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Title:
MEASURING DEVICE FOR CONTROLLING AND EVALUATING FIBER GRATING NETWORKS
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2000/034747
Kind Code:
A1
Abstract:
The invention relates to a measuring device that effects an external wavelength measurement with regard to a zero point for controlling and evaluating Bragg grating sensors with a high absolute precision. The measuring device is comprised of an A/D converter with measuring channels, a trigger and reference and is provided with a laser (e.g. ECL system) whose wavelength can be varied and which includes optical couplers and measuring units, for controlling and evaluating signals in fiber grating networks in order to precisely determine the Bragg wavelengths.

Inventors:
TRUTZEL MICHAEL (DE)
Application Number:
PCT/DE1999/003900
Publication Date:
June 15, 2000
Filing Date:
December 03, 1999
Export Citation:
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Assignee:
DAIMLER CHRYSLER AG (DE)
TRUTZEL MICHAEL (DE)
International Classes:
G01D5/353; (IPC1-7): G01D5/353
Foreign References:
US5600442A1997-02-04
US4272734A1981-06-09
Other References:
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 15, no. 312 (P - 1236) 9 August 1991 (1991-08-09)
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 14, no. 173 (P - 1033) 5 April 1990 (1990-04-05)
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Claims:
Patentansprüche
1. Meßanordnung, bestehend aus einem A/DWandler (1) mit Meßkanälen, Trigger und Referenz sowie mit einem in der Wellenlänge durchstimmbaren Laser (2) einschließlich optischen Kopplern (3) und Meßeinheiten (4,5,6,7) zur Signalansteuerung undauswertung in Fasergitter Netzwerken zur präzisen Ermittlung der BraggWellenlängen, dadurch gekennzeichnet, daß die Erfassung der Empfangssignale mit einem A/DWandler (1) erfolgt, und daß ein externes Interferometer (5) den A/DWandler (1) zur Wellenlängenmessung triggert.
2. Meßanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das externe Interferometer (5) ein Ringinterferometer ist.
3. Meßanordnung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßeinheiten einen optischen Empfänger enthalten, aus einer Absorptionszelle oder einer faseroptischen oder planaroptischen Interferometeranordnung besteht.
4. Meßanordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die faseroptische oder planaroptische Interferometeranordnung aus einem Bragg GitterSensor mit Übergitterstruktur besteht.
5. Meßanordnung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß diese am A/DWandler (1) zusätzlich einen Modensprungdetektor angebracht ist.
6. Meßanordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Modensprungdetektor aus einem faseroptischen FabryPerot Interferometer besteht.
7. Meßanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß den Meßkanälen ein BraggGitterSensor vorgeschaltet ist.
Description:
Beschreibung Meßanordnung zur Ansteuerung und Auswertung von Fasergitter Netzwerken Die Erfindung bezieht sich auf eine Meßanordnung nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.

Bragg-Gitter-Sensoren sind eine neuartige, sehr robuste Klasse von Sensoren, mit denen sich be-orzugt auf Meßlängen von 0,1 bis 20 mm hochaufgelöst Dehnungen messen lassen. In Luft-und Raumfahrt, Automobil und Bahnbereich eröffnen sich durch diese Sensoren neue, vielversprechende Möglichkeiten für

Anwendungen im Bereich der Inspektion von Fahrzeugen zur Reduktion von Kosten, bei allen Arten von adaptiven Systemen zur Steuerung und im Bereich der Meßtechnik beispielsweise zur experimentellen Spannungsanalyse.

Gegenüber konventionellen Lösungen, bei denen Dehnungsmeßstreifen oder Piezosensorik Anwendung finden, bieten Bragg-Gitter-Sensoren gleich eine ganze Reihe von Vorteilen aufgrund ihrer kompakten Bauweise. Durch kleine Faserdurchmessers eignen sie sich besonders gut für die Integration in faserverstärkten Verbundstrukturen. Das Meßsignal ist wellenlängencodiert und damit streckenneutral, wodurch sich Leistungsschwankungen auf der Übertragungsleitung nicht auf die Meßgröße auswirken. Weiterhin ist der Sensor, wie alle faseroptischen Sensoren, unempfindlich gegenüber elektromagnetischen Störungen. Besonders hervorzuheben sind jedoch seine exzellenten Multiplexmöglichkeiten, durch die, unter Verwendung geeigneter Abfragetechniken, in einer einzigen optischen Faser mehr als 100 Sensoren positioniert, abgefragt und ausgewertet werden können.

Bisher ist aus der Schrift US 5,401,956 ein faseroptisches System zur Auswertung von Meßsignalen bekannt, die Druck-oder Temperatureinflüsse auf Bragg-Gitter Strukturen erfassen. Der optische Sensor besteht aus einer in der Wellenlänge abstimmbaren schmalbandigen Laserlichtquelle, einer Meß-und Auswerteeinheit, mit deren Hilfe die temperatur-oder druckbedingten Wellenlängenverschiebungen gemessen wird. Eine Messung kann entweder statische Spannungszustände oder auch dynamische Vorgänge erfassen. Das Auflösungsvermögen des Meßsystems wird durch Verwendung eines Fabry- Perot-Interferometers vorgegeben.

Aus der vorliegenden Schrift sind in Verbindung mit dem allgemeinen Stand der Technik bereits mögliche Systemkonzepte zur Bestimmung von Bragg- Wellenlängen bekannt, die bei der Verwendung durchstimmbaren Lasern (z. B.

ECL... external cavity Laser) in der Wellenlängenänderung und in dem möglichen Auftreten von Modensprüngen allerdings deutliche Nachteile besitzen.

So ist die Wellenlängendurchstimmung, d. h. die zeitliche Veränderung der Wellenlänge, bei derzeit kommerziell erhältlichen ECL-Systemen nicht linear, wie in der Schrift US 5,401,956 vorausgesetzt wird, sondern weisen zum Teil sprunghafte Änderungen über der Zeit und damit in der Wellenlängenänderung auf. Hieraus folgt, daß bei der Wellenlängenzuordnung über eine einfache Interpolation, wie in der Schrift US 5,401,956 angewandt, je nach Ausprägung der Schwankungen ein zum Teil wesentlicher Fehler in der Wellenlängenzuordnung resultieren kann.

Ebenso verhindern sprunghafte Änderungen eine präzise Bestimmung von Bragg-Wellenlängen bei faseroptischen Sensoren. Unter der Annahme, daß ein ECL-System beispielsweise einen Scan über 50 nm durchführt, was einem Scanbereich entspricht, der mit heutigen Systemen problemlos erreichbar ist, dann wäre bei einer gewünschten und für viele Anwendungen in der Bragg- Gittersensorik durchaus benötigten Genauigkeit der Wellenlängenmessung von 1 pm eine Linearität von ca. 2x 10-3 % bei der Durchstimmung nötig. Dies ist mit analogen herkömmlichen Systemen nicht realisierbar.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Meßanordnung anzugeben die eine präzisere Bestimmung von Resonanz-Wellenlängen bei faseroptischen Bragg-Gitter-Sensoren ermöglicht.

Die Erfindung wird durch die Merkmale des Patentanspruchs 1 wiedergegeben.

Die weiteren Ansprüche enthalten vorteilhafte Aus-und Weiterbildungen der Erfindung.

Die Erfindung beinhaltet ein Meßanordnung mit einer auf einen Nullpunkt oder mehrere Nullpunkte bezogenen externen Wellenlängenmessung zur Ansteuerung und Auswertung von Bragg-Gitter-Sensoren mit hoher absoluter Genauigkeit.

Die Meßanordnung besteht aus einem A/D-Wandler mit Meßkanälen, Trigger- und Referenzeingang sowie mit einem in der Wellenlänge durchstimmbaren Lasers (z. B. ECL) einschließlich optischen Kopplern und Meßeinheiten, zur Signalansteuerung und-auswertung in Fasergitter Netzwerken zur präzisen Ermittlung der Bragg-Wellenlängen. Zur Erfassung der Empfangssignale zur Bestimmung der Wellenlänge wird der A/D-Wandler über ein externes Interferometer getriggert. Damit können alle nicht linearen Anteile bei der Wellenlängendurchstimmung präzise erfaßt werden. Vorzugsweise wird als externes Interferometer ein Ringinterferometer und für die Meßkanäle ein Bragg- Gitter-Sensor verwendet.

Aufgrund des möglichen Auftretens von Modensprüngen wird eine zusätzliche Modensprungdetektion verwendet, die bevorzugt aus einem faseroptisches Fabry- Perot-Interferometer besteht.

Als optischer Empfänger werden für die Meßkanäle, Trigger-und Referenzeingang Photodioden in Verbindung mit einem Verstärker und Tiefpassfiltern eingesetzt.

Der besondere Vorteil besteht darin, daß mit der Erfindung wesentlich höhere Meßgenauigkeit, auch über große spektrale Scanbreiten, durch die sehr genaue Bestimmung von Bragg-Wellenlängen erzielt wird, die eine Meßgenauigkeit im pm oder sogar im sub-pm Bereiche gewährleistet. Dies kann nur durch eine direkte Triggerung des A/D-Wandlers über das externe Interferometer erreicht werden.

Mit dem Konzept werden zudem Datenmengen auf ein notwendiges Minimum reduziert.

Ein weiterer wesentlicher Vorteil ist, daß der Einfluß der bei nahezu allen durchstimmbaren Lasern mögliche Modensprung oder auch mehrere Modensprünge zuverlässig erkannt und berücksichtigt werden kann.

Im folgenden wird die Erfindung anhand von vorteilhaften Ausführungs- beispielen unter Bezugnahme auf schematische Zeichnungen in den Figuren näher erläutert. Es zeigen : Fig. l Charakteristik eines ECL-Scans Fig. 2 Minimalkonfiguration der Meßanordnung, Fig. 3 Meßanordnung mit direkter externer Triggerung und Modensprung detektion.

Der comutergesteuerte und in der Wellenlänge durchstimmbare EC- Halbleiterlaser scannt einen Wellenlängenbereich von ca. 1480 bis 1580 nm ab.

In der Scan-Charakteristik des ECL-Systems gemäß zeigt sich in Fig. 1 beispielhaft die Sichtlinearität der emittierten Wellenlänge in Abhängigkeit von der Scan-Zeit. Diese aus dem Kurvenverlauf ersichtlichen Schwankungen führen

bei herkömmlichen Meßsystemen zu Einbußen in der Meßgenauigkeit bei der Wellenlängenzuordnung.

In einem Beispiel gemäß Fig. 2 ist die Minimalkonfiguration der Meßanordnung zur präzisen Bestimmung von Bragg-Wellenlängen dargestellt.

Der durch den PC 9 gesteuerte Halbleiterlaser ECL 2 (ECL.... External Cavity Laser) scannt den vorgegebenen Wellenlängenbereich ab. Durch einen breitbandigen faseroptischen Koppler 3 wird die Hälfte der Lichtleistung auf ein Fasergitter bzw. auf mehrere in Reihe angeordnete Fasergitter, bei denen jedem Fasergitter ein eindeutiger Wellenlängenbereich zugeordnet ist, gekoppelt. Die transmittierte bzw. reflektierte Leistung wird als Funktion der Wellenlänge mit Detektoren 7 (Front-End-Receiver) gemessen und automatisch, beispielsweise mit einer Multifunktionskarte ausgelesen. Diesen Signalen müssen nun die einzelnen Wellenlängen zugeordnet werden. Dabei werden beispielsweise mit einer Absorptionszelle spektral an den Stellen, an denen die Absorptionszelle Transmissionseinbrüche mit bekannter Wellenlänge aufweist, eine absolute Wellenlänge zugeordnet.

Ändert sich die Temperatur oder die Dehnung an einem der Fasergitter, so kommt es zu einer Verschiebung des entsprechenden Bragg-Reflexes.

Bei der Messung wird der A/D-Wandler 1 nicht über einen internen Timer getriggert, sondern direkt über ein Interferometer 5. Dies hat den Vorteil, daß die Signale nicht mehr digitalisiert werden müssen und dennoch eine eindeutige Zuordnung des richtigen Abstandes der Meßpunkte im Wellenlängen-oder Frequenzraum erlauben. Dazu eignet sich jede Art von faseroptischen oder auch planaroptischen Interferometern wie beispielsweise Michelson-, Fabry-Perot-, Mach-Zehnder-Interferometer. In Bezug auf geringe Kosten und Aufwand bietet

sich besonders ein kostengünstiges faseroptisches Ringinterferometer an, das einfach aus einem faseroptischen Koppler realisiert wird.

Solange bei den verwendeten ECL-System 2 eine Wahrscheinlichkeit für Modensprünge vorhanden ist, muß eine Modensprungdetektion durchgeführt werden. Hierzu wird ein weiteres Interferometer 5 gemäß Fig. 3 eingesetzt.

Die Referenz kann durch einen Empfänger 7 mit vorgeschalteter Absorptionszelle oder durch eine faseroptische Lösung gebildet werden.

Allerdings ist beim Einsatz von faseroptischen Lösungen zu beachten, daß diese ohne weiter Maßnahmen in Bezug auf eine Linienverschiebung ein wesentlich stärkere Temperaturabhängigkeit aufweisen. Der Vorteil der faseroptischen Lösung liegt in der Designbarkeit der Anordnung unter Berücksichtigung eines möglichst geringen Beitrags zum Rauschen.

Mit faseroptische Bragg-Gittern mit geschickt gewählter Übergitterstruktur ist sogar eine Modensprungdetektion möglich. Dabei muß die Übergitterstruktur so gewählt sein, daß der Modensprung außerhalb des ganzzahligen Vielfachen (idealer weise das 1,5 fache) des spektralen Abstandes zweier Interferenzlinien liegt. Bei dieser Vorgehensweise könnte auf das weitere Interferometer 8 für die zusätzliche Modensprungdetektion sogar verzichtet werden, d. h. diese Struktur kann als Referenz und gleichzeitig zur Modensprungdetektion eingesetzt werden.




 
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