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Title:
INFRARED LIGHT-EMITTING DIODE
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2017/215522
Kind Code:
A1
Abstract:
Provided is an infrared light-emitting diode, comprising in order from top to bottom: a P-type ohmic electrode (108), a contact layer (106), a P-type clad layer (105), an active layer (104), an N-type clad layer (103), a buffer layer (102), a GaAs substrate (101), and an N-type ohmic electrode (107). A distinctive characteristic of the light-emitting diode is employing InxGa 1-xAs as the N-type clad layer (103) and the P-type clad layer (105), or as either one of the two; and an advantage of the light-emitting diode is that when InxGa 1-xAs is used as a clad layer, the low electrical resistance of the material thereof may effectively enhance a spreading of electric current, and may lower voltage as well as increase luminous efficiency.

Inventors:
HUANG CHUN KAI (CN)
WU CHUN-YI (CN)
WANG DUXIANG (CN)
WU CHAOYU (CN)
WANG JIN (CN)
Application Number:
PCT/CN2017/087712
Publication Date:
December 21, 2017
Filing Date:
June 09, 2017
Export Citation:
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Assignee:
XIAMEN SAN'AN OPTOELECTRONICS CO LTD (CN)
International Classes:
H01L31/0304; H01L31/0352
Foreign References:
CN102822999A2012-12-12
CN105489719A2016-04-13
CN105870227A2016-08-17
US5805624A1998-09-08
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Claims:
权利要求书

一种红外发光二极管, 包括: 第一覆盖层、 活性层、 第二覆盖层, 其 特征在于: 所述第一覆盖层为 In xGa ixAs, 其中 In组分为 0%≤X≤5<¾ , 各层间的晶格匹配差异 Aa。<3800ppm。

根据权利要求 1所述的红外发光二极管, 其特征在于: 所述第一覆盖 层和第二覆盖层的厚度为 1~20微米。

根据权利要求 1所述的红外发光二极管, 其特征在于: 所述第一覆盖 层为 In xGa xAs的 In组分为 2。

根据权利要求 1所述的红外发光二极管, 其特征在于: 所述第二覆盖 层为 In yGa !_y

As , 其中 In组分为 0<¾^≤5<¾, 各层间的晶格匹配差异 Aa。<3800ppm 根据权利要求 4所述的红外发光二极管, 其特征在于: 所述第二覆盖 层为 In yGa yAs的 In组分为 2。

根据权利要求 1所述的红外发光二极管, 其特征在于: 所述第一覆盖 层为砷化铟镓, 所述活性层的发光峰波长为 930nm以上。

根据权利要求 1所述的红外发光二极管, 其特征在于: 所述活性层为 多量子阱结构, 其中阱层和垒层具有相反方向的应变, 其总应变量互 相调和。

根据权利要求 7所述的红外发光二极管, 其特征在于: 各层间的晶格 匹配差异 。<1500ppm。

根据权利要求 1所述的红外发光二极管, 其特征在于: 所述发光二极 管自上而下包括第一欧姆电极、 接触层、 第一覆盖层、 活性层、 第二 覆盖层、 缓冲层、 GaAs衬底和第二型欧姆电极。

根据权利要求 1所述的红外发光二极管, 其特征在于: 所述发光二极 管自上而下包括第二型欧姆电极、 接触层、 第二覆盖层、 活性层、 第 二型覆盖层、 接触层、 金属键合层、 Si衬底和第一型欧姆电极。

Description:
红外发光二极管 技术领域

[0001] 本发明属于光电子技术领域, 具体涉及一种改善电流扩散、 提高发光效率的红 外发光二级管。

背景技术

[0002] 红外发光二极管由于其特定的波段, 以及低功耗和高可靠性, 被广泛应用于安 全监控、 穿戴式装置、 空间通信、 遥控、 医疗器具、 传感器用光源及夜间照明 等领域。

技术问题

[0003] 一般使用 InGaAs作为活性层之多量子阱结构, 发光峰波长在 900nm以上的红外 光发光二极管, 覆盖层多使用非直接能隙的 AlGaAs, 其中 A1属于活性大、 容易 氧化的原子, 同吋材料电阻率较高, 使得电流扩散以及组件抗静电耐性较差。 问题的解决方案

技术解决方案

[0004] 针对前述问题, 本发明提出一种具有低带隙覆盖层的红外发光 二极管, 其以砷 化镓 GaAs或者砷化铟镓 I n x G a i x As作为覆盖层, 相较于 AlGaAs材料, 砷化镓或 砷化铟镓具备较低的电阻率, 而且不含有容易氧化的 A1成份, 应用在覆盖层吋 , 可以提高电流的横向传导, 具有较佳的电流扩散效果。

[0005] 本发明解决上述问题的技术方案为: 一种红外发光二极管, 包括: 第一型覆盖 层、 活性层、 第二覆盖层, 所述第一覆盖层为 In x G a i x

As , 其中 In组分为 Oy^X^ 各层间的晶格匹配差异 Aa。<3800ppm。

[0006] 进一步地, 所述第一覆盖层的厚度为 1~20微米。

[0007] 进一步地, 所述第二覆盖层为 In y G a i y As, 其中 In组分为 0<¾≤y≤5<¾, 各层间的 晶格匹配差异 。<3800ppm。

[0008] 在本发明的一个较佳实施例中, 一种红外发光二极管, 其自上而下包括 P型欧 姆电极、 接触层、 P型覆盖层、 活性层、 N型覆盖层、 缓冲层、 GaAs衬底、 N型 欧姆电极, 其特征为采用 In x G a i x As作为 N型覆盖层及 P型覆盖层, 或是两者其一 , 优点在于采用 In x G a i x As作为覆盖层吋, 其材料低电阻值可有效提升电流扩散

, 并降低电压以及提高发光效率。

[0009] 在本发明的另一个较佳实施例中, 一种红外发光二极管, 其自上而下包括 N型 欧姆电极、 N型接触层、 N型覆盖层、 量子阱活性层、 P型覆盖层、 P型接触层、 金属键合层、 Si衬底、 N型欧姆电极, 其特征为采用 In x G a i x

As作为 N型覆盖层及 P型覆盖层, 或是两者其一。

[0010] 进一步地, N型覆盖层以及 P型覆盖层的厚度介于 1~20微米之间, 在此厚度范 围的组件, 其抗静电耐性较佳。

[0011] 进一步地, 当采用砷化铟镓作为 P型覆盖层和 /或 N型覆盖层吋, 活性层的发光 峰波长在 930nm以上, 高于砷化铟镓材料光吸收最大波长 910nm。

[0012] 进一步地, 活性层采用多量阱结构, 其中阱层使用 (In x G a i x )As或 (Al xl G a i xl )

Y1 I n i Y1 As材料, 与衬底相比为压应变, 其厚度为 dl, 再透过势垒层 (Al xl G a i xl

)As X2 P 2 或(八1 xl Ga !_ xl ) Y2 In 施以与阱层相反的应变, 其厚度为 d2, 藉由互 相堆栈不同应变的两种材料形成量子阱结构, 在分别控制 dl及 d2的情况下, 可 以使得总应变量互相调和, 最终量子阱晶格与衬底 GaAs互相匹配, 有效改善晶 格错位, 减少差排缺陷产生, 进而提高结构的发光效率。

发明的有益效果

有益效果

[0013] 本发明至少具有以下有益效果:

[0014] 一、 砷化镓及砷化铟镓材料具有较低的能隙值和较 低的电阻率, 可以降低 组件的串联电阻, 其电压值较低, 并加强电流横向扩散, 提高发光效率。

[0015] 二、 砷化镓及砷化铟镓材料可以阻隔可见光发出组 件, 在组件点亮发光吋, 不 会看件微弱的红色光, 改善红外发光二极管的红爆现象。

[0016] 本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中 阐述, 并且, 部分地从说明书中 变得显而易见, 或者通过实施本发明而了解。 本发明的目的和其他优点可通过 在说明书、 权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实 现和获得。

对附图的简要说明 附图说明

[0017] 附图用来提供对本发明的进一步理解, 并且构成说明书的一部分, 与本发明的 实施例一起用于解释本发明, 并不构成对本发明的限制。 此外, 附图数据是描 述概要, 不是按比例绘制。

[0018] 图 1为根据本发明实施的一种红外发光二极管结 示意图。

[0019] 图 2为根据本发明实施的另一种一种红外发光二 管结构示意图。

[0020] 图中标号如下:

[0021] 101: GaAs衬底

[0022] 102 : 缓冲层

[0023] 103: N型覆盖层

[0024] 104 : 量子阱活性层

[0025] 105: P型覆盖层

[0026] 106: 接触层

[0027] 107: N型欧姆电极

[0028] 108: P型欧姆电极

[0029] 201: Si衬底

[0030] 202 : 金属键合层

[0031] 203: P型接触层

[0032] 204 : P型覆盖层

[0033] 205: 量子阱活性层

[0034] 206: N型覆盖层

[0035] 207: N型接触层

[0036] 208: P型欧姆电极

[0037] 209: N型欧姆电极。

本发明的实施方式

以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的 实施方式, 借此对本发明如何应 用技术手段来解决技术问题, 并达成技术效果的实现过程能充分理解并据以 实 施。 需要说明的是, 只要不构成冲突, 本发明中的各个实施例以及各实施例中 的各个特征可以相互结合, 所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内 。

[0039] 在发明中, 第一覆盖层和第二覆盖层系互为反型的半导体 层, 诸如第一覆盖层 为 N型半导体层吋, 则第二覆盖层为 P型半导体层, 如果第一覆盖层为 P型半导体 层吋, 则第二覆盖层为 N型半导体层。

[0040] 实施例一

[0041] 如图 1所示, 一种具有低带隙覆盖层的红外发光二极管芯片 , 从上到下依次 包括 P型欧姆电极 108、 接触层 106、 P型覆盖层 105、 量子阱活性层 104、 N型覆盖 层 103、 缓冲层 102、 GaAs衬底 101、 N型欧姆电极 107。 在本实施例中, 采用有 机金属气相外延法 (OMVPE)成长, 以 InGaAs作为阱层及 AlGaAsP作为势垒层构 成之多量子阱活性层, 其发光峰波长在 900nm以上, 量子阱对数介于 3对到 25对 之间。

[0042] 具体的, 该 GaAs衬底 101采用惨杂 Si的单晶 N型 GaAs衬底, 浓度为介于 8E17 ~ 3E18原子 /厘米, 优选浓度为 1.2E18原子 /厘米; 该缓冲层 102由 GaAs构成, 浓度 介于 8E17~5E18原子 /厘米, 优选浓度为 1.5E18原子 /厘米; 该 N型覆盖层为砷化铟 镓 In Ga i— x As, 其中铟组分 X介于 O^ S 优选 X为 2<¾, 浓度为 5E17~ 2E18原子 / 厘米, 优选浓度为 7E17原子厘米, 厚度介于 1-20微米之间; 该活性层 104为不具 有惨杂的多量子阱结构活性层, 其中阱层为 AlInGaAs材料, 其厚度为 3~80nm, 势垒层为 AlGaAsP , 其厚度为 5~90nm, 优选厚度为 24nm, 量子阱对数介于 3对到 25对之间, 优选对数为 12对; 该 P型覆盖层 105为惨杂 C的砷化铟镓 In x G a i x As, 其中铟组分 X介于 0<¾~5<¾, 优选 X为 2%, 浓度为 8E17 ~ 6E18原子 /厘米, 优选浓 度为 1E18原子 /厘米; 该 P型接触层 106为重惨杂 C的 GaAs , 浓度为大于 5E18原子 / 厘米, 优选浓度为 8E18原子 /厘米。

[0043] 在本实施例中, 活性层 104采用多量子阱结构, 量子阱对数为 12对, 阱层可使 用 (In 0 . 15 Ga o. 75 )As

s, 厚度为 8nm, 其材料对衬底 GaAs施以压应变, 势垒层使用 (Al i Ga。. 9 )As。. 85 P o.i5 , 厚度为 24nm, 其材料对衬底 GaAs施以张应变。 在此厚度吋总应变调和与衬 底符合, 晶格得以互相匹配。 在此厚度吋总应变调和与衬底符合, 晶格得以互 相匹配, 各层间的晶格匹配差异 Aa。<1500ppm, 不会产生失配缺陷。

[0044] 上述红外发光二极管在通入正向电流 20mA情况下, 正向电压为 1.27V, 发光峰 波长为 956nm, 发光输出功率为 4.9mW。 采用砷化铟镓 In x Ga x As作为覆盖层, 其光吸收最大波长为 910nm, 可以阻隔可见光发光, 观察组件点亮吋不会看到微 弱的红色光。

[0045] 实施例二

[0046] 如图 2所示, 一种具有低带隙覆盖层的红外发光二极管芯片 , 从上到下依次 包括 N型欧姆电极 209、 N型接触层 207、 N型覆盖层 206、 活性层 205、 P型覆盖层 204、 P型接触层 203、 金属键合层 202、 Si衬底 201和 P型欧姆电极 208。 在本实施 例, 采用 Si衬底, 并使用金属键合层反射活性层向下的光线, 有效提高光取出, 进而提升发光效率。

[0047] 具体的, N型覆盖层 206和 P型覆盖层 204采用砷化铟镓 In x Ga ,_ x

As , 其中铟组分 X介于 0<¾~5<¾, 优选 X为 2<¾, 浓度为 5E17 ~ 2E18原子 /厘米, 优 选浓度为 7E17原子 /厘米。 活性层 205为多量子阱层, 包括阱层和势垒层, 量子阱 对数为 12对, 其中阱层使用 (In。. 15 Ga。. 85

)As, 厚度为 8nm, 其材料对生长衬底 GaAs施以压应变; 势垒层使用 (Al。 O5 Ga。. 95 ) 6 5 Ιη。. 35 Ρ, 厚度为 20nm, 其材料对生长衬底 GaAs施以张应变, 在此厚度吋总应 变调和与衬底符合, 晶格得以互相匹配, 同吋控制了覆盖层的铝组分 X介于 0%~ 5% , 从而保证各层间的晶格匹配差异 Aa。<1500ppm, 不会产生失配缺陷。

[0048] 上述红外发光二极管在通入正向电流 50mA情况下, 正向电压为 1.42V, 发光峰 波长为 950nm, 发光输出功率为 16.5mW。 采用砷化铟镓作为覆盖层, 其光吸收 最大波长 910nm, 可以阻隔可见光发光, 观察组件点亮吋不会看到微弱的红色光

[0049] 很明显地, 本发明的说明不应理解为仅仅限制在上述实施 例, 而是包括利用本 发明构思的所有可能的实施方式。