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Patent Searching and Data


Title:
DOUBLE-FILM CAPACITIVE PRESSURE SENSOR AND MANUFACTURING METHOD
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2019/019843
Kind Code:
A1
Abstract:
The present disclosure relates to the technical field of pressure sensors, in particular to a double-film capacitive pressure sensor and a manufacturing method. The pressure sensor comprises a glass substrate (7). A shallow groove (70) is provided in the central position of the glass substrate (7). A shallow groove through hole (71) is provided in the central position of the shallow groove (70). The shallow groove through hole (71) extends from a bottom face of the shallow groove (70) to a bottom face of the glass substrate (7). The shallow groove (70) is provided with a capacitor C1 capable of measuring a low pressure difference and a capacitor C2 capable of measuring a high pressure difference. The capacitor C1 capable of measuring a low pressure difference comprises a bottom electrode plate (1) and a thin pressure-sensitive film (2). The capacitor C2 capable of measuring a high pressure difference comprises a thick pressure-sensitive film (3) and a top electrode plate (4). The shallow groove through hole (71) is arranged corresponding to the capacitor C1 capable of measuring a low pressure difference. The capacitor C1 capable of measuring a low pressure difference is arranged corresponding to the capacitor C2 capable of measuring a high pressure difference. Conversion from the pressure to the capacitance is realized by a variable-spacing principle, and the capacitor C1 capable of measuring a low pressure difference and the capacitor C2 capable of measuring a high pressure difference respectively realize high-precision measurement of a micro-pressure section and a high-pressure section, thus not only improving the pressure measurement precision but also expanding a measurement range of the sensor.

Inventors:
QING MING (CN)
WANG ZHENJUN (CN)
LONG KEWEN (CN)
HE HUAJUAN (CN)
Application Number:
PCT/CN2018/092370
Publication Date:
January 31, 2019
Filing Date:
June 22, 2018
Export Citation:
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Assignee:
CHUANDONG MAGNETIC ELECTRONICS CO LTD (CN)
UNIV SOUTHEAST (CN)
International Classes:
G01L1/14; G01L9/00
Foreign References:
CN107478359A2017-12-15
CN107290083A2017-10-24
CN107389230A2017-11-24
CN102928133A2013-02-13
CN1484008A2004-03-24
US20080171134A12008-07-17
CN104215362A2014-12-17
US20140338459A12014-11-20
CN104748904A2015-07-01
CN105181186A2015-12-23
Attorney, Agent or Firm:
BEIJING KEYI INTELLECTUAL PROPERTY FIRM et al. (CN)
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Claims:
权利要求书

[权利要求 1] 一种双膜电容式压力传感器, 其特征在于: 包括玻璃衬底 (7) , 所 述玻璃衬底 (7) 中心位置上设有浅槽 (70) , 所述浅槽 (70) 中心 位置设有浅槽通孔 (71) , 所述浅槽通孔 (71) 从浅槽 (70) 底面延 至玻璃衬底 (7) 底面, 所述浅槽 (70) 上设有可测量低压差的电容 C1与可测量高压差的电容 C2, 所述可测量低压差的电容 C1包括底电 极板 (1) 与薄压力敏感膜 (2) , 所述可测量高压差的电容 C2包括 厚压力敏感膜 (3) 与顶电极板 (4) , 所述浅槽通孔 (71) 与可测量 低压差的电容 C1对应设置, 所述可测量低压差的电容 C1与可测量高 压差的电容 C2对应设置。

[权利要求 2] 根据权利要求 1所述的一种双膜电容式压力传感器, 其特征在于: 所 述底电极板 (1) 覆盖于浅槽 (70) 底面上, 所述薄压力敏感膜 (2) 覆盖于玻璃衬底 (7) 上表面, 所述厚压力敏感膜 (3) 与薄压力敏感 膜 (2) 之间设有第一支撑材料 (5) , 所述顶电极板 (4) 与厚压力 敏感膜 (3) 之间设有第二支撑材料 (6) 。

[权利要求 3] 根据权利要求 2所述的一种双膜电容式压力传感器, 其特征在于: 所 述底电极板 (1) 中心位置设有底电极板通孔 (10) , 所述底电极板 通孔 (10) 与浅槽通孔 (71) 对应设置。

[权利要求 4] 根据权利要求 2所述的一种双膜电容式压力传感器, 其特征在于: 所 述第一支撑材料 (5) 设于薄压力敏感膜 (2) 上表面周边位置, 且与 浅槽 (70) 的槽壁齐平设置, 所述第二支撑材料 (6) 设于厚压力敏 感膜 (3) 上表面周边位置, 且与浅槽 (70) 的槽壁齐平设置。

[权利要求 5] 根据权利要求 2所述的一种双膜电容式压力传感器, 其特征在于: 所 述顶电极板 (4) 上设有顶电极板通孔 (40) , 所述厚压力敏感膜 (3 ) 中心位置上设有厚压力敏感膜通孔 (30) 。

[权利要求 6] 根据权利要求 1~5所述的一种双膜电容式压力传感器, 其制作方法, 步骤如下:

步骤一, 准备清洗好的玻璃衬底 (7) , 用氢氟酸溶液在其表面的中 心刻蚀一个浅槽 (70

步骤二, 通过氢氟酸溶液或激光钻孔技术在玻璃衬底 (7) 的浅槽 (7 0) 中心处刻蚀浅槽通孔 (71) , 且浅槽通孔 (71) 从上表面延至玻 璃衬底 (7) 底面;

步骤三, 采用磁控溅射法在玻璃衬底 (7) 的浅槽 (70) 表面淀积并 光刻形成一层铝, 并通过剥离技术将中心的铝去除, 剩余部分作为底 电极板 (1) ;

步骤四, 准备清洗好的 SOI片, 三层材料自上而下分别是薄层硅、 二 氧化硅介质层与体硅层;

步骤五, 通过阳极键技术将玻璃衬底 (7) 与 SOI片键合面为玻璃衬 底 (7) 的上表面与薄层硅上表面, 浅槽 (70) 上方的薄层硅作为传 感器的薄压力敏感膜 (2) ;

步骤六, 通过化学机械抛光技术将 SOI片的体硅层减薄到一定厚度, 作为传感器的厚压力敏感膜 (3) ;

步骤七, 用氢氟酸溶液在体硅层的中心刻蚀一个厚压力敏感膜通孔 ( 30) ;

步骤八, 通过化学气相淀积技术在体硅层上淀积一层二氧化硅; 步骤九, 通过磁控溅射法在步骤八淀积的二氧化硅上淀积金属铬, 并 通过剥离技术将中心的铬去除, 剩余部分作为顶电极板 (4) ; 步骤十, 用氢氟酸溶液腐蚀步骤四中的二氧化硅介质层, 并保留四周 部分二氧化硅作为第一支撑材料 (5) , 用于释放传感器的薄压力敏 感膜 (2) , 用氢氟酸溶液腐蚀步骤八中的二氧化硅, 并保留四周部 分二氧化硅作为第二支撑材料 (6) , 用于释放传感器的厚压力敏感 膜 (3) 。

Description:
一种双膜电容式压力传感器及制作方法

技术领域

[0001] 本发明涉及压力传感器技术领域, 特指一种双膜电容式压力传感器及制作方法

, 尤其是在受力方向上薄厚两层压力敏感膜的组 合形成的低压段与高压段, 同 吋具有较高的测量灵敏度的压力传感器。

背景技术

[0002] 压力传感器在医疗、 卫生、 工业过程制作、 汽车电子、 消费电子等领域都有广 泛的应用。 市场上已有的压力传感器种类繁多, 根据测量原理的不同大致有: 应变式、 硅压阻式、 压电式、 电容式、 谐振式等几大类。 其中, 电容式压力传 感器因其具有灵敏度高、 响应速度快、 受温度影响小等优点, 是压阻式压力传 感器的理想升级产品。 其原理是利用电容与有效极板面积、 极板间距的关系实 现压力信号到电信号的转换。 传统电容式压力传感器, 因为自身结构的特点, 量程与灵敏度之间相互制约, 为取得较高的灵敏度, 必然以牺牲量程为代价。 这限制了该类传感器的应用范围。

技术问题

问题的解决方案

技术解决方案

[0003] 针对以上问题, 本发明提供了一种双膜电容式压力传感器及制 作方法, 该测量 结构主要由厚度不同的两层压力敏感膜以及固 定的两层极板组成, 根据所处位 置, 结构自下而上依次为底电极板、 薄压力敏感膜、 厚压力敏感膜、 顶电极板 , 薄压力敏感膜与厚压力敏感膜间夹以支撑材料 形成一定的间隔, 厚压力敏感 膜与顶电极板间夹以绝缘支撑材料形成电隔离 , 该结构中, 底电极板与薄压力 敏感膜构成测量低压差的电容 C1, 厚压力敏感膜与顶电极板构成测量高压差的 电容 C2, 当有一个微小的压力差作用在传感器上吋, 薄压力敏感膜受压产生向 上的形变, 导致电容 C1由大变小, 当薄压力敏感膜的最大形变量超过薄压力敏 感膜和厚压力敏感膜之间的间距吋, 薄压力敏感膜和厚压力敏感膜接触并传递 压力到厚压力敏感膜上, 此吋 C2发生变化, 幵始随着压力的增大而增大。 此吋 压力的测量将由 C2来实现, 通过两层压力敏感膜的巧妙结合, 实现了电容式压 力传感器量程与灵敏度的兼顾。

[0004] 为了实现上述目的, 本发明采用的技术方案如下:

[0005] 一种双膜电容式压力传感器结构, 包括玻璃衬底, 玻璃衬底中心位置上设有浅 槽, 浅槽中心位置设有浅槽通孔, 浅槽通孔从浅槽底面延至玻璃衬底底面, 浅 槽上设有可测量低压差的电容 C1与可测量高压差的电容 C2, 可测量低压差的电 容 C1包括底电极板与薄压力敏感膜, 可测量高压差的电容 C2包括厚压力敏感膜 与顶电极板, 浅槽通孔与可测量低压差的电容 C1对应设置, 可测量低压差的电 容 C 1与可测量高压差的电容 C2对应设置。

[0006] 进一步而言, 所述底电极板覆盖于浅槽底面上, 薄压力敏感膜覆盖于玻璃衬底 上表面, 厚压力敏感膜与薄压力敏感膜之间设有第一支 撑材料, 顶电极板与厚 压力敏感膜之间设有第二支撑材料。

[0007] 进一步而言, 所述底电极板中心位置设有底电极板通孔, 底电极板通孔与浅槽 通孔对应设置。

[0008] 进一步而言, 所述第一支撑材料设于薄压力敏感膜上表面周 边位置, 且与浅槽 的槽壁齐平设置, 第二支撑材料设于厚压力敏感膜上表面周边位 置, 且与浅槽 的槽壁齐平设置。

[0009] 进一步而言, 所述顶电极板上设有顶电极板通孔, 厚压力敏感膜中心位置上设 有厚压力敏感膜通孔。

[0010] 一种双膜电容式压力传感器, 其制作方法, 步骤如下:

[0011] 步骤一, 准备清洗好的玻璃衬底, 用氢氟酸溶液在其表面的中心刻蚀一个浅槽 [0012] 步骤二, 通过氢氟酸溶液或激光钻孔技术在玻璃衬底的 浅槽中心处刻蚀浅槽通 孔, 且浅槽通孔从上表面延至玻璃衬底底面;

[0013] 步骤三, 采用磁控溅射法在玻璃衬底的浅槽表面淀积并 光刻形成一层铝, 并通 过剥离技术将中心的铝去除, 剩余部分作为底电极板; [0014] 步骤四, 准备清洗好的 SOI片, 三层材料自上而下分别是薄层硅、 二氧化硅介 质层与体硅层;

[0015] 步骤五, 通过阳极键技术将玻璃衬底与 SOI片键合面为玻璃衬底的上表面与薄 层硅上表面, 浅槽上方的薄层硅作为传感器的薄压力敏感膜 ;

[0016] 步骤六, 通过化学机械抛光技术将 SOI片的体硅层减薄到一定厚度, 作为传感 器的厚压力敏感膜;

[0017] 步骤七, 用氢氟酸溶液在体硅层的中心刻蚀一个厚压力 敏感膜通孔;

[0018] 步骤八, 通过化学气相淀积技术在体硅层上淀积一层二 氧化硅;

[0019] 步骤九, 通过磁控溅射法在步骤八淀积的二氧化硅上淀 积金属铬, 并通过剥离 技术将中心的铬去除, 剩余部分作为顶电极板;

[0020] 步骤十, 用氢氟酸溶液腐蚀步骤四中的二氧化硅介质层 , 并保留四周部分二氧 化硅作为第一支撑材料, 用氢氟酸溶液腐蚀步骤八中的二氧化硅, 并保留四周 部分二氧化硅作为第二支撑材料, 释放传感器的薄压力敏感膜与厚压力敏感膜

发明的有益效果

有益效果

[0021] 本发明有益效果:

[0022] 1.本发明采用变间距原理实现压力到电容的转 , 可测量低压差的电容 C1与可 测量高压差的电容 C2分别实现了微压段和高压段的高精度测量, 不仅提高了压 力测量精度, 也提升了传感器的测量范围;

[0023] 2.本发明的厚压力敏感膜和薄压力敏感膜的有 结合, 有效解决了薄压力敏感 膜在高压测量吋的过载保护问题, 使传感器的测量范围加大且可靠性提高; [0024] 3.本发明所述薄压力敏感膜与厚压力敏感膜采 垂直结构, 有效节省了芯片面 积, 有利于减小封装体积, 降低生产成本。 对附图的简要说明

附图说明

[0025] 图 1是本发明整体结构俯视图;

[0026] 图 2是图 1中 A- A位置剖视图; [0027] 图 3〜图 12是本发明制作流程示意图。

[0028] 1.底电极板; 10.底电极板通孔 ;2.薄压力敏感膜 ;3.厚压力敏感膜 ;30.厚压力敏感膜 通孔; 4.顶电极板; 40.顶电极板通孔 ;5.第一支撑材料 ;6.第二支撑材料 ;7.玻璃衬底; 70 .浅槽; 71.浅槽通孔。

实施该发明的最佳实施例

本发明的最佳实施方式

[0029] 下面结合附图与实施例对本发明的技术方案进 行说明。

[0030] 如图 1和图 2所示, 本发明所述一种双膜电容式压力传感器, 包括玻璃衬底 7, 玻璃衬底 7中心位置上设有浅槽 70, 浅槽 70中心位置设有浅槽通孔 71, 浅槽通孔 71从浅槽 70底面延至玻璃衬底 7底面, 浅槽 70上设有可测量低压差的电容 C 1与可 测量高压差的电容 C2, 可测量低压差的电容 C1包括底电极板 1与薄压力敏感膜 2 , 可测量高压差的电容 C2包括厚压力敏感膜 3与顶电极板 4, 浅槽通孔 71与可测 量低压差的电容 C1对应设置, 可测量低压差的电容 C1与可测量高压差的电容 C2 对应设置。 以上所述构成本发明基本结构。

[0031] 本发明采用这样的结构设置, 其工作原理: 压力由浅槽通孔 71向上作用在整个 传感器表面 (即玻璃衬底 7底面) , 该压力在低压吋导致薄压力敏感膜 2向上弯 曲, 由薄压力敏感膜 2和底电极板 1构成的电容 C1幵始随压力增大而减小, 当压 力达到一定值后, 薄压力敏感膜 2向上弯曲且与厚压力敏感膜 3接触, 防止薄压 力敏感膜 2在较高压力下破裂, 此吋, 薄压力敏感膜 2与厚压力敏感膜 3组合形成 复合膜, 在高压力段上, 由薄压力敏感膜 2与厚压力敏感膜 3组合形成复合膜与 顶电极板 4组成的电容 C2幵始随压力增加而增加, 其灵敏度也随压力增大而增大 。 本发明采用变间距原理实现压力到电容的转换 , 可测量低压差的电容 C1与可 测量高压差的电容 C2分别实现了低压段与高压段的高精度测量, 不仅提高了压 力测量精度, 也提升了传感器的测量范围。 另外, 本发明的厚压力敏感膜 3, 有 效解决了薄压力敏感膜 2在高压测量吋的过载保护问题, 使传感器的测量范围加 大且可靠性提高。

[0032] 更具体而言, 所述底电极板 1覆盖于浅槽 70底面上, 薄压力敏感膜 2覆盖于玻璃 衬底 7上表面, 厚压力敏感膜 3与薄压力敏感膜 2之间设有第一支撑材料 5, 顶电 极板 4与厚压力敏感膜 3之间设有第二支撑材料 6。 采用这样的结构设置, 本发明 所述薄压力敏感膜 2与厚压力敏感膜 3采用垂直结构, 有效节省了芯片面积, 有 利于减小封装体积, 降低生产成本, 同吋厚压力敏感膜 3和薄压力敏感膜 2的有 机结合, 有效解决了薄压力敏感膜 2在高压测量吋的过载保护问题, 使传感器的 测量范围加大且可靠性提高。

[0033] 更具体而言, 所述底电极板 1中心位置设有底电极板通孔 10, 底电极板通孔 10 与浅槽通孔 71对应设置。 采用这样的结构设置, 以方便压差信号的导入, 压力 差通过浅槽通孔 71向上作用在压力敏感膜上, 压力敏感膜感知压力向上弯曲, 导致压力敏感膜与电极板构成的电容的变化。

[0034] 更具体而言, 所述第一支撑材料 5设于薄压力敏感膜 2上表面周边位置, 且与浅 槽 70的槽壁齐平设置, 第二支撑材料 6设于厚压力敏感膜 3上表面周边位置, 且 与浅槽 70的槽壁齐平设置。 采用这样的结构设置, 通过第一支撑材料 5用于释放 薄压力敏感膜 2, 便于薄压力敏感膜 2受低压力弯曲, 通过第二支撑材料 6用于释 放厚压力敏感膜 3, 便于厚压力敏感膜 3受高压力弯曲。

[0035] 更具体而言, 所述顶电极板 4上设有顶电极板通孔 40, 厚压力敏感膜 3中心位置 上设有厚压力敏感膜通孔 30。 采用这样的结构设置, 以方便压差能作用在薄压 力敏感膜 2上。

[0036] 一种双膜电容式压力传感器结构, 其制作方法, 步骤如下:

[0037] 步骤一, 准备清洗好的玻璃衬底 7, 用氢氟酸溶液在其表面的中心刻蚀一个浅 槽 70 (如图 3所示) ;

[0038] 步骤二, 通过氢氟酸溶液或激光钻孔技术在玻璃衬底 7的浅槽 70中心处刻蚀浅 槽通孔 71, 且浅槽通孔 71从上表面延至玻璃衬底 7底面 (如图 4所示) ;

[0039] 步骤三, 采用磁控溅射法在玻璃衬底 7的浅槽 70表面淀积并光刻形成一层铝, 并通过剥离技术将中心的铝去除, 剩余部分作为底电极板 1 (如图 5所示) ;

[0040] 步骤四, 准备清洗好的 SOI片, 三层材料自上而下分别是薄层硅、 二氧化硅介 质层与体硅层 (如图 6所示) ;

[0041] 步骤五, 通过阳极键技术将玻璃衬底 7与 SOI片键合面为玻璃衬底 7的上表面与 薄层硅上表面, 浅槽 70上方的薄层硅作为传感器的薄压力敏感膜 2 (如图 7所示 [0042] 步骤六, 通过化学机械抛光技术将 SOI片的体硅层减薄到一定厚度, 作为传感 器的厚压力敏感膜 3 (如图 8所示) ;

[0043] 步骤七, 用氢氟酸溶液在体硅层的中心刻蚀一个厚压力 敏感膜通孔 30 (如图 9 所示) ;

[0044] 步骤八, 通过化学气相淀积技术在体硅层上淀积一层二 氧化硅 (如图 10所示)

[0045] 步骤九, 通过磁控溅射法在步骤八淀积的二氧化硅上淀 积金属铬, 并通过剥离 技术将中心的铬去除, 剩余部分作为顶电极板 4 (如图 11所示) ;

[0046] 步骤十, 用氢氟酸溶液腐蚀步骤四中的二氧化硅介质层 , 并保留四周部分二氧 化硅作为第一支撑材料 5, 用氢氟酸溶液腐蚀步骤八中的二氧化硅, 并保留四周 部分二氧化硅作为第二支撑材料 6, 释放传感器的薄压力敏感膜 2与厚压力敏感 膜 3 (如图 12所示) 。

[0047] 以上结合附图对本发明的实施例进行了描述, 但本发明并不局限于上述的具体 实施方式, 上述的具体实施方式仅仅是示意性的, 而不是限制性的, 本领域的 普通技术人员在本发明的启示下, 在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范 围情况下, 还可做出很多形式, 这些均属于本发明的保护范围之内。