西 太樹 (〒20 群馬県渋川市中村1135番地 電気化学工業株式会社渋川工場 Gunma, 〒3778520, JP)
MIYAKAWA Takeshi (1135 Nakamura, Shibukawa-sh, Gunma 20, 〒3778520, JP)
宮川 健志 (〒20 群馬県渋川市中村1135番地 電気化学工業株式会社渋川工場 Gunma, 〒3778520, JP)
電気化学工業株式会社 (〒38 東京都中央区日本橋室町二丁目1番1号 Tokyo, 〒1038338, JP)
NISHI Taiki (1135 Nakamura, Shibukawa-sh, Gunma 20, 〒3778520, JP)
西 太樹 (〒20 群馬県渋川市中村1135番地 電気化学工業株式会社渋川工場 Gunma, 〒3778520, JP)
MIYAKAWA Takeshi (1135 Nakamura, Shibukawa-sh, Gunma 20, 〒3778520, JP)
| 線膨張係数が60ppm/℃以上120ppm/℃以下である絶縁層と、 絶縁層の一方の面に設けられ、線膨張係数が10ppm/℃以上35ppm/℃以下である金属材料からなる金属箔と、 絶縁層の他方の面に形成され、線膨張係数が10ppm/℃以上35ppm/℃以下である回路部分及び非回路部分と、 絶縁層、回路部分及び非回路部分上に形成した白色膜とを有し、 絶縁層上の回路部分と非回路部分の面積の総和が金属箔の面積に対して50%以上95%以下であり、且つ各素材の線膨張係数の関係が 絶縁層の線膨張係数>金属箔の線膨張係数>回路部分及び非回路部分の線膨張係数 である金属ベース回路基板。 |
| 絶縁層が、エポキシ樹脂、硬化剤及び無機フィラーで形成され、無機フィラーが絶縁層の総体積に対して40体積%以上70体積%以下含有されている請求項1に記載の金属ベース回路基板。 |
| 硬化剤が、水酸基及びアミノ基の一方又は双方を有する物質を含む請求項1に記載の金属ベース回路基板。 |
| 白色膜が白色顔料として二酸化チタンを含有し、二酸化チタンがルチル型で且つ表面が水酸化アルミニウム又は二酸化珪素で被覆されている請求項1に記載の金属ベース回路基板。 |
本発明は、光源としてLED(light-emitting diode 、発光ダイオード)を使用した液晶表示装置 の、放熱性及び薄型化が要求される分野に いられる金属ベース回路基板に関するもの ある。
液晶バックライトの光源としては、CCFL(Cold
Cathode Fluorescent Lamp:冷陰極蛍光ランプ)やLED
挙げられる。
CCFLは使いやすさ及び長寿命といった利点を
持ち、LEDは、色再現性に優れ、高輝度、薄型
であり、水銀を使用しないためにCCFLと比較
て環境負荷が低く、振動や衝撃に強く、広
囲の温度領域(-40℃~85℃)で使用可能であり、
さらに、使用環境によっては5万時間の寿命
有するという利点を持つ。
LEDの発光効率がCCFLと比べて低いため、液晶
バックライト内部のような密閉空間ではLED近
傍の温度はCCFLと比較して高くなる傾向にあ
。この様な条件下では輝度が低下するので
電流値を上げる必要があるため発熱が増し
さらに温度が上昇する。
このため、LEDの温度上昇により半導体素子
劣化が促進され、LEDの寿命が短くなる。こ
ため、LEDを実装するプリント配線板には放
性が要求される。
LED実装のプリント配線板の放熱方法とし は、プリント配線板に熱伝導性材料を介し 筐体へ熱を逃がす方法がある(特許文献1参 )。しかし、この方法は、プリント配線板単 での筐体への放熱が困難であり、副部材が 要となるのでコスト高になって好ましくな 。
他の放熱方法として、プリント配線板の回
パターンを兼ねた放熱部分からサーモビア
介して裏面の放熱パターンから筐体に熱を
がす構造がある(特許文献2参照)。しかし、
板の構成が複雑であるという問題がある。
本発明では、LEDバックライト用の基板に いて、副部材やサーモビアを用いずとも良 な放熱特性を有すること、及び反り量を抑 することで、プリント配線板の回路形成時 びLED実装時の作業性を改善することを課題 する。
即ち、本発明によれば、線膨張係数が60pp m/℃以上120ppm/℃以下である絶縁層と、絶縁層 の一方の面に設けられ、線膨張係数が10ppm/℃ 以上35ppm/℃以下である金属材料からなる金属 箔と、絶縁層の他方の面に形成され、線膨張 係数が10ppm/℃以上35ppm/℃以下である回路部分 及び非回路部分と、絶縁層、回路部分及び非 回路部分上に形成した白色膜とを有し、絶縁 層上の非回路部分と回路部分の面積の総和が 金属箔の面積に対して50%以上95%以下であり、 且つ各素材の線膨張係数の関係が、絶縁層の 線膨張係数>金属箔の線膨張係数>回路部 及び非回路部分の線膨張係数、である金属 ース回路基板が提供される。
また、本発明の一態様では、上記絶縁層 、エポキシ樹脂、硬化剤及び無機フィラー 形成され、無機フィラーが絶縁層の総体積 対して40体積%以上70体積%以下含有されてい 金属ベース回路基板が提供される。
また、本発明の一態様では、上記硬化剤 、水酸基及びアミノ基の一方又は双方を有 る物質を含む金属ベース回路基板が提供さ る。
また、本発明の一態様では、上記白色膜 白色顔料として二酸化チタンを含有し、二 化チタンがルチル型で且つ表面が水酸化ア ミニウム又は二酸化珪素で被覆されている 属ベース回路基板が提供される。
本発明によれば、LEDバックライト用の基 において、副部材やサーモビアを用いずと 良好な放熱特性を有するためLEDの寿命を延 すことが可能であり、且つ反り量を抑制す ことで、プリント配線板の回路形成時及びL ED実装時の作業性を改善することができる。
1 金属箔
2 絶縁層
3 回路部分
4 非回路部分
5 白色膜
6 半田接合部
7 LEDパッケージ
以下、図を用いて本発明の一実施形態に係
金属ベース回路基板を説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係る金属ベー
ス回路基板を用いた混成集積回路モジュール
を模式的に示したものであり、金属ベース回
路基板の断面図を示している。
図1に示すように、本実施形態に係る金属ベ
ース回路基板は、金属箔1、絶縁層2、絶縁層2
の金属箔1が設けられていない方の面上に形
された回路部分3と、絶縁層2の金属箔1が設
られていない方の面上に形成された非回路
分4と、絶縁層2と回路部分3及び非回路部分4
に形成された白色膜5を備えている。
図1のように、半田接合部6を介してLEDパッ
ージ7を回路部分3上に搭載することにより、
混成集積回路モジュールとなる。
本実施形態に係る金属ベース回路基板は、
膨張係数が60ppm/℃以上120ppm/℃以下である絶
縁層と、絶縁層の一方の面に設けられ、線膨
張係数が10ppm/℃以上35ppm/℃以下である金属材
料からなる金属箔と、絶縁層の他方の面に形
成され、線膨張係数が10ppm/℃以上35ppm/℃以下
である回路部分及び非回路部分と、絶縁層、
回路部分及び非回路部分上に形成した白色膜
とを有している。
そして、絶縁層上の非回路部分と回路部分
面積の総和が金属箔の面積に対して50%以上9
5%以下である。そして、且つ各素材の線膨張
数の関係が、絶縁層の線膨張係数>金属箔
の線膨張係数>回路部分及び非回路部分の
膨張係数、であることを特徴とする。
[回路部分及び非回路部分]
本発明において、回路部分及び非回路部分
、絶縁層上に設けられた同じ導電材料(導体
金属)からなり、回路部分とは、電子・電気
子を駆動させるために電流が流れる回路部
を意味する。また、本発明において非回路
分とは、電気的には利用しない導電材料(導
金属)を意味する。
本実施形態に係る金属ベース回路基板にお
ては、絶縁層2上の非回路部分4と回路部分3
面積の総和が50%以上95%以下である。
上記面積の総和が50%以上であれば、金属ベ
ス回路基板の反りを抑制でき、LEDを初めと
る電子部品の実装が容易である。また、上
面積の総和が95%以下であれば、回路部分と
回路部分間のスペースを十分に確保できる
め、電気的信頼性を確保できる。
本実施形態に係る金属ベース回路基板にお
ては、回路部分3及び非回路部分4の線膨張
数は10ppm/℃以上35ppm/℃以下である。
回路部分3及び非回路部分4として採用でき
導体材料としては、上記の線膨張係数を有
る導体材料であれば適宜選択でき、具体的
は、Ni、Cu、Al、Fe、Si、ステンレス単体鋼乃
それらの合金がある。
これらの中でも、放熱性を考慮すると、Cu
Al、又はCuとAlの合金が特に好ましい。
本実施形態に係る金属ベース回路基板にお
ては、回路部分3及び非回路部分4の厚みは
18μm以上70μm以下が好ましい。
回路部分3及び非回路部分4の厚みが18μm以下
であると、金属ベース基板製造時のハンドリ
ングで皺等の問題が発生しやすくなる。また
、回路部分3及び非回路部分4の厚みが70μmで
ると回路部分及び非回路部分のパターン作
時に問題が発生する。
[金属箔]
本実施形態に係る金属ベース回路基板にお
ては、金属箔1を構成する金属材料の線膨張
係数は10ppm/℃以上35ppm/℃以下である。
金属箔として採用できる金属としては、上
の線膨張係数を有する金属であれば適宜選
でき、具体的には、Ni、Cu、Al、Si、Fe、ステ
ンレス鋼単体乃至それらの合金がある。
これらの中でも、放熱性を考慮すると、Cu
Al、又はCuとAlの合金が特に好ましい。
本実施形態に係る金属ベース回路基板にお
ては、金属箔1の厚みは、150μm以上300μm以下
が好ましい。
金属箔1の厚みが150μm以上であると、金属ベ
ース基板製造時のハンドリングで折れ等の問
題を抑制することができ、液晶表示装置の薄
型化の観点からは300μm以下が好ましい。
[絶縁層]
本実施形態に係る金属ベース回路基板にお
ては、絶縁層2の線膨張係数は60ppm/℃以上120
ppm/℃以下である。
絶縁層として採用できる素材としては、上
の線膨張係数を有する絶縁材であれば適宜
択でき、具体的には、エポキシ樹脂、シリ
ーン樹脂及びそれらの共重合体が挙げられ
。
これらの中でも、耐熱性及び金属との接着
という理由からエポキシ樹脂が特に好まし
。
また、これら樹脂には適宜、硬化剤、無機
ィラー、さらには下地への濡れ性やレベリ
グ性の向上及び粘度低下を促進して形成時
欠陥の発生を低減する添加剤を含有するこ
ができる。
この添加剤としては、例えば、消泡剤、表
調整剤、湿潤分散剤等がある。
本実施形態に係る金属ベース回路基板にお
ては、絶縁層2の厚みは、80μm以上180μm以下
好ましい。
絶縁層2の厚みが80μm以上であると絶縁性を
保することが容易であり、180μm以下である
均一に絶縁層を形成することが容易になる
絶縁層2に用いられるエポキシ樹脂としては
、エポキシ樹脂として公知なものを採用でき
、例えば、ビスフェノールAジグリシジルエ
テル、ビスフェノールFジグリシジルエーテ
、ビスフェノールSジグリシジルエーテル、
レゾルシノールジグリシジルエーテル、ヘキ
サヒドロビスフェノールAジグリシジルエー
ル、ポリプロピレングリコールジグリシジ
エーテル、ネロペンチルグリコールジグリ
ジルエーテル、フタル酸ジグリシジルエス
ル、ダイマー酸ジグリシジルエステル、ト
グリシジルイソシアネレート、テトラグリ
ジルジアミノジフェニルメタン、テトラグ
シジルメタキシレンジアミン、フェノール
ボラックポリグリシジルエーテル、テトラ
ロムビスフェノールAジグリシジルエーテル
ビスフェノールヘキサフロロアセトングリ
ジルエーテル等のエポキシ基を含有する物
が挙げられる。
これらの中でも、耐熱性及び金属との接着
という理由から、ビスフェノールAジグリシ
ジルエーテル及びビスフェノールFジグリシ
ルエーテルが特に好ましい。
エポキシ樹脂中の塩化物イオン濃度は、1000
ppm以下であることが好ましく、500ppm以下であ
ることがより好ましい。
エポキシ樹脂組成物中の塩化物イオン濃度
高くなると、高温下、高湿下、直流乃至交
電圧下においてイオン性不純物の移動が起
り、電気絶縁性が低下する傾向があるため
ある。
エポキシ樹脂の硬化剤としては、エポキ 基と反応する水酸基又はアミノ基の一方又 双方を有する物質を含むものが望ましい。 えば、前記エポキシ樹脂の硬化剤としての リアミン、ポリフェノールがある。
エポキシ樹脂の硬化剤、特に水酸基を含有
る物質を使用する場合には硬化促進剤を用
ても良い。
硬化促進剤としてはイミダゾール系が好ま
い。例えば、2-メチルイミダゾール、2-ウン
デシルイミダゾール、2-ヘプタデシルイミダ
ール、1,2-ジメチルイミダゾール、2-メチル
4―メチルイミダゾール、2-フェニルイミダ
ール、2-フェニルー4-メチルイミダゾール、
1-ベンジルー2-メチルイミダゾール、1-ベンジ
ルー2-フェニルイミダゾール、2,3ージヒドロ
1H―ピロロ〔1,2―a〕ベンズイミダゾール、2
-フェニルー4,5―ジヒドロキシメチルイミダ
ール、2,4―ジアミノー6-〔2’―メチルイミ
ゾリルー(1’)〕―エチルーs―トリアジン、2
,4―ジアミノー6-〔2’―ウンデシルイミダゾ
ルー(1’)〕―エチルーs―トリアジン、1-シ
ノメチルー2―メチルイミダゾール等が望ま
しい。
これらの中でも、耐湿信頼性及びTg(ガラス
位温度)の向上という理由から、2,3ージヒド
ロー1H―ピロロ〔1,2―a〕ベンズイミダゾール
が特に好ましい。
硬化促進剤の添加量は、0.005部以上5部以下
あることが望ましい。
硬化促進剤の添加量が5部以下であればポッ
トライフが長くなり増粘による作業性の低下
を抑制でき、0.005部以上であれば硬化時の高
加熱が短時間となり、コスト及び作業性の
点から好ましい。
絶縁層2に含有される無機フィラーとして は、電気絶縁性で熱伝導性の良好なものが好 ましく、例えば、シリカ、アルミナ、窒化ア ルミニウム、窒化珪素、窒化硼素、窒化ホウ 素、酸化マグネシウムがある。これらの中で も、電気絶縁性及び熱伝導性の観点から、シ リカ、アルミナ、窒化アルミニウムが特に好 ましい。
無機フィラー中のナトリウムイオン濃度は
500ppm以下であることが好ましく、100ppm以下
あることがより好ましい。
無機フィラー中のナトリウムイオン濃度が5
00ppm以下であれば、高温下、高湿下、直流乃
交流電圧下においてイオン性不純物の移動
起こり難く、電気絶縁性が低下を抑制でき
。
絶縁層2に含有される無機フィラーの含有率
としては、絶縁層の総体積に対して無機フィ
ラーが40体積%以上70体積%以下であること望ま
しい。
無機フィラーの含有率が40体積%以上であれ
十分な熱伝導率を得ることができ、70体積%
下であれば絶縁層2の形成時に欠陥が発生し
難くなり、耐電圧、密着性を損なうことがな
い。
また、無機フィラーによる増粘をさける め2種以上の粒径の異なる無機フィラーを混 合することが更に望ましい。
絶縁層2の硬化後の熱伝導率は、1W/m・K以上
好ましく、より好ましくは2W/m・K以上であ
ことが好ましい。
硬化後の熱伝導率が、1W/m・K以上であれば
電子部品から発生する熱を効率よく金属ベ
ス回路基板裏面側に放熱し、さらに、外部
放熱することにより電子部品の蓄熱を低減
、電子部品の温度上昇を小さくするととも
、長寿命の混成集積回路モジュールを提供
ることができる。
さらに、絶縁層2の破壊電圧は、LED等の電 子部品を実装後に回路部分への電圧を印可し た時の絶縁性を確保するため、1.8kV以上が好 しく、より好ましくは2kV以上である。
本実施形態に係る金属ベース回路基板では
金属箔を構成する金属材料の線膨張係数、
縁層の線膨張係数、回路部分及び非回路部
の線膨張係数の関係は、
絶縁層の線膨張係数>金属箔の線膨張係数&g
t;回路部分及び非回路部分の線膨張係数
であるのが好ましい。
金属箔を構成する金属材料の線膨張係数 回路部分及び非回路部分の線膨張係数より きいことが好ましいのは、反らせたくない 路部分の線膨張係数を小さくし、絶縁層上 回路部分及び非回路部分を形成した時の反 を抑制し、回路形成及びLED実装時の作業性 良好に保つためである。
絶縁層2の非回路部分4と回路部分3載置側 面は、平滑で、光反射性が良好であること 望ましい。特に、絶縁層2における非回路部 分4と回路部分3との密着面は、密着性を増加 せるため、表面粗化処理、メッキ、シラン ップリング処理等をすることが望ましい。
絶縁層2と「回路部分3及び非回路部分4」 の90℃剥離強度は、LED等の電子部品実装後 接続信頼性を確保するため、1kg/cm以上であ のが好ましく、さらに好ましくは1.4kg/cm以上 である。
[白色膜]
白色膜5として使用される樹脂としては熱硬
化性樹脂、光硬化性樹脂が1種類以上含有さ
ることが好ましい。熱硬化性樹脂としては
ポキシ樹脂、光硬化性樹脂としてはアクリ
樹脂が好適である。
白色膜5として使用される樹脂には、白色顔
料として二酸化チタン、硫酸バリウム、タル
ク、シリカ等の白色顔料が1種類以上含有さ
ることが好ましい。
特に二酸化チタンを含有したものが、屈折
が大きく、基板の光の反射率が高いために
ましい。
また、二酸化チタンは、ルチル型が安定 に優れるため光触媒作用が弱く、他の構造 ものに比べ樹脂成分の劣化が抑制されるの 好ましい。また、光触媒作用を抑制するた に表面が水酸化アルミニウム又は二酸化珪 で被覆されていることが好ましい。
白色顔料の含有量は、白色膜5の組成物中30
量%以上75質量%以下であることが好ましい。
白色顔料の含有量が30質量%以上であれば十
な反射率を得ることができ、75質量%以下で
れば増粘によりレベリング性が低下するこ
なく、平滑な塗膜を得ることができ反射率
低下を抑制できる。
白色膜5は、LED照射光の有効利用の点から 、400~800nmの可視光領域に対して70%以上の反射 率、さらに好ましい実施態様においては、460 nm(青色)と525nm(赤色)及び620nm(赤色)に対して70% 以上の反射率を持つことが好ましい。
また、白色膜5の熱伝導率は、絶縁層2の熱
導率より小さいことが望ましい。
白色膜5の熱伝導率が絶縁層2の熱伝導率よ
小さければ、LEDパッケージの発熱が回路部
を介して白色膜から放熱することがないた
、LED近傍の雰囲気温度が上昇し難く、LEDの
命が長くなる。
また、金属ベース回路基板は、機械的強 を維持するため、総厚みが265μm以上500μm以 であることが好ましい。
また、金属ベース回路基板は、反り量が 属ベース回路基板長さ100mm当たり3mm以下で ることが好ましい。
なお、本発明で用いる反り量とは、絶縁 2上の非回路部分4と回路部分3を上にして、 滑且つ平行な面に静置した場合上に凹であ 場合を「+:プラス」、下に凸である場合を -:マイナス」と定義する。反りの絶対値は金 属ベース回路基板の外周の平滑且つ平行な面 からの最大高さである。
本発明の金属ベース回路基板の外形は上 左右対称であることが望ましく、正方形乃 長方形であると更に望ましい。また、設計 の制約から外形を上下左右対称にすること 困難な場合は、回路基板の外周に切り込み の加工を施すことが望ましい。
本発明の金属ベース回路基板は、副部材 サーモビアを用いずとも良好な放熱特性を するためLEDの寿命を延ばすことが可能であ 、且つ反り量を抑制することで、プリント 線板の回路形成時及びLED実装時の作業性を 善することができ、LEDバックライト用の金 ベース回路基板として産業上極めて有用で る。
以上、本発明の実施形態について述べた 、これらは本発明の例示であり、上記以外 様々な構成を採用することができる。
以下、本発明にかかる実施例、比較例に いて、図面、表1を用いて詳細に説明するが 、本発明はこれらに限られるものではない。
本実施例に係る金属ベース回路基板は、 1に示すように、金属箔1と、金属箔1の一方 面上に形成された絶縁層2と、絶縁層2の金 箔が設けられていない方の面上に形成され 回路部分3及び非回路部分4と、絶縁層3、回 部分3及び非回路部分4上に形成した白色膜5 有する金属ベース回路基板である。なお、 の符号7は、LEDパッケージである。
[実施例]
実施例1の金属ベース回路基板は、次のよう
に作成した。
35μm厚の銅箔上に、硬化後の厚さが150μmに
るように絶縁層2を形成した。
絶縁層2は、ビスフェノールA型エポキシ樹
(大日本インキ化学工業社製、「EPICLON-828」)
、硬化剤としてアミン系硬化剤としてのジ
ミノジフェニルメタン(日本合成化工社製、
「H84B」)を加え、平均粒子径が1.2μmの破砕状
粒子の酸化珪素(龍森社製、「A-1」)と平均
子径が10μmである破砕状粗粒子の酸化珪素(
化成社製、「SQ-10」)を合わせて絶縁層中35体
積%(球状粗粒子と球状微粒子は質量比が6:4)と
なるように配合した。
次に、200μm厚のアルミ箔を貼り合わせ、 熱することにより絶縁層2を熱硬化させ、絶 縁層2中の無機フィラー全体でナトリウムイ ン濃度が50ppm以下である金属ベース基板を得 た。
さらに、得られた金属ベース基板につい 、所定の位置をエッチングレジストでマス して回路部分と非回路部分がいろいろな総 積を持つように銅箔をエッチングした後、 ッチングレジストを除去して銅製の回路部 3及び非回路部分4を形成し、金属ベース回 基板とした。
さらに、金属ベース回路基板上に高反射率
白色膜5として白色ソルダーレジストを塗布
し、熱及び紫外線で硬化した。
この時、回路部分3上のLEDパッケージ実装部
分には白色塗膜を形成していない。白色ソル
ダーレジストとしては、山栄化学社製、「SSR
-6300S」を用いた。
実施例1は、表1に示すように、絶縁層2上 非回路部分4と回路部分3の面積の総和を金 箔1の面積に対して79%とし、金属箔1を構成す る金属材料の線膨張係数を23.9ppm/℃、絶縁層2 の線膨張係数を91.3ppm/℃、回路部分3及び非回 路部分4の線膨張係数を17.5ppm/℃とした。
絶縁層2の総体積に対する無機フィラーの含
有率は35%であり、絶縁層に用いた樹脂をエポ
キシ樹脂とし、さらに、絶縁層にはアミン系
硬化剤を添加した。
表1に示すように、実施例1では、反り量が1.
7mmと、3mm以下の良好な値であった。
実施例2は、表1に示すように、絶縁層2の総
積に対する無機フィラーの含有率を56%にし
以外は実施例1と同様に作成した。
実施例2では、反り量が1.1mmと、3mm未満で良
であった。
実施例3は、表1に示すように、絶縁層2に用
た硬化剤をフェノールノボラック(明和化成
社製、「HF-4M」)にし、触媒をイミダゾール系
硬化触媒(四国化成社製、「2,3-ジヒドロ-1H-ピ
ロロ[1,2-a]ベンズイミダゾール」)を用いた以
は実施例1と同様に作成した。
実施例3では、反り量が1.8mmと、3mm未満で良
であった。
[比較例]
比較例1は、表1に示すように、絶縁層2上の
回路部分4と回路部分3の面積の総和を金属
1の面積に対して98%とした以外は実施例1と同
様に作成した。
比較例1では、反り量の測定どころか、回路
化が不可能であった。
比較例2は、表1に示すように、絶縁層2上の
回路部分4と回路部分3の面積の総和を金属
1の面積に対して30%とした以外は実施例1と同
様に作成した。
比較例2では、反り量が11.4mmと、大幅な反り
が生じてしまった。
比較例3は、表1に示すように、金属箔の線
張係数を39.7ppm/℃、絶縁層2で用いた硬化剤
フェノールノボラック(明和化成社製、「HF-4
M」)を用いた以外は実施例1と同様に作成した
。
比較例3では、反り量が4.9mmと、3mmを超えて
じてしまった。
比較例4は、表1に示すように、絶縁層2の線
張係数を127.5ppm/℃、無機フィラーの体積%を
0にした以外は実施例1と同様に作成した。
比較例4では、反り量が7.3mmと、3mmを超えて
じてしまった。
比較例5は、表1に示すように、回路部分と
回路部分の線膨張係数を4.3ppm/℃、絶縁層2で
用いた硬化剤をアミン系硬化剤とフェノール
ノボラック(明和化成社製、「HF-4M」)、イミ
ゾール系硬化触媒(四国化成社製、「2,3-ジヒ
ドロ-1H-ピロロ[1,2-a]ベンズイミダゾール」)を
用いた以外は実施例1と同様に作成した。
比較例5では、反り量が6.7mmと、3mmを超えて
じてしまった。
比較例6は、表1に示すように、金属箔の線
張係数を10.5ppm/℃、回路部分と非回路部分の
線膨張係数を23.9ppm/℃として回路部分と非回
部分の線膨張係数を金属箔の線膨張係数よ
大きくし、絶縁層2で用いた硬化剤をアミン
系硬化剤とフェノールノボラック(明和化成
製、「HF-4M」)にした以外は実施例1と同様に
成した。
比較例6では、反り量が9.2mmと、3mmを超えて
じてしまった。
以上のように、本発明に係る金属ベース 路基板は、比較例のものに比べ基板の反り を半分以下に抑制できる。そのため、プリ ト配線板の回路形成時及びLED実装時の作業 を改善することができる。
