BÜHLMANN, Rainer (Melchiorstr. 7a, Holzwickede, 59439, DE)
THORMANN, Werner (Starenweg 12, Halver, 58553, DE)
KOBER, Sven (In der Grächt 31, Bonn, 53127, DE)
KATHOL, Meinolf (Kaisers Kamp 12, Finnentrop, 57413, DE)
WAGNER, Martin (Dürerweg 5, Lüdenscheid, 58509, DE)
BÜHLMANN, Rainer (Melchiorstr. 7a, Holzwickede, 59439, DE)
THORMANN, Werner (Starenweg 12, Halver, 58553, DE)
KOBER, Sven (In der Grächt 31, Bonn, 53127, DE)
KATHOL, Meinolf (Kaisers Kamp 12, Finnentrop, 57413, DE)
| Patentansprüche Verfahren zur Erfassung einer Schaltstellung einer zumindest ein Schaltelement (SE1 , SE2) umfassenden Schalteinrichtung, wobei die jeweilige Schaltstellung des Schaltelements (SE1 , SE2) durch einen Wert einer physikalischen Messgröße (UMi , UM2) des Schaltelements repräsentiert ist, die über einen A/D-Wandlereingang (A/D) einem Mikroprozessor (μθ) zur Auswertung zugeführt wird, umfassend die Verfahrensschritte: - Identifizieren der Schaltstellung durch Vergleich des erfassten Ist-Wertes der physikalischen Messgröße (UMi , UM2) mit vorgegebenen, festen Soll- Werten für die verschiedenen Schaltstellungen - Berechnen eines abgeleiteten Wertes einer physikalischen Vergleichsgröße (Uges) für die identifizierte Schaltstellung mittels eines auf den Nennwerten der die Messgröße (UMi , UM2) bestimmenden Bauelemente (M1 , M2, S1 1 , S12, S13, S21 , S22, S23, S24) und Eingangsgrößen (UVcc) der Schalteinrichtung basierenden physikalischen Modells der Schalteinrichtung unter Verwendung des erfassten Ist-Wertes der physikalischen Messgröße (UMi , UM2) - Bilden eines Differenzwertes (U Diff) zwischen dem abgeleiteten Wert der physikalischen Vergleichsgröße (Uges) und dem vorgegebenen Nennwert (Vcc) oder einem aktuell erfassten Ist-Wert (Uvcc) der physikalischen Vergleichsgröße - Vergleich des Differenzwertes (UDiff) mit einem Differenz-Schwellwert (UDiff-s) und Qualifizierung der vorliegenden Schaltstellungserfassung als fehlerhaft bei Überschreitung des Differenz-Schwellwerts (I s) durch den aktuellen Differenzwert (UDiff) Verfahren nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass bei einer Qualifizierung der vorliegenden Schaltstellungserfassung als fehlerhaft das Auslö- sen der damit verbundenen Fahrzeugfunktion unterbunden wird. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das zumindest eine Schaltelement (SE1 , SE2) der Schalteinrichtung durch einen einerseits mit einem Massepotential (Gnd) verbundenen und andererseits in jeder Schaltstellung über einen dieser Schaltstellung jeweils zugeordneten Schaltwiderstand (S1 1 , S12, S13; S21 , S22, S23, S24) mit einer konstanten Versorgungsspannung (Vcc) verbindbaren Messwiderstand (M1 , M2) gebildet ist, und dass die physikalische Messgröße die in der jeweiligen Schaltstellung über dem Messwiderstand abfallende Messspannung (UMi , UM2) ist. Verfahren zur Erfassung einer Schaltstellung einer zumindest zwei Schaltelemente (SE1 , SE2) umfassenden Schalteinrichtung, welche Schaltelemente (SE1 , SE2) jeweils einen Widerstandszweig mit einem Messwiderstand (M1 , M2) und zumindest zwei Schaltwiderständen (S1 1 , S12, S13; S21 , S22, S23, S24) umfassen, wobei der eine Anschluss des Messwiderstands (M1 , M2) mit einem Massepotential (Gnd) verbunden ist und der andere Anschluss in jeder Schaltstellung über einen dieser Schaltstellung jeweils zugeordneten Schaltwiderstand (S1 1 , S12, S13; S21 , S22, S23, S24) mit einer konstanten Versorgungsspannung (Vcc) verbunden wird, wobei die Widerstandszweige parallel zueinander geschaltet, und durch gemeinsame elektrische Leitungen einerseits mit dem Massepotential (Gnd) und andererseits mit der Versorgungsspannung (Vcc) verbunden sind, und wobei die über den Messwiderständen (M1 , M2) abfallenden Messspannungen (UMI , UM2) über A/D-Wandlereingänge (A/D 1 , A/D 2) einem Mikroprozessor (μθ) zur Auswertung zugeführt werden, umfassend die Verfahrensschritte: - Erfassen der Messspannungen (UM1 , UM2) in den Widerstandszweigen der den unterschiedlichen Funktionen zugeordneten Schaltelemente (SE1 , SE2) - Identifizieren der jeweiligen Schaltstellungen durch Vergleich der erfassten Ist-Werte der Messspannungen (UM1 , UM2) mit vorgegebenen, festen Soll-Werten für die verschiedenen Schaltstellungen - Berechnen der in den jeweiligen Widerstandszweigen fließenden Zweigströme (11 , 12) aus den erfassten Messspannungen (UM1 , UM2) und den Nominalwerten der Messwiderstände (M1 , M2) - Addieren der in den jeweiligen Widerstandszweigen fließenden Zweigströme (11 , 12) zu dem durch alle parallelen Widerstandszweige gemeinsam fließenden Gesamtstrom (Iges) - Berechnen des durch die Parallelschaltung aller Widerstandszweige gebildeten Gesamtwiderstands (Rges) zwischen dem Massepotential (Gnd) und der Versorgungsspannung (Vcc) aus den Nominalwerten der Messwiderstände (M1 , M2) und der in den identifizierten Schaltstellungen wirksamen Schaltwiderstände (S1 1 , S12, S13 ; S21 , S22, S23, S24) - Berechnen des Gesamtspannungsabfalls (Uges) über der Parallelschaltung aller Widerstandszweige aus den berechneten Werten des Gesamtstroms (Iges) und des Gesamtwiderstands (Rges) - Bilden eines Spannungs-Differenzwertes (UDiff) zwischen dem berechneten Gesamtspannungsabfall (Uges) und dem vorgegebenen oder gemessenen Wert der anliegenden Versorgungsspannung (Vcc ; UVcc) - Vergleich des Spannungs-Differenzwertes (UDiff) mit einem Differenz- Schwellwert (UDiff-S) und Qualifizierung der vorliegenden Schaltstel- lungserfassung als fehlerhaft bei Überschreitung des Differenz- Schwellwerts (UDiff-S) durch den aktuellen Spannungs-Differenzwert (U- Diff) Verfahren zur Erfassung einer Schaltstellung einer zumindest zwei Schaltelemente (SE1 , SE2) umfassenden Schalteinrichtung, welche Schaltelemen- te (SE1 , SE2) jeweils einen Widerstandszweig mit einem Messwiderstand (M1 , M2) und zumindest zwei Schaltwiderständen (S1 1 , S1 2, S1 3; S21 , S22, S23, S24) umfassen, wobei der eine Anschluss des Messwiderstands (M1 , M2) mit einem Massepotential (Gnd) verbunden ist und der andere Anschluss in jeder Schaltstellung über einen dieser Schaltstellung jeweils zugeordneten Schaltwiderstand (S1 1 , S12, S1 3; S21 , S22, S23, S24) mit einer konstanten Versorgungsspannung (Vcc) verbunden wird, wobei die Widerstandszweige parallel zueinander geschaltet, und durch gemeinsame elektrische Leitungen einerseits mit dem Massepotential (Gnd) und andererseits mit der Versorgungsspannung (Vcc) verbunden sind, und wobei die über den Messwiderständen (M1 , M2) abfallenden Messspannungen (UMi , UM2) über A/D-Wandlereingänge (A/D 1 , A/D 2) einem Mikroprozessor (μθ) zur Auswertung zugeführt werden, umfassend die Verfahrensschritte: - Erfassen der Messspannungen (UMi , UM2) in den Widerstandszweigen der den unterschiedlichen Funktionen zugeordneten Schaltelemente (SE1 , SE2) - Identifizieren der jeweiligen Schaltstellungen durch Vergleich der erfassten Ist-Werte der Messspannungen (UMi , UM2) mit vorgegebenen, festen Soll- Werten für die verschiedenen Schaltstellungen - Berechnen der in den jeweiligen Widerstandszweigen fließenden Zweigströme (11 , 12) aus den erfassten Messspannungen (UMI , UM2) und den Nominalwerten der Messwiderstände (M1 , M2) - Berechnen der über den jeweiligen Widerstandszweigen abfallenden Zweigspannungsabfälle (U1 , U2) aus den in diesen fließenden Zweigströmen (11 , 12) und den jeweiligen Nominalwerten der Messwiderstände (M1 , M2) der in den identifizierten Schaltstellungen wirksamen Schaltwider- stände(S1 1 , S1 2, S1 3; S21 , S22, S23, S24) - Bilden eines Spannungs-Differenzwertes (Upiff) zwischen dem größten der berechneten Zweigspannungsabfälle (Umax) und dem vorgegebenen oder gemessenen Wert der anliegenden Versorgungsspannung (Vcc; Uvcc) - Vergleich des Spannungs-Differenzwertes (UDiff) mit einem Differenz- Schwellwert (Uoitf-s) und Qualifizierung der vorliegenden Schaltstellungserfassung als fehlerhaft bei Überschreitung des Differenz-Schwellwerts (UDiff-s) durch den aktuellen Spannungs-Differenzwert (UDiff) Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass bei einer Qualifizierung der vorliegenden Schaltstellungserfassung als fehlerhaft die folgenden weiteren Verfahrensschritte durchlaufen werden: - Berechnung jeweils eines Skalierungsfaktors (SF1 , SF2) für jeden Widerstandszweig als Quotient aus dem vorgegebenen oder gemessenen Wert der anliegenden Versorgungsspannung (Vcc; Uvcc) und dem jeweiligen Zweigspannungsabfall (U1 , U2) - Bilden skalierter Messspannungswerte (UMi skai , UM2 skai) als Produkt der erfassten Messspannung Messspannungen (UMi , UM2)mit dem berechneten Skalierungsfaktor (SF1 , SF2) für den jeweiligen Widerstandszweig - Neu-Identifizieren der jeweiligen Schaltstellungen durch Vergleich der skalierten Messspannungswerte (UMi skai , UM2 skai) mit den vorgegebenen, festen Soll-Werten für die verschiedenen Schaltstellungen Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Verfahrensschritte in einer kontinuierlich ablaufenden Schleife immer wiederholt durchlaufen werden. |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erfassung einer Schaltstellung einer zumindest ein Schaltelement umfassenden Schalteinrichtung, wobei die jeweilige Schaltstellung des Schaltelements durch einen Wert einer physikalischen Messgröße des Schaltelements repräsentiert ist, die über einen A/D-Wandlereingang einem Mikroprozessor zur Auswertung zugeführt wird.
Derartige Schalteinrichtungen werden beispielsweise in Kraftfahrzeugen einge- setzt, um verschiedene Fahrzeugfunktionen anzusteuern. So ist es z.B. üblich eine mehrere Einzelschalter umfassende Schalteinrichtung in einem so genannten Lenksäulenmodul für ein Kraftfahrzeug zu integrieren. Die Einzelschalter sind dabei beispielsweise zur Steuerung der Scheibenwisch- und Waschanlage, der Blinker und der Fernlichtumschaltung des Fahrzeugs vorgesehen.
In der einzigen Figur ist ein Ersatzschaltbild einer zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens vorgesehenen Schalteinrichtung gezeigt, bei der es sich um ein mehrere Schaltelemente umfassendes Lenksäulenmodul für ein Kraftfahrzeug, wie zuvor beschrieben, handelt. Bei diesem sind die Schaltelemente den genannten Fahrzeugfunktionen zugeordnet. Jedes der Schaltelemente SE1 , SE2 (hier sind beispielhaft nur zwei Schaltelemente dargestellt, wobei die tatsächliche Ausführung natürlich mehr aufweisen kann) umfasst dabei einen Messwiderstand M1 , M2, der mit seinem einen Anschluss mit einem Massepotential Gnd verbunden ist. Der andere Anschluss des Messwiderstands M1 , M2 wird in jeder Schalt- Stellung über einen dieser Schaltstellung jeweils zugeordneten Schaltwiderstand S1 1 , S12, S13; S21 , S22, S23, S24 mit einer konstanten Versorgungsspannung Vcc verbunden. Die Anzahl der in den Schaltelementen SE1 ., SE2 jeweils vorhandenen Schaltwiderstände S1 1 , S12, S13; S21 , S22, S23, S24 richtet sich nach der Anzahl der mit dem jeweiligen Schaltelement Sei bzw. SE2 zu realisierenden Schaltstellungen, in diesem Beispiel also 3 Schaltstellungen für SE1 und 4 Schaltstellungen für SE2. Die dabei über dem Messwiderstand M1 , M2 abfallende Messspannung U MI , UM 2 wird über einen A/D-Wandlereingang A/D 1 , A/D 2 einem Mikroprozessor μθ zur Auswertung zugeführt.
Die Widerstandszweige der den unterschiedlichen Funktionen zugeordneten Schaltelemente SE1 , SE2 der Schalteinrichtung sind, wie in der Zeichnung zu sehen, parallel zueinander geschaltet, und mit ihren der jeweils ausgewählten Schaltstellung entsprechenden Schaltwiderständen (im dargestellten Beispiel S1 1 , S23) durch eine gemeinsame elektrische Leitung mit der Versorgungsspannung Vcc verbunden.
Aus den bekannten Nenngrößen der Messwiderstände M1 , M2, der den jeweiligen Schaltstellungen zugeordneten Schaltwiderstände S1 1 , S1 2, S1 3; S21 , S22, S23, S24 sowie der anliegenden Versorgungsspannung Vcc, die im vorliegenden Beispiel auch messtechnisch über einen A/D-Wandlereingang A/D 3 des Mikropro- zessors μθ mit ihrem Ist-Wert U Vc c erfasst wird, ergeben sich vorgegebene, feste Soll-Werte für die den verschiedenen Schaltstellungen der Schaltelemente SE1 , SE2 jeweils zugeordneten Spannungsabfälle über den Messwiderständen M1 , M2,also den Messspannungen U M i , U M2 - Aufgrund von Toleranzen der eingesetzten Bauteile sowie von Leitungswiderständen oder Übergangswiderständen an Umschaltern oder Steckverbindungen ergeben sich jedoch Abweichungen der tatsächlichen wirksamen Widerstände von den auslegungsgemäßen Nennwerten. Dieser Umstand beeinflusst die gesamte Schalteinrichtung, und kann damit zum Teil deutliche Abweichungen der tatsäch- lieh erfassten Messspannungswerte U MI , UM 2 Von den vorgegebenen, festen Soll- Werten hervorrufen.
Wenn die hierbei auftretenden Abweichungen die Größenordnung der Abstände zwischen den jeweils unterschiedlichen Schaltstellungen zugeordneten Mess- Spannungen UMI , UM2 erreichen, kann es zu fehlerhaften Schaltstellungsinforma- tionen und damit zu Fehlfunktionen der mit der Schalteinrichtung betriebenen Fahrzeugeinrichtungen kommen. Grundsätzlich ist es daher wünschenswert über eine Möglichkeit zur Validierung der aus den erfassten Messspannungen UMI , UM2 abgeleiteten Schaltstellungserfassung zu verfügen, um im Falle einer als potentiell fehlerbehaftet qualifizierten Schaltstellungsinformation zumindest das Auslösen der damit verbundenen und zumindest potentiell unerwünschten Fahrzeugfunktion zu unterbinden. Weiterhin wünschenswert wäre es, nach Möglichkeit sogar die fehlerhafte Schaltstellungsinformation zu korrigieren und die tatsächlich beabsichtigte Funktion auszulösen.
Eine solche Validierung einer Schaltstellungserfassung leistet das erfindungsgemäße Verfahren zur Erfassung einer Schaltstellung einer zumindest ein Schaltelement umfassenden Schalteinrichtung, wobei die jeweilige Schaltstellung des Schaltelements durch einen Wert einer physikalischen Messgröße des Schaltelements repräsentiert ist, die über einen A/D-Wandlereingang einem Mikroprozessor zur Auswertung zugeführt wird, mit den im Patentanspruch 1 angegebenen Verfahrensschritten. Bei den in diesem Patentanspruch genannten physikalischen Messgrößen handelt es sich beispielsweise um Spannungswerte oder Stromstärkewerte, bei den Nennwerten der die Messgröße bestimmenden Bauelemente um Widerstandswerte, Kapazitätswerte oder Induktivitätswerte und bei den Eingangsgrößen der Schalteinrichtung um Versorgungsspannungswerte oder Eingangsstromstärkewer- te. Die physikalische Vergleichsgröße betrifft beispielsweise einen dieser genannten Werte, der als abgeleiteter Wert aus anderen (Mess-)werten berechnet, als Nennwert vorgegeben oder als Ist-Wert durch eine aktuelle Messung erfasst sein kann.
Bevorzugt wird bei einer Qualifizierung der vorliegenden Schaltstellungserfassung als fehlerhaft das Auslösen der damit verbundenen Fahrzeugfunktion unterbunden.
Bezogen auf eine gemäß der Zeichnung ausgeführte Form der Schalteinrichtung, die zumindest zwei Schaltelemente SE1 , SE2 umfasst, welche wiederum jeweils einen Widerstandszweig mit einem Messwiderstand M1 , M2 und zumindest zwei Schaltwiderständen S1 1 , S12, S13; S21 , S22, S23, S24 umfassen, wobei der eine Anschluss des Messwiderstands M1 , M2 mit einem Massepotential Gnd verbunden ist und der andere Anschluss in jeder Schaltstellung über einen dieser Schalt- Stellung jeweils zugeordneten Schaltwiderstand S1 1 , S12, S13; S21 , S22, S23, S24 mit einer konstanten Versorgungsspannung Vcc verbunden wird, wobei die Widerstandszweige parallel zueinander geschaltet, und durch gemeinsame elektrische Leitungen einerseits mit dem Massepotential Gnd und andererseits mit der Versorgungsspannung Vcc verbunden sind, und wobei die über den Messwider- ständen M1 , M2 abfallenden Messspannungen U M i , U M 2 über A/D-Wandler- eingänge A/D 1 , A/D 2 einem Mikroprozessor μθ zur Auswertung zugeführt werden, ist das erfindungsgemäße Verfahren in einer Ausführungsform vorgesehen, die durch die Abfolge der folgenden Verfahrensschritte charakterisiert ist: - Erfassen der Messspannungen UMI , UM2 in den Widerstandszweigen der den unterschiedlichen Funktionen zugeordneten Schaltelemente SE1 , SE2
Identifizieren der jeweiligen Schaltstellungen durch Vergleich der erfassten Ist- Werte der Messspannungen U M i , U M 2 mit vorgegebenen, festen Soll-Werten für die verschiedenen Schaltstellungen
- Berechnen der in den jeweiligen Widerstandszweigen fließenden Zweigströme 11 , 12 aus den erfassten Messspannungen U M i , U M 2 und den Nominalwerten der Messwiderstände M1 , M2:
I1 = M1 * UMI ; I2 = M2 * U M2 Addieren der in den jeweiligen Widerstandszweigen fließenden Zweigströme 11 , 12 zu dem durch alle parallelen Widerstandszweige gemeinsam fließenden Gesamtstrom Iges:
Iges = 11 + 12
Berechnen des durch die Parallelschaltung aller Widerstandszweige gebildeten Gesamtwiderstands Rges zwischen dem Massepotential Gnd und der Ver- sorgungsspannung Vcc aus den Nominalwerten der Messwiderstände M1 , M2 und der in den identifizierten Schaltstellungen wirksamen Schaltwiderstände (im dargestellten Beispiel S1 1 , S23):
R1 = M1 + S1 1 ; R2 = M2 + S23 ; Rges = R1 * R2 / (R1 +R2)
Berechnen des Gesamtspannungsabfalls Uges über der Parallelschaltung aller Widerstandszweige aus den berechneten Werten des Gesamtstroms Iges und des Gesamtwiderstands Rges: Uges = Iges * Rges
Bilden eines Spannungs-Differenzwertes U D iff zwischen dem berechneten Gesamtspannungsabfall Uges und dem vorgegebenen oder gemessenen Wert der anliegenden Versorgungsspannung Vcc bzw. Uvcc :
UDiff = Uvcc - Uges
Vergleich des Spannungs-Differenzwertes UDiff mit einem Differenz- Schwellwert lÜDiff-s und Qualifizierung der vorliegenden Schaltstellungserfas- sung als fehlerhaft bei Überschreitung des Differenz-Schwellwerts U DM-S durch den aktuellen Spannungs-Differenzwert Uoitt :
Uoiff - Uoiff-s <= 0 -»· i.O. ; U D iff - U D iff-s > 0 -»· „Fehler"
Diese einfache Variante des erfindungsgemäßen Verfahrens zielt auf die Feststellung von Fehlern ab, die insbesondere in den alle Widerstandszweige gleichermaßen betreffenden, gemeinsamen Zuleitungen auftreten können. Solche Fehler die nur in einem einzelnen der Widerstandszweige auftreten sind mit einer Weiterbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens zu erfassen, die auch eine Kompensation dieser Fehler ermöglicht, so dass eine verbesserte Verfügbarkeit der Schalteinrichtung gegeben ist. Die Verfahrensschritte dieser Weiterbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens sind bis zum dritten Schritt identisch mit dem zuvor beschriebenen einfacheren Variante, so dass die beiden Verfahren durchaus parallel betrieben werden können. Sie sind wieder beschrieben anhand der gemäß der Zeichnung ausgeführten Form der Schalteinrichtung:
Erfassen der Messspannungen UMI , UM2 in den Widerstandszweigen der den unterschiedlichen Funktionen zugeordneten Schaltelemente SE1 , SE2
Identifizieren der jeweiligen Schaltstellungen durch Vergleich der erfassten Ist- Werte der Messspannungen UMI , UM2 mit vorgegebenen, festen Soll-Werten für die verschiedenen Schaltstellungen
Berechnen der in den jeweiligen Widerstandszweigen fließenden Ströme 11 , 12 aus den erfassten Messspannungen UMI , UM2 und den Nominalwerten der Messwiderstände M1 , M2: - Berechnen der über den jeweiligen Widerstandszweigen abfallenden Zweigspannungsabfälle aus den in diesen fließenden Zweigströmen und den jeweiligen Nominalwerten der Messwiderstände der in den identifizierten Schaltstellungen wirksamen Schaltwiderstände (im dargestellten Beispiel S1 1 , S23) : U1 = 11 * (M1 + S1 1 ) ; U2 = 12 * (M2 + S23)
Bilden eines Spannungs-Differenzwertes Upiff zwischen dem größten der berechneten Zweigspannungsabfälle Umax und dem vorgegebenen oder gemessenen Wert der anliegenden Versorgungsspannung Vcc bzw. U Vc c :
UDift = Uvcc - Umax (Umax = max von U1 , U2)
Vergleich des Spannungs-Differenzwertes U D ift mit einem Differenz- Schwellwert U oitf-s und Qualifizierung der vorliegenden Schaltstellungserfas- sung als fehlerhaft bei Überschreitung des Differenz-Schwellwerts U Ditt-s durch den aktuellen Spannungs-Differenzwert UDift :
Uoitf - Uoiff-s <= 0 -»· i.O. ; U Dm - U Di ff-s > 0 -»· „Fehler"
Der Spannungs-Differenzwert U D iff zur anliegenden Versorgungsspannung U Vcc wird immer mit dem größten der berechneten Zweigspannungsabfälle U1 , U2 gebildet, da dieser durch die Parallelschaltung der Widerstandszweige das Spannungsniveau aller Zweige festlegt. Geringere Spannungsabfälle in den anderen Zweigen müssen daher durch Störwiderstände innerhalb dieser Zweige verursacht worden sein. Im pathologischen Fall nur eines einzigen Widerstandszweiges ist das zuletzt beschriebene Verfahren mit dem davor beschriebenen, einfacheren identisch.
Zur Kompensation von Störungen und damit zur Korrektur möglicher Messfehler werden in einer vorteilhaften Weiterbildung des Verfahrens die im vorletzten Schritt der zuletzt beschriebenen Abfolge von Verfahrensschritten ermittelten Zweigspannungsabfälle U1 , U2 auf die auslegungsgemäße oder gemessene Ver- sorgungsspannung Vcc bzw. U Vc c hochskaliert. Dazu wird für jeden Widerstandszweig ein Skalierungsfaktor SF1 , SF2 berechnet, der durch den Quotienten aus dem vorgegebenen Vcc oder gemessenen Wert Uvcc der anliegenden Versorgungsspannung und dem jeweiligen Zweigspannungsabfall U1 , U2 gebildet ist: SF1 = U Vcc / U1 ; SF2 = U Vcc / U2
Die erfassten Messspannungen UMI , UM2 in den jeweiligen Zweigen werden im nächsten Schritt mit den ermittelten Skalierungsfaktoren SF1 , SF2 multipliziert und die erhaltenen Ergebnisse wie gehabt mit den vorgegebenen, festen Soll-Werten für die verschiedenen Schaltstellungen verglichen: skal = SF1 * UMI I skal = SF2 * UM2
Durch die Skalierung sind mögliche Fehlereinflüsse, die Abweichungen der erfass- ten Messspannungen UMI , UM2 von den auslegungsgemäß erwarteten Werten verursachen, kompensiert, so dass eine sicherere Identifikation der tatsächlichen Schaltstellungen mittels der skalierten Messspannungen U M i skai , U M 2 skai ermöglicht ist. Durch kontinuierliche Anwendung des beschriebenen Verfahrens während der Schaltstellungserfassung ist eine effektive Überwachung möglicher Störeinflüsse möglich. Der frei definierbare Differenz-Schwellwert Uoitt-s kann auch lediglich zur Signalisierung eines Fehlerfalls herangezogen werden, ohne in die Funktion ein- zugreifen.
Langsame oder phasenweise konstante Widerstandsänderungen können auf Basis des erfindungsgemäßen Verfahrens gut kompensiert werden. Damit steht das gesamte Zustands-Erkennungs-Fenster für sprunghafte Widerstandsänderungen zur Verfügung. Dies steigert deutlich die Verfügbarkeit.
Next Patent: MEDICAL DEVICE COMPRISING A MULTIPART HOUSING