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Patent Searching and Data


Title:
GLASS SUBSTRATE FOR DISPLAYS
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2008/093566
Kind Code:
A1
Abstract:
A glass substrate for liquid crystal displays capable reducing the luminance variation of a liquid crystal display having even a large screen. The glass substrate is characterized in that the rate of change ((A-A')/50)of A and A' is 4.0x10-7 or less where A is a value determined by {sin(2θ)}2x{sin(180° Δ/550)}2 at a given measurement point a where Δ (nm) is the retardation measured at intervals of 50 mm within the glass substrate with a light beam perpendicular to the surface of the glass substrate and θ (°) is the angle of direction of the retardation with respect to the direction along the side of the glass substrate and A' is a value determined by {sin(2θ)}2x{sin(180° Δ/550)}2 at a given measurement point a' adjacent to the measurement point a.

Inventors:
KATO, Yoshinari (7-1, Seiran 2-chome, Otsu-sh, Shiga 39, 5208639, JP)
加藤 嘉成 (〒39 滋賀県大津市晴嵐二丁目7番1号 日本電気硝子株式会社内 Shiga, 5208639, JP)
ODA, Hidetaka (7-1, Seiran 2-chome, Otsu-sh, Shiga 39, 5208639, JP)
Application Number:
JP2008/050784
Publication Date:
August 07, 2008
Filing Date:
January 22, 2008
Export Citation:
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Assignee:
NIPPON ELECTRIC GLASS CO., LTD. (7-1 Seiran 2-chome, Otsu-shi Shiga, 39, 5208639, JP)
日本電気硝子株式会社 (〒39 滋賀県大津市晴嵐二丁目7番1号 Shiga, 5208639, JP)
KATO, Yoshinari (7-1, Seiran 2-chome, Otsu-sh, Shiga 39, 5208639, JP)
加藤 嘉成 (〒39 滋賀県大津市晴嵐二丁目7番1号 日本電気硝子株式会社内 Shiga, 5208639, JP)
International Classes:
G02F1/1333; C03C3/083; C03C3/085; C03C3/087; C03C3/091; C03C3/093; H01J17/16; G02F1/13; C03C3/076; H01J17/02
Attorney, Agent or Firm:
METSUGI, Makoto et al. (6F Daido Seimei Bldg, 5-4 Tanimachi 1-chome, Chuo-ku, Osaka-sh, Osaka 12, 5400012, JP)
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Claims:
 ガラス基板面と直交する光によりガラス基板面内を50mm間隔で測定したレタデーションをδ(nm)、該レタデーションのガラス基板の辺方向に対する方位角をθ(°)とし、任意の測定点aにおける{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求めた値をA、測定点aに隣り合う測定点a’における{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求めた値をA’とした際、
 隣り合う測定点a、a’における値A、A’の変化率((A-A’)/50)が4.0×10 -7 以下であることを特徴とするディスプレイ用ガラス基板。
 ガラス基板の短辺の長さが1000mm以上であることを特徴とする請求項1記載のディスプレイ用ガラス基板。
 質量百分率で、SiO 2  40~70%、Al 2 O 3  2~25%、B 2 O 3  0~20%、MgO 0~10%、CaO 0~15%、SrO 0~10%、BaO 0~15%、ZnO 0~10%、R 2 O(RはLi、Na、Kを表わす) 0~25%、ZrO 2  0~10%を含有するガラスからなることを特徴とする請求項1または2に記載のディスプレイ用ガラス基板。
 ダウンドロー成形法により成形されてなることを特徴とする請求項1~3の何れかに記載のディスプレイ用ガラス基板。
 液晶ディスプレイのガラス基板として使用されることを特徴とする請求項1~4の何れかに記載のディスプレイ用ガラス基板。
Description:
ディスプレイ用ガラス基板

 本発明は、ディスプレイ用ガラス基板、 に、液晶ディスプレイに用いられるガラス 板に関するものである。

 液晶ディスプレイは、図1に示すように、 液晶セル1を2枚のガラス基板、即ち、背面ガ ス基板2(アレイ用ガラス基板)と前面ガラス 板3(カラーフィルター用ガラス基板)により み込まれた構造となっている。

 アレイ用ガラス基板2は、液晶セル1と接 る側の基板表面に薄膜トランジスタ4(TFT)、 明な画素電極5及び配向膜6が形成されており 、その反対側の表面には、偏光板7が貼られ いる。

 また、カラーフィルター用ガラス基板3は 、液晶セル1と接する側の基板表面に透明な 向電極8、赤、青、緑のカラーフィルター9及 び配向膜10が形成されており、その反対側の 面には、偏光板11が貼られている。尚、ア イ用ガラス基板2に貼られた偏光板7の偏光方 向とカラーフィルター用ガラス基板3に貼ら た偏光板11の偏光方向は互いに直交している 。

 アレイ用ガラス基板2の背後にはバックラ イト12が設置されている。バックライト12は ノートブックパソコン等に使用される液晶 ィスプレイにおいては、例えば、数本の細 径の冷陰極管の光を拡散板(図示せず)に通し て液晶セルに導く構造を有する。

 液晶ディスプレイの表示原理の概略は次 ようなものである。薄膜トランジスタ4によ り制御された電圧を画素電極5と対向電極8の に印加することにより、液晶セル1内の液晶 分子13がまっすぐに並ぶことになり、アレイ ガラス基板2に貼られた偏光板7で偏光され バックライト12からの光の振動方向は、液晶 セル1内で回転(旋光)しないため、カラーフィ ルター用ガラス基板3に貼られた偏光板11で光 は遮断され、黒を表示する。逆に、電極間に 電圧を印加しない場合は、液晶セル1内の液 分子13はねじれた状態で維持されるため、ア レイ用ガラス基板2に貼り付けた偏光板7で偏 されたバックライト12からの光の振動方向 、液晶セル1内で回転(旋光)し、カラーフィ ター用ガラス基板3に貼り付けた偏光板11を 過し、赤、青または緑を表示する。このよ に、液晶セル内の液晶分子の配列を制御す ことで、バックライトからの光の振動方向 制御し、カラーフィルター用ガラス基板に られた偏光板で光を透過させたり、遮断さ たりして画像を表示させている。

 ところで、ガラス基板としては、ガラス 融炉で溶融したガラス融液を、フロート法 スロットダウンドロー法、オーバーフロー ウンドロー法、リドロー法等によって一定 厚さに成形し、所定寸法のサイズに切断し ものが用いられている。

 通常、上記方法で製造されたガラス基板 は歪が残存しており、ガラス基板にレタデ ションが生じ、透過した光の偏光状態が変 する。そのため、歪が残存するガラス基板 液晶ディスプレイ用途に用いると、本来、 が遮断される箇所で光漏れが起こり、画面 体或いは一部に輝度ムラが発生するという 題が生じる。この問題を解決するために、 定寸法に切断したガラス基板にアニール処 を施して、ガラス基板に残存する歪の量を さくすることが考えられるが、処理時間と ストがかかるという問題がある。

 そこで、輝度ムラの発生を防止するために 特許文献1では、ガラス基板の厚みと光弾性 定数の積を所定値以下に制限したガラス基板 を用いることが提案されている。また、特許 文献2では、ガラスの熱膨張係数、ヤング率 び光弾性定数の積を所定値以下に制限した ラス基板を用いることが提案されている。

特開2001-255517号公報

特開2001-172041号公報

 近年、ディスプレイの大型化が進んでお 、それに伴ってガラス基板のサイズも大き なってきている。

 しかしながら、ガラス基板が大きくなる 、残留する歪の量も大きくなる傾向にあり 特許文献1及び2で開示されているガラス基 を用いても、画面全体に輝度ムラが発生す ことがあった。

 本発明の目的は、大画面でも液晶ディス レイの輝度ムラの発生を抑制することが可 な液晶ディスプレイ用ガラス基板を提供す ことである。

 本発明者は種々検討した結果、ガラス基板 と直交する光によりガラス基板面内のレタ ーションをδ(nm)、該レタデーションのガラ 基板の辺方向に対する方位角をθ(°)とした に、ガラス基板面内において、{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値のむらを少なくする、即ち、 ガラス基板面内の{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率を一定値以下に抑え ることで、液晶ディスプレイにした際に、輝 度ムラの発生を抑制できることを見いだし、 本発明を提案するに至った。

 即ち、本発明のディスプレイ用ガラス基板 、ガラス基板面と直交する光によりガラス 板面内を50mm間隔で測定したレタデーション をδ(nm)、該レタデーションのガラス基板の辺 方向に対する方位角をθ(°)とし、任意の測定 点aにおける{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求めた値をA、測定点aに隣り合う測定点a’ における{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求めた値をA’とした際、隣り合う測定点a a’における値A、A’の変化率((A-A’)/50)が4.0 ×10 -7 以下であることを特徴とする。
(発明の効果)

 本発明のガラス基板は、ガラス基板面と直 する光によりガラス基板面内のレタデーシ ンをδ、該レタデーションのガラス基板の 方向に対する方位角をθとした際に、ガラス 基板面内において、隣り合う測定点における {sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率を小さくしているた め、液晶ディスプレイにした際に、輝度ムラ の発生を抑制することができる。それ故、液 晶ディスプレイに用いられるディスプレイ用 ガラス基板として好適である。

図1は、液晶ディスプレイの構造を示す 概略図である。 図2は、オーバーフローダウンドロー法 によるガラス基板の製造設備を示す概略正面 図である。 図3は、試料No.1におけるガラス基板の タデーションとその方位角を測定した結果 示す図である。 図4は、試料No.2におけるガラス基板の タデーションとその方位角を測定した結果 示す図である。 図5は、試料No.3におけるガラス基板の タデーションとその方位角を測定した結果 示す図である。

符号の説明

 1 液晶セル
 2 背面ガラス基板(アレイ用ガラス基板)
 3 前面ガラス基板(カラーフィルター用ガラ ス基板)
 4 薄膜トランジスタ(TFT)
 5 画素電極
 6 配向膜(背面用)
 7 偏光板(背面用)
 8 対向電極
 9 カラーフィルター
 10 配向膜(前面用)
 11 偏光板(前面用)
 12 バックライト
 13 液晶分子
 20 成形炉
 20a 成形炉の炉壁
 21 成形体
 22 成形ロール
 23 徐冷炉
 23a 徐冷炉の炉壁
 24 引っ張りロール
 25 冷却室
 26 支持ロール
 27 切断室
 28 成形室
 29 送風機
 30 周壁部
 31 フィルター
 A 溶融ガラス
 B ガラスリボン
 C ガラス基板

 ディスプレイの輝度ムラの発生は、ガラ 基板のレタデーションの大きさだけでなく 該レタデーションのガラス基板の辺方向に する方位角やこれらの分布状態によっても 響を受ける。

 そこで、本発明のディスプレイ用ガラス基 は、上記のように、隣り合う測定点におけ {sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率を4.0×10 -7 以下と小さくなるようにしているため、液晶 ディスプレイにした際に、輝度ムラの発生を 抑制することができる。尚、隣り合う測定点 における{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率が4.0×10 -7 より大きくなると、液晶ディスプレイにした 際、画面全体に輝度ムラが発生しやすくなる 。この値の好ましい範囲は3.8×10 -7 以下であり、より好ましくは3.6×10 -7 以下である。

 尚、輝度ムラの発生をより確実に抑えるに 、上記以外にも、各測定点における{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値を3.5×10 -5 以下にすることが望ましい。

 上記のようなガラス基板を得るには、例 ば、ガラス溶融炉で溶融したガラス融液を 形炉(成形体)で板状のガラス(ガラスリボン) に成形する際に、ガラスリボンの端部の厚み がガラスリボンの中央部の厚みとほぼ同じ厚 みとなるように成形したり、成形したガラス リボンを徐冷炉で徐冷(冷却)する際に、ガラ リボンの幅方向における温度分布をできる け小さくするように冷却すればよい。

 尚、成形工程において、ガラスリボンの 部の厚みをガラスリボンの中央部の厚みと ぼ同じ厚みになるように成形する理由は、 ラスリボンの端部の厚みがガラスリボンの 央部の厚みと異なると、成形後の冷却工程 おいて、ガラスリボンの端部と中央部とで 却速度が異なり、その結果、ガラス基板面 のレタデーションの大きさやその方位角に らつきが生じやすくなるためである。ガラ リボンの端部の厚みとガラスリボンの中央 の厚みが同じになるように成形するには、 ラス融液をガラスリボンに延伸成形するた の成形ロール等の回転速度等を調整するこ で行うことができる。

 また、徐冷炉での冷却工程において、ガラ リボンの幅方向における温度分布をできる け小さくするには、次のようにすることで える。
(1)ガラスリボンが均一に加熱されるように、 ヒーターの数を多くする。
(2)ヒーターからの熱がガラスリボンに均一に 伝わるように、ヒーターとガラスリボンの間 に均熱板を設置する。
(3)ガラスリボンの中央部と端部の冷却速度の 差が小さくなるように、ガラスリボンの端部 に囲いを設置したり、その部分にヒーターを 多く配置する。
(4)ガラスの板引き速度を低く(遅く)する。

 尚、ガラス融液を成形炉でガラスリボン 成形した後、垂直方向(下方向)に板引きし がら、徐冷炉で冷却(徐冷)した後、切断する ことでガラス基板を得るオーバーフローダウ ンドロー法やスリットダウンドロー法は、ガ ラス融液を水平方向に板引きし、徐冷、切断 してガラス基板を得るフロート法と異なり、 低温雰囲気である切断工程から高温雰囲気で ある徐冷炉及び成形炉の方向に、常にガラス リボンの表面に沿って低温の空気流が上昇し 、上昇した低温の空気流は徐冷炉等の内部で 加熱された後、その一部が周壁部の隙間を通 して外部雰囲気に洩れ出すため、徐冷炉や成 形炉の雰囲気温度が変動しやすくなっている 。その結果、オーバーフローダウンドロー法 やスリットダウンドロー法で成形されたガラ ス基板は、ガラス基板面内のレタデーション の大きさやその方位角にばらつきが生じやす くなっている。

 そのため、オーバーフローダウンドロー やスリットダウンドロー法でガラス基板を 形する場合は、ガラスリボンの端部と中央 の厚みをほぼ同じ厚みにすること、温度分 を小さくすることに加えて、徐冷炉や成形 における低温の空気流の上昇を抑える必要 ある。

 尚、徐冷炉や成形炉における低温の空気 の上昇を抑えるには、徐冷炉内に対流防止 を設けたり、送風機等を用いて成形炉や徐 炉の外部雰囲気の気圧が高くなるように調 する等して、成形炉や徐冷炉内の空気を外 雰囲気に洩れ出しにくくすればよい。

 また、上記の方法以外にも、ガラス中のSiO 2 やAl 2 O 3 やB 2 O 3 の含有量を多くしてガラスの熱膨張係数を小 さくしたり、アルカリ土類金属酸化物の含有 量を多くしてガラスの光弾性定数を小さくし てもよい。

 また、本発明のディスプレイ用ガラス基 は、歪が残存しやすく、輝度ムラが顕著に れやすい大型のガラス基板、具体的には、 辺の長さが1000mm以上であるガラス基板とし 特に好適である。

 また、本発明のディスプレイ用ガラス基板 具体的な組成は、耐薬品性、熱収縮性、溶 性、成形性、熱膨張係数等を考慮して、用 に応じて適宜決定すればよい。好適な組成 囲は、質量百分率で、SiO 2  40~70%、Al 2 O 3  2~25%、B 2 O 3  0~20%、MgO 0~10%、CaO 0~15%、SrO 0~10%、BaO 0~15% ZnO 0~10%、R 2 O(RはLi、Na、Kを表わす) 0~25%、ZrO 2  0~10%である。

 本発明においてガラスの組成を上記のよ に限定した理由は、次のとおりである。

 SiO 2 は、ガラスのネットワークフォーマーとなる 成分であり、ガラスの熱膨張係数を低下させ て、ガラス基板のレタデーションδや該レタ ーションのガラス基板の辺方向に対する方 角θのばらつきを抑え、隣り合う測定点に ける{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率を小さくする成分で ある。また、ガラスの耐酸性を向上させたり 、ガラスの歪点を上昇させてガラス基板の熱 収縮を小さくする成分でもある。その含有量 は40~70%である。SiO 2 の含有量が多くなると、ガラスの高温粘度が 高くなり、溶融性が悪化すると共にクリスト バライトの失透ブツが析出しやすくなる傾向 にある。一方、含有量が少なくなると、ガラ スの熱膨張係数が大きくなりやすく、ガラス 基板のレタデーションδや該レタデーション 方位角θのばらつきが大きくなる傾向にあ 、隣り合う測定点における{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率が大きくなる傾向に ある。また、ガラスの耐酸性や歪点が低下す る傾向にある。SiO 2 のより好ましい範囲は50~67%であり、さらに好 ましい範囲は、57~64%である。

 Al 2 O 3 は、ガラスの熱膨張係数を低下させて、ガラ ス基板のレタデーションδや該レタデーショ のガラス基板の辺方向に対する方位角θの らつきを抑え、隣り合う測定点における{sin( 2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率を小さくする成分で ある。また、ガラスの歪点を上昇させたり、 クリストバライトの失透ブツの析出を抑える 効果もある。その含有量は2~25%である。Al 2 O 3 の含有量が多くなると、ガラスの耐バッファ ードフッ酸性が悪化したり、液相温度が上昇 して成形しにくくなる傾向にある。一方、含 有量が少なくなると、ガラスの熱膨張係数が 大きくなりやすく、ガラス基板のレタデーシ ョンδや該レタデーションの方位角θのばら きが大きくなる傾向にあり、隣り合う測定 における{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率が大きくなる傾向に ある。また、ガラスの歪点が低下する傾向に ある。Al 2 O 3 のより好ましい範囲は10~20%であり、さらに好 ましい範囲は14~17%である。

 B 2 O 3 は、融剤として作用し、ガラスの粘性を下げ 、溶融性を改善する成分である。また、ガラ スの熱膨張係数を低下させて、ガラス基板の レタデーションδや該レタデーションのガラ 基板の辺方向に対する方位角θのばらつき 抑え、隣り合う測定点における{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率を小さくする成分で もある。その含有量は0~20%である。B 2 O 3 の含有量が多くなると、ガラスの歪点が低下 したり、耐酸性が悪化する傾向にある。一方 、含有量が少なくなると、ガラスの熱膨張係 数が大きくなりやすく、ガラス基板のレタデ ーションδや該レタデーションの方位角θの らつきが大きくなる傾向にあり、隣り合う 定点における{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率が大きくなる傾向に ある。また、融剤として十分に作用せず溶融 性が低下する傾向にある。B 2 O 3 のより好ましい範囲は5~15%であり、さらに好 しい範囲は7.5~12%である。

 MgOは、ガラスの歪点を低下させずに高温 性のみを低下させて、ガラスの溶融性を改 する成分である。また、ガラスの光弾性定 を低くする成分でもある。その含有量は0~10 %である。MgOの含有量が多くなると、失透ブ が析出しやすくなる。また、耐バッファー フッ酸性が低下し、ガラス基板表面が侵食 れて、反応生成物がガラス基板表面に付着 、ガラス基板が白濁し易くなる。MgOのより ましい範囲は0~5%であり、さらに好ましい範 は0~3.5%である。

 CaOは、ガラスの歪点を低下させずに高温 性のみを低下させて、ガラスの溶融性を著 く改善する成分である。また、ガラスの光 性定数を低くする成分でもある。その含有 は0~15%である。CaOの含有量が多くなると、 バッファードフッ酸性が悪化する傾向にあ 。CaOのより好ましい範囲は0~12%であり、さら に好ましい範囲は3.5~9%である。

 SrOは、ガラスの耐薬品性と耐失透性を向上 せる成分である。また、ガラスの光弾性定 を低くする成分でもある。その含有量は0~10 %である。SrOの含有量が多くなると、ガラス 熱膨張係数が大きくなりやすく、ガラスの 膨張係数が大きくなりやすく、ガラス基板 レタデーションδや該レタデーションの方位 角θのばらつきが大きくなる傾向にあり、隣 合う測定点における{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率が大きくなる傾向に ある。SrOのより好ましい範囲は0~8%であり、 らに好ましい範囲は0.5超~8%である。

 BaOは、SrOと同様にガラスの耐薬品性と耐 透性を向上させる成分である。また、ガラ の光弾性定数を低くする成分でもある。そ 含有量は0~15%である。BaOの含有量が多くな と、ガラスの密度や熱膨張係数が大きくな たり、溶融性が著しく悪化する傾向にある BaOのより好ましい範囲は0~10%であり、さらに 好ましい範囲は0~8%である。

 ZnOは、ガラスの耐バッファードフッ酸性 溶融性を改善する成分である。その含有量 0~10%である。ZnOの含有量が多くなると、ガ スの耐失透性や歪点が低下する傾向にある ZnOのより好ましい範囲は0~5%であり、さらに ましい範囲は0~1%である。

 R 2 O(RはLi、Na、Kを表わす)は、ガラスの粘度を低 下させて溶融性を改善する成分である。その 含有量は0~25%である。R 2 Oの含有量が多くなると、ガラスの歪点が低 する傾向にある。R 2 Oのより好ましい範囲は0~20%である。

 尚、本発明のディスプレイ用ガラス基板を 晶ディスプレイ用途に使用する場合、使用 るガラスは無アルカリガラスにすべきであ 。その理由は、ガラス中にアルカリ金属酸 物を含有すると、ガラス中のアルカリ成分 、ガラス基板上に形成された各種の膜やTFT 子の特性を劣化させる虞があるからである 尚、無アルカリとは、R 2 Oが0.1%以下を意味する。

 ZrO 2 は、ガラスの歪点を高める成分であり、その 含有量は0~10%である。ZrO 2 の含有量が多くなるとガラスの密度が著しく 上昇したり、ZrO 2 に起因する失透物が析出する傾向がある。ZrO 2 のより好ましい範囲は0~7%であり、さらに好 しい範囲は0~5%である。

 また、本発明において、上記成分以外にも 例えば、液相温度を低下させて成形性を向 させるためにY 2 O 3 、La 2 O 3 、Nb 2 O 3 、P 2 O 5 を各3%まで、清澄剤としてAs 2 O 3 、Sb 2 O 3 、SnO 2 、SO 3 、F、Cl等を合量で2%まで添加することが可能 ある。但し、As 2 O 3 、Sb 2 O 3 は、環境負荷物質であること、また、フロー ト法で成形する場合、フロートバス中で還元 されて金属異物となるため、導入は避けるべ きである。

 次に、本発明のディスプレイ用ガラス基 を製造する方法を説明する。

 まず、上記のガラス組成範囲となるように ラス原料を調合する。続いて、調合したガ ス原料を連続溶融炉に投入して加熱溶融し 脱泡した後、ガラス融液を成形装置に供給 、端部の厚みと中央部の厚みがほぼ同じ厚 となるようにガラスリボンを成形したり、 冷炉での冷却工程において、ガラスリボン 幅方向における温度分布をできるだけ小さ することで、隣り合う測定点における{sin(2 )} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率の小さいガラス基板 を得ることができる。

 尚、ガラス基板の成形方法としては、フ ート法、スロットダウンドロー法、オーバ フローダウンドロー法、リドロー法等の様 な成形方法があるが、ダウンドロー法、特 、オーバーフローダウンドロー法で板状に 形することが好ましい。その理由は、オー ーフローダウンドロー法の場合、比較的容 に大型のガラス基板を得やすく、しかも、 の成形方法と異なり、ガラス基板の表面は 成形体と接することがないため、汚染部の いガラス表面を有するガラス基板を得るこ ができる。そのため、ガラス基板表面の研 が不要となり、製造コストを抑えることが きるためである。また、研磨による微小傷 発生をなくすこともできる。但し、オーバ フローダウンドロー法でガラス基板を成形 る場合は、ガラスリボンの端部と中央部の みをほぼ同じ厚みにすること、温度分布を さくすることに加えて、徐冷炉や成形炉に ける低温の空気流の上昇を抑える必要があ 。

 以下、本発明のディスプレイ用ガラス基 を実施例に基づいて詳細に説明する。

 表1は本発明の実施例(試料No.1、2)及び比 例(試料No.3)をそれぞれ示している。

 表中の各試料は、次のようにして作製し 。

 まず、質量%で、SiO 2  59%、Al 2 O 3  15%、B 2 O 3  10%、CaO 6%、SrO 7%、BaO 2%、ZnO 1%の組成とな るようにガラス原料を調合し、連続溶融炉で 溶融する。

 続いて、図2に示すようなオーバーフロー ダウンドロー設備を用いて、溶融ガラスAを 形炉20内に設けられた成形体21の頂部に供給 、その溶融ガラスAを成形体21の頂部から溢 出させると共にその下端部で融合させ、融 させた溶融ガラスAの両端部を成形体21の下 部付近に設けた一対の成形ロール(エッジロ ール)22で挟持し板引きすることでガラスリボ ンBを成形した。

 次に、成形したガラスリボンBが表面張力 等で幅方向に収縮しないように、徐冷炉23内 垂直方向に設置した複数対の引っ張りロー (アニールロール)24でガラスリボンBを幅方 に引っ張り、ガラスリボンBの中央部の温度 700℃の時のガラスリボンBの中央部と端部に おける温度差、ガラスリボンBの中央部の温 が680℃の時のガラスリボンの幅方向におけ 最高温度と最低温度の差及び板引き速度が 1に示す値となるように、冷却しながら下方 牽引することで、中央部と端部の肉厚が約0 .7mmのガラスリボンBとした。

 次に、徐冷炉23下方に設けられた冷却室25 に配置されている複数対の支持ロール26で固 したガラスリボンBを下方に牽引しながら室 温まで冷却し、切断室27でガラスリボンBを切 断することでガラス基板Cを得て、これを試 ガラスとした。

 尚、成形炉20や徐冷炉23における低温の空 気流の上昇を抑えるために、成形室28に配置 れた送風機29を稼働させ、周壁部30に取り付 けられたフィルター31を通してこの設備の外 から成形室28内に空気を導入することで成 炉20や徐冷炉23の外部雰囲気を加圧してガラ 基板を作製した。また、徐冷炉とは、ヒー ーや冷却器を備えた、ガラスの徐冷点~歪点 の範囲を含む範囲の温度を制御することがで きる装置を指し、表1中の板引き速度におけ L(cm)はこの徐冷装置の長さを示す。また、試 料No.1及びNo.3については1000mm×1200mmのサイズ 、試料No.2については1050mm×1250mmのサイズに 断することで試料ガラスとした。

 得られたガラスの熱膨張係数、光弾性定数 徐冷点及び歪点を測定したところ、各試料 も熱膨張係数は37×10 -7 /℃であり、光弾性定数は33(nm/cm)/MPaであり、 た、徐冷点は705℃であり、歪点は650℃であ た。

 このようして得られた各試料について、ガ ス基板内におけるレタデーションδ、ガラ 基板の辺方向に対する該レタデーションの 位角θを50mm間隔で測定し、隣り合う測定点 おける{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率を求めた。また、作 製したガラス基板を用いてディスプレイ装置 を作製し、輝度ムラの発生状態を評価した。 これらの結果を表1に示す。

 表1から明らかなように、実施例である試料 No.1は、ガラス基板面内において、隣り合う 定点における{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率の最大値が1.0×10 -7 であり、また、試料No.2は、3.5×10 -7 と小さかった。また、ディスプレイ装置を作 製し点灯させた際の輝度ムラの発生状態も全 く認められない若しくは弱いものであった。

 これに対して、比較例である試料No.3は、隣 り合う測定点における{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率の最大値が7.0×10 -7 と大きく、ディスプレイ装置を作製し点灯さ せた際の輝度ムラも強く発生していた。

 尚、隣り合う測定点における{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求められる値の変化率については、ユニオ プト製の歪計を用いて光ヘテロダイン法によ り、ガラス基板面内を50mm間隔でレタデーシ ンδ及びガラス基板の辺方向に対する該レタ デーションの方位角θ測定し、測定点aにおけ る{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求めた値A及び測定点aに隣り合う測定点a’ における{sin(2θ)} 2 ×{sin(180°・δ/550)} 2 で求めた値A’を求め、((A-A’)/50)で求めた。 、図3~5において、各円の中心は測定点、円 直径はレタデーションδの大きさ、円の直 として描かれた線の方向はガラス基板の辺 向に対するレタデーションの方位角θを示し ている。

 また、輝度ムラの発生状態については、 ィスプレイ装置を点灯させた際の画面上の 度ムラを目視で観察し、輝度ムラが全く認 られないものを「◎」、輝度ムラが弱く発 しているものを「○」、輝度ムラが強く発 しているものを「×」とした。

 熱膨張係数については、白金坩堝を用い 各試料を1400℃でリメルトしてガラス塊を作 製し、得られたガラス塊を直径5.0mm、長さ20mm の円柱状の試料に加工して、ディラトメータ ーで30~380℃における平均熱膨張係数を測定し た。

 光弾性定数については、直径30mm×5mmの試 を作製し、円盤圧縮法により求めた。

 徐冷点及び歪点についは、ASTM C336-71の方 法に基づいて測定した。

 本発明のディスプレイ用ガラス基板は、 晶ディスプレイ用途に限られるものではな 、例えば、プラズマディスプレイ、電界放 型ディスプレイ、エレクトロルミネッセン ディスプレイ等の用途のガラス基板として いることも可能である。