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Title:
IMPROVED LOW-IMPEDANCE TEST FIXTURE
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2015/081708
Kind Code:
A1
Abstract:
An improved low-impedance test fixture comprises: an impedance converter and a support piece. The impedance converter is fixed on the support piece. The impedance converter comprises: a first tapered microstrip line, a first bias circuit, a second tapered microstrip line, and a second bias circuit. The first tapered microstrip line, the first bias circuit, the second tapered microstrip line, and the second bias circuit are printed on a PCB board. The first tapered microstrip line and the second tapered microstrip line hold an LDMOS device under test. The first bias circuit and the first tapered microstrip line are connected. The second bias circuit and the second tapered microstrip line are connected. By using a tapered microstrip line, the improved low-impedance test fixture increase an impedance conversion range of the test fixture, reduces a degree of impedance mismatch between the fixture and an LDMOS device under test, reduces low-frequency oscillations, and reduces a risk of transistor burnout.

Inventors:
CONG MIFANG (CN)
WANG SHUAI (CN)
LI KE (CN)
REN JIANWEI (CN)
DU HUAN (CN)
Application Number:
PCT/CN2014/083052
Publication Date:
June 11, 2015
Filing Date:
July 25, 2014
Export Citation:
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Assignee:
SHANGHAI LIANXING ELECTRONIC COMPANY LTD (CN)
International Classes:
G01R1/04
Foreign References:
CN203587627U2014-05-07
CN103852602A2014-06-11
CN101662263A2010-03-03
CN202421344U2012-09-05
US7865319B12011-01-04
US6395569B12002-05-28
Other References:
CHEN, CHI.: "Characterization of AlGaN/GaN HEMT and the study of microwave power amplifers", CDFD (INFORMATION SCIENCE, 30 April 2013 (2013-04-30), pages 63 AND 76
WANG, SHUAI ET AL.: "Pulse Power Testing Method of L-Band High Power Density LDMOS", SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY, vol. 37, no. 10, 31 October 2012 (2012-10-31), pages 820 AND 821
Attorney, Agent or Firm:
BEIJING BRIGHT & RIGHT LAW FIRM (CN)
北京华沛德权律师事务所 (CN)
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Claims:
权 利 要 求

1、 一种改进型低阻抗测试夹具, 用于 LDM0S器件的测量操作; 其特征 在于, 包括: 阻抗变换器和支撑件; 所述阻抗变换器固定在所述支撑件上; 所 述阻抗变换器包括: 第一渐变微带线、 第一偏置电路、 第二渐变微带线以及第 二偏置电路; 所述第一渐变微带线、 所述第一偏置电路、 所述第二渐变微带线 以及所述第二偏置电路印刷在 PCB板上;所述第一渐变微带线和所述第二渐变 微带线夹住待测 LDM0S器件; 所述第一偏置电路与所述第一渐变微带线相连; 所述第二偏置电路与所述第二渐变微带线相连。

2、 如权利要求 1所述的改进型低阻抗测试夹具, 其特征在于: 所述第一 渐变微带线和所述第二渐变微带线均为 100节。

3、 如权利要求 2所述的改进型低阻抗测试夹具, 其特征在于: 所述第一 渐变微带线和所述第二渐变微带线的长度均大于 21 Omm。

4、 如权利要求 1~3任一项所述的改进型低阻抗测试夹具, 其特征在于, 所述第一偏置电路和所述第二偏置电路还包括: 扇形电容; 所述第一偏置电路 与所述第一渐变微带线结点两侧分别设置一个扇形电容;所述第二偏置电路与 所述第二渐变微带线结点两侧分别设置一个扇形电容。

5、 如权利要求 4所述的改进型低阻抗测试夹具, 其特征在于: 所述第一 渐变微带线和所述第二渐变微带线均为 Klopfenstein渐变微带线。

6、 如权利要求 1所述的改进型低阻抗测试夹具, 其特征在于, 所述支撑 件包括: 底板和载板; 所述 PCB板固定在所述底板上; 所述底板通过所述载板 支撑。

7、 如权利要求 6所述的改进型低阻抗测试夹具, 其特征在于, 所述载板 包括: 支撑板和底座; 所述支撑板固定在所述第一渐变微带线和所述第二渐变 微带线中间, 用于承载待测的 LDM0S器件; 所述支撑板通过底座固定。

8、 如权利要求 7所述的改进型低阻抗测试夹具, 其特征在于: 所述支撑 板和底座为金属材质的一体成型结构。

9、 如权利要求 8所述的改进型低阻抗测试夹具, 其特征在于: 所述支撑板 和底座为铜质。

Description:
一种改进型低阻抗测试夹具

技术领域

本发明涉及射频微波测量技术领域, 特别涉及一种改进型低阻抗测试夹 具。 背景技术

应用 Loadpul l系统测试功放管时, 测试夹具针的阻抗为 50 Ω, 没有设计 阻抗变换功能。釆用 50 Ω的测试夹具测试阻抗很小的大栅宽、 高功率的 LDM0S 器件时, 由于阻抗严重失配, 导致低频振荡, 器件很容易烧毁。 用于封装级测 试的夹具, 有一定的阻抗变换, 可以从 50欧姆变换到十几欧姆, 变换后的阻 抗仍然相对较高, 容易低频振荡, 烧毁器件。 此外, 用偏置电路供电, 夹具受 偏置电路滤波电容的影响, 工作带宽很窄。 发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种阻抗变 换范围大的测试夹具,避免 低频振荡。

为解决上述技术问题, 本发明提供了一种改进型低阻抗测试夹具, 用于 LDMOS器件的测量操作; 包括: 阻抗变换器和支撑件; 所述阻抗变换器固定 在所述支撑件上; 所述阻抗变换器包括: 第一渐变微带线、 第一偏置电路、 第 二渐变微带线以及第二偏置电路; 所述第一渐变微带线、 所述第一偏置电路、 所述第二渐变微带线以及所述第二偏置电路印 刷在 PCB板上;所述第一渐变微 带线和所述第二渐变微带线夹住待测 LDM0S器件;所述第一偏置电路与所述第 一渐变微带线相连; 所述第二偏置电路与所述第二渐变微带线相连 。

进一步地, 所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线均 为 100节。

进一步地, 所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线的 长度均大于 210mm。

进一步地, 所述第一偏置电路和所述第二偏置电路还包括 : 扇形电容; 所 述第一偏置电路与所述第一渐变微带线结点两 侧分别设置一个扇形电容;所述 第二偏置电路与所述第二渐变微带线结点两侧 分别设置一个扇形电容。

进一步地, 所述第一渐变微带线和所述第二渐变微带线均 为 Klopfenstein 渐变微带线。

进一步地,所述支撑件包括:底板和载板;所 述 PCB板固定在所述底板上; 所述底板通过所述载板支撑。

进一步地, 所述载板包括: 支撑板和底座; 所述支撑板固定在所述第一渐 变微带线和所述第二渐变微带线中间, 用于承载待测的 LDM0S器件; 所述支撑 板通过底座固定。

进一步地, 所述支撑板和底座为金属材质的一体成型结构 。

进一步地, 所述支撑板和底座为铜质。

本发明提供的改进型低阻抗测试夹具通过两条 渐变微带线形成的阻抗变 换器扩大测试夹具的阻抗变换范围,从而能够 将阻抗降到很低的层次, 降低夹 具与待测试 LDM0S器件的阻抗失配程度, 减小低频震荡, 降低烧管风险。 附图说明 图 1为本发明实施例提供的阻抗变换器的 PCB板电路。 具体实施方式

参见图 1, 本发明实施例提供的一种改进型低阻抗测试夹 具, 包括: 阻抗 变换器和支撑件; 阻抗变换器固定在所述支撑件上, 用于实现夹具阻抗变换, 以配合待测试的各类 LDM0S器件, 降低阻抗失配的程度; 阻抗变换器包括: 第 一渐变微带线 1、 第一偏置电路 1、 第二渐变微带线 3 以及第二偏置电路 4 ; 第一渐变微带线 1、 第一偏置电路 2、 第二渐变微带线 3 以及第二偏置电路 4 作为高频电路, 印刷在 PCB板 7上; 第一渐变微带线 1和第二渐变微带线 3 夹住待测 LDM0S器件; 第一偏置电路 2与第一渐变微带线 1相连; 第二偏置电 路 4与第二渐变微带线 3相连。 PCB板 7通过板面上设置的固定孔 6固定在支 撑件上, 形成稳固结构, 方便测试操作。

本实施例提供的渐变微带线构成的阻抗变换器 ,在排除材料影响的前提下 阻抗变化范围为 50Ω 5.4Ω; 因此, 相应的, 第一渐变微带线 1和第二渐变微 带线 3均为 100节,从而保证阻抗变换的下限。阻抗下限越 低,其与待测 LDM0S 器件的配合程度就越高, 低频振荡就越緩和, 烧管的风险就越小。

为了改善供电电路滤波电容造成的工作带宽窄 的问题,优选的, 第一渐变 微带线 1和第二渐变微带线 3的长度均大于 21 Omm,从而使频率覆盖范围包括: P波段、 L波段以及 S波段; 大的带宽可以清楚的看到振荡区域, 解决低频振 荡的问题, 降低了烧管的风险。

阻抗转换器通过偏置电路连接外置电路, 滤波电容选用扇形电容 5, 能够 通过较少的人工调试, 就能获得较好的指标, 同时其可重复效果很好。 针对测 量的不同频率, 波长也不同; 第一偏置电路 2的扇形电容 5的位置设置在第一 偏置电路 1与第一渐进微带线 1的结点两侧四分之一波长处; 第二偏置电路 4 的扇形电容 5的位置设置在第二偏置电路 4与第二渐进微带线 3的结点两侧四 分之一波长处; 从而获得最好的滤波效果, 进一步削弱低频振荡, 降低烧管风 险。

针对待测器件的阻抗相对低的特点, 釆用 Klopfenstein渐变微带线能够较 好的配合低阻抗测量。

本发明实施例提供的改进型低阻抗测试夹具通 过两条渐变微带线形成的 阻抗变换器扩大测试夹具的阻抗变换范围, 从而能够将阻抗降到很低的层次, 降低夹具与待测试 LDM0S器件的阻抗失配程度,减小低频震荡,降 烧管风险。 通过 Klopfensteinl QQ节渐变微带线能够将阻抗变换范围最大化到 50Ω~5.4Ω, 大大降低阻抗失配的风险; 将两条 Klopfenstein渐变微带线设置成最少 210mm 能够扩大带宽, 看清楚振荡区域, 降低低频振荡以及由之带来的烧管风险; 通 过在偏置电路与渐进微带线的结点两侧设置扇 形电容 5, 最大程度的滤波, 能 够进一步降低烧管风险。

支撑件包括: 底板和载板; PCB板 7固定在底板上; 底板通过载板支撑。 PCB板 3的板面通过设置在板面上的固定孔 6, 釆用螺栓连接紧固。载板包括: 支撑板和底座; 支撑板固定在第一渐变微带线 1和第二渐变微带线 3中间, 用 于承载待测的 LDM0S器件; 支撑板通过底座固定。 在通电测量过程中, LDM0S 器件会产生大量的热, 优选的, 支撑板和底座为金属材质的一体成型结构; 在 兼顾稳定性同时, 提升散热效率。 载板整体呈倒置的 T型结构, 散热面积大; 同时其散热空间大, 拥有足够的空间安装散热风扇, 提升散热效率。 优选的, 载板釆用散热效率极佳的铜。 此夹具实现了从 50Ω~5.4Ω的阻抗变换功能,可以很好解决管子 荡问题; 偏置电路釆用扇形电容使夹具的重复性、 稳定性更好。 载板釆用铜质倒 "Τ" 的结构方式, 散热效果比传统的好 多。

限制,尽管参照实例对本发明进行了详细说 明, 本领域的普通技术人员应当理 解, 可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替 换, 而不脱离本发明技术方 案的精神和范围, 其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。