Titre : Spectromètre de masse pour la détection de fuites par gaz traceur

[oooi] |La présente invention se rapporte au domaine des spectromètres de masse, et plus particulièrement à la détection de fuites par spectrométrie de masse de gaz traceurs.

[0002] Pour rappel, un spectromètre de masse est un dispositif qui utilise le mouvement des ions dans des champs électriques et/ ou magnétiques, afin de les classer en fonction de leurs rapports masse/ charge. Comme illustré à la figure 1, un spectromètre de masse 1 comprend généralement un moyen d’ionisation 3, un analyseur 5 et un moyen de détection 7.

[0003] Le moyen d’ionisation 3 est configuré pour ioniser le ou les éléments chimiques qu’on souhaite analyser. Cette ionisation permet ainsi de générer des ions qui seront ensuite triés et sélectionnés en fonction de leurs rapports masse/ charge.

Ce tri peut être obtenu de différentes manières, mais on s’intéresse ici, plus particulièrement, aux analyseurs qui procèdent, au moins, à une sélection par dispersion des ions grâce à un champ magnétique.

Les ions ainsi triés sont ensuite envoyés vers le moyen de détection 7, tel qu’un détecteur qui convertit le flux d’ions reçus en un courant électrique. Ledit courant électrique en sortie du détecteur subit par la suite un traitement du signal permettant d’obtenir des mesures plus précises relatives aux ions.

[0004] Ce type de spectromètre de masse peut notamment être utilisé pour la détection de fuites ou le contrôle d’étanchéité d’objets, par exemple en mesurant et quantifiant un gaz traceur, tel que l’hélium ou le dihydrogène. Cependant, d’autres types de gaz traceurs peuvent être utilisés, tels que du dioxygène, du dioxyde de carbone, etc.

[0005] Cependant, les spectromètres de masse utilisés pour la détection de fuite sont destinés à être utilisés dans des milieux industriels dans lesquels de nombreux facteurs environnementaux peuvent perturber les mesures ou les réglages, notamment les variations de température, les chocs, les vibrations, des déplacements, l’entretien des installations, etc. Par ailleurs, un spectromètre de masse pour la détection de fuites doit aussi être le plus polyvalent possible, notamment en fonctionnant avec différents gaz traceurs, par exemple pour s’adapter aux gaz traceurs disponibles et/ou aux niveaux de fuites recherchés.

[0006] La présente invention permet ainsi de remédier à une ou plusieurs des problématiques évoquées ci-dessus, en proposant un spectromètre de masse pour la détection de fuites par gaz traceur, ledit spectromètre comprenant:

- un moyen d’ionisation destiné à ioniser ledit gaz traceur ;

- au moins une source de champ magnétique engendrant un champ magnétique B dépendant du courant électrique I alimentant ladite source destinée au tri des éléments ionisés ;

- un moyen de détection dudit gaz traceur ionisé.

Selon l’invention, ledit spectromètre comprend un moyen de réglage du champ magnétique B engendré par ladite source, ledit moyen de réglage étant configuré pour permettre au moins deux réglages distincts, lesdits réglages présentant une sensibilité différente.

[0007] Selon une caractéristique possible, ledit moyen de réglage comprend un préréglage (ou réglage grossier) et un réglage fin.

[0008] Selon une autre caractéristique possible, l’un des réglages permet d’établir un champ magnétique nominal B ₀ , tandis que l’autre réglage permet de générer une variation de champ magnétique DB autour de la valeur du champ magnétique nominal B ₀ .

Le champ électromagnétique B engendré par la source de champ magnétique est donc dans ce cas la somme du champ magnétique nominal B ₀ et de la variation de champ magnétique DB.

[0009] Selon une autre caractéristique possible, ladite source de champ magnétique comprend un électroaimant.

On notera que la source de champ magnétique peut également être un secteur magnétique intégrant un ou plusieurs électroaimants.

[0010] Selon une autre caractéristique possible, ledit moyen de réglage comprend au moins deux commandes de réglage, un circuit combinatoire configuré pour combiner les valeurs desdits au moins deux commandes, ainsi qu’un circuit d’asservissement du courant I circulant dans ladite source de champ magnétique.

[oon] Selon une autre caractéristique possible, lesdites au moins deux commandes de réglages sont des grandeurs électriques, telles que des tensions.

[ooi2]Selon une autre caractéristique possible, le champ magnétique B est fonction des valeurs des grandeurs électriques desdites au moins deux commandes de réglages.

[0013] Selon une autre caractéristique possible, le spectromètre de masse comprend N commandes de réglage et/ ou N sources de champ magnétique, où N est un entier supérieur ou égal à 3.

La multiplicité des commandes de réglage et/ou des sources de champ magnétiques permet d’adresser un plus grand nombre de gaz traceurs et de faciliter les réglages dudit spectromètre de masse selon l’invention.

[ooi4]Selon une autre caractéristique possible, le circuit combinatoire comprend :

- une pluralité de résistances R , R ₂ , R ₃ et R ₄ ;

- un amplificateur opérationnel AO associé auxdites résistances R , R ₂ , R ₃ et R ₄ pour former un montage sommateur non-inverseur.

[0015] Selon une autre caractéristique possible, le circuit d’asservissement comprend un amplificateur opérationnel A0 ₂ associé à une résistance de pied Rs et à un transistor Tl, l’ensemble formant un montage de type convertisseur tension- courant.

[ooi6]La présente invention se rapporte également à un système détection de fuites par gaz traceur caractérisé en ce qu’il comprend un spectromètre de masse tel que défini ci-dessus.

[0017] L’invention sera mieux comprise, et d’autres buts, détails, caractéristiques et avantages de celles-ci apparaîtront plus clairement au cours de la description suivante d’un mode de réalisation particulier de l’invention, donnée uniquement à titre illustratif et non limitatif, en référence aux dessins annexés, sur lesquels :

- La figure 1, référencée [Fig. 1], est une représentation très schématique d’un spectromètre de masse et de ses parties fonctionnelles principales ;

- la figure 2, référencée [Fig. 2], est une représentation très schématique d’un exemple de montage pour contrôler l’étanchéité d’un objet au moyen d’un gaz traceur et d’un spectromètre de masse selon l’invention ;

- la figure 3, référencée [Fig. 3], est une représentation schématique agrandie du spectromètre de masse de la figure 2 ;

- la figure 4, référencée [Fig. 4], est une représentation schématique d’un moyen de réglage d’une source de champ magnétique du spectromètre de masse de la figure 2. ]

[0018] La figure 2 est une représentation très schématique d’un exemple d’un système de détection de fuites 100 par gaz traceur comprenant un spectromètre de masse 10 selon l’invention. On notera que le spectromètre de masse 10 comprend les mêmes parties fonctionnelles que le spectromètre de masse 1 de la figure 1, ainsi les éléments identiques ou similaires porteront les mêmes références et ne seront pas à nouveau détaillés.

[ooi JLedit système 100 comprend ainsi :

- une chambre de test 101 configurée pour accueillir un objet dont l’étanchéité doit être testée ;

- un dispositif de détection de fuite 102 qui est relié à la chambre de test 101 et qui comprend le spectromètre de masse 10, une pompe à vide principale 107 et une pompe à vide auxiliaire 109 ;

- une source de gaz 103 reliée à l’objet et configurée pour remplir ledit objet d’un gaz traceur, tel que de l’hydrogène ou de l’hélium.

[0020] La pompe à vide principale 107, tel qu’une pompe turbomoléculaire, présente une entrée reliée à la chambre de test 101, mais est également reliée au spectromètre de masse 10. La pompe à vide auxiliaire 109 est, quant à elle, reliée à la sortie de la pompe à vide principale 107.

[002i]Ledit système 100 comprend également plusieurs vannes 111 et 113 :

- une première vanne 111 disposée sur le conduit reliant la source de gaz 103 à l’objet testé qui est quant à lui disposé dans la chambre de test 101, ladite vanne 111 permettant de réguler la quantité de gaz traceur injecté dans l’objet testé ;

- une deuxième vanne 113 disposée sur le conduit reliant la chambre de test 101 à la pompe à vide principale 107. [0022] La pompe principale 107 génère un vide poussé par lequel le gaz traceur, qui est entré dans la chambre d’essai 101 par une fuite de l’objet testé, est aspiré. Par la suite, à l’intérieur de la pompe principale 107, le gaz traceur s’écoule alors principalement en direction de la pompe auxiliaire 109, mais une partie du gaz traceur se déplace dans le spectromètre de masse 10 afin d’y être analysé.

[0023] La pompe à vide principale 107 est par exemple une pompe turbomoléculaire, une pompe à diffusion ou tout autre type de pompe moléculaire permettant d’atteindre des niveaux de vide compatibles avec la détection de fuites de l’ordre d’au moins io ^-3 mbar.L/ sec.

[0024] Comme illustré à la figure 3, le spectromètre de masse 10 comprend ainsi un moyen d’ionisation 3, comprenant par exemple une source d’ions 301 avec une cathode 301a et une anode 301b. La source d’ions 301 est entourée d’un écran dans lequel est aménagée une ouverture (ou diaphragme) permettant la sortie d’un faisceau d’ions F vers un analyseur 5.

[0025] L’analyseur 5 est, quant à lui, configuré pour sélectionner les ions pertinents, le tri s’effectue notamment au moyen d’un champ magnétique s. En effet, l’analyseur 5 comprend notamment une source de champ magnétique 501 configurée pour engendrer un champ magnétique B orthogonal au plan de la trajectoire des ions (c’est-à-dire orthogonal au plan de la figure 3, propre à incurver la trajectoire des ions).

[0026] La source de champ magnétique 501 est plus particulièrement une source dont le champ magnétique dépend du courant électrique qui « alimente » ladite source.

Ainsi, la source de champ magnétique 501 est par exemple un électroaimant, c’est- à-dire un matériau ferromagnétique sur lequel un bobinage est disposé, le champ magnétique engendré dépendant du courant électrique circulant dans ledit bobinage (notamment de son sens de circulation et de son intensité). On notera que ladite source 501 pourrait également être un secteur magnétique par exemple.

[0027] Ainsi, en présence d’un champ magnétique B, le faisceau d’ions F est dévié. En effet, un champ magnétique B uniforme perpendiculaire au plan de la trajectoire des ions, du fait de la force de Lorentz, va donner une trajectoire courbe auxdits ions (le point d’impact de l’ion, donc sa déviation, permettant de connaître sa masse à partir de la charge).

[0028] Le faisceau d’ions F dévié par le champ magnétique B est alors orienté vers un ou plusieurs diaphragmes après lesquels est disposé un moyen de détection

7

[0029] Ledit moyen de détection 7 comprend par exemple un ou plusieurs capteurs 703 et/ou 705 et un circuit électronique 701 relié auxdits capteurs 703 et 705 pour traiter le signal électrique issu de ceux-ci.

[0030] On notera que le spectromètre de masse 10 peut également comporter les éléments (non représentés) suivants, des lentille(s) électrostatique(s) de couplage, de focalisation, collectrice(s)... des plaques accélératrices, etc. Ces éléments peuvent être disposés au niveau de la source d’ionisation 3, l’analyseur 5 ou du moyen de détection 7, ou entre lesdits moyens 3, 5 et 7.

[oo3i]Ainsi, lorsque le champ magnétique B dans l’analyseur 5, est réglé de façon à adresser exactement des gaz traceurs ayant une masse M déterminée au milieu d’au moins un diaphragme 501a ou 501b (faisant office de fente de sélection), les autres gaz ayant même charge électrique, mais ayant des masses différentes de M vont tourner, dans l’analyseur 4, suivant des rayons différents. Les gaz de masse inférieure à M vont tourner suivant un rayon plus petit, tandis que les gaz de masse supérieure à M vont tourner suivant un rayon plus grand que celui associé au gaz de masse M.

[0032] Pour permettre le réglage du champ magnétique B, le spectromètre de masse 10 comprend un moyen de réglage 400 du champ magnétique engendré par ladite source 501, par exemple par l’électroaimant. Ce moyen est illustré plus particulièrement en figure 4.

[0033] Comme illustré sur cette figure 4, ledit moyen de réglage 401 est relié à la bobine de l’électroaimant 501 et est configuré pour faire varier l’intensité du courant I circulant dans ladite bobine.

[0034] Le moyen de réglage 401 comprend ainsi deux commandes de réglage distinctes 401 et 403, un circuit d’asservissement 405 en courant dudit électroaimant 501, ainsi qu’un circuit combinatoire 407 desdites commandes 401 et 403. Ledit circuit combinatoire 407 est configuré pour recevoir en entrée lesdites commandes 401 et 403 et générer ainsi en sortie une fonction F dépendant des valeurs desdites commandes 401 et 403.

[0035] La fonction F résultante est ainsi envoyée vers le circuit d’asservissement 405 pour qu’il y ait régulation du courant I en fonction des valeurs desdites commandes 401 et 403.

[0036] Lesdites commandes 401 et 403 sont par exemple des convertisseurs numériques analogiques qui délivrent en entrée du circuit combinatoire 407, respectivement des tensions V et V ₂ . On notera cependant que toute grandeur électrique pourrait être adaptée, moyennant les aménagements adéquats.

[0037] Ledit circuit combinatoire 407, quant à lui, comprend notamment :

- une pluralité de résistances R , R ₂ , R ₃ et R ₄ ;

- un amplificateur opérationnel AO associé auxdites résistances R , R ₂ , R ₃ et R ₄ pour former un montage sommateur non-inverseur.

[0038] Ainsi, ledit circuit combinatoire 407 présentera en sortie une tension Vs dépendant des valeurs de tension d’entrée V et V ₂ , ainsi que des résistances R , R ₂ , R ₃ et R ₄ , du type :

[0039] En choisissant judicieusement la valeur desdites résistances R , R ₂ , R ₃ et R ₄ , par exemple en prenant R = R ₃ = R ₄ = R et R ₂ = kR avec k une constante supérieure 1, et de préférence très supérieure à 1, la fonction F se simplifie pour donner :

Les deux commandes V et V ₂ présentent ainsi une pondération différente et influencent donc la valeur de la tension de sortie Vs de manière distincte. On notera que l’influence de la tension V ₂ est k fois moins importante que l’influence de la tension V ₁ sur la tension de sortie V _s .

[0040] Ledit circuit d’asservissement 405 comprend, quant à lui, un amplificateur opérationnel A0 ₂ associé à une résistance de pied Rs et à un transistor Tl, l’ensemble formant en un montage de type convertisseur tension- courant (ou transconductance). Le transistor T est par exemple un transistor bipolaire (ou de type MOSFET) dont la base (ou la grille) est reliée à la sortie de l’amplificateur opérationnel A0 ₂ , le collecteur (ou la source) est relié à l’électroaimant 501, et l’émetteur (ou le drain) est relié à la résistance Rs.

[oo4i]La tension de sortie Vs issue du circuit combinatoire 407 est envoyée sur l’entrée inverseuse de l’amplificateur opérationnel A0 ₂ , tandis que l’entrée non- inverseuse est reliée à la résistance de pied Rs et à l’émetteur du transistor T (plus particulièrement reliée à un nœud situé entre l’émetteur du transistor T et la résistance de pied Rs).

[0042] La tension de sortie V’s issue de l’amplificateur opérationnel A0 ₂ régule ainsi la valeur du courant I circulant à travers le transistor T , mais également à travers l’électroaimant 501. Le courant I dépend des tensions V et V ₂ des commandes 401 et 403 selon la formule suivante :

[0043] Le champ magnétique B est ainsi fonction (plus particulièrement proportionnel pour un électroaimant) à l’intensité du courant I circulant dans la bobine de l’électroaimant 501, en conséquence le champ B est ici fonction des commandes 401 et 403.

[0044] On peut aussi définir que le courant I circulant dans l’électroaimant 501 de la manière suivante :

/ = 7 ₀ + DI où I ₀ est un courant nominal, dépendant de la tension l/^qui engendre un champ magnétique nominal B ₀ , et où DI est une petite variation de courant autour du courant nominal 7 ₀ , dépendant de V ₂ , qui engendre une variation DB du champ magnétique autour de la valeur du champ magnétique nominal B ₀ .

[0045] Ainsi, l’une des commandes de réglage 401 permet d’établir un champ magnétique nominal B ₀ , tandis que l’autre commande de réglage permet de générer une variation de champ magnétique DB autour de la valeur du champ magnétique nominal B ₀ . [0046] On peut également définir que ledit moyen de réglage 400 comprend un une commande de réglage 401 équivalent à un préréglage (ou réglage grossier), tandis que la commande de réglage 403 est un réglage fin.