CAI WENHAO (CN)
CN1378247A | 2002-11-06 | |||
CN101958353A | 2011-01-26 | |||
CN1393927A | 2003-01-29 | |||
CN102339871A | 2012-02-01 | |||
US6565759B1 | 2003-05-20 |
上海专利商标事务所有限公司 (CN)
权 利 要 求 书 1、 一种适用于 RIE绒面的夹层状结构正面介质膜, 其特征在于, 包括: 底层 SiO^ 膜; 覆盖在所述底层 SiO2薄膜表面上的中间层 SiNx薄膜; 以及 覆盖在所述中间层 SiNx薄膜表面上的表层 SiO2薄膜。 2、 根据权利要求 1所述的夹层状结构正面介质膜, 其特征在于: 所述中间层 SiN 膜和所述表层 SiO2薄膜的总厚度为 100-150nm, 所述中间层 SiN 膜厚度 为 50-90nm。 3、根据权利要求 1所述的夹层状结构正面介质膜,其特征在于:所述底层 SiO2 薄膜的厚度为 5-20nm。 4、根据权利要求 1所述的夹层状结构正面介质膜,其特征在于:所述底层 SiO2 薄膜折射率为 1.46, 所述中间层 SiN 膜的折射率为 2.0-2.3, 所述表层 SiO2薄膜 的折射率为 1.5-1.8。 5、 一种 RIE制绒晶体硅太阳能电池, 其特征在于, 所述太阳能电池的 RIE 绒面包括如权利要求 1一 4中任一项所述的夹层状结构正面介质膜。 6、 一种适用于晶体硅太阳能电池的 RIE绒面的夹层状结构正面介质膜的制 备方法, 其特征在于, 包括如下步骤: a)在晶体硅太阳能电池扩散及去 PSG工艺后,用干氧氧化方法在硅片绒面生 长底层 SiO^ 膜; b) 采用 PECVD的方法在所述底层 SiO2薄膜上沉积富硅的中间层 SiNx薄膜; 以及 c) 采用 PECVD的方法在所述中间层 SiN 膜上沉积表层 SiO2薄膜。 7、 根据权利要求 6所述的夹层状结构正面介质膜的制备方法, 其特征在于: 步骤 a)中,氧气流量为 0.5-8slm,氧化温度为 650-900 °C,氧化时间为 5-50min; 步骤 b) 中, 硅烷和氨气流量比为 1 : 3, 沉积温度为 350-450°C, 射频功率为 3000W, 反应压强为 3 X 10"2Pa; 步骤 c) 中, 硅烷和一氧化二氮流量比为 1 : 2.5, 沉积温度为 300-400°C, 射 频功率为 1000W。 8、 根据权利要求 6所述的夹层状结构正面介质膜的制备方法, 其特征在于: 所述中间层 SiN 膜和所述表层 SiO2薄膜的总厚度为 100-150nm, 所述中间 层 SiNx薄膜厚度为 50-90nm。 9、 根据权利要求 6所述的夹层状结构正面介质膜的制备方法, 其特征在于: 所述底层 SiO2薄膜的厚度为 5-20nm。 10、 根据权利要求 6所述的夹层状结构正面介质膜的制备方法, 其特征在于: 所述底层 SiO2薄膜折射率为 1.46, 所述中间层 SiN 膜的折射率为 2.0-2.3, 所述表层 SiO2薄膜的折射率为 1.5-1.8。 |
本发明涉及晶体硅太阳能电池工艺技术领域, 尤其是一种适用于 RIE绒面 的夹层状结构正面介质膜及其制备方法。 背景技术
当前晶体硅太阳能电池生产中, 一般采用 PECVD方法生长单层 SiN x 薄膜 作为正面钝化层及减反膜,其具有降低表面反 射以及表面钝化、体钝化的作用。 但 SiN x 沉积在硅片表面后, 界面缺陷密度较高, 相对于 SiO 2 表面钝化效果较 差。 同时, 利用 RIE方法制备的绒面其表面损伤严重, 表面复合速率大, 因此 单层 SiN x 薄膜作为正面钝化层应用于 RIE绒面效果不理想。
此外, 高效晶体硅太阳能电池研发一般采用 SiO 2 /SiN x 双层薄膜作为正面 钝化层, 其中 SiO 2 、 SiN x 分别采用干氧氧化、 PECVD的方法生长。 SiO 2 薄膜 能够有效降低 Si-SiO 2 的界面缺陷态密度, 应用于 RIE绒面具有良好的表面钝 化效果; SiN x 薄膜中含有大量的以 N-H键和 Si-H键形式存在的氢, 烧结过程 中氢从 N-H键、 Si-H键中释放出来,然后扩散进入电池内,起 体钝化的作用。 然而热氧化 SiO 2 薄膜的折射率为 1.46,而 PECVD沉积 SiN x 薄膜的折射率较高, 约为 2.05 ± 0.05,也就是说 SiO 2 /SiN x 双层薄膜结构作为正面减反膜不利于太阳 能电池的光吸收。 发明内容
本发明要解决的技术问题是: 克服现有技术中之不足, 提供一种能够有效 提高 RIE制绒晶体硅太阳能电池的开路电压及短路电 流, 达到提升转换效率的 适用于 RIE绒面的夹层状 (三明治) 结构正面介质膜及其制备方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是: 一种适用于 RIE绒面的夹层 状结构正面介质膜, 包括: 底层 SiO 2 薄膜, 覆盖在所述底层 SiO 2 薄膜表面上 的中间层 SiN x 薄膜, 覆盖在所述中间层 SiN x 薄膜表面上的表层 SiO 2 薄膜。 一种适用于 RIE绒面的夹层状结构正面介质膜的制备方法, 具有如下步骤: a)在晶体硅太阳能电池扩散及去 PSG工艺后, 用干氧氧化方法在硅片绒面生长底 层 SiO 2 薄膜; b) 采用 PECVD的方法在所述底层 SiO 2 薄膜上沉积富硅的中间层 SiN x 薄膜; 以及 c) 采用 PECVD的方法在所述中间层 SiN 膜上沉积表层 SiO 2 薄膜。
上述夹层状结构正面介质膜的制备方法中,步 骤 a)中,氧气流量为 0.5-8slm, 氧化温度为 650-900°C, 氧化时间为 5-50min; 步骤 b)中, 硅烷和氨气流量比为 1 : 3, 沉积温度为 350-450°C, 射频功率为 3000W, 反应压强为 3 X 10_ 2 Pa; 步骤 c) 中,硅烷和一氧化二氮流量比为 1 : 2.5,沉积温度为 300-400°C,射频功率为 1000W。
根据本发明, 所述中间层 SiN x 薄膜和表层 SiO 2 薄膜的总厚度为
100-150nm, 其中所述中间层 SiN x 薄膜厚度为 50-90nm, 所述底层 SiO 2 薄膜的 厚度为 5-20nm。
根据本发明, 所述底层 SiO 2 薄膜折射率为 1.46, 所述中间层 SiN x 薄膜的 折射率为 2.0-2.3, 所述表层 SiO 2 薄膜的折射率为 1.5-1.8。
本发明的有益效果是: 本发明结构简单, 方法操作方便, 具有以下优点:
( 1 ) 热氧化的底层 SiO 2 薄膜能够有效饱和表面悬挂键, 降低其与硅片的界面 态密度; (2) 中间层 SiN x 薄膜内具有很高的正电荷密度, 在硅片表面形成内 建电场, 降低表面的电子或空穴浓度, 从而降低载流子复合速率; (3 ) 表层 低折射率的 SiO 2 薄膜能够进一步降低表面反射率, 增加电池的光吸收。
综合作用下, 能够有效钝化 RIE制绒晶体硅电池, 使电池的开路电压提升
3-5mV, 转换效率提升 0.2%-0.4%。 附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图 1是本发明的剖面图。 图 1中: 附图标记 1为 表层 SiO 2 薄膜, 附图标 记 2为中间层 SiN x 薄膜, 附图标记 3为底层 SiO 2 薄膜。 具体实施方式
现在结合附图和优选实施例对本发明作进一步 的说明。 这些附图均为简化 的示意图, 仅以示意方式说明本发明的基本结构, 因此其仅显示与本发明有关 的构成。 图 1示出根据本发明的实施例的, 适用于 RIE绒面的夹层状 (三明治) 结 构正面介质膜, 包括: 底层 SiO 2 薄膜 3, 覆盖在底层 SiO 2 薄膜表面 3上的中间 层 SiN x 薄膜 2, 覆盖在中间层 SiN x 薄膜 2表面上的表层 SiO 2 薄膜 1。
根据本发明的实施例, 一种适用于 RIE绒面的夹层状结构正面介质膜的制 备方法, 包括步骤:在 RIE制绒晶体硅太阳能电池经正常的扩散及去 PSG工艺 后, 首先用干氧氧化的方法在洁净的硅片绒面生长 厚度为 5-20nm的 SiO 2 层, 折射率约为 1.46, 氧气流量为 0.5-8slm, 氧化温度为 650-900°C, 氧化时间为 5-50min;接着采用 PECVD的方法沉积富硅的 SiN x 薄膜,折射率范围为 2.0-2.3, 其中硅烷、 氨气流量比为 1 : 3, 沉积温度为 350-450°C, 射频功率为 3000W, 反应压强为 3 X 10-2Pa; 最后同样采用 PECVD的方法沉积 SiO 2 薄膜, 折射率 范围为 1.5-1.8, 其中硅烷、 一氧化二氮流量比为 1 : 2.5, 沉积温度为 300-400 V, 射频功率为 1000W。 PECVD 方法沉积的 SiN x 、 SiO 2 薄膜的总厚度约为 100-150nm, 其中 SiN x 薄膜厚度为 50-90nm。
上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点 , 其目的在于让熟悉此项技 术的人士能够了解本发明的内容并加以实施, 并不能以此限制本发明的保护范 围, 凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰 , 都应涵盖在本发明的保护 范围内。
Next Patent: SAFETY PIN FOR FIRE EXTINGUISHER APPARATUS