Prüfgut (9) in einem Messkondensator (2) mit einer Messteilelektrode (23) und mindestens einer von der Messteilelektrode (23) elektrisch isolierten Schutzelektrode (24.1, 24.2) einem elektrischen Wechselfeld (29) ausgesetzt wird, dadurch gekennzeichnet, dass mit mindestens einer der mindestens einen Schutzelektrode (24.1, 24.2) aktives Guarding betrieben wird.
14. Verfahren nach Anspruch 13, wobei an die mindestens eine Schutzelektrode (24.1, 24.2) eine Wechselspannung derart angelegt wird, dass die mindestens eine Schutzelektrode (24.1, 24.2) zumindest wechselspannungsmässig auf annähernd demselben Potenzial liegt wie die Messteilelektrode (23) .
15. Verfahren nach Anspruch 13 oder 14, wobei mindestens ein Ausgangssignal des Messkondensators (2) einem Impedanzwandler (5, 8) zugeführt wird.
16. Verfahren nach Anspruch 15, wobei als Impedanzwandler eine Kollektorschaltung (5) mit einem Bipolartransistor (52) gewählt wird, ein Ausgangssignal der Messteilelektrode (23) einer Basis (53) des Bipolartransistors (52) zugeführt wird, an einen Kollektor (54) des Bipolartransistors (52) eine konstante Betriebsspannung (VCc) angelegt wird und einem Emitter (55) des Bipolartransistors (52) ein Ausgangssignal entnommen wird, welches Ausgangssignal einerseits an die mindestens eine Schutzelektrode (24.1, 24.2) und andererseits als Ausgangssignal der Kollektorschaltung (5) ausgegeben wird.
17. Verfahren nach Anspruch 15, wobei als Impedanzwandler eine Transimpedanzverstärkerschaltung (8) mit einem Operationsverstärker (82) gewählt wird, ein Ausgangssignal der mindestens einen Messteilelektrode (23) einem nichtinvertierenden Eingang (+) des Operationsverstärkers (82) zugeführt wird und ein Ausgangssignal des Operationsverstärkers (82) dem invertierenden Eingang () des Operationsverstärkers (82) sowie der mindestens einen Schutzelektrode (24.1, 24.2) zugeführt und als Ausgangssignal der Transimpedanzverstärkerschaltung (8) ausgegeben wird.
18. Verfahren nach einem der Ansprüche 1317, wobei die Frequenz des Wechselfeldes (29) aus dem Bereich zwischen 1 MHz und 100 MHz, bspw. 10 MHz, gewählt wird.
19. Verfahren nach einem der Ansprüche 1318, wobei ein Umgebungsmedium in einem Referenzkondensator (3) einem elektrischen Wechselfeld ausgesetzt wird und mindestens ein Ausgangssignal des Referenzkondensators (3) zusammen mit dem mindestens einen Ausgangssignal des Messkondensators (2) ausgewertet wird.
20. Verfahren nach einem der Ansprüche 1319, wobei ein Wechselfeld (29) mit mindestens einer konstanten Anregungsfrequenz am Messkondensator (2) angelegt wird, für jede der mindestens einen Anregungsfrequenz ein Ausgangssignal separat detektiert wird und die detektierten Signale zur Auswertung miteinander kombiniert werden.
Description:
VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR UNTERSUCHUNG EINES PESTEN,

LÄNGLICHEN PRUFGUTES

TECHNISCHES GEBIET

Die vorliegende Erfindung liegt auf dem Gebiet der Prüfung mit kapazitiven Mitteln von festen, länglichen, vorzugsweise textilen Gebilden wie Kardenband, Vorgarn, Garn oder Gewebe. Sie betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Untersuchung eines festen, länglichen Prüfgutes, gemäss den Oberbegriffen der unabhängigen Patentansprüche. Eine derartige Untersuchung kann bspw. die Detektion von Fremdstoffen oder das Erkennen von Änderungen der Masse pro Längeneinheit zum Ziel haben.

STAND DER TECHNIK

In der Textilindustrie besteht Bedarf nach einer zuverlässigen Erkennung von Fremdstoffen wie Polypropylen in länglichen textilen Gebilden wie Garn. Zu diesem Zweck kommen häufig optische Mittel zum Einsatz. Diese haben jedoch den

Nachteil, dass sie Fremdstoffe nicht erkennen, welche durchsichtig sind, dieselbe Farbe wie das Prüfgut haben oder im Innern des Prüfgutes versteckt und von aussen unsichtbar sind.

Die Unzulänglichkeiten optischer Prüfmethoden können durch den Einsatz von elektrischen, insbesondere kapazitiven Mitteln umgangen werden. Aus der EP-O '924 '513 Al sind ein Verfahren und eine Vorrichtung zur kapazitiven Erkennung von Fremdstoffen in textilem Prüfgut bekannt. Dabei wird das Prüfgut durch einen Plattenkondensator hindurch bewegt und einem elektrischen Wechselfeld ausgesetzt. Es werden dielektrische Eigenschaften des Prüfgutes ermittelt. Aus den dielektrischen Eigenschaften werden zwei elektrische Grossen ermittelt und kombiniert, wobei ein Kennwert entsteht, der von der Masse des Prüfgutes unabhängig ist. Der Kennwert wird mit einem vorausgehend ermittelten Kennwert für die betreffenden Stoffe verglichen und daraus der Anteil Fremdstoffe bestimmt.

Um von äusseren Einflüssen wie Lufttemperatur oder Luftfeuchtigkeit verursachte Störsignale zu eliminieren, wird in einer bevorzugten Ausführungsform der in der EP-O '924 '513 Al offenbarten Vorrichtung gleichzeitig mit dem eigentlichen Messkondensator ein Referenzkondensator eingesetzt. Dieser kann durch Zufügen einer dritten, parallel zu den beiden Messkondensatorplatten angeordneten

Kondensatorplatte gebildet werden, wobei die drei Kondensatorplatten zu einer kapazitiven Brücke zusammen geschaltet werden. Typische Abmessungen der Kondensatorplatten betragen ca. 7 mm x 7 mm, typische Plattenabstände ca. 2 mm.

Bei der oben beschriebenen Vorrichtung ist zu beobachten, dass das Signalrauschen mit grosserem Elektrodenabstand zunimmt. Ferner ändert sich das Ausgangssignal, wenn das Prüfgut in Querrichtung, d. h. von einer Kondensatorelektrode zur anderen, verschoben wird. Die Folgen davon sind Artefakte und ebenfalls höheres Rauschen wegen Querschwingungen des Prüfgutes beim Durchlaufen des Messkondensators.

Diese unerwünschten Beobachtungen sind hauptsächlich auf Randeffekte im Messkondensator zurück zu führen. Es ist z. B. aus den Veröffentlichungen US-2, 950, 436, US-3, 523, 246, GB-I, 373, 922 oder GB-2,102,958 bekannt, zur Verringerung der Randeffekte so genannte Schutzelektroden (englisch „guard electrodes") an den Rändern des Messkondensators vorzusehen. Dadurch wird der effektive Messbereich auf den mittleren Bereich des Messkondensators beschränkt, wo das elektrische Feld homogen ist. Die Schutzelektroden sind an Masse oder einem anderen konstanten Potenzial angelegt und schirmen die eigentliche Messteilelektrode, die sich im mittleren Bereich des Messkondensators befindet, von störenden Randeffekten ab. Trotz dieser Massnahme konnten die beschriebenen

unerwünschten Beobachtungen nicht vollständig beseitigt werden. Es bestehen nämlich Potenzialdifferenzen zwischen der Messteilelektrode und den Schutzelektroden, so dass sich inhärent vorhandene parasitäre Kapazitäten zwischen den Elektroden nachteilig auf die Messung auswirken. Um den Einfluss der parasitären Kapazitäten zu vermindern, müssen die Abstände zwischen der Messteilelektrode und den Schutzelektroden vergrössert werden. Dies vermindert aber den erwünschten Schutzeffekt der Schutzelektroden, weil dadurch das elektrische Feld an den Rändern der Messteilelektrode inhomogen wird. Ausserdem beansprucht ein Messkopf mit derart vergrosserten Elektroden mehr Platz, was im Hinblick auf den Einsatz ein Nachteil ist.

BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG

Es ist deshalb eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Untersuchung von festen, länglichen, vorzugsweise textilen Gebilden anzugeben, welche die obigen Nachteile nicht aufweisen und die bekannten Vorrichtungen bzw. Verfahren verbessern. Insbesondere soll das Signalrauschen vermindert werden. Das Ausgangssignal soll von der Position des Prüfgutes in Querrichtung weitgehend unabhängig werden. Der Platzbedarf soll gering gehalten werden.

Diese und andere Aufgaben werden gelöst durch die Vorrichtung und das Verfahren, wie sie in den unabhängigen Patentansprüchen definiert sind. Vorteilhafte Ausführungsformen werden in den abhängigen Patentansprüchen angegeben.

Die Erfindung basiert auf der Idee, mit mindestens einer der Schutzelektroden aktives Guarding zu betreiben, d. h. eine sich zeitlich verändernde Spannung an die mindestens eine Schutzelektrode anzulegen.

Dementsprechend beinhaltet die erfindungsgemässe Vorrichtung zur Untersuchung eines festen, länglichen Prüfgutes einen Messkondensator mit einer Messteilelektrode und mindestens einer von der Messteilelektrode elektrisch isolierten Schutzelektrode, Mittel zum Anlegen einer Wechselspannung an den Messkondensator zwecks Erzeugung eines elektrischen Wechselfeldes im Messkondensator und eine Durchgangsöffnung für das Prüfgut im Messkondensator, welche Durchgangsöffnung vom elektrischen Wechselfeld beaufschlagbar ist. Mindestens eine der mindestens einen Schutzelektrode ist für aktives Guarding eingerichtet. Vorzugsweise ist an die mindestens eine Schutzelektrode eine Wechselspannung derart anlegbar, dass die mindestens eine Schutzelektrode zumindest wechselspannungsmässig auf annähernd demselben Potenzial liegt wie die Messteilelektrode.

Die Erfindung umfasst auch die Verwendung von aktivem Guarding mittels mindestens einer Schutzelektrode bei der kapazitiven Untersuchung eines festen, länglichen Prüfgutes .

Im erfindungsgemässen Verfahren zur Untersuchung eines festen, länglichen Prüfgutes wird das Prüfgut in einem Messkondensator mit einer Messteilelektrode und mindestens einer von der Messteilelektrode elektrisch isolierten Schutzelektrode einem elektrischen Wechselfeld ausgesetzt. Mit mindestens einer der mindestens einen Schutzelektrode wird aktives Guarding betrieben. Vorzugsweise wird an die mindestens eine Schutzelektrode eine Wechselspannung derart angelegt, dass die mindestens eine Schutzelektrode zumindest wechselspannungsmässig auf annähernd demselben Potenzial liegt wie die Messteilelektrode.

Das erfindungsgemässe aktive Guarding verhindert die unerwünschten Auswirkungen der parasitären Kapazitäten zwischen Messteilelektrode und Schutzelektroden. Es erlaubt wesentlich kleinere Bauformen des Messkopfes.

KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN

Nachfolgend werden bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung anhand der beiliegenden Zeichnungen detailliert erläutert. Dabei zeigen schematisch:

Figur 1 eine erste Ausführungsform eines Messkopfes für die erfindungsgemässe Vorrichtung in einer perspektivischen Ansicht,

Figur 2 Verläufe von elektrischen Feldlinien in einem Messkondensator (a) gemäss dem Stand der

Technik bzw. (b) gemäss der vorliegenden

Erfindung, in einer Seitenansicht, Figuren 3-5 drei weitere Ausführungsformen eines

Messkopfes für die erfindungsgemässe Vorrichtung in perspektivischen Ansichten,

Figuren 6, 7 elektrische Schaltschemata von zwei

Ausführungsformen der erfindungsgemässen

Vorrichtung.

BESCHREIBUNG VON BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN

Eine erste Ausführungsform eines Messkopfes 1 für die erfindungsgemässe Vorrichtung ist in Figur 1 in einer perspektivischen Ansicht dargestellt. Der Messkopf 1 beinhaltet im Wesentlichen einen Messkondensator 2. Dabei handelt es sich in diesem Ausführungsbeispiel um einen ebenen Zweiplattenkondensator mit einer ersten, im Wesentlichen ebenen Kondensatorplatte 21 und einer zweiten, im Wesentlichen ebenen Kondensatorplatte 22. Die Kondensatorplatten 21, 22 sind je ca. 0.8 mm dick, bestehen z. B. aus Messing und können zur Erzielung einer höheren

Abriebfestigkeit z. B. mit Nickel beschichtet sein. Die beiden Kondensatorplatten 21, 22 sind durch einen ca. 1-3 mm, vorzugsweise ca. 1.5-2.0 mm dicken Luftspalt voneinander getrennt, der eine Durchgangsöffnung 26 für ein festes, längliches Prüfgut 9 bildet. Das Prüfgut 9 kann z. B. ein Garn sein. Es wird vorzugsweise in Längsrichtung x durch die Durchgangsöffnung 26 hindurch bewegt und dabei einem zwischen den beiden Kondensatorplatten 21, 22 erzeugten elektrischen Wechselfeld 29 (vgl. Figur 2 (b) ) ausgesetzt.

Der Messkondensator 2 beinhaltet mindestens eine Schutzelektrode 24.1, 24.2 zur Verminderung des Einflusses von Randeffekten des elektrischen Wechselfeldes 29 auf ein Ausgangssignal des Messkondensators 2. Im Ausführungsbeispiel von Figur 1 ist die zweite Kondensatorplatte 22 in drei voneinander elektrisch isolierte Teilelektroden 23, 24.1, 24.2 aufgeteilt: eine zentrale Messteilelektrode 23 und zwei äussere Teilelektroden 24.1,- 24.2, welche zwei Schutzelektroden bilden. Zwischen jeweils zwei benachbarten Teilelektroden 23, 24.1 bzw. 23, 24.2 befindet sich Isolationsmaterial 25.1, 25.2, z. B. Keramik oder Kunststoff, so dass die drei Teilelektroden 23, 24.1, 24.2 mechanisch eine Einheit, eben die Kondensatorplatte 22, bilden. Die Längen in x-Richtung der einzelnen Teile 23, 24.1, 24.2, 25.1, 25.2 können z. B. wie folgt sein: Schutzelektroden 24.1. 24.2 je ca. 1 mm, Isolationsmaterial 25.1, 25.2 je ca. 0.5 mm, Messteilelektrode 23 ca. 4 mm. Somit hat die zweite

Kondensatorplatte 22 eine Gesamtlänge von ca. 7 mm; ihre Höhe in z-Richtung kann auch ungefähr 7 mm betragen. Die Abmessungen der ersten Kondensatorplatte 21 sind vorzugsweise im Wesentlichen dieselben. Die Längenverhältnisse von Messteilelektrode 23 und Schutzelektroden 24.1, 24.2 können je nach Anwendung optimiert werden. Auf jeden Fall sollte die Länge des Isolationsmaterials 25.1, 25.2 möglichst klein sein, um einen optimalen Schutzeffekt durch die Schutzelektroden 24.1, 24.2 zu gewährleisten und um die geometrischen Abmessungen des Messkopfes 1 klein zu halten.

Die erste Kondensatorplatte 21 und die drei Teilelektroden 23, 24.1, 24.2 der zweiten Kondensatorplatte 22 sind durch separate elektrische Leitungen 27.1-27.4 kontaktiert, so dass an ihnen individuell elektrische Spannung angelegt und/oder abgegriffen werden kann. Auf das elektrische Schaltschema wird anlässlich der Figuren 6 und 7 näher eingegangen.

Figur 2 zeigt in einer Seitenansicht eine Momentaufnahme von Verläufen elektrischer Feldlinien eines elektrischen

Wechselfeldes 29' bzw. 29 in einem Messkondensator 2' bzw. 2, an dessen Kondensatorplatten 21', 22' bzw. 21, 22 eine elektrische Spannung angelegt ist. In der Figur 2 (a) ist die

Situation für einen gewöhnlichen Zweiplattenkondensator 2' gezeichnet, in Figur 2 (b) für einen Messkondensator 2 mit

Schutzelektroden 24.1, 24.2 gemäss der vorliegenden

Erfindung. Unter der Voraussetzung, dass an den

Schutzelektroden 24.1, 24.2 dieselbe Spannung angelegt ist wie an der Messteilelektrode 23, unterscheiden sich die erzeugten elektrischen Felder 29' , 29 nicht wesentlich voneinander. Was unterschiedlich ist, ist der örtliche Messbereich 28' bzw. 28, in Figur 2 durch ein strichpunktiertes Rechteck angedeutet. Eine Messung mit einer Vorrichtung gemäss Figur 2 (a) erfasst einen Bereich, der aus dem Messkondensator 2' hinaus reicht, und wird deshalb durch die inhomogenen elektrischen Teilfelder an den Rändern des Messkondensators 2' gestört. Bei der Vorrichtung gemäss Figur 2 (b) wird nur das homogene elektrische Teilfeld im Innern des Messkondensators 2 für die Messung berücksichtigt.

Figur 3 zeigt, in analoger Darstellung wie Figur 1, eine zweite Ausführungsform eines Messkopfes 1 für die erfindungsgemässe Vorrichtung. Aus der Ausführungsform von

Figur 1 geht diese Ausführungsform hervor, indem die beiden

Schutzelektroden 24.1, 24.2 entlang einer vorderen Kante der zweiten Kondensatorplatte 22 miteinander verbunden werden. Dadurch entsteht eine C-förmige Schutzelektrode 24, deren unterer und oberer Schenkel im Eingangs- bzw. Ausgangsbereich der Durchgangsöffnung 26 liegen. Der zentrale Verbindungsteil der C-förmigen Schutzelektrode 24 bietet verschiedene

Vorteile. Erstens verbessert er weiter die Homogenität des elektrischen Feldes im Messbereich. Zweitens vermindert er den Einfluss von Randeffekten an der vorderen Kante des

Messkondensators 2 und vermindert so die Abhängigkeit des

Ausgangssignals von der Position des Garns 9 in z-Richtung. Drittens reduziert er die Empfindlichkeit der Messung auf eine Berührung (z. B. durch eine Bedienungsperson) des Messkopfes 1 von vorn.

Eine Weiterentwicklung der Ausführungsform von Figur 3 ist in Figur 4 gezeichnet. Hier wurden die beiden Schenkel der C- förmigen Schutzelektrode 24 entlang einer hinteren Kante der zweiten Kondensatorplatte 22 miteinander verbunden, wodurch das C zu einem Rechteck oder Ring geschlossen wurde. Die anlässlich von Figur 3 beschriebenen Vorteile sind hier in noch ausgeprägterem Mass vorhanden.

Alternativen zu den anlässlich der Figuren 1, 3 und 4 beschriebenen Ausführungsformen sind durchaus möglich. Eine

(hier nicht dargestellte) Alternative würde darin bestehen, die Durchgangsöffnung 26 in einem Block aus elektrisch isolierendem Material wie Keramik oder Kunststoff anzubringen und die erste Kondensatorplatte 21 sowie die Teilelektroden 23, 24.1, 24.2, 24 als Metallplättchen in die Wände des

Blocks einzubauen oder als Metallschichten auf die Wände des

Blocks aufzubringen.

Eine vierte Ausführungsform eines Messkopfes 1 für die erfindungsgemässe Vorrichtung zeigt Figur 5. Dieser Messkopf

1 beinhaltet einen Messkondensator 2, wie er anlässlich von

Figur 1 beschrieben wurde, und zusätzlich einen

Referenzkondensator 3. Dabei ist die mittlere Kondensatorplatte 22 beiden Kondensatoren 2, 3 gemeinsam. In diesem Ausführungsbeispiel ist die mittlere, gemeinsame Kondensatorplatte 22 diejenige, welche die Schutzelektroden 24.1, 24.2 beinhaltet. Eine solche Symmetrie der Anordnung ist vorteilhaft, aber nicht zwingend. Der Referenzkondensator 3 dient dazu, von äusseren Einflüssen wie Lufttemperatur oder Luftfeuchtigkeit verursachte Störsignale zu eliminieren. Selbstverständlich kann die mittlere Kondensatorplatte 22 auch gemäss den Ausführungsformen von Figur 3 oder 4, oder auch in einer anderen Weise, ausgebildet sein.

Ein elektrisches Schaltschema einer ersten Ausführungsform der erfindungsgemässen Vorrichtung mit Messkondensator 2 und Referenzkondensator 3 (vgl. Fig. 5) ist in Figur 6 angegeben. Die Vorrichtung beinhaltet einen Wechselspannungsgenerator 4 zum Anlegen einer Wechselspannung an den Messkondensator 2 und an den Referenzkondensator 3. Die Frequenz der angelegten Wechselspannung beträgt vorzugsweise zwischen 1 MHz und 100 MHz, z. B. 10 MHz. Somit kann gesagt werden, dass ein Parallelschwingkreis mit zwei Kondensatoren 2, 3 vorliegt, der durch das Prüfgut 9 verstimmt werden kann. Den Kondensatoren 2, 3 ist vorzugsweise ein Impedanzwandler 5 nachgeschaltet, mit dessen Eingangsleitung 51 die Messteilelektrode 23 verbunden ist. Eine Ausgangsleitung 59 des Impedanzwandlers 5 verbindet den Impedanzwandler 5 mit einer Detektorschaltung 6. Die Detektorschaltung 6 dient der

analogen Detektion des Ausgangssignals der Kondensatoren 2, 3. Im Ausführungsbeispiel von Figur 6 führt sie im Wesentlichen eine Multiplikation des Ausgangssignals des Messkondensators 2 mit dem an den Kondensatoren 2, 3 angelegten Wechselspannungssignal aus. Das so demodulierte Ausgangssignal wird auf einer Ausgangsleitung 69 der Detektorschaltung 6 ausgegeben. Der Impedanzwandler 5 passt die hohe Impedanz des Messkondensators 2 der niedrigen Impedanz der Detektorschaltung 6 an.

Das demodulierte Ausgangssignal wird auf der Ausgangsleitung 69 einer Auswerteschaltung 7 zugeführt. Die Auswerteschaltung 7 ermittelt daraus das eigentliche Resultat der Prüfung und gibt ein Ausgangssignal auf einer Ausgangsleitung 79 der Vorrichtung aus. Das Resultat kann bspw. im Messen von Änderungen der Masse pro Längeneinheit oder im Erkennen von Fremdstoffen im untersuchten Garn 9 bestehen. Mit geeigneten Auswertemethoden ist es sogar möglich, auch den quantitativen Anteil der Fremdstoffe und allenfalls das Material der Fremdstoffe zu bestimmen. Die Auswerteschaltung 7 kann als analoge elektrische Schaltung oder als digitale Schaltung mit einem Prozessor ausgebildet sein. Verfahren und Vorrichtungen zur kapazitiven Erkennung und Quantifizierung von festen Fremdstoffen in textilem Prüfgut 9 sind aus der EP-O '924 '513 Al bekannt und können auch für die vorliegende Erfindung übernommen werden. Die EP-O '924 '513 Al und insbesondere die

Absätze [0022] - [0034] daraus werden durch Bezugnahme in die vorliegende Schrift aufgenommen.

Durch die obige Bezugnahme auf die EP-O '924 '513 Al erübrigt sich hier eine detaillierte Beschreibung der Auswertemethoden. Dazu sei hier nur soviel gesagt, dass mindestens zwei Messmodi möglich sind. In einem ersten Messmodus wird mit zwei verschiedenen Anregungsfrequenzen gemessen. Die beiden gleichartigen Ausgangssignale, z. B. die gemessenen Spannungen, werden zunächst für jede der Anregungsfrequenzen separat detektiert und dann zur Auswertung auf geeignete Weise miteinander kombiniert oder verknüpft. In einem zweiten Messmodus wird bei einer einzigen Anregungsfrequenz gemessen, als Ausgangssignale jedoch Ausgangsspannung und Ausgangsstrom verwendet. Die Phasenverschiebung zwischen dem Spannungs- und dem Stromsignal liefert nach geeigneter Auswertung die gesuchte Information über das Garn 9. Auch eine Kombination der beiden Messmodi, d. h. Messung bei mehreren Frequenzen und Messung der jeweiligen Phasenverschiebungen zwischen Spannungs- und Stromsignal, ist möglich.

In der bevorzugten Ausführungsform von Figur 6 ist der Impedanzwandler 5 als Kollektorschaltung ausgebildet. In der Kollektorschaltung 5 ist die Eingangsleitung 51 mit einer Basis 53 eines Transistors 52, vorzugsweise eines Bipolartransistors, verbunden. An einem Kollektor 54 des

Bipolartransistors 52 ist eine konstante Betriebsspannung V C c angelegt. Ein Emitter 55 des Bipolartransistors 52 ist mit der Ausgangsleitung 59 verbunden. Verschiedene Widerstände 56-58 dienen der Einstellung des Arbeitspunktes des Impedanzwandlers 5.

Gemäss der vorliegenden Erfindung wird aktives Guarding angewendet, d. h. an die Schutzelektroden 24.1, 24.2 wird eine Wechselspannung angelegt, und zwar derart, dass sie zumindest wechselspannungsmässig auf annähernd demselben Potenzial liegen wie die Messteilelektrode 23. Dies wird im Ausführungsbeispiel von Fig. 6 erreicht, indem die Ausgangsleitung 59 der Kollektorschaltung 5 mit den Schutzelektroden 24.1, 24.2 elektrisch verbunden ist. Das Ausgangssignal der Kollektorschaltung 5 ist als Eingangssignal für die Schutzelektroden 24.1, 24.2 verwendbar, weil die Kollektorschaltung 5 einen kleinen Ausgangswiderstand aufweist.

Figur 7 zeigt eine Alternative zur Kollektorschaltung 5 von Fig. 6, nämlich eine als Impedanzwandler wirkende Transimpedanzverstärkerschaltung 8 mit einem Operationsverstärker 82. Ein nichtinvertierender Eingang + des Operationsverstärkers 82 ist mittels einer Eingangsleitung 81 mit der Messteilelektrode 23 elektrisch verbunden. Ein invertierender Eingang - des Operationsverstärkers 82 ist einerseits über eine

Rückkopplungsleitung 83 mit einer Ausgangsleitung 89, andererseits mit den Schutzelektroden 24.1, 24.2 elektrisch verbunden. Diese Alternative kann jedoch die Nachteile haben, dass der Operationsverstärker vergleichsweise teuer ist und - zumindest in den heute auf dem Markt erhältlichen Ausführungsformen - entweder eine zu niedrige Eingangsimpedanz oder eine zu enge Bandbreite aufweist, so dass er durch hohe Anregungsfrequenzen im MHz-Bereich überfordert sein könnte.

Selbstverständlich ist die Erfindung nicht auf die oben beschriebenen Ausführungsformen beschränkt. So ist es z. B. denkbar, mehr als zwei Schutzelektroden im Messkondensator 2 vorzusehen. Durch eine Unterteilung der zweiten Kondensatorplatte 22 in mehrere Messteilelektroden und eine entsprechende Vielzahl von Schutzelektroden kann die örtliche Auflösung der Messung erhöht werden. Es können auch mehr als eine Kondensatorplatte mit einer oder mehreren Schutzelektroden ausgestattet sein. Es ist auch nicht nötig, für die Erfindung Messkondensatoren mit ebenen Kondensatorplatten zu verwenden; andere Kondensatorformen kommen ebenso in Frage. Die oben beschriebenen Ausführungsformen können auch miteinander kombiniert werden.

BEZUGSZEICHENLISTE

1 Mess kopf

2 Messkondensator

21 erste Kondensatorplatte

22 zweite Kondensatorplatte

23 Messteilelektrode

24, 24.1, 24.2 Schutzelektroden 2 255,, 2 255..11,, 25.2 Isolationsmaterial

26 DurchgangsÖffnung

27. 1-27.4 elektrische Leitungen

28 Messbereich

29 elektrisches Wechselfeld

2' Messkondensator gemäss Stand der Technik

21' , 22' Kondensatorplatten gemäss Stand der Technik

28' Messbereich gemäss Stand der Technik

29' elektrisches Wechselfeld gemäss Stand der Technik

3 Referenzkondensator 32 Kondensatorplatte

37 elektrische Leitung

4 Wechselspannungsgenerator

5 Kollektorschaltung

51 Eingangs1eitung 52 Bipolartransistor

53 Basis

54 Kollektor

55 Emitter

56-58 Widerstände 59 Ausgangsleitung der Kollektorschaltung

6 Detektorschaltung

69 Ausgangsleitung der Detektorschaltung

7 Auswerteschaltung 79 Ausgangsleitung der Vorrichtung

8 TransImpedanzVerstärkerSchaltung

81 Eingangsleitung

82 Operationsverstärker 83 Rückkopplungsleitung

89 Ausgangsleitung der

TransimpedanzVerstärkerSchaltung