本发明涉及液晶面板制造工艺， 特别是关于一种液晶面板及其制造方法。 背景技术

在薄膜晶体管 （TF LCD) 液晶面板的生产过程中， 必须经过如点灯溯试等 测试环节监控液晶面板的良品率。 如图 1所示， 为方便测试， 液晶面板的薄膜晶 体管基板 10上设置有与显示区 20和彩色滤光片基板 30上待测试线路连接的外 围测试线路 i i。 在进行点灯测试时， 通常会在薄膜晶体管基板上设置短路棒 12 ( cell tester shorting bar) 将待测试的线路分成几组奇数线路和偶数线路 ， 然后通 过相应的测点 （例如图 i中所示的数据奇数线测点 13和数据偶数线测点 14) 与 外部的点灯测试设备 （图中未示出） 电连接， 完成测试任务。 测试完毕之后， 上 述外围测试电路 11与显示区 20和彩色滤光片基板 30上线路的连接一般需要移 除或者用激光断开 （laser oit)， 以使测试的线路回复到测试前各自独立的状态 。 般， 这种移除或者断开的操作对于显示区的数据线 和栅极线比较简单， 但是对 于彩色滤:光片 板上共通电极的线路则难度较大。 如图 1所示， A- A'处施以激光 断开短路棒 12与经扇出区: Π所引出的显示区线路的连接,就能够实现上述 目的。 但是， 彩色滤光片基板 30上共通电极的测点 31 ( CF COM transfer pad, 以下称 为第一测点）与薄膜晶体管基板】 0上的测点 15 ( CF COM pad, 以下称为第二劉 点） 之间的连接往往会因为位置相对 laser cut区域较远， 或是因为引线空间限制 而不能被移除或者被断幵。 一般情况下， 这种连接不会引发任何问题； 但是， 在 液晶显示模组安装导电前框的过程中， 若 ¾力按压导电前框 40， 会使导电前框 40变形而与薄膜晶体管基板 i0上的第二测点 5接触短路（如图 2A和 2B所示）， 此时， 就会引发画面杂讯和闪烁不良等画面异常的现 象。 这主要是因为导电前框 40通常是接地电位， 当导电前框 40变形而与第二测点 15接触时， 会使仍与第二 测点 15保持连接的彩色滤光； t基板 30上共通电极的第一测点 31 电位异常， 从 而导致整个液晶面板接地电位异常， 进而导致驱动电路数位信号的参考基准受到 干扰而出现画面异常的故障。 发明内容

针对上述 题， 本发明提供了一种液晶面板及其制造方法。

本发明提供一种液晶面板， 其中包括：

彩色滤光片基板， 其上包括共通电极的第一测点；

薄膜晶体管基板， 其上包括 ffl于测试所述彩色滤光片基板线路的第二测点 ； 所述第二测点与第一测点之间设置有开关单元 ， 其能够在所述第二测点电位 异常时， 使所述第二测点与第一测点之间的电路连接处 于断开状态。

在一个优选的实施方案中， 所述开关单元还在点灯测试时用于连通所述第 二 测点与第一测点之间的电路连接。

根据本发明的实施例 ·， 在上述实施方案中， 所述开关单元可以为薄膜晶体 管开关， 其漏极连接所述第二测点， 源极连接所述第一测点， 栅极作为控制端， 接收控制所述薄膜晶体管开关导通或截止的控 制电压。

进一步地， 在上述实施方案中， 所述薄膜晶体管基板上还设置连接所述薄膜 晶体管开关控制端的开关测点， 用于施加控制所述薄膜晶体管开关导通或截止 的 控制电压。

根据本发明的实施例二， 在一个优选的实施方案中， 所述幵关单元可以为一 开关二极管，所述开关二极管的阳极连接所述 第二测点，阴极连接所述第一测点。

根据本发明的实施例 在一个优选的实施方案中， 所述开关单元可以为两 个或两个以上并联的开关二极管， 所述开关二极管的阳极并联连接所述第二溯 点， 阴极并联连接所述第一测点。

根据本发明的实施例四， 在一个优选的实施方案中， 所述开关单元可以为两 个或两个以上串联的开关二极管， 所述开关二极管的阳极依次连接至所述第二劉 点， 阴极依次连接至所述第一测点。

在上述实施方案中， 所述开关单元优选地设置在所述薄膜晶体管基 板上。 本发明还提供一种液晶面板的制造方法， 其包括以下步骤：

制作彩色滤光片基板， 其上包括共通电极的第一測点；

制作薄膜晶体管基板， 其上包括^于测试彩色滤光片基板线路的第二� �点； 在所述第二测点与第一测点之间设置开关单元 ， 其能够在所述第二测点电位 异常时， 使所述第二测点与第一测点之间的电路连接处 于断开状态。

进一步地， 上述开关单元在点灯测试时用于连通所述第二 测点与第一测点之 间的电路连接。

根据本发明的实施例一， 上述开关单元可以采用薄膜晶体管开关， 其漏极连 接所述第二测点， 源极连接所述第一测点， 栅极作为控制端， 接收控制所述薄膜 晶体管开关导通或截止的控制电压。

且进一步地， 上述薄膜晶体管基板上还设置连接所述薄膜晶 体管幵关控制端 的开关测点， ^于施加控制所述薄膜晶体管幵关导通或截止� �控制电压。

根据本发明的实施例二， 上述开关单元可以采用一开关二极管， 所述开关二 极管的阳极连接所述第二测点， 阴极连接所述第一测点。

根据本发明的实施例 ， 上述开关单元可以采用两个或两个以上并联的 开关 二极管， 所述开关二极管的阳极并联连接所述第二测点 ， 阴极并联连接所述第一 测点。

根据本发明的实施例四， 上述开关单元可以采用两个或两个以上串联的 开关 二极管， 所述开关二极管的阳极依次连接至所述第二测 点， 阴极依次连接至所述 第一测点。

本发明在现有的彩色滤光片基板共通电极的第 一测点与薄膜晶体管基板用 于测试彩色滤光片基板线路的第二测点之间的 电路连接中增设了一幵关单元， 以 在第二测点电位异常时， 例如在第二测点因与导电外框接触短路而出现 电位为零 的情况时， 断开两个测点之间的电路连接， A认而能够避免彩色滤光片基板内部的 第一测点的电位受到干扰， 也就防止了液晶面板会因测点短路而出现画面 显示异 常的现象。 本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中 阐述， 并且， 部分地从 说明书中变得显而易见， 或者通过实施本发明而了解。 附图说明

图 1是现有技术中液晶面板与外围测试电路的电� �连接示意图；

图 2A是现有技术中液晶面板组装的局部示意图；

图 2B是导电前框因按压变形而与测点接触短路的� ��部示意图；

图 3是本发明实施例一的开关单元的电路连接示� �图；

图 4是本发明实施例二的开关单元的电路连接示� �图； 图 5是本发明实施例≡的幵关单元的电路连接示� �图； 图 6是本发明实施例四的开关单元的电路连接示� �图；

图 7是本发明实施例≡和实施倒四的临界电压比� �示意图；

图 8是本发明等效于开关二级管的薄膜晶体管示� �图。 具钵实施方式

为了防止因导电前框变形与薄膜晶体管基板上 的测点接触短路而导致画面 异常的故障， 本发明对现有技术的液晶面板及其制造方法做 了迸一步的改进， 即 在现有的薄膜晶体管基板 10上的第二测点】5与彩色滤光片基板 30上的第一测 点 31之间的电路连接中增设了一开关单元 6, 以在第二测点 15电位异常时， 断 开其与第一测点 31之间的电路连接。

下面结合非限定性的实施例并参考跗图详细地 描述本发明的目的和技术方 案， 以及能够达到的技术效果。

如图 3所示， 是本发明实施例一的具体实施方案。 其中， 开关单元 i6采用 了一薄膜晶体管开关， 其漏极连接第二测点 15， 源极连接第一测点 31， 栅极作 为控制端， 接收控制薄膜晶体管开关导通或截止的控制电 压。 进一歩地， 極极可 以与同样设置在薄膜晶体管基板 10上的开关测点 17连接。 在进行点灯測试时， 开关测点 Π 上可以通过探针施加足以导通薄膜晶体管开关 漏极与源极的控制电 压， 从而使第二測点 15与第一测点 31之间的电路连接处于连通状态， 将第二测 点 15上的测试电压传入彩色滤光片基板 30内部， 实现对彩色滤光片基板 30内 部线路的测试功能。 常态下， 由于开关测点 17 上没有电压， 薄膜晶体管开关漏 极与源极之间没有导通通路， 相应地， 第二测点 15与第一测点 31之间的电路连 接处于断幵状态。 由此， 即使第二测点 15如因与导电外框 40接触短路而出现电 位为零的异常情况， 也不会对彩色滤光片基板 30上共通电极的第一测点 31的电 位产生影响， 从而也就达到了防止因测点短路而导致画面异 常的目的。 这种幵断 方式可控性强， 灵活度高， 除点灯测试之外， 当有其他需求时也能够通过向开关 测点 17施加控制电压， 将第二测点 15与第一测点 31之间的电路连接从断幵状 态变为连通状态。除上述薄膜晶体管开关外采 用 NMOS晶体管开关也能达到同样 的技术效果， 此处不再详述。

如图 4所示， 是本发明实施^二的具体实施方案。 其中， 开关単元 16采用 了一开关二极管， 其阳极连接第二测点 15 , 阴极连接第 ·测点 31。 当进行点灯 测试^， 在第二测点 15 上施加大干幵关二级管的临界电压的测试电压 ， 幵关二 极管会由截止变为导通状态， 进而将测试电压传入彩色滤光片基板 30 内部， 实 现彩色滤光片基板 30内部线路的测试功能。 常态下， 由于第二测点 15上没有电 压， 开关二极管处于截止状态， 相应地， 第二测点 15与第一测点 31之间的电路 连接处于断开状态。 由此， 即使第二测点 15如因与导电外框 40接触短路而出现 电位为零的异常情况， 也不会对第一测点 31 的电位产生影响， 从而 &就达到了 防止因测点短路而导致画面异常的目的。

如图 5所示，是本发明实施例三，其在实施例二的� �础上做了进一步地扩展。 其中， 开关单元 16采用了两个或两个以上并联的开关二极管， 所有开关二极管 的阳极并联连接第二测点 15 , 阴极并联连接第一测点 31。 在这种实施^中， 使 第二测点 15与第 ·测点 31之间的电路连接.从断幵状态变为连通状态的 开关二极 管临界电压大小不变， 仍与实施飼二中采用一个开关二极管的情况相 同， 但是当 两个测点连通'， 从第二测点 15流入第一测点 31的电流会增多， 从而能够更快 地实现稳压效果。

上述实施例中， 由于一个开关二极管从截止变为导通的临界电 压偏低， 有时 会低至 0 7V, 因此防范因测点短路导致画面异常的效果并不 十分理想。 为此， 本 发明在实施倒四中提出了一种新的技术方案， 如图 6所示， 开关单元 16采用了 两个或两个以上串联的开关二极管。 随着开关二级管的个数的增加， 使第二测点 15与第一测点 3】之间的电路连接从断开状态变为连通状态� �临界电压也会随之 增大。 倒如图 7所示， 使用一个开关二极管时， 临界电压为 3V左右， 使用二个 串联的开关二极管后， 临界电压升至 5V左右。 采用多个串联的开关二极管作为 幵关单元实现故障防范功能的原理与前面几个 实施例基本相同， 此处不再赘述。

虽然已经参考优选实施例对本发明进行了描述 ， 但是在不脱离本发明的范圈 的情况下， 可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换 其中的部件。 例如， 釆 如图 8所示的栅极与漏极短接的薄膜晶体管， 其漏极与源极之间等同一开关二 极管， 实现与开关二级管相同的功能。 由此， 本发明并不局限于文中公开的特定 实施例， 而是包括落入权利要求的范围 ή的所有技术方案， 凡是在本发明技术方 案的基础上进行的等同变换和改进， 均不应排除在本发明的保护范 I之外。