| JP02046837 | STEREOTAXIC BRAIN SURGERY APPARATUS |
| WO/2010/136799 | DEVICE POSITIONING SYSTEM |
| WO/2006/077432 | DISPENSER |
KRUEGER, Timo (Sonnenburger Strasse 66, Berlin, 10437, DE)
MUCHA, Dirk (Kurhausstrasse 36a, Berlin, 13467, DE)
KRUEGER, Timo (Sonnenburger Strasse 66, Berlin, 10437, DE)
| Ansprüche Verfahren zur Überprüfung von Lage- oder Positionsdaten eines Instrumentes (1) mit wenigstens einem ersten Abschnitt (5) und wenigstens einem zweiten Abschnitt (3) , wobei der erste Abschnitt (5) wenigstens einen ersten Sensor (15a) aufweist und der zweite Abschnitt (3) wenigstens einen zweiten Sensor (IIa) aufweist, und wobei das Verfahren ein messtechnisches Bestimmen der Lage oder Position, oder deren Veränderung, des ersten Sensors (15a) und des zweiten Sensors (IIa) umfasst; gekennzeichnet durch die Schritte Bestimmen einer Ausprägung eines veränderlichen Merkmals des räumlichen Bezugs zwischen der Lage oder Position des ersten Sensors (15a) und/oder wenigstens eines Punktes auf dem ersten Abschnitt (5) einerseits und der Lage oder Position des zweiten Sensors (IIa) und/oder wenigstens eines Punktes auf dem zweiten Abschnitt (3) oder dem ersten Abschnitt (5), der durch den zweiten Sensor referenziert wird, andererseits, zu jeweils wenigstens einem ersten Zeitpunkt (ti) , zu einem zweiten Zeitpunkt (t2) und zu einem dritten Zeitpunkt (t3) ; Ermitteln anhand eines Kriteriums, ob ein Unterschied in der Ausprägung des veränderlichen Merkmals zwischen einer ersten Ausprägung zum ersten Zeitpunkt (ti) und einer zweiten Ausprägung zum zweiten Zeitpunkt (t2) zum dritten Zeitpunkt (t3) noch besteht. 2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei basierend auf der Ermittlung anhand des Kriteriums eine Unterscheidung getroffen wird, ob der Unterschied in der Ausprägung des veränderlichen Merkmals zwischen der ersten Ausprägung zum ersten Zeitpunkt (ti) und der zweiten Ausprägung zum zweiten Zeitpunkt (t2) auf einer Deformation des Instruments (1) oder auf einer anderen Beeinflussung des gemessenen räumlichen Bezugs beruht. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, wobei wenigstens ein weiterer Sensor auf jeweils einem weiteren Abschnitt verwendet wird, wobei der räumliche Bezug zwischen Lage- oder Position des oder jedes einzelnen weiteren Sensors einerseits und dem ersten Sensor (15a) und/oder wenigstens eines Punktes auf dem ersten Abschnitt (5) anderseits bestimmt wird. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, wobei die Änderung des räumlichen Bezugs des oder der Sensoren und/oder Störeinflüsse bei dem Bestimmen von Positionsdaten unter Anwendung des Kriteriums unter Beachtung eines vorbestimmten Toleranzbereichs und/oder eines vorbestimmten Grenzwerts bestimmt wird. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, wobei bei einer bleibenden Änderung des räumlichen Bezugs des oder der Sensoren die Ausprägung des veränderlichen Merkmals des räumlichen Bezugs zu einem dritten Zeitpunkt (t3) als neue Ausgangsausprägung des Verfahrens gesetzt wird. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, wobei eine Spitze des Instruments (1) der Punkt auf dem ersten Abschnitt (5) des Instrumentes (1) ist. 7. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, wobei das Instrument (1) ein medizinisches Instrument ist. Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 7. Vorrichtung nach Anspruch 8, welche wenigstens einen ersten Abschnitt (5) und wenigstens einen zweiten Abschnitt (3) aufweist, wobei der erste Abschnitt (5) wenigstens einen ersten Sensor (15a) aufweist, wobei der zweite Abschnitt (3) wenigstens einen zweiten Sensor (IIa) aufweist, und wobei zwischen dem ersten Abschnitt (5) und dem zweiten Abschnitt (3) eine Deformationsstelle, insbesondere eine selbsthaltende Deformationsstelle, vorgesehen ist. Vorrichtung nach Anspruch 8 oder 9, wobei wenigstens einer der Sensoren (IIa, 15a) eine oder mehrere Spulen beinhaltet oder hieraus besteht. Vorrichtung nach Anspruch 10, wobei die Spule wenigstens ein durchgängiges Inneres aufweist. Vorrichtung nach Anspruch 10 oder 11, wobei die Spule um einen Abschnitt des Instruments oder innerhalb des Abschnitts gewickelt ist. Vorrichtung nach Anspruch 12, wobei der Abschnitt des Instruments einen rohrförmigen (hohlen) Querschnitt hat. Vorrichtung nach Anspruch 12 oder 13, wobei der Abschnitt des Instruments einen nicht hohlen Querschnitt hat. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 14, wobei der erste Abschnitt (5) und/oder der zweite Abschnitt (3) variabel definierbar vorgesehen sind. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 15, wobei zwischen einem ersten Sensor (15a) und einem zweiten Sensor (IIa) eine Deformationsstelle vorgesehen ist. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 9 bis 16, wobei die Deformationsstelle und/oder der Deformationsbereich eine Legierung aufweist. Vorrichtung nach Anspruch 17, wobei die Legierung ein weichgeglühtes Material ist. Vorrichtung nach einem der vorangegangenen Ansprüche, welches ein medizinisches Instrument ist oder aufweist. Digitales Speichermedium, insbesondere Diskette, CD oder DVD, mit elektrisch auslesbaren Steuersignalen, die derart mit einem programmierbaren Computersystem zusammenwirken können, dass die Schritte eines Verfahrens gemäß einem der Ansprüche 1 bis 7 veranlasst werden . Computer-Programm-Produkt mit auf einem maschinenlesbaren Träger gespeichertem Programmcode zur Veranlassung der Schritte des Verfahrens gemäß einem der Ansprüche 1 bis 7, wenn das Computer-Programm-Produkt auf einem Rechner abläuft. Computer-Programm mit Programmcode zur Veranlassung der Schritte des Verfahrens gemäß einem der Ansprüche 1 bis 7, wenn das Computer-Programm auf einem Computer abläuft . |
VERFAHREN ZUR ÜBERPRÜFUNG VON POSITIONSDATEN EINES MEDIZINISCHEN INSTRUMENTES UND ENTSPRECHENDES MEDIZINISCHES INSTRUMENT
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur
Überprüfung von Lage- oder Positionsdaten eines Instrumentes gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1 sowie eine Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 8. Sie betrifft ferner ein digitales Speichermedium gemäß Anspruch 20, ein Computer- Programm-Produkt gemäß Anspruch 21 sowie ein Computer- Programm gemäß Anspruch 22.
Beim Arbeiten mit einem Instrument in einem Bereich, der nicht direkt einsehbar ist, kann es von Bedeutung sein, die aktuelle Lage des Instrumentes zu erfassen und in geeigneter Weise darzustellen. Bekannt ist, ein Instrument mit
elektromagnetischen Lagesensoren, sogenannten
Spulenelementen, zu versehen. Ein Feldgenerator, der in räumlicher Nähe des Instrumentes angeordnet ist, erzeugt ein elektromagnetisches Feld, das elektrische Spannungen in den Spulenelementen des Instrumentes nach dem Gesetz der
elektromagnetischen Induktion induziert. Die Höhe der
induzierten Spannungen bzw. der elektrischen Ströme in den Spulenelementen kann je nach räumlicher Lage und
Positionierung der Sensoren an dem Instrument unterschiedlich sein. Die elektromagnetischen Lagesensoren können ebenso sogenannte Saturationskernmagnetometer sein, die ein Signal liefern, das proportional zur lokalen auftretenden Feldstärke des erzeugten elektromagnetischen Feldes ist.
Eine Steuerungseinheit, die mit dem Feldgenerator und den Lagesensoren verbunden ist, kann anschließend aus den
verschiedenen Messdaten des Feldgenerators und der
Lagesensoren die Position der Sensoren und damit des
Instrumentes berechnen. Diese können beispielsweise auf einem Monitor dargestellt werden.
BESTÄTIGUNGSKOPIE Bekannt sind auch Verfahren zur Lagebestimmung von Instrumenten, die auf optischen Messprinzipien von geeigneten Sensoren auf dem Instrument beruhen.
Weiterhin sind Fehlererkennungsverfahren für Instrumente bekannt, die starr sind und sich während der Anwendung der Instrumente nicht verformen. Diese Fehlererkennungsverfahren basieren auf dem Prinzip, dass zwei verschiedene Sensoren auf dem Instrument zu einem Zeitpunkt einen bestimmten Bereich des Instrumentes unterschiedlich referenzieren und somit unterschiedliche Positionsdaten bestimmen. Dadurch wird auf einen Fehler bei der Messung zumindest von einem Sensor geschlossen. Werden derartige Verfahren bei Instrumenten eingesetzt, die sich während der Anwendung verformen, können die Lagedaten des verformten Instruments nicht eindeutig von möglichen fehlerhaften Lagedaten unterschieden werden.
Insbesondere werden auch durch die Verformung des Instruments Lagedaten als fehlerhaft eingestuft, obwohl eine Störung nicht vorliegt.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Verfahren vorzuschlagen, das die Erkennung fehlerhaft ermittelter
Lage- oder Positionsdaten eines Instruments oder deren
Überprüfung erlaubt.
Diese Aufgabe wird gelöst durch die Merkmalskombination des Anspruchs 1. Bei diesem Verfahren weist das Instrument wenigstens zwei verschiedene Abschnitte, einen ersten und einen zweiten
Abschnitt, auf. Die Form und/oder Funktion der beiden
Abschnitte kann jeweils gleich oder unterschiedlich sein. Der erste Abschnitt weist wenigstens einen ersten Sensor auf, der zweite Abschnitt weist ebenfalls wenigstens einen Sensor auf, im Folgenden als zweiter Sensor bezeichnet. Das Verfahren umfasst ein messtechnisches Bestimmen der Lage bzw. der Position im Raum, oder deren Veränderung, des ersten Sensors und des zweiten Sensors.
Vorteilhafte Weiterentwicklungen der erfindungsgemäßen
Aufgabe sind jeweils Gegenstand der Unteransprüche.
In einigen erfindungsgemäßen Ausführungsformen wird basierend auf der Ermittlung anhand des Kriteriums eine Unterscheidung getroffen, ob der Unterschied in der Ausprägung des
veränderlichen Merkmals zwischen der ersten Ausprägung zum ersten Zeitpunkt (ti) und der zweiten Ausprägung zum zweiten Zeitpunkt (t 2 ) auf einer Deformation oder Biegung oder
Verbiegung des Instruments oder auf einer anderen
Beeinflussung des gemessenen räumlichen Bezugs wie
beispielsweise einem Artefakt oder einer Störung beruht.
Der Begriff „Lage", wie er hierin verwendet wird, beschreibt in bestimmten Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung die Lage eines Sensors als Position und Ausrichtung eines dreidimensionalen geometrischen Körpers im Raum.
Der Begriff Lage kann synonym zu dem Begriff Lagedaten verwendet werden. Die Lagedaten beschreiben quantitativ die Lage in einem Bezugssystem.
Der Begriff „Position", wie er hierin verwendet wird, beschreibt in manchen Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung den Ort eines dreidimensionalen geometrischen
Körpers im Raum.
Der Begriff Position kann synonym zu dem Begriff
Positionsdaten verwendet werden. Die Positionsdaten
beschreiben quantitativ die Position in einem Bezugssystem. In einem Schritt des erfindungsgemäße Verfahrens wird eine Ausprägung eines veränderlichen Merkmals des räumlichen
Bezugs zwischen der Lage des ersten Sensors und der Lage des zweiten Sensors wenigstens zu jeweils drei Zeitpunkten, einem ersten Zeitpunkt, einem zweiten Zeitpunkt und einem dritten Zeitpunkt bestimmt .
In einem weiteren Schritt wird anhand eines, insbesondere vorbestimmten, Kriteriums ermittelt, ob ein Unterschied zwischen einer ersten Ausprägung des veränderlichen Merkmals zum ersten Zeitpunkt und einer zweiten Ausprägung zum zweiten Zeitpunkt des veränderlichen Merkmals zum dritten Zeitpunkt noch besteht.
Durch Kenntnis des erfindungsgemäß ermittelbaren Unterschieds der Ausprägung des veränderlichen Merkmals einerseits
zwischen der ersten Ausprägung zum ersten Zeitpunkt und der zweiten Ausprägung zum zweiten Zeitpunkt und andererseits dessen Fortbestehen (der jeweiligen Ausprägungen) zum dritten Zeitpunkt anhand eines Kriteriums kann in bestimmten
erfindungsgemäßen Ausführungsform eine Fehlererkennung von Lagedaten und/oder das Erkennen einer vorliegenden
Deformation des Instruments vorteilhaft möglich sein.
Die Bestimmung der Lage oder der Lagen des ersten Sensors und des zweiten Sensors zueinander kann rechnerisch erfolgen.
Der Begriff „zueinander", wie er hierin verwendet wird, beschreibt die Lage des ersten Sensors in Bezug auf den zweiten Sensor. Ebenso kann die Lage des zweiten Sensors in Bezug auf den ersten Sensor beschrieben werden.
Die Lage eines Sensors kann durch dessen Koordinaten in einem Koordinatensystem dargestellt werden.
Die mathematische Lagebeschreibung eines Sensors, der im Sinne der Erfindung auch als Lokalisator oder als Lagesensor bezeichnet werden kann, kann unter Verwendung eines
Koordinatensystems mittels Matrixdarstellung erfolgen. Für die rechnerische oder mathematische Beschreibung der Lage eines ersten Sensors in Bezug auf die Lage eines zweiten Sensors können Matrizen angewendet werden. Die Matrix des ersten Sensors (synonym zu: die Matrix der Position des ersten Sensors, dargestellt oder beschrieben durch dessen
Matrix als Positionsbeschreibung im Raum) kann auf die Matrix des zweiten Sensors transformiert werden. Die
Lagebeschreibung des ersten Sensors in Bezug auf den zweiten Sensor (oder umgekehrt) wird dann durch eine
Transformationsmatrix beschrieben.
Durch die Transformationsmatrix können die Koordinaten des ersten Sensors auf den zweiten Sensor transformiert werden. Anders ausgedrückt wird eine Koordinatentransformation der Koordinaten des ersten Sensors auf die Koordinaten des zweiten Sensor durchgeführt.
Ein veränderliches Merkmal des räumlichen Bezugs kann eine Koordinatentransformation oder deren Ergebnis sein.
Ein veränderliches Merkmal kann ein zeitlich veränderliches Merkmal sein.
Ein zeitlich veränderliches Merkmal kann zu einem ersten Zeitpunkt ti, zu einem zweiten Zeitpunkt t 2 , zu einem dritten Zeitpunkt t 3 und ferner ergänzend zu weiteren Zeitpunkten ti (ti für i=4,5,6,7 ...) betrachtet werden.
In einigen erfindungsgemäßen Ausführungsformen liegen alle betrachteten Zeitpunkte ti (ti für i= 1,2,3,4,5,6,7 ...) , in anderen erfindungsgemäßen Ausführungsformen nur die
Zeitpunkte ti,t 2 und t 3 , jeweils nach Beginn einer Behandlung des Patienten mittels des Instruments. Bei einer Deformation des Instrumentes kann die Ausprägung des veränderlichen Merkmals (welche dann als bleibende
Veränderung oder Ausprägung bezeichnet werden kann) des räumlichen Bezugs bei einem dritten Zeitpunkt (t 3 ) als neue Ausgangsausprägung gesetzt wird. Das deformierte Instrument zum Zeitpunkt t 3 kann dann als Ausgangsausprägung für weitere Zeitpunkte ti (ti für i=4,5,6,7 ...) betrachtet werden.
Die Koordinatentransformation, kann vom ersten Sensor auf den zweiten Sensor mathematisch beschrieben werden, ebenso wie die Koordinatentransformation vom zweiten Sensor auf den ersten Sensor. Gleichfalls ist die Koordinatentransformation vom zweiten Sensor auf den ersten Abschnitt des Instrumentes möglich, ebenso wie die Koordinatentransformation vom ersten Sensor auf den zweiten Abschnitt. Weiterhin ist die
Koordinatentransformation vom ersten Sensor auf den ersten Abschnitt möglich, wie auch die Koordinatentransformation vom zweiten Sensor auf den zweiten Abschnitt.
Der „erste Abschnitt" oder der „zweite Abschnitt", oder ein Punkt des ersten oder zweiten Abschnitts, kann die Spitze des Instruments oder ein medizinisch wirksamer Abschnitt hiervon, z.B. eine Schneidefläche, sein. Der erste oder zweite
Abschnitt kann alternativ jeder andere Abschnitt sein oder einen solchen umfassen.
Jeder der vorgesehenen Sensoren kann auf der Oberfläche des Instrumentes oder innerhalb des Instrumentes bzw. der
Abschnitte angeordnet sein. Beispielsweise kann es
vorteilhaft sein, wenigstens einen Sensor im Instrument zu kapseln, wenn er nicht mit der Umgebung in Berührung kommen soll. Dies kann entweder zum Schutz des Sensors vor dem
Umgebungsmedium dienen, aber auch umgekehrt dem Schutz des Umgebungsmediums oder -gewebes vor dem Sensor. Mögliche
Anwendungsfälle sind Messungen in toxischen und/ oder
aggressiven Substanzen, die den Sensor zerstören könnten oder Anwendungen in der Umgebung von humanem oder tierischem
Gewebe, das durch Sensormaterialien beeinflusst werden kann. Der Sensor kann eine oder mehrere Spulen beinhalten oder hieraus jeweils bestehen.
Die Spule oder die Spulen haben in bestimmten
Ausführungsformen ein durchgängiges Inneres. Dieses
durchgängig Innere kann eine beliebige Querschnittsform aufweisen; beispielsweise kann es rund, oval, rechteckig oder vieleckig sein. Die Durchgängigkeit des Inneren kann in einer Längsrichtung der Spule bestehen. Die Durchgängigkeit des Inneren kann in einem Gebrauchszustand des Instruments, mit welchem die Spule verbunden ist, in einer Längsrichtung des Instruments oder eines Abschnitts, welcher die Spule
aufweist, bestehen. Unter einer Durchgängigkeit ist in bestimmten
Ausführungsformen die Möglichkeit zu verstehen, durch das Innere der Spule hindurch z.B. ein weiteres Instrument, d.h. ein anderes als jenes, mit welchem die Spule in ihrem
Gebrauchszustand im Sinne der vorliegenden Erfindung fest verbunden ist, geführt oder geschoben werden kann. Eine
Durchgängigkeit kann in manchen Ausführungsformen als die Möglichkeit verstanden werden, durch die Spule hindurch zu agieren . Die Spule oder die Spulen kann oder können um einen Abschnitt des Instruments, mit welchem sie gemeinsam oder fest
verbunden im Sinne der vorliegenden Erfindung verwendet wird oder werden, herum angeordnet sein. Eine jede Spule kann alternativ innerhalb des Abschnitts des Instruments, mit welchem sie gemeinsam oder fest verbunden im Sinne der vorliegenden Erfindung verwendet wird, angeordnet sein . Eine Spule (oder mehrere oder alle Spulen) können aus
Windungen aufgebaut sein. Der Abschnitt des Instruments, welcher Sensoren oder Spulen trägt, kann einen wenigstens in Teilen des Abschnitts
rohrförmigen (hohlen) Querschnitt aufweisen. Der Querschnitt kann auch jede andere beliebige Form aufweisen, insbesondere solide oder nicht-hohl sein.
Die Sensoren können auf unterschiedlichen physikalischen Messprinzipien beruhend messen oder arbeiten.
In bestimmten erfindungsgemäßen Ausführungsformen werden elektromagnetische Sensoren verwendet. Dies hat den Vorteil, dass beispielsweise gegenüber optischen Sensoren die Sensoren innerhalb verschiedener Medien, Gehäuse oder Verkapselungen verwendet werden können, ohne dass eine direkte
Sichtverbindung notwendig ist.
Weiterhin können sich die Sensoren, die sich auf dem ersten Abschnitt befinden, von den Sensoren des zweiten Abschnitts unterscheiden. Ein erster Sensor kann sich in den Abmaßen, in der Sensitivität, der Messgenauigkeit, den Gehäusematerialien des Sensors und anderen Merkmalen von einem und/oder weiteren Sensoren unterscheiden. Auch die - insbesondere
physikalischen - Messprinzipien, auf welchen basierend die Sensoren arbeiten, können verschieden sein. Ein erster Sensor kann beispielsweise auf einem elektromagnetischen Messprinzip beruhen, ein weiterer Sensor beispielsweise auf einem
optischen Messprinzip.
Die messtechnische Bestimmung der Lage der Sensoren hängt von den verwendeten Messprinzipien der Sensoren ab und wird hier nicht weiter vertieft, da sie dem Fachmann hinreichend bekannt ist.
Die Koordinatentransformation kann zu verschiedenen
Zeitpunkten bestimmt oder berechnet werden. Wenn
beispielsweise ein Instrument mit einem oder mehreren
Abschnitten ein oder mehrere Sensoren aufweist, können die jeweiligen Koordinatentransformationen zu einem ersten
Zeitpunkt ti und zu weiteren Zeitpunkten ti (i=2,3,4, ...) bestimmt werden.
Beispiele für derartige Koordinatentransformationen, die im folgenden durch homogene Transformationsmatrizen (T)
mathematisch beschrieben werden, können sein: sl T s2 ( t i ) Koordinatentransformation des ersten Sensors auf den zweiten Sensor (zum ersten Zeitpunkt ti;
allgemein: die Lage des ersten Sensors wird in Bezug auf den zweiten Sensor zum ersten Zeitpunkt ti bestimmt bzw. berechnet; oder: die Lage des ersten Sensors und die Lage des zweiten Abschnitts zueinander wird bestimmt bzw. rechnerisch ermittelt bzw. berechnet; b T A i(ti) Koordinatentransformation des zweiten Sensors auf den ersten Abschnitt zum ersten Zeitpunkt ti; sl T A i(ti) Koordinatentransformation des ersten Sensors auf den ersten Abschnitt zum ersten Zeitpunkt ti
Die Koordinatentransformation vom ersten Sensor auf den ersten Abschnitt ( sl T A i) kann bei einem starren ersten
Abschnitt des Instruments als annähernd zeitlich konstant angesehen werden. Entsprechendes gilt für den zweiten
Abschnitt und den zweiten Sensor.
Der Begriff „starrer erster Abschnitt", wie er hierin
verwendet wird, beschreibt einen nicht verformbaren oder bei gewöhnlichem Einsatz des Instruments vernachlässigbar gering verformbaren oder unterhalb der Messgenauigkeit verformbaren Abschnitt .
Der Begriff „annähernd zeitlich konstant", wie er hierin verwendet wird, bedeutet zeitlich konstant im Rahmen der Meßgenauigkeit zu zwei aufeinander folgenden Zeitpunkten (z.B. liegen die ersten und zweiten Zeitpunkte ti und t 2 eine Sekunde oder zwei Sekunden oder fünf Sekunden auseinander) :
S1 T A2 ( t x ) s S1 T A2 ( t 2 ) .
Erfindungsgemäß wird anhand eines Kriteriums ermittelt, ob ein Unterschied des veränderlichen Merkmals zwischen einer ersten Ausprägung zum ersten Zeitpunkt ti und einer zweiten Ausprägung zum zweiten Zeitpunkt t 2 auch zu einem dritten Zeitpunkt (t 3 ) noch besteht.
Ein veränderliches Merkmal des räumlichen Bezugs kann als eine Koordinatentransformation zwischen dem ersten und zweiten Sensor bestehen. Die Ausprägung kann durch eine erste Position (zum ersten Zeitpunkt ti) oder eine zweite Position (zum zweiten Zeitpunkt t 2 ) bestimmt sein.
Weitere Beispiele für das veränderliche Merkmal umfassen eine Geschwindigkeit oder eine Beschleunigung der
Koordinatentransformation zu einem bestimmten Zeitpunkt oder in einem bestimmten Zeitraum sein.
Ein weiteres Beispiel für das veränderliche Merkmal kann die Lage des ersten Sensors und des zweiten Sensors im Raum sein (Lagemesswerte) , die als Koordinaten im Koordinatensystem des Lagemesssystem bestimmt werden. Diese Lagen können ebenfalls als Koordinatentransformation dargestellt werden.
Als Basis für die Koordinatentransformation (als räumlicher Bezug) können die Freiheitsgrade eines Koordinatensystems angesehen werden. Beispielsweise hat die
Koordinatentransformation S1 T S2 zum ersten Zeitpunkt ti drei translatorische und drei rotatorische Freiheitsgrade in den Achsrichtungen des jeweiligen Koordinatensystems. Bei einem x, y, z-Koordinatensystem sind dies die translatorischen Freiheitsgrade in x-, y- und z-Richtung und die rotatorischen Freiheitsgrade um die x-, y- und z-Achse.
Kriterien für die Veränderung des veränderlichen Merkmals können beispielsweise sein:
- Die Änderung eines Freiheitsgrads der
Koordinatentransformation zwischen dem ersten und zweiten Sensor
- Die Standardabweichungen eines Freiheitsgrads der
Koordinatentransformation zwischen dem ersten und zweiten Sensor über n Messwerte der Sensoren
- Die lineare Zuordnung eines Freiheitsgrads des
Lagemesswerts des ersten Sensors zu dem entsprechenden Freiheitsgrad des Lagemesswerts des zweiten Sensors
- Auftretende mittlere Geschwindigkeit eines Freiheitsgrads der Koordinatentransformation zwischen dem ersten und dem zweiten Sensor über n Messwerte der Sensoren
- Auftretende Geschwindigkeiten eines Freiheitsgrads der
Koordinatentransformation zwischen dem ersten und dem zweiten Sensor über n Messwerte der Sensoren
- Auftretende Beschleunigung eines Freiheitsgrads der
Koordinatentransformation zwischen dem ersten und zweiten Sensor über n Messwerte der Sensoren
Diese Kriterien können einzeln oder in beliebigen
Kombinationen gemeinsam angewendet werden.
In einer erfindungsgemäßen Ausgestaltung können z.B. auch die Änderungen aller sechs Freiheitsgrade der
Koordinatentransformation zwischen dem ersten Sensor und dem zweiten Sensor gemeinsam als Kriterium für eine Veränderung angewendet werden.
Der Begriff „lineare Zuordnung", wie er hierin verwendet wird, bedeutet eine lineare Zuordnung (auch als lineare
Zuordnung oder lineare Funktion bezeichnet) der Lagemesswerte vom ersten Sensor und vom zweiten Sensor. Die entsprechenden Freiheitsgrade der Messdaten vom ersten Sensor und vom zweiten Sensor haben in bestimmten erfindungsgemäßen
Ausführungsformen über wenigstens drei aufeinanderfolgenden Messwerte eine lineare Zuordnung.
Dabei weisen die Messdaten in manchen erfindungsgemäßen
Ausführungen nur dann eine lineare Zuordnung auf, wenn bei allen Freiheitsgraden der Lagemesswerte der linear
Zusammenhang über wenigstens drei aufeinanderfolgenden
Messwerte nachgewiesen wird. Wenn beispielsweise alle
translatorischen Freiheitsgrade lineare Zuordnungen
aufweisen, die rotatorischen Freiheitsgrade (Drehbewegungen um die Koordinatenachsen) jedoch ausreichend unterschiedlich sind (beispielsweise einander entgegengesetzte
Rotationsbewegungen) , so weist die Koordinatentransformation an den drei aufeinanderfolgenden Zeitpunkten insgesamt keine lineare Zuordnung auf.
Der Grad der Linearität kann anhand eines
Korrelationskoeffizienten gemessen werden. Bei einem
Korrelationskoeffizienten von Eins (1) oder nahe Eins (1) besteht eine hohe Linearität; bei Null (0) oder nahe Null (0) besteht keine oder nur eine geringe Linearität.
Erfindungsgemäß können beim Ermitteln der Unterschiede der Koordinatentransformationen zwischen den einzelnen
Zeitpunkten mittels der Kriterien in bestimmten
Ausführungsformen vorbestimmte Toleranzbereiche beachtet werden .
Diese Toleranzbereiche können für die lineare Zuordnung bestimmt werden (Toleranzbereich des
Korrelationskoeffizienten „nahe Eins" zur Entscheidung, ob eine lineare Zuordnung vorhanden ist oder nicht) , für die mittlere Geschwindigkeit (Toleranzbereich der mittleren
Geschwindigkeit „nahe Null" zur Entscheidung „ja" oder „nein"), für die absoluten, auftretenden Geschwindigkeiten (Toleranzbereich der Geschwindigkeiten „nahe Null" zur Entscheidung „ja" oder „nein") und für die auftretenden
Beschleunigungen (Toleranzbereich der Beschleunigungen „nahe Null" zur Entscheidung „ja" oder „nein"). Weiterhin können erfindungsgemäß beim Ermitteln der
Unterschiede der Koordinatentransformationen zwischen den einzelnen Zeitpunkten mittels der Kriterien Grenzwerte für die Standardabweichungen der Koordinatentransformationen beachtet werden.
In bestimmten Ausführungsformen der Erfindung werden eine Deformation des Instrumentes und/oder Störeinflüsse bei dem messtechnischen Bestimmen der Sensoren unter Anwendung des Kriteriums und/oder des vorbestimmten Toleranzbereichs und/oder des vorbestimmten Grenzwerts bestimmt oder
voneinander unterschieden.
Das Verfahren kann erfindungsgemäß folgende Schritte
enthalten :
Zu jedem Zeitpunkt wird die Transformation zwischen dem ersten und dem zweiten Sensor erfasst. Diese ist bei keiner Störung und keiner Deformation konstant gegenüber einem
Sollwert, bzw. Variationen liegen unterhalb eines Grenzwerts (Normalzustand) . Der Sollwert wird aus den Sensorwerten zu einem ersten Zeitpunkt ti als Transformation zwischen den Sensoren bestimmt und hinterlegt, oder liegt bereits
gespeichert vor. Tritt eine Änderung der gemessene Transformation zwischen den Sensoren, zum Sollwert auf, bedeutet dies, dass entweder eine Deformation vorliegt oder eine Störung vorliegt. Bei der Deformation ist die physische Lage der Sensoren zueinander permanent (bis zur nächsten Deformation) verändert, so dass der Sollwert der Transformation nicht mehr zutrifft. Die Abweichung von dem Sollwert ist (nach der Deformation) konstant. Dies wird durch die beschriebenen Kriterien
erkannt .
Bei einer Störung entspricht die physische Lage der Sensoren zueinander noch dem Sollwert, jedoch wird durch die Störung eine fehlerhafte Lage mindestens eines Sensors erfasst. Dies resultiert in einer nur für die Dauer der Störung
auftretenden Abweichung der Transformationsmatrix zu dem Sollwert. Des Weiteren sind die Abweichungen, die durch eine Störung hervorgerufen werden (auch während der Störung) nicht konstant. Dies wird durch die oben beschriebenen Kriterien erkannt .
Bei jedem Auftreten einer Abweichung vom Sollwert wird entschieden, ob eine Deformation oder eine Störung vorliegt. Dazu dienen die oben beschriebenen Kriterien.
Liegt eine Deformation vor, wird die Abweichung der
gemessenen Transformation zwischen den Sensoren von dem
Sollwert der Transformationsmatrix berechnet. Das Ergebnis wird zur Berechnung einer neuen Transformationsmatrix
zwischen dem zweiten Sensor und der Instrumentenspitze verwendet. Die gemessene Transformation zwischen den Sensoren wird als neuer Sollwert gesetzt und kann hinterlegt werden. Dadurch ist bis zum erneuten Auftreten einer Störung oder Deformation wieder der Normalzustand hergestellt. Das
Verfahren läuft entsprechend oben stehender Beschreibung in einer Schleife weiter. Liegt eine Störung vor, werden die Messwerte bis zum
Abklingen der Störung beispielsweise durch einen geeigneten Filter bearbeitet. Das Abklingen der Störung kann durch die bereits beschriebene Beobachtung der Abweichung der
gemessenen Transformation zwischen den Sensoren von dem
Sollwert der Transformationsmatrix zu jedem Zeitpunkt erfasst werden. Nach Beseitigung oder Abklingen der Störung läuft das Verfahren entsprechend oben stehender Beschreibung in einer Schleife weiter.
Die Kriterien können erfindungsgemäß beispielsweise
folgendermaßen verwendet werden:
Eine Deformation des Instruments kann beispielsweise durch eine lineare Zuordnung zwischen den einzelnen Freiheitsgraden den Messdaten vom ersten Sensor und vom zweiten Sensor über wenigstens drei aufeinanderfolgenden Messwerte nach der
Deformation bestimmt werden.
Beispielhaft kann eine Biegung oder Verbiegung des
Instruments zum Zeitpunkt t 2 betrachtet werden, die zum
Zeitpunkt ti noch nicht vorgelegen hat. Die plastische
Deformation liegt dann zum Zeitpunkt t 2 vor (und bleibt über nachfolgende Zeitpunkte erhalten) . Zur Unterscheidung der Deformation von Störeinflüssen können die Lagemessdaten des ersten und des zweiten Sensors betrachtet werden. Die
Lagemessdaten können je durch eine Transformationsmatrix beschrieben werden. Diese Transformationsmatrizen weisen zu allen Zeitpunkten jeweils 6 Freiheitsgrade (3 translatorische und 3 rotatorische Freiheitsgrade) auf, die die
Koordinatentransformation vom ersten Sensor bzw. vom zweiten Sensor zum Koordinatensystem des Messsystems (oder umgekehrt) beschreiben können (T a bzw. T b ) . Wenn z. B. zwischen allen 6 entsprechenden Freiheitsgraden der
Koordinatentransformationen T a und T b über z. B. drei
aufeinanderfolgenden Messwerte nach der Deformation T a (t 2 ) und T (t 2 ), T a (t 3 ) und T b (t 3 ) und T a (t 4 ) und T b (t ) ein linearer Zusammenhang besteht, kann eine Deformation des Instrumentes zwischen den Zeitpunkten ti und t 2 bestimmt werden. Dasselbe gilt, wenn keine Rückkehr aus einer sich von der Ausgangslage unterscheidenden Lage zur Ausgangslage beobachtet werden kann. Eine fehlerhafte Positionsermittlung, bedingt durch Störeinflüsse, kann dagegen bestimmt oder erkannt werden, wenn die lineare Zuordnung zwischen wenigstens einem
entsprechenden Freiheitsgrad der Koordinatentransformationen T a und T b über wenigstens drei aufeinanderfolgenden
Zeitpunkten, z.B. t2 bis t 4 nicht vorliegt oder eine Rückkehr in die Ausgangslage erkannt wird.
In manchen erfindungsgemäßen Ausführungen wird eine
Deformation des Instruments durch die mittlere
Geschwindigkeit der einzelnen Freiheitsgrade der
Koordinatentransformationen an wenigstens drei
aufeinanderfolgenden Zeitpunkten bestimmt werden. Eine Deformation des Instruments kann dann bestimmt werden, wenn die mittlere Geschwindigkeit der einzelnen
Freiheitsgrade der Koordinatentransformationen von wenigstens zwei aufeinanderfolgenden Messwerten nach der Deformation nahe Null (als Beispiel eines Kriteriums) ist. Eine
Geschwindigkeit nahe Null bedeutet, dass die gemessenen
Sensorsignale an den drei aufeinanderfolgenden Zeitpunkten nahe aneinander liegen und daher auf eine Deformation des Instruments, nicht aber auf einen Fehler bei der
Positionsermittlung geschlossen werden kann.
Eine Fehlererkennung kann dagegen angenommen werden, wenn die Geschwindigkeit nicht nahe Null ist. Eine Geschwindigkeit nicht nahe Null kann bedeuten, dass die gemessenen
Sensorpositionen sich relativ zueinander bewegen. Dies entspricht nicht der physikalischen Gegebenheit, bei der die Sensoren (nach der Deformation) wieder „starr" zueinander angeordnet sein sollten. Daher können die gemessenen
Sensorsignale als Störsignale interpretiert werden. Diese werden beispielsweise verworfen.
In der gleichen Weise werden gemessene Sensorsignale, welche die absoluten Geschwindigkeiten und auftretende Beschleunigungen aufzeigen, zum Erkennen von Deformationen oder Fehlern in manchen erfindungsgemäßen Ausführungsformen verwendet .
Die vorliegende Erfindung betrifft insbesondere die
Überprüfung einer Positionsbestimmung von Instrumenten oder Abschnitten hiervon, die sich während ihrer Anwendung
verformen, sei dies aufgrund einer beabsichtigten oder einer nicht beabsichtigen Verformung oder Deformation des
Instrumentes. Eine Verformung wird hier in dem Sinn
beschrieben, dass der zweite Abschnitt seine Lage in Bezug auf den ersten Abschnitt verändert. Je nach Geometrie und Materialbeschaffenheit des Instruments, nach physikalischen Umgebungsparametern wie beispielsweise Temperatur und Druck sowie nach den voraussichtlich angreifenden Kräften und
Momenten an dem Instrument kann es möglich sein, die
voraussichtliche Verformung mathematisch zu beschreiben oder mit ausreichender Genauigkeit zu approximieren.
In einer weiter bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist eine Spitze des Instruments der Bezugspunkt zum Erzeugen der Positionsdaten des zweiten Abschnitts des Instruments.
In einer wiederum weiter bevorzugten Ausführungsform der Erfindung werden die mittels der Sensoren gemessenen
Positionsdaten oder deren nachfolgende Weiterverarbeitung in einer Steuereinheit oder in einem Computer auf einer
geeigneten Ausgabeeinrichtung ausgegeben. Eine derartige Ausgabeeinrichtung kann beispielsweise ein Monitor sein.
Hierbei kann es sinnvoll sein, Messdaten, die zur
Fehlererkennung bestimmt wurden bzw. als Störsignale gemessen wurden und/oder die außerhalb eines Grenzwertbereiches liegen, der zuvor festgelegt worden ist, nicht auszugeben, nicht in weiteren Betrachtungen zu verwenden, usw. Dies kann beispielsweise durch einen Schwellenwertfilter in einer entsprechenden Recheneinheit realisiert werden. In bestimmten erfindungsgemäßen Ausführungsformen des
Verfahren wird wenigstens ein weiterer Sensor auf jeweils einem weiteren Abschnitt verwendet, also z. B. ein dritter, vierter, usw. Sensor auf jeweils einem dritten, vierten, usw. Abschnitt. Bei den weiteren Sensoren wird wie oben
beschrieben der räumliche Bezug zwischen Lage- oder Position des oder jedes einzelnen weiteren Sensors einerseits und dem ersten Sensor und/oder wenigstens eines Punktes auf dem ersten Abschnitt anderseits bestimmt.
Von der vorliegenden Erfindung umfasst ist auch das Vorsehen nur eines Schwellenwertes.
Die Nichtausgabe von Messwerten unter- oder oberhalb eines Grenzwertes kann dazu geeignet sein, die Positionsbestimmung von Instrumenten in ihrer Genauigkeit zu verbessern und die Zuverlässigkeit bezüglich der Ausgabe der tatsächlichen
Position des Instrumentes vorteilhaft zu erhöhen. Die - vor allem unbemerkte - Beeinflussung durch Gegenstände im Umfeld des Instrumentes, genauer im Messbereich der Sensoren auf dem Instrument, wird durch das beschriebene Verfahren vorteilhaft verringert. Bei den beschriebenen elektromagnetischen
Sensoren (Spulenelementen) gilt dies beispielsweise für die Beeinflussung von Gegenständen, die ferromagnetische
Eigenschaften aufweisen. Die Feldstörung durch diese
Gegenstände oder ihr Einfluss auf eine Positionsermittlung wird durch das genannte Verfahren, besonders für nicht-starre Instrumente, die für gewollte Deformationen geeignet sind, und für starre, jedoch deformierbare Instrumente mit
Lagesensoren verringert.
In einer wiederum weiter bevorzugten Ausführungsform wird das erfindungsgemäße Verfahren bei medizinischen Instrumenten angewendet. Beispielsweise in der Mund-, Kiefer-,
Gesichtschirurgie als auch im Hals-Nasen-Ohren Bereich kann es während operativen Eingriffen sehr wichtig sein, die genaue Position von Operationsinstrumenten zu kennen, um nicht Gefäße, Nerven oder andere sensible Bereiche zu
verletzen. Gleichzeitig werden bei derartigen Operationen eine Vielzahl von Instrumenten, Überwachungs- und
Diagnosegeräten und anderen Hilfsmitteln für die Operation eingesetzt. Oftmals besteht eine Vielzahl von diesen
Instrumenten und Geräten aus metallischen Werkstoffen, beispielsweise um eine Sichtbarkeit auf Computertomographien zu erreichen. Ein weiterer Grund zum heute verbreiteten
Einsatz von metallischen Werkstoffen bei
Operationsinstrumenten ist die gute Sterilisierbarkeit , die gerade im medizinischen Bereich von großer Bedeutung ist. Andererseits finden neue operative Operationstechniken wie beispielsweise die minimal-invasive Chirurgie immer größere Anwendungsfelder, die oft ein genaues Navigieren und Führen von Instrumenten in nicht direkt einsehbaren Gebieten
erfordern. Auch in den zuvor genannten Einsatzbereichen bietet das erfindungsgemäße Verfahren große Vorteile
gegenüber dem aus dem Stand der Technik Bekannten.
Das verwendete Instrument kann beispielsweise eine
Ultraschallsonde (Rektal-, Vaginalsonde, intravaskuläre
Sonde) , ein Katheter, ein Sauger, ein Endoskop oder ein
Zeigeinstrument sein. Oft kann es vorteilhaft sein, wenn zumindest ein Abschnitt ein geometrisch definiertes Ende aufweist, um beispielsweise als Zeigeinstrument geeignet anwendbar zu sein.
Mit Hilfe des erfindungsgemäßen Verfahrens ist es vorteilhaft möglich, die Positionsbestimmung von Instrumenten, die sich während der Anwendung verformen, zu überprüfen, und/oder erkannte Artefakte mitzuteilen oder in einer
Positionsbestimmung zu berücksichtigen. Die erfindungsgemäße Aufgabe wird auch gelöst durch die
Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 8. Sie wird ferner gelöst durch ein digitales Speichermedium gemäß Anspruch 20, ein Computer-Programm-Produkt gemäß Anspruch 21 sowie ein Computer-Programm gemäß Anspruch 22. Da die hiermit erzielbaren Vorteile ungeschmälert jenen oben erläuterten entsprechen, wird zur Vermeidung von Wiederholung an dieser Stelle ausdrücklich auf ihre obige Diskussion verwiesen.
Dasselbe gilt für die oben dargelegte Beschreibung des
Instrumentes oder andere strukturelle Ausgestaltungen und Merkmale der erfindungsgemäßen Vorrichtung. In bestimmten Ausführungsformen ist die erfindungsgemäße Vorrichtung ausgestaltet und vorgesehen und/oder
konfiguriert, um das erfindungsgemäße Verfahren hiermit ausführen zu können. In manchen Ausführungsformen weist sie eine entsprechende konfigurierte Rechen- oder
Steuereinrichtung auf. In bestimmte Ausführungsformen weist sie entsprechende, zum Ausführen der einzelnen Schritte des erfindungsgemäßen Verfahrens geeignete und/oder vorgesehene und/oder konfigurierte Einrichtungen auf. In einigen erfindungsgemäßen Ausführungsformen weist die
Vorrichtung wenigstens einen ersten Abschnitt und wenigstens einen zweiten Abschnitt auf. Der erste Abschnitt weist wenigstens einen ersten Sensor auf, der zweite Abschnitt weist wenigstens einen zweiten Sensor auf. Zwischen dem ersten Abschnitt und dem zweiten Abschnitt ist wenigstens eine Deformationsstelle vorgesehen.
Diese Deformationsstelle ist in manchen erfindungsgemäßen Ausführungsformen als eine selbsthaltende Deformationsstelle ausgestaltet, also als eine Deformationsstelle (oder
Biegestelle) , welche plastisch verformbar ist oder welche nach ihrem Deformieren oder Biegen in der deformierten oder gebogenen Stellung oder Haltung verbleibt. In gewissen erfindungsgemäßen Ausführungsformen sind der erste Abschnitt und/oder der zweite Abschnitt variabel definierbar oder festlegbar vorgesehen. In einigen erfindungsgemäßen Ausführungsformen ist zwischen dem ersten Sensor und dem zweiten Sensor wenigstens eine Deformationsstelle (z. B. ein Gelenk oder ein Biegebereich) vorgesehen.
In gewissen erfindungsgemäßen Ausführungsformen weist die Deformationsstelle und/oder der Deformationsbereich eine Legierung auf.
In einigen erfindungsgemäßen Ausführungsformen ist die
Legierung ein weichgeglühtes Material oder weist ein solches auf .
Im Folgenden werden das erfindungsgemäße Verfahren und die erfindungsgemäße Vorrichtung anhand der beigefügten
Zeichnung, in welcher identische Bezugszeichen gleiche oder identische Bauteile bezeichnen, exemplarisch erläutert. In den zum Teil stark vereinfachten Figuren gilt:
Fig. 1 zeigt schematisch vereinfacht ein Instrument einer
Ausführungsform mit zwei Sensoren und zwei Abschnitten im Normalzustand, geeignet zur Verwendung mit dem erfindungsgemäßen Verfahren;
Fig. 2 zeigt schematisch den Ablauf des erfindungsgemäßen
Verfahrens ;
Fig. 3 zeigt das Instrument der Fig. 1 in einem
bestimmungsgemäß deformierten Zustand zu einem Zeitpunkt t 2 , bei dem eine Deformation erkannt wird;
Fig. 4 zeigt das Instrument der Fig. 1 in einem
bestimmungsgemäß deformierten Zustand zu einem Zeitpunkt t3, bei dem der Deformationszustand als Normalzustand gesetzt wurde; Fig. 5 zeigt das Instrument der Fig. 1 bei angedeuteter gestörter Messung der Position des ersten Sensors; und
Fig. 6 zeigt das Instrument der Fig. 1 bei angedeuteter gestörter Messung der Position des zweiten Sensors.
Fig. 1 zeigt schematisch vereinfacht ein Instrument 1 mit einem ersten Abschnitt 5 und einem zweiten Abschnitt 3. Das Instrument weist zwischen den Abschnitten eine Trennfuge 7 auf, welche als Gelenk zwischen den Abschnitten 3 und 5 zur bestimmungsgemäß vorgesehenen Deformation des Instruments 1 bei dessen Gebrauch verstanden werden kann. In Fig. 1 ist das Instrument 1 nicht deformiert. Eine Abwinkelung im Bereich der Trennfuge 7 liegt nicht vor. Am Ende des ersten
Abschnitts 5 befindet sich eine Instrumentenspitze 9a. Der erste Abschnitt 5 weist einen ersten Sensor 15a auf, der zweiten Abschnitt 3 einen zweiten Sensor IIa.
Eine Deformation des Instruments kann auch an mehreren
Trennfugen oder ohne definierter Trennfuge 7 erfolgen. Auch vollständig elastische oder plastische Verformungen sind möglich .
Die Koordinatentransformation zwischen dem ersten Sensor 15a und der Instrumentenspitze 9a wird durch eine
Transformationsmatrix 104a dargestellt. Eine weitere
Koordinatentransformation zwischen dem zweiten Sensor IIa und der Instrumentenspitze 9a wird durch eine
Transformationsmatrix 102a dargestellt. Durch die
Koordinatentransformationen 104a und 102a wird aus
Sensorwerten (Lagedaten) des ersten und zweiten Sensors die Lage der Instrumentenspitze 9a berechnet. Es liegen folglich zwei Messungen für die Instrumentenspitze 9a zu einem
Zeitpunkt vor. Diese sind, wie in Fig. 1 dargestellt, im ungestörten und nicht deformierten Zustand (nahezu)
identisch .
Weiterhin wird eine Koordinatentransformation zwischen dem ersten Sensor 15a und einem zweiten Sensor IIa durch eine Transformationsmatrix 102a zum ersten Zeitpunkt ti
dargestellt .
Der Zustand, wie er in Fig. 1 dargestellt ist, wird im
Folgenden als Normalzustand angesehen.
Fig. 2 zeigt ein AblaufSchema des beschriebenen Verfahrens. Zu einem ersten Zeitpunkt ti liegt in 20 das Instrument wie in Fig. 1 beschrieben im Normalzustand vor.
Zu dem nachfolgenden Zeitpunkt t 2 (21: Sprung zu 30) wird in 30 die Transformationsmatrix 102a zwischen dem ersten Sensor 15a und dem zweiten Sensor IIa betrachtet. Tritt keine
Änderung zum Zeitpunkt t 2 gegenüber dem Zeitpunkt ti auf, so ist der Normalzustand weiterhin gegeben (31: Sprung zu 20). Tritt eine Änderung auf, so liegt eine Deformation oder eine Störung vor (32).
Mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens wird in 40 geprüft, ob zum dritten Zeitpunkt t 3 unverändert die Gegebenheiten vorliegen, wie sie zum zweiten Zeitpunkt t 2 vorlagen. Diese Prüfung kann unter Einsatz eines Kriteriums erfolgen. Liegt die Gegebenheit nicht unverändert vor, wird auf eine Störung geschlossen und das Verfahren in 50a weitergeführt (41). Liegt die Gegebenheit unverändert vor, wird auf eine
Deformation geschlossen und das Verfahren in 50b
weitergeführt (42) .
Bei Vorliegen einer Störung werden die Messwerte in 50a beispielsweise durch einen Filter bearbeitet. Nach der
Beseitigung der Störung liegt wieder der Normalzustand vor (51: Sprung zu 20) . Bei Vorliegen einer Deformation wird in 50b die neue
Anordnung der Sensoren zueinander (bedingt durch die
Deformation) als Normalzustand gesetzt und die neue
Transformation von dem zweiten Sensor IIa zur
Instrumentenspitze 9a berechnet und ab diesem Zeitpunkt als Normalzustand verwendet (52: Sprung zu 20).
Fig. 3 zeigt das Instrument 1 aus Fig. 1 zu einem zweiten Zeitpunkt t 2 in einer Stellung, in welcher der zweite
Abschnitt 3 bestimmungsgemäß um einen Winkel 13 gegenüber dem ersten Abschnitt 5 verdreht oder gekippt ist.
Dadurch wird die Lage der Instrumentenspitze 9a durch
Anwendung der Koordinatentransformation 100a vom zweiten Sensor IIa in seiner neuen Lage nicht korrekt dargestellt, sondern in einer um die Distanz 17a verschobenen Lage 9b. Die Koordinatentransformation 104a vom ersten Sensor 15a stellt weiterhin die Lage der Instrumentenspitze 9a korrekt dar .
Weiterhin wird eine Koordinatentransformation zwischen dem ersten Sensor 15a und dem zweiten Sensor IIa durch eine homogene Transformationsmatrix 102b zum zweiten Zeitpunkt t 2 dargestellt. Diese ist zu der Transformationsmatrix 102a zum ersten Zeitpunkt ti verändert.
Diese Transformationsmatrix 102b beruht offensichtlich auf korrekten Messergebnissen, was den zweiten Sensor IIa
betrifft. Tatsächlich ist der zweite Abschnitt 3 zum zweiten Zeitpunkt t 2 , welcher in Fig. 2 gezeigt ist, gegenüber seiner Lage im Raum zum ersten Zeitpunkt ti und auch gegenüber dem ersten Abschnitt 5 durch bestimmungsgemäße Benutzung des Instruments 1 deformiert.
Sowohl die zum zweiten Zeitpunkt t 2 veränderte
Transformationsmatrix 102b (gegenüber der Transformationsmatrix 102a zum ersten Zeitpunkt ti) , als auch die Distanz 17a zwischen der Instrumentenspitze 9a gemessen durch den ersten Sensor 15a und dem verschobenen gemessenen Punkt 9b durch den zweiten Sensor, weisen darauf hin, dass eine Deformation oder ein Störungszustand vorliegen.
Für die Frage, ob diese festgestellte Deformation nun
tatsächlich vorliegt oder Ergebnis von Messfehlern oder
Fehlern einer Auswertung ist, kann mittels des
erfindungsgemäßen Verfahrens geprüft werden, ob zu einem späteren dritten Zeitpunkt t 3 unverändert die Gegebenheiten vorliegen, wie sie zum zweiten Zeitpunkt t 2 vorlagen. Diese Prüfung kann unter Einsatz eines Kriteriums erfolgen.
Fig. 4 zeigt das Instrument der Fig. 3 zu einem dritten
Zeitpunkt t 3 . Mittels des erfindungsgemäßen Verfahrens wurde geprüft, ob die Gegebenheit, wie sie zum zweiten Zeitpunkt t 2 , vorlag, weiterhin unverändert vorliegt. Dadurch kann auf das tatsächliche Vorliegen einer Deformation geschlossen werden .
Der Deformationszustand wird von diesem Zeitpunkt als neuer Normalzustand angesehen. Dafür wird der Unterschied zwischen der Transformation 102a zum ersten Zeitpunkt und der
Transformation 102b zum zweiten bzw. dritten Zeitpunkt berechnet. Dieser wird dann der Transformation 100a vom zweiten Sensor IIa zur Instrumentenspitze 9a hinzugefügt, so dass die daraus resultierende neue Transformation 100b, die Lage der Instrumentenspitze 9a aus Sensorwerten des zweiten Sensors IIa wieder korrekt berechnet.
Fig. 5 zeigt das Instrument der Fig. 1.
Die Koordinatentransformation zwischen dem zweiten Sensor IIa und der Instrumentenspitze 9a wird durch die
Transformationsmatrix 100a dargestellt. Hervorgerufen durch eine Störung bei der Messung des ersten Sensors 15a wird allerdings eine verschobene Position 15b des ersten Sensors gemessen. Dadurch wird auch durch Verwendung der Koordinatentransformation 104a die Position der
Instrumentenspitze 9a um eine Distanz 17b verschoben gemessen (der Abschnitt 1 wird als starr angesehen) .
Dadurch wird die Koordinatentransformation zwischen dem zweiten Sensor IIa und der neuen, fehlerbehaftet gemessenen Position 15b des ersten Sensors durch die homogene
Transformationsmatrix 102c dargestellt.
Die Koordinatentransformation 100a zwischen dem zweiten
Sensor IIa und der Instrumentenspitze 9a bleibt unverändert. Dabei wird hier angenommen, dass die Störung der Messung des ersten Sensors 15a mit dem Ergebnis der neuen, gemessenen Position 15b keine Auswirkung auf die Messung des Sensors IIa hat .
Der fehlerhafte Charakter der ermittelten Position 15b des ersten Sensors kann durch Kontrolle der Position des ersten Sensors des ersten Abschnitts 3 zu einem zum dritten
Zeitpunkt t3 erfolgen, wie oben beschrieben.
Fig. 6 zeigt vereinfacht das Instrument 1 aus Fig. 1 in seinem nicht deformierten Zustand der Fig. 3.
Gegenüber Fig. 5 ist jetzt die Messung des zweiten Sensors IIa gestört. Diese wird daher als fehlerhafte Position 11c gemessen .
Dadurch wird durch die Koordinatentransformation 100a von dem zweiten Sensor IIa, jetzt gemessen als Position 11c, nicht mehr die Instrumentenspitze 9a gemessen, sondern eine um eine Distanz 17c verschoben Instrumentenspitze 9b. Auch wird die Koordinatentransformation zwischen dem zweiten Sensor, gemessen als Position 11c, und dem ersten Sensor 15a durch die neue homogene Transformationsmatrix 102d
dargestellt .
Die Koordinatentransformation 104a zwischen dem ersten Sensor 15a und der Instrumentenspitze 9 bleibt unverändert. Dabei wird angenommen, dass die Störung der Messung des Sensors IIa (mit dem Ergebnis der fehlerhaft angenommenen Position 11c) keine Auswirkung auf die Messung des Sensors 15a hat.
Wie zu den Fig. 3 bis 5 beschrieben, lässt sich auch beim Instrument der Fig. 6 durch eine Kontrolle, ob die veränderte Position des ersten Sensors oder des zweiten Sensors auch noch zu einem dritten Zeitpunkt t 3 vorliegt, feststellen, ob die gemessene Positionsänderung einen Artefakt darstellt oder einer tatsächlichen Positionsänderung entspricht.
Next Patent: HOUSING, IN PARTICULAR FOR AN ELECTRICAL CABLE CONNECTION