Login| Sign Up| Help| Contact|

Patent Searching and Data


Title:
METHOD AND APPARATUS FOR OPERATING A NONVOLATILE MEMORY DEVICE
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2020/182599
Kind Code:
A1
Abstract:
A method for operating a memory device, having multiple memory cells, for the nonvolatile storage of data, in particular for a motor vehicle, having the following steps: checking a prescribable number of memory cells, wherein a check result is obtained, and, on the basis of the check result, possibly programming at least one memory cell from the prescribable number of memory cells, wherein the steps of checking and possible programming are carried out during operation of the memory device, wherein at least one further unit can access the memory device during the operation of the memory device, in particular.

Inventors:
AUE AXEL (DE)
Application Number:
PCT/EP2020/055820
Publication Date:
September 17, 2020
Filing Date:
March 05, 2020
Export Citation:
Click for automatic bibliography generation   Help
Assignee:
BOSCH GMBH ROBERT (DE)
International Classes:
G11C13/00; G11C16/34
Foreign References:
EP1271552A22003-01-02
US7079422B12006-07-18
US20090327581A12009-12-31
Download PDF:
Claims:
Ansprüche

1. Verfahren zum Betreiben einer mehrere Speicherzellen (102) aufweisenden Speichereinrichtung (100) zur nichtflüchtigen Speicherung von Daten, insbesondere für ein Kraftfahrzeug, aufweisend die folgenden Schritte:

Überprüfen (200) einer vorgebbaren Anzahl (A1) von Speicherzellen (102), wobei ein Prüfergebnis (PE) erhalten wird, und, in Abhängigkeit des

Prüfergebnisses (PE), gegebenenfalls Programmieren (202) wenigstens einer Speicherzelle (102a) der vorgebbaren Anzahl (A1) von Speicherzellen, wobei die Schritte des Überprüfens (200) und des Programmierens (202) während eines Betriebs (B) der Speichereinrichtung (100) ausgeführt werden, wobei insbesondere in dem Betrieb (B) der Speichereinrichtung (100) wenigstens eine weitere Einheit (300) auf die Speichereinrichtung (100) zugreifen kann.

2. Verfahren nach Anspruch 1 , wobei das Überprüfen (200) das Ermitteln

wenigstens einer ersten Größe (G1) umfasst, die einen Datenerhalt wenigstens einer Speicherzelle (102a) der vorgebbaren Anzahl (A1) von Speicherzellen charakterisiert.

3. Verfahren nach Anspruch 2, wobei die erste Größe (G1) wenigstens eines der folgenden Elemente aufweist: a) eine mit der wenigstens einen

Speicherzelle (102a) assoziierte Prüfsumme eines fehlerkorrigierenden Kodes, b) eine mit der wenigstens einen Speicherzelle (102a) assoziierte elektrische Ladung und/oder eine die elektrische Ladung charakterisierende Größe.

4. Verfahren nach wenigstens einem der Ansprüche 2 bis 3, weiter aufweisend:

Vergleichen (201) der ersten Größe (G1) mit einem ersten Schwellwert (T1), und, wenn die erste Größe (G1) den ersten Schwellwert (T1) unterschreitet, Programmieren (202), insbesondere Nachprogrammieren (202), der wenigstens einen Speicherzelle (102a), wobei insbesondere dann, wenn die erste Größe (G1) den ersten Schwellwert (T1) nicht unterschreitet oder gleich dem ersten Schwellwert (T1) ist, kein Programmieren (202), insbesondere Nachprogrammieren (202), der wenigstens einen

Speicherzelle (102a) ausgeführt (204) wird.

5. Verfahren nach Anspruch 4, wobei der Schritt des Programmierens (202), insbesondere des Nachprogrammierens, nur für diejenige Speicherzelle (102a) bzw. diejenigen Speicherzellen der vorgebbaren Anzahl (A1) von Speicherzellen (102) ausgeführt wird, für die die erste Größe (G1) den ersten Schwellwert (T1) unterschreitet.

6. Verfahren nach wenigstens einem der vorstehenden Ansprüche, wobei der Schritt des Programmierens (202), insbesondere des Nachprogrammierens, für eine einzige Speicherzelle der vorgebbaren Anzahl (A1) von

Speicherzellen (102) ausgeführt wird, insbesondere für die wenigstens eine Speicherzelle (102a) der vorgebbaren Anzahl (A1) von Speicherzellen (102).

7. Verfahren nach wenigstens einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Schritte des Überprüfens (200) und/oder des Programmierens (202) mit einem sonstigen Betrieb (B) der Speichereinrichtung (100), insbesondere mit möglichen Zugriffen (214; 214a, 214b, 214c) der weiteren Einheit (300) auf die Speichereinrichtung (100), abgestimmt (210), insbesondere

synchronisiert werden, insbesondere so, dass keine Zugriffskonflikte bezüglich des Überprüfens (200) und/oder des Programmierens (202) mit den möglichen Zugriffen (214; 214a, 214b, 214c) der weiteren Einheit (300) auftreten.

8. Verfahren nach wenigstens einem der vorstehenden Ansprüche, wobei ein Zeitfenster (ZF) ermittelt (220) wird, in dem keine Zugriffe (214; 214a, 214b, 214c) der weiteren Einheit (300) auf die Speichereinrichtung (100), insbesondere auf wenigstens die vorgebbare Anzahl (A1) von

Speicherzellen (102), ausgeführt werden, und/oder für das keine Zugriffe (214; 214a, 214b, 214c) der weiteren Einheit (300) auf die

Speichereinrichtung (100), insbesondere auf wenigstens die vorgebbare Anzahl (A1) von Speicherzellen (102), geplant sind, wobei insbesondere die Schritte des Überprüfens (200) und/oder des Programmierens (202) in dem Zeitfenster (ZF) ausgeführt (222) werden.

9. Verfahren nach wenigstens einem der vorstehenden Ansprüche, wobei der Schritt des Programmierens (202), insbesondere des Nachprogrammierens, für eine einzige Speicherzelle der vorgebbaren Anzahl (A1) von

Speicherzellen (102) ausgeführt wird, insbesondere für die wenigstens eine Speicherzelle (102a) der vorgebbaren Anzahl (A1) von Speicherzellen (102).

10. Vorrichtung (400) zum Betreiben einer mehrere Speicherzellen (102)

aufweisenden Speichereinrichtung (100) zur nichtflüchtigen Speicherung von Daten, insbesondere für ein Kraftfahrzeug, wobei die Vorrichtung (400) zur Ausführung der folgenden Schritte ausgebildet ist: Überprüfen (200) einer vorgebbaren Anzahl (A1) von Speicherzellen (102), wobei ein Prüfergebnis (PE) erhalten wird, und, in Abhängigkeit des Prüfergebnisses (PE), gegebenenfalls Programmieren (202) wenigstens einer Speicherzelle der vorgebbaren Anzahl (A1) von Speicherzellen, wobei die Schritte des

Überprüfens (200) und des gegebenenfalls Programmierens (202) während eines Betriebs der Speichereinrichtung (100) ausgeführt werden, wobei insbesondere in dem Betrieb der Speichereinrichtung (100) wenigstens eine weitere Einheit (300) auf die Speichereinrichtung (100) zugreifen kann.

11. Vorrichtung (400) nach Anspruch 10, wobei die Vorrichtung (400) zur

Ausführung des Verfahrens nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 9 ausgebildet ist.

12. Vorrichtung (400) nach wenigstens einem der Ansprüche 10 bis 11 , wobei die Vorrichtung (400) zumindest teilweise, vorzugsweise vollständig, in die Speichereinrichtung (100) integriert ist.

13. System (1000) aufweisend wenigstens eine mehrere Speicherzellen (102) aufweisende Speichereinrichtung (100) und wenigstens eine Vorrichtung (400) nach wenigstens einem der Ansprüche 10 bis 12.

14. System (1000) nach Anspruch 13, wobei das System (1000) ein Steuergerät für ein Kraftfahrzeug ist.

15. Verwendung des Verfahrens nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 9 und/oder der Vorrichtung (400) nach wenigstens einem der Ansprüche 10 bis 12 und/oder des Systems (1000) nach wenigstens einem der Ansprüche 13 bis 14 zur zumindest zeitweisen Überprüfung und/oder Programmierung, 0/182599 PCT/EP2020/055820

- 23 - insbesondere Neuprogrammierung und/oder Wiederauffrischung wenigstens einer Speicherzelle (102a) einer bzw. der Speichereinrichtung (100).

Description:
Beschreibung

Titel

Verfahren und Vorrichtung zum Betreiben einer nichtflüchtigen

Speichereinrichtung

Stand der Technik

Die Offenbarung bezieht sich auf ein Verfahren zum Betreiben einer mehrere Speicherzellen aufweisenden Speichereinrichtung zur nichtflüchtigen

Speicherung von Daten („nichtflüchtige Speichereinrichtung“).

Die Offenbarung bezieht sich ferner auf eine Vorrichtung zum Betreiben einer mehrere Speicherzellen aufweisenden Speichereinrichtung zur nichtflüchtigen Speicherung von Daten.

Offenbarung der Erfindung

Bevorzugte Ausführungsformen beziehen sich auf ein Verfahren zum Betreiben einer mehrere Speicherzellen aufweisenden Speichereinrichtung zur nichtflüchtigen Speicherung von Daten, insbesondere für ein Kraftfahrzeug, aufweisend die folgenden Schritte: Überprüfen einer vorgebbaren Anzahl von Speicherzellen, wobei ein Prüfergebnis erhalten wird, und, in Abhängigkeit des Prüfergebnisses, gegebenenfalls Programmieren wenigstens einer Speicherzelle der vorgebbaren Anzahl von Speicherzellen, wobei die Schritte des Überprüfens und des gegebenenfalls Programmierens während eines Betriebs der

Speichereinrichtung ausgeführt werden. Dadurch kann der Inhalt von

Speicherzellen der Speichereinrichtung vorteilhaft effizient überprüft werden. Insbesondere können Fehler bzw. sich anbahnende bzw. zukünftig

möglicherweise auftretende Fehler frühzeitig erkannt und ggf. behoben werden. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die vorgebbare Anzahl von Speicherzellen eine oder mehrere Speicherzellen umfasst. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen können die Schritte des Überprüfens und/oder ggf. Programmierens also z.B. auf eine einzige

Speicherzelle angewandt werden. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen können die Schritte des Überprüfens und/oder ggf. Programmierens auf vergleichsweise wenige Speicherzellen, insbesondere zwei bis acht

Speicherzellen, angewandt werden.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die Schritte des Überprüfens und/oder ggf. Programmierens in Prüfzyklen ausgeführt werden, wobei ein Prüfzyklus beispielsweise das Überprüfen und/oder ggf. Programmieren wenigstens einer einzigen Speicherzelle umfasst. Beispielsweise kann bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen in einem Prüfzyklus eine einzige Speicherzelle überprüft werden. Dadurch ist auch ein Programmieren bzw. Nachprogrammieren insbesondere einer einzelnen Speicherzelle gezielt möglich, wodurch die Zuverlässigkeit der Speichereinrichtung gesteigert wird und die Speicherzellen insgesamt geschont werden, da ein an sich nicht

erforderliches Programmieren bzw. Nachprogrammieren von anderen, weiteren Speicherzellen entfällt.

Beispielsweise kann bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen in einem Prüfzyklus eine vergleichsweise kleine vorgebbare Anzahl von Speicherzellen, z.B. zwei bis acht Speicherzellen, überprüft werden.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass mehrere Prüfzyklen, insbesondere zeitlich nacheinander (z.B. direkt aufeinanderfolgend und/oder mit (konstanten oder variablen) Wartezeiten zwischen zwei

aufeinanderfolgenden Prüfzyklen), ausgeführt werden, die sich jeweils z.B. auf eine einzige Speicherzelle oder eine vergleichsweise kleine vorgebbare Anzahl von Speicherzellen oder auch eine größere Anzahl (z.B. mehr als acht)

Speicherzellen der Speichereinrichtung beziehen.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist auch denkbar, dass wenigstens zwei unterschiedliche Prüfzyklen sich auf eine jeweils unterschiedliche Anzahl von Speicherzellen beziehen. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass jede Speicherzelle der Speichereinrichtung zumindest einmal, vorzugsweise mehrmals, insbesondere während einer Betriebsphase (Betrieb ohne zwischenzeitliche Deaktivierung) der Speichereinrichtung einem Prüfzyklus unterworfen wird.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass der gesamte Speicher über Minuten, Stunden, Tage, Wochen, Monate getestet wird und bei Notwendigkeit fehlerhafte Bitzellen korrigiert werden.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass in dem Betrieb der Speichereinrichtung wenigstens eine weitere Einheit, beispielsweise eine Recheneinrichtung wie z.B. ein Rechenkern eines Mikrocontrollers oder dergleichen, auf die Speichereinrichtung zugreifen kann.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass der Schritt des Überprüfens durch eine Schaltung, insbesondere Hardwareschaltung, zur Checksummenüberprüfung, z.B. durch einen Busmaster wie z.B. andere Rechenkerne im System oder DMA (direkt memory access,

Speicherdirektzugriff)- Erweiterungen durchgeführt wird - insbesondere unabhängig von einem Mikrocontroller.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass das

Überprüfen das Ermitteln wenigstens einer ersten Größe umfasst, die einen Datenerhalt wenigstens einer Speicherzelle der vorgebbaren Anzahl von Speicherzellen charakterisiert. Dadurch kann beurteilt werden, ob ggf. ein Programmieren bzw. Nachprogrammieren nach dem Schritt des Überprüfens ausgeführt werden sollte, z.B., weil bei dem Überprüfen ein Fehler bzw. ein sich anbahnender bzw. zukünftig möglicherweise auftretender Fehler erkannt worden ist.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die erste Größe wenigstens eines der folgenden Elemente aufweist: a) eine mit der wenigstens einen Speicherzelle assoziierte Prüfsumme eines

fehlerkorrigierenden Kodes, b) eine mit der wenigstens einen Speicherzelle assoziierte elektrische Ladung und/oder eine die elektrische Ladung

charakterisierende Größe. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen können die Maßnahmen a), b) auch miteinander kombiniert werden, also z.B. der fehlerkorrigierende Kode und die die elektrische Ladung charakterisierende Größe ausgewertet werden.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass das

Verfahren weiter aufweist: Vergleichen der ersten Größe mit einem ersten Schwellwert, und, wenn die erste Größe den ersten Schwellwert unterschreitet, Programmieren, insbesondere Nachprogrammieren, der wenigstens einen Speicherzelle, wobei insbesondere dann, wenn die erste Größe den ersten Schwellwert nicht unterschreitet oder gleich dem ersten Schwellwert ist, kein Programmieren, insbesondere Nachprogrammieren, der wenigstens einen Speicherzelle ausgeführt wird. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen kann das Vergleichen z.B. ein Ermitteln umfassen, ob durch einen

fehlerkorrigierenden Kode das Vorliegen wenigstens eines Fehlers angezeigt wird.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass der Schritt des Programmierens, insbesondere des Nachprogrammierens, nur für diejenige Speicherzelle bzw. diejenigen Speicherzellen der vorgebbaren Anzahl von Speicherzellen ausgeführt wird, für die die erste Größe den ersten Schwellwert unterschreitet.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass der Schritt des Programmierens, insbesondere des Nachprogrammierens, für eine einzige Speicherzelle der vorgebbaren Anzahl von Speicherzellen ausgeführt wird, insbesondere für die wenigstens eine Speicherzelle der vorgebbaren Anzahl von Speicherzellen.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die Schritte des Überprüfens und/oder des gegebenenfalls Programmierens mit einem sonstigen Betrieb der Speichereinrichtung, insbesondere mit möglichen Zugriffen der weiteren Einheit auf die Speichereinrichtung, abgestimmt, insbesondere synchronisiert werden, insbesondere so, dass keine Zugriffskonflikte bezüglich des Überprüfens und/oder des gegebenenfalls Programmierens mit den möglichen Zugriffen der weiteren Einheit auftreten.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass ein

Zeitfenster ermittelt wird, in dem keine Zugriffe der weiteren Einheit auf die Speichereinrichtung, insbesondere auf wenigstens die vorgebbare Anzahl von Speicherzellen, ausgeführt werden und/oder für das keine Zugriffe der weiteren Einheit auf die Speichereinrichtung, insbesondere auf wenigstens die vorgebbare Anzahl von Speicherzellen, geplant sind, wobei insbesondere die Schritte des Überprüfens und/oder des gegebenenfalls Programmierens in dem Zeitfenster ausgeführt werden.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass der Schritt des Programmierens, insbesondere des Nachprogrammierens, für eine einzige Speicherzelle der vorgebbaren Anzahl von Speicherzellen ausgeführt wird, insbesondere für die wenigstens eine Speicherzelle der vorgebbaren Anzahl von Speicherzellen.

Weitere bevorzugte Ausführungsformen beziehen sich auf eine Vorrichtung zum Betreiben einer mehrere Speicherzellen aufweisenden Speichereinrichtung zur nichtflüchtigen Speicherung von Daten, insbesondere für ein Kraftfahrzeug, wobei die Vorrichtung zur Ausführung der folgenden Schritte ausgebildet ist: Überprüfen einer vorgebbaren Anzahl von Speicherzellen, wobei ein

Prüfergebnis erhalten wird, und, in Abhängigkeit des Prüfergebnisses, gegebenenfalls Programmieren wenigstens einer Speicherzelle der vorgebbaren Anzahl von Speicherzellen, wobei die Schritte des Überprüfens und des gegebenenfalls Programmierens während eines Betriebs der Speichereinrichtung ausgeführt werden, wobei insbesondere in dem Betrieb der Speichereinrichtung wenigstens eine weitere Einheit auf die Speichereinrichtung zugreifen kann.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die

Vorrichtung zur Ausführung des Verfahrens gemäß den Ausführungsformen ausgebildet ist.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die

Vorrichtung zumindest teilweise, vorzugsweise vollständig, in die Speichereinrichtung integriert ist, beispielsweise auf einem selben

Halbleitersubstrat wie die Speichereinrichtung angeordnet ist.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die

Speichereinrichtung ein Flash-Speicher ist, insbesondere Flash-EEPROM, oder ein Phasenwechselspeicher, PCM (Phase Change Memory), FRAM

(Ferroelectric Random Access Memory), RRAM (Resistive Random Access Memory), CBRAM (conductive-bridging RAM) oder ein MRAM (magnetoresistiver random access memory).

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen kann das Verfahren gemäß den Ausführungsformen vorteilhaft bei allen Speichern bzw. Speichertypen mit (z.B. für einen vorgebbaren Einsatzzweck) nicht ausreichender intrinsischer

Datensicherheit angewandt werden.

Weitere Vorteile des Verfahrens gemäß den Ausführungsformen bestehen darin, dass a) korrigierbare Fehler korrigiert werden, b) die aus Systemsicht intrinsische Fehlerrate deutlich sinkt und damit c) eine bessere Grundlage zur Absicherung gemäß der Safety Anforderungen geschaffen werden kann.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die wenigstens eine Speicherzelle eine Speicherkapazität von 1 Bit aufweist, also z.B. zwei verschiedene Zustände annehmen kann. Das Verfahren kann bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen auch für 3 und mehr Bit pro Zelle angewandt werden und ist in Multilevel-Cell Speichern, die Prinzip bedingt eine höhere intrinsische Fehlerrate haben, ebenfalls vorteilhaft anwendbar.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die wenigstens eine Speicherzelle eine Speicherkapazität von mehr als 1 Bit aufweist, z.B. 2 Bit, also z.B. vier verschiedene Zustände annehmen kann.

Weitere bevorzugte Ausführungsformen beziehen sich auf ein System

aufweisend wenigstens eine mehrere Speicherzellen aufweisende

Speichereinrichtung und wenigstens eine Vorrichtung gemäß den

Ausführungsformen. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass das System ein Steuergerät für ein Kraftfahrzeug ist.

Weitere bevorzugte Ausführungsformen beziehen sich auf eine Verwendung des Verfahrens gemäß den Ausführungsformen und/oder der Vorrichtung gemäß den Ausführungsformen und/oder des Systems gemäß den Ausführungsformen zur zumindest zeitweisen Überprüfung und/oder Programmierung, insbesondere Neuprogrammierung und/oder Wiederauffrischung wenigstens einer

Speicherzelle einer bzw. der Speichereinrichtung.

Weitere Merkmale, Anwendungsmöglichkeiten und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen der Erfindung, die in den Figuren der Zeichnung dargestellt sind. Dabei bilden alle beschriebenen oder dargestellten Merkmale für sich oder in beliebiger Kombination den Gegenstand der Erfindung, unabhängig von ihrer

Zusammenfassung in den Patentansprüchen oder deren Rückbeziehung sowie unabhängig von ihrer Formulierung bzw. Darstellung in der Beschreibung bzw. in der Zeichnung.

In der Zeichnung zeigt:

Figur 1 schematisch ein Blockdiagramm einer Speichereinrichtung gemäß

bevorzugten Ausführungsformen,

Figur 2 schematisch ein vereinfachtes Flussdiagramm eines Verfahrens gemäß weiteren bevorzugten Ausführungsformen,

Figur 3 schematisch ein vereinfachtes Flussdiagramm eines Verfahrens gemäß weiteren bevorzugten Ausführungsformen,

Figur 4 schematisch ein vereinfachtes Flussdiagramm eines Verfahrens gemäß weiteren bevorzugten Ausführungsformen,

Figur 5 schematisch ein vereinfachtes Flussdiagramm eines Verfahrens gemäß weiteren bevorzugten Ausführungsformen, Figur 6 schematisch ein Zeitdiagramm gemäß weiteren bevorzugten

Ausführungsformen, und

Figur 7 schematisch ein Blockdiagramm gemäß weiteren bevorzugten

Ausführungsformen.

Figur 1 zeigt schematisch ein Blockdiagramm einer Speichereinrichtung 100 gemäß bevorzugten Ausführungsformen. Die Speichereinrichtung 100 weist mehrere Speicherzellen auf, die gemeinsam mit dem Bezugszeichen 102 bezeichnet sind. Manche der Speicherzellen 102 sind auch jeweils individuell mit den Bezugszeichen 102a, 102b, .., 102h bezeichnet. Die Speichereinrichtung 100 ist zur nichtflüchtigen Speicherung von Daten vorgesehen. Beispielsweise kann die Speichereinrichtung 100 bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen zum Einsatz in einem Kraftfahrzeug vorgesehen sein, z.B. einem Steuergerät für das Kraftfahrzeug zugeordnet.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass in dem Betrieb der Speichereinrichtung 100 wenigstens eine weitere Einheit 300, beispielsweise eine Recheneinrichtung wie z.B. ein Rechenkern eines

Mikrocontrollers oder dergleichen, z.B. des genannten Steuergeräts, auf die Speichereinrichtung 100 zugreifen kann, insbesondere Daten D in die

Speichereinrichtung 100 schreiben und/oder aus der Speichereinrichtung 100 lesen kann.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die

Speichereinrichtung 100 ein Halbleiterspeicher ist, insbesondere ein Flash- Speicher, insbesondere Flash-EEPROM, oder ein Phasenwechselspeicher, PCM (Phase Change Memory), oder ein MRAM (magnetoresistive random access memory). Weitere Technologien zur Bereitstellung von Speicherzellen 102 zur nichtflüchtigen Speicherung von Informationen sind bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ebenfalls nutzbar.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass wenigstens eine Speicherzelle, insbesondere alle Speicherzellen 102, eine Speicherkapazität von 1 Bit aufweist, also z.B. zwei verschiedene Zustände annehmen kann. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass wenigstens eine Speicherzelle, insbesondere alle Speicherzellen 102, eine Speicherkapazität von mehr als 1 Bit aufweist, z.B. 2 Bit, also z.B. vier verschiedene Zustände annehmen kann.

Bevorzugte Ausführungsformen beziehen sich auf ein Verfahren zum Betreiben der Speichereinrichtung 100, aufweisend die folgenden Schritte, vgl. das Flussdiagramm aus Figur 2: Überprüfen 200 einer vorgebbaren Anzahl A1 (Fig. 1) von Speicherzellen, wobei ein Prüfergebnis PE (Fig. 2) erhalten wird, und, in Abhängigkeit des Prüfergebnisses PE, gegebenenfalls Programmieren 202 wenigstens einer Speicherzelle 102a, 102b, 102c, 102d der vorgebbaren Anzahl A1 von Speicherzellen. Das Programmieren 202 erfolgt also optional, insbesondere in Abhängigkeit des Prüfergebnisses PE.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen werden die Schritte des

Überprüfens 200 und des (gegebenenfalls) Programmierens 202 während eines Betriebs der Speichereinrichtung 100 ausgeführt, also z.B. während die

Speichereinrichtung 100 dazu eingerichtet ist, Daten von der weiteren Einheit 300 (Fig. 1) zu empfangen und zu speichern und/oder Lesezugriffe von der weiteren Einheit auf wenigstens manche der Speicherzellen 102 zu bearbeiten. Dadurch kann der Inhalt von Speicherzellen 102 der Speichereinrichtung 100 vorteilhaft effizient überprüft werden, insbesondere ohne dass ein Betrieb der Speichereinrichtung 100 in Bezug auf den Austausch D von Daten mit der weiteren Einheit 300 eingeschränkt ist.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die vorgebbare Anzahl A1 von Speicherzellen eine oder mehrere Speicherzellen umfasst. Vorliegend ist in Figur 1 beispielhaft eine Gruppe von vier

Speicherzellen 102a, 102b, 102c, 102d zu der vorgebbaren Anzahl A1 zusammengefasst. Somit können vorliegend beispielhaft die Schritte des Überprüfens 200 und/oder ggf. Programmierens 202 also z.B. auf die vier Speicherzellen 102a, 102b, 102c, 102d angewendet werden. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen werden dadurch Zugriffe (Lesen und/oder Schreiben) der weiteren Einheit 300 (Fig. 1) auf andere Speicherzellen 102e, 102f, .. der Speichereinrichtung 100 nicht eingeschränkt. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen können die Schritte des

Überprüfens 200 und/oder ggf. Programmierens 202 auch auf z.B. eine einzige Speicherzelle 102a angewandt werden. Bei weiteren bevorzugten

Ausführungsformen können die Schritte des Überprüfens und/oder ggf.

Programmierens auf vergleichsweise wenige Speicherzellen, insbesondere zwei bis acht Speicherzellen, angewandt werden.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die Schritte des Überprüfens 200 und/oder ggf. Programmierens 202 in Prüfzyklen ausgeführt werden, wobei ein Prüfzyklus beispielsweise das Überprüfen 200 und/oder ggf. Programmieren 202 wenigstens einer einzigen Speicherzelle 102a umfasst. Beispielsweise kann bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen in einem Prüfzyklus eine einzige Speicherzelle 102a überprüft werden. Dadurch ist auch ein Programmieren bzw. Nachprogrammieren insbesondere einer einzelnen Speicherzelle 102a gezielt möglich, wodurch die Zuverlässigkeit der

Speichereinrichtung 100 gesteigert wird und die Speicherzellen 102 insgesamt geschont werden, da ein an sich nicht erforderliches Programmieren bzw.

Nachprogrammieren von anderen, weiteren Speicherzellen 102b, 102c, 102d, usw., wie es von konventionellen Speichereinrichtungen bekannt ist, die zwingend z.B. ein blockweises Programmieren einer Vielzahl von Speicherzellen erfordern (auch, wenn nicht alle bzw. nur manche oder nur eine einzige

Speicherzelle des betreffenden Blocks zu programmieren wäre), entfällt.

Beispielsweise kann bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen in einem Prüfzyklus eine vergleichsweise kleine vorgebbare Anzahl von Speicherzellen, z.B. zwei bis acht Speicherzellen, überprüft werden.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass mehrere Prüfzyklen, insbesondere zeitlich nacheinander (z.B. direkt aufeinanderfolgend und/oder mit (konstanten oder variablen) Wartezeiten zwischen zwei

aufeinanderfolgenden Prüfzyklen), ausgeführt werden, die sich jeweils z.B. auf eine einzige Speicherzelle 102a oder eine vergleichsweise kleine vorgebbare Anzahl von Speicherzellen oder auch eine größere Anzahl (z.B. mehr als acht) Speicherzellen der Speichereinrichtung beziehen. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist auch denkbar, dass wenigstens zwei unterschiedliche Prüfzyklen sich auf eine jeweils unterschiedliche Anzahl von Speicherzellen beziehen.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass jede

Speicherzelle 102 der Speichereinrichtung 100 (Fig. 1) zumindest einmal, vorzugsweise mehrmals, insbesondere während einer Betriebsphase (Betrieb ohne zwischenzeitliche Deaktivierung) der Speichereinrichtung 100 einem Prüfzyklus (z.B. umfassend das Überprüfen 200 (Fig. 2) und ein ggf.

nachfolgendes Programmieren 202) unterworfen wird.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen, vgl. das Flussdiagramm aus Figur 3, ist vorgesehen, dass das Überprüfen 200 das Ermitteln wenigstens einer ersten Größe G1 umfasst, die einen Datenerhalt wenigstens einer Speicherzelle 102a der vorgebbaren Anzahl A1 von Speicherzellen charakterisiert. Dadurch kann besonders genau beurteilt werden, ob ggf. ein Programmieren 202 bzw. Nachprogrammieren (also erneutes Programmieren mit demselben Inhalt bzw. einem neuen, korrigierten Inhalt, wie er z.B. nach der Anwendung eines fehlerkorrigierenden Kodes, z.B. ECC, ermittelt worden ist) nach dem Schritt des Überprüfens 200 ausgeführt werden sollte.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die erste Größe G1 wenigstens eines der folgenden Elemente aufweist: a) eine mit der wenigstens einen Speicherzelle 102a assoziierte Prüfsumme eines

fehlerkorrigierenden Kodes, b) eine mit der wenigstens einen Speicherzelle 102a assoziierte elektrische Ladung und/oder eine die elektrische Ladung

charakterisierende Größe.

Sofern beispielsweise die Prüfsumme ergibt, dass ein Fehler im Bereich der vorgebbaren Anzahl A1 von Speicherzellen, z.B. der Speicherzelle 102a, vorliegt, kann bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ein korrekter Inhalt der betreffenden Speicherzelle 102a beispielsweise mittels des fehlerkorrigierenden Kodes ermittelt und der Schritt des (Nach-)Programmierens 202 ausgeführt werden, um die Speicherzelle 102a mit dem ordnungsgemäßen Dateninhalt aufzufrischen. Die erste Größe G1 kann hierbei beispielsweise ebenfalls eine zweiwertige Größe sein, die angibt, ob ein Fehler vorliegt oder nicht.

Entsprechend einfach kann der Vergleich 201 ausfallen.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen kann z.B. die elektrische Ladung eines Halbleiterbauelements (z.B. einer floating gate-Elektrode einer Flash- Speicherzelle) als erste Größe G1 ausgewertet werden.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass das

Verfahren weiter aufweist: Vergleichen 201 (Fig. 3) der ersten Größe mit einem ersten Schwellwert T 1 , und, wenn die erste Größe G1 den ersten Schwellwert T 1 unterschreitet, Programmieren 202, insbesondere Nachprogrammieren, der wenigstens einen Speicherzelle 102a. Dadurch ist ein zuverlässiges Korrigieren einer ggf. bereits fehlerhaften Speicherzelle 102a möglich bzw. ein Auffrischen einer Speicherzelle 102a, die ggf. zukünftig fehlerhaft zu werden droht (z.B. durch Verringerung der elektrischen Ladung auf der floating gate-Elektrode einer Flash-Speicherzelle, so dass zukünftige Lesezugriffe z.B. auf einen falschen ausgelesenen Datenwerte (z.B.„0“ anstelle„1“) führen könnten.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass dann, wenn die erste Größe G1 den ersten Schwellwert T 1 nicht unterschreitet oder gleich dem ersten Schwellwert ist, kein Programmieren 202, insbesondere

Nachprogrammieren, der wenigstens einen Speicherzelle 102a ausgeführt wird. In diesem Falle wird die wenigstens eine Speicherzelle 102a als ordnungsgemäß angesehen, und es wird gemäß Fig. 3 in den Schritt 204 verzweigt, der z.B. ein Ende des aktuellen Prüfzyklus 200, 201 repräsentiert. Nach dem Schritt 204 kann bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen z.B. ein weiterer Prüfzyklus erfolgen, z.B. für eine weitere vorgebbare Anzahl von (bevorzugt anderen) Speicherzellen 102e, 102f, 102g, 102h (Fig. 1)

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass der Schritt des Programmierens 200, insbesondere des Nachprogrammierens, nur für diejenige Speicherzelle bzw. diejenigen Speicherzellen der vorgebbaren Anzahl A1 von Speicherzellen ausgeführt wird, für die die erste Größe G1 den ersten Schwellwert T 1 unterschreitet. Dadurch wird ein Ressourcen benötigendes und die betreffende(n) Speicherzelle(n) ggf. belastendes Schreiben nur für diejenigen Speicherzellen ausgeführt, die ein Programmieren bzw. Nachprogrammieren z.B. im Sinne einer Auffrischung erfordern, nicht jedoch für solche Speicherzellen, bei denen diese Schritte 200 nicht (bereits) erforderlich ist. Dadurch wird weiter vorteilhaft eine Abnutzung (z.B. Schädigung einer die floating gate-Elektrode isolierenden Oxidschicht im Falle des Beschreibens bzw. Programmierens von Flash-Speicherzellen) der Speicherzellen reduziert.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die Schritte des Überprüfens 200 und/oder des gegebenenfalls Programmierens 202 mit einem sonstigen Betrieb der Speichereinrichtung 100, insbesondere mit möglichen Zugriffen D der weiteren Einheit 300 (Fig. 1) auf die

Speichereinrichtung 100, abgestimmt, insbesondere synchronisiert werden, insbesondere so, dass keine Zugriffskonflikte bezüglich des Überprüfens 200 und/oder des (gegebenenfalls) Programmierens 202 mit den möglichen Zugriffen D der weiteren Einheit 300 auftreten. Figur 4 zeigt hierzu beispielhaft ein

Flussdiagramm gemäß weiteren bevorzugten Ausführungsformen. In Schritt 210 erfolgt die vorstehend beschriebene Abstimmung bzw. Synchronisation, bei der vorliegend beispielhaft ermittelt wird, dass die Speichereinrichtung 100 derzeit nicht so durch die weitere Einheit 300 beaufschlagt wird, dass z.B. die vorgebbare Anzahl A1 von Speicherzellen durch die weitere Einheit 300 benutzt werden. In Schritt 212 können daher die Schritte 200 des Überprüfens und ggf. des Programmierens 202, mithin ein Prüfzyklus für die vorgebbare Anzahl A1 von Speicherzellen, ausgeführt werden. Nach Abschluss dieses Prüfzyklus können wieder Zugriffe seitens der weiteren Einheit 300 auf die vorgebbare Anzahl A1 von Speicherzellen ausgeführt werden, vgl. den optionalen Schritt 214 aus Figur 4.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen, vgl. Figur 5, ist vorgesehen, dass ein Zeitfenster ermittelt wird, vgl. Schritt 220, in dem keine Zugriffe der weiteren Einheit 300 (Fig. 1) auf die Speichereinrichtung 100, insbesondere auf wenigstens die vorgebbare Anzahl A1 von Speicherzellen, ausgeführt werden und/oder für das keine Zugriffe der weiteren Einheit 300 auf die

Speichereinrichtung 100, insbesondere auf wenigstens die vorgebbare Anzahl A1 von Speicherzellen, geplant sind, wobei insbesondere die Schritte des Überprüfens 200 und/oder des gegebenenfalls Programmierens 202 in dem Zeitfenster ausgeführt werden, vgl. Schritt 222 aus Figur 5. Figur 6 zeigt hierzu ein Zeitdiagramm. Eine Betriebsphase der Speichereinrichtung 100 ist mit dem Bezugszeichen B gekennzeichnet. Während der gesamten Betriebsphase B kann die weitere Einheit 300 auf die

Speichereinrichtung 100 zugreifen. Ab dem Zeitpunkt tO sind zwei Zugriffe 214a, 214b der weiteren Einheit 300 auf die Speichereinrichtung 100 gezeigt, z.B. auf die Speicherzellen 102a, .., 102d, die bis zu dem Zeitpunkt t3 dauern. Ab dem Zeitpunkt t4 erfolgt ein weiterer Zugriff 214c der weiteren Einheit 300 auf die Speichereinrichtung 100, z.B. wieder auf die Speicherzellen 102a, .., 102d. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen wird ein Zeitfenster ZF zwischen den Zeitpunkten t1 , t2 mit t1 > t3 und t2 < t4 ermittelt, in dem das Verfahren gemäß den Ausführungsformen, vgl. z.B. Fig. 2, bzw. ein oder mehrere entsprechende Prüfzyklen, insbesondere bezüglich der Speicherzellen 102a, .., 102d, ausgeführt werden können, wodurch die Zugriffe 214a, 214b, 214c nicht beeinträchtigt werden.

Weitere bevorzugte Ausführungsformen beziehen sich auf eine Vorrichtung zum Betreiben der Speichereinrichtung 100 zur nichtflüchtigen Speicherung von Daten, insbesondere für ein Kraftfahrzeug, wobei die Vorrichtung zur Ausführung des Verfahrens gemäß den Ausführungsformen ausgebildet ist. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass die Vorrichtung zumindest teilweise, vorzugsweise vollständig, in die Speichereinrichtung 100 integriert ist, vgl. das Element 400 aus Figur 1. Beispielsweise kann die Funktionalität der Vorrichtung 400 auch durch einen bestehenden Speichercontroller (nicht gezeigt) der Speichereinrichtung 100 realisiert werden, der hierzu in entsprechender Weise erweitert werden kann.

Weitere bevorzugte Ausführungsformen beziehen sich auf ein System 1000 (Fig. 1) aufweisend wenigstens eine mehrere Speicherzellen 102 aufweisende Speichereinrichtung 100 und wenigstens eine Vorrichtung 400 gemäß den Ausführungsformen. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist vorgesehen, dass das System 1000 ein Steuergerät für ein Kraftfahrzeug ist. Beispielsweise kann die weitere Einheit 300 ein Rechenkern einer

Recheneinrichtung des Steuergeräts 1000 sein.

Weitere bevorzugte Ausführungsformen beziehen sich auf eine Verwendung des Verfahrens gemäß den Ausführungsformen und/oder der Vorrichtung 400 gemäß den Ausführungsformen und/oder des Systems 1000 gemäß den

Ausführungsformen zur zumindest zeitweisen Überprüfung und/oder

Programmierung, insbesondere Neuprogrammierung und/oder (Wieder-) Auffrischung wenigstens einer Speicherzelle 102a einer bzw. der

Speichereinrichtung 100.

Nachfolgend sind weitere vorteilhafte Aspekte und Ausführungsformen beschrieben, die gemäß noch weiteren bevorzugten Ausführungsformen jeweils einzeln für sich oder in Kombination miteinander mit jeder beliebigen der vorstehend beschriebenen Ausführungsformen kombinierbar sind.

Weitere bevorzugte Ausführungsformen ermöglichen einen Refresh von einzelnen Speicherzellen 102a, 102b, ... während des Betriebs des Systems 1000, insbesondere ohne Speicherblöcke, insbesondere zusätzliche

Speicherblöcke, vorsehen zu müssen.

Bei weiteren bevorzugte Ausführungsformen werden bevorzugt nur die

Speicherzellen programmiert bzw. nachprogrammiert, die Ladung verloren haben, wodurch der Stress auf andere/benachbarte Zellen der

Speichereinrichtung minimiert wird. Der Stress und damit die Ausfallrate für andere Zellen wird insbesondere gegenüber konventionellen Verfahren, die auf einer blockbasierten Programmierung mit zusätzlichen Blöcken beruhen, verringert.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen wird das Verfahren (vgl. z.B. Fig. 2) im laufenden Betrieb des Systems 1000, insbesondere ohne (zusätzliche) Blöcke durchgeführt - dies kann vorteilhaft durch die Kopplung des Ablaufs gemäß z.B. Fig. 2 mit dem laufenden System 1000 bzw. den Zugriffen der weiteren Einheit 300 ermöglicht werden.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen kann das Verfahren gemäß den Ausführungsformen, vgl. z.B. die Schritte 200, 202 gemäß Fig. 2, im

Zusammenhang mit DECTED - ECC (double error correction triple error detection) vorteilhaft eingesetzt werden, z.B. um sicher vor Auftreten eines dritten, nicht korrigierbaren Fehlers, einen Fehlerzähler für einen durch einen fehlerkorrigierenden Kode, z.B. ECC, abgesicherten Bereich von 1 auf 0 zurückzusetzen. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen kann somit der Schritt des Überprüfens 200 die Anwendung eines DECTED-ECC-Verfahrens umfassen.

Dadurch, dass das Verfahren gemäß zumindest manchen bevorzugten

Ausführungsformen im laufenden Betrieb der Speichereinrichtung 100 bzw. des Systems 1000 durchgeführt werden kann ist es: - Einfacher ein Safety ASILD (Automotive Safety Integrity Level D) System aufzusetzen, da die

Ausgangsfehlerrate für die Bitfehlerbetrachtung wesentlich geringer ist, - Das Risiko für Ausfälle geringer - da nicht mehr gewartet werden muss bis sich das Steuergerät 1000 im Nachlauf oder in der Startphase befindet um zu refreshen (nachzuprogrammieren), Beispiel: ein Auto fährt einige Stunden - bei

Speichereinrichtungen 100 gemäß weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist die intrinsische Datenerhaltzeit bei höheren Temperaturen und längeren

Laufzeiten für eine Anzahl von Zellen im ppm Bereich geringer und kann deshalb vorher refreshed werden, ohne dass diese ausfällt - Möglich, neue nichtflüchtige Speichertechnologien z.B. mit kürzeren Datenerhaltzeiten einzusetzen.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen werden fehlerkorrigierende Kodes, ECC, mit triple Bit Fehlererkennung und Doppelbitfehlerkorrektur (DECTED- ECC) eingesetzt.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen können alternativ oder ergänzend auch andere Verfahren z.B. für die Bestimmung der aktuellen Ladung einer Speicherzelle - wie z.B. dem Fachmann bekannte Margin-Read-Verfahren, verwendet werden.

Weitere bevorzugte Ausführungsformen ermöglichen z.B., im laufenden Betrieb des Systems 1000 eine Ladung der Bits bzw. den Speicherinhalt der

Speicherzellen 102, insbesondere laufend, zu prüfen und/oder einen

fehlerkorrigierenden Kode, ECC, insbesondere laufend, zu prüfen, z.B. bis ein Fehler sichtbar ist und/oder bis ein nicht mehr ausreichender Datenerhalt der Speicherzelle feststellbar ist (z.B. Ladung zu gering), wobei solch ein Fehler bzw. die betreffende Speicherzelle dann direkt wieder programmiert bzw.

nachprogrammiert werden kann mit dem richtigen Datenwert. Da insbesondere bei DECTED-ECC-Verfahren auch ein zweiter Fehler noch korrigiert werden kann, ist die Ausfallwahrscheinlichkeit des Systems 1000 damit wesentlich geringer.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen werden im laufenden System 1000 Zustände gesucht, in denen sichergestellt ist, dass für eine vorgebbare Zeit (z.B. 30ps (Mikrosekunden) bei PCM-Speicherzellen) nicht auf den Speicher zugegriffen werden muss (z.B. seitens der weiteren Einheit 300), vgl. auch das beispielhaft in Fig. 6 abgebildete Zeitfenster ZF. Dieses Zeitfenster wird bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen genutzt, um die fehlerhafte bzw.

aufgrund ihres vermuteten geringen verbleibenden Datenerhalts (z.B. niedrige Ladung) auffälligen Speicherzelle neu zu programmieren.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen erfolgt eine Korrektur von als fehlerhaft erkannten bzw. auffälligen Speicherzellen, bevor eine zweite bzw. dritte Zelle in demselben z.B. durch ECC, insbesondere DECTED-ECC, abgesicherten Bereich A1 (Fig. 1) defekt wird.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen wird bevorzugt der gesamte Speicherbereich der Speichereinrichtung 100, insbesondere alle Speicherzellen 102, über die Zeit überprüft, z.B. in Form von Prüfzyklen, die jeweils nur eine bzw. wenige Speicherzellen betrachten, wodurch vorteilhaft kürzere

Datenhaltzeiten (z.B. bedingt durch hohe Temperaturen und/oder

Speicherzellen-Technologien mit inhärent geringerem Datenerhalt als z.B. Flash- Speicher) kompensiert werden können. Beispielsweise kann bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen das Verfahren gemäß den Ausführungsformen, vgl. z.B. die Schritte 200, 202 aus Fig. 2, mit einer Rate von 120 Bytes je Sekunde ausgeführt werden, wobei z.B. ein Speicherbereich von 8 MB

(Megabytes) wenigstens einmal pro Tag überprüft und ggf. (neu)programmiert bzw. refreshed (wiederaufgefrischt) werden kann.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen können auch fehlerkorrigierende Kodes zusammen mit Margin-Read-Techniken verwendet werden, z.B. für den Schritt des Überprüfens 200 (Fig. 2).

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen können auch (nur) Margin-Read- Techniken verwendet werden für den Schritt des Überprüfens 200 (Fig. 2). Bei diesen Varianten ist eine Auswertung bzw. Vorsehung eines fehlerkorrigierenden Kodes nicht erforderlich.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen können auch SECDED (Single Error Correction und Double Error Detection) Techniken verwendet werden, bei denen ein Fehler korrigiert und zwei Fehler erkannt werden können.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen können auch fehlerkorrigierende Kodes u.a. für das Überprüfen 200 (Fig. 2) verwendet werden, die eine Korrektur von mehr als zwei Bits ermöglichen.

Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen kann das Verfahren gemäß Figur 2 z.B. in einem Start oder Hochlauf des Systems bzw. Steuergeräts 1000 ausgeführt werden.

Figur 7 zeigt schematisch ein Blockdiagramm gemäß weiteren bevorzugten Ausführungsformen. Abgebildet ist eine primäre Ausführungseinheit 500 und eine der primären Ausführungseinheit 500 zugeordnete Speichereinrichtung 502. Die primäre Ausführungseinheit 500 ist z.B. ein erster Rechenkern, z.B. eines Mikrocontrollers. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist eine DMA (Speicherdirektzugriffs-) Einheit 504 vorgesehen, die in bekannter Weise Daten aus der Speichereinrichtung 502 lesen und/oder in die Speichereinrichtung 502 schreiben kann, insbesondere ohne (Unterstützung durch) die

Ausführungseinheit 500. Bei weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist eine Prüfsummeneinheit („CRC-Einheit“) 506 vorgesehen, die - ggf. in Verbindung mit der DMA-Einheit 504 - auf Daten, insbesondere eine vorgebbare Anzahl A1 (Fig. 1) von Speicherzellen der Speichereinrichtung 502, zugreifen und insbesondere den Schritt des Überprüfens 200 (Fig. 2) und/oder des Programmierens 202 ausführen kann. Optional ist wenigstens eine sekundäre Ausführungseinheit 508 (z.B. ein weiterer Rechenkern) vorgesehen, die gemäß weiteren bevorzugten Ausführungsformen - ebenso wie die primäre Ausführungseinheit - Programmcode und/oder Daten aus der Speichereinrichtung laden kann (z.B. auch unter Nutzung der DMA-Einheit 504) und/oder ausführen kann. Gemäß weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist wenigstens eine der

Ausführungseinheiten 500, 508 zur Ausführung des Verfahrens gemäß den Ausführungsformen (vgl. z.B. Fig. 2) ausgebildet. Gemäß weiteren bevorzugten Ausführungsformen ist die Prüfsummeneinheit 506 und/oder die DMA-Einheit 504 zur Ausführung des Verfahrens gemäß den Ausführungsformen (vgl. z.B. Fig. 2) ausgebildet.