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Title:
METHOD FOR DETERMINING A TEMPERATURE IN A WINDING OF SUBCONDUCTORS OF AN ELECTRIC MACHINE
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2012/171768
Kind Code:
A2
Abstract:
The invention relates to a method for determining a temperature at a predetermined location in a winding of subconductors (2) of an electric machine, each subconductor being encased in electric subconductor insulation (3), and said method comprising the following steps: predetermining the location between one of the subconductors (2) and the associated subconductor insulation (3); arranging, in said winding, an optical fibre (5) with a sensor material piece (9) that is fixed to the predetermined location, the optical properties of said sensor material piece (9) being temperature-dependent and uninfluenced by stretching; exposing the sensor material piece (9) to light via the optical fibre (5) such that, following an interaction with the sensor material piece (9), light is emitted from said sensor material piece (9); measuring the spectrum of the light; and using this spectrum to determine the temperature at the predetermined location.

Inventors:
ROEDING ROLAND (DE)
ADOLF HAIKO (DE)
BANDA MARCUS (DE)
KEYSSNER NORBERT (DE)
TREFFLICH LOTHAR (DE)
Application Number:
PCT/EP2012/059662
Publication Date:
December 20, 2012
Filing Date:
May 24, 2012
Export Citation:
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Assignee:
SIEMENS AG (DE)
ROEDING ROLAND (DE)
ADOLF HAIKO (DE)
BANDA MARCUS (DE)
KEYSSNER NORBERT (DE)
TREFFLICH LOTHAR (DE)
International Classes:
G01K11/32; G01K1/14
Foreign References:
US20060250683A12006-11-09
DE19507941A11995-09-14
JPH0880011A1996-03-22
US4278349A1981-07-14
DE19962668C12000-12-07
Other References:
None
Attorney, Agent or Firm:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT (DE)
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Claims:
Patentansprüche

1. Verfahren zum Ermitteln einer Temperatur an einem

vorherbestimmten Ort in einer Wicklung von Teilleitern (2) einer elektrischen Maschine, die jeweils mit einer

elektrischen Teilleiterisolation (3) ummantelt sind, mit den Schritten :

- Vorherbestimmen des Orts zwischen einem der Teilleiter (2) und der zugehörigen Teilleiterisolation (3) ;

- Anordnen einer Glasfaser (5) mit einem Sensormaterialstück (9) in der Wicklung, wobei das Sensormaterialstück (9) an den vorherbestimmten Ort angebracht wird und die optischen

Eigenschaften des Sensormaterialstücks (9) temperaturabhängig und nicht-dehnungsbeeinflusst sind;

- Belichten des Sensormaterialstücks (9) via die Glasfaser (5) , so dass nach einer Wechselwirkung mit dem

Sensormaterialstück (9) Licht von dem Sensormaterialstück (9) emittiert wird;

- Erfassen des Spektrums des Lichts;

- Ermitteln der Temperatur an dem vorherbestimmten Ort mit dem Spektrum.

2. Verfahren gemäß Anspruch 1,

wobei das Sensormaterialstück (9) unmittelbar von dem

Teilleiter (2) kontaktiert wird.

3. Verfahren gemäß Anspruch 1 oder 2,

wobei das Sensormaterialstück (9) an dem Ende der Glasfaser (8) befestigt ist, das an dem vorherbestimmten Ort angeordnet wird.

4. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 3,

wobei das Sensormaterialstück (9) einen Halbleiter,

insbesondere einen Galliumarsenidkristall , aufweist.

5. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4,

wobei der vorherbestimmte Ort ein vorherberechneter Heißpunkt der Wicklung ist.

6. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei das Sensormaterialstück (9) in einer Aussparung (7) angebracht wird, die in einem der Teilleiter (2) vorgesehen ist .

7. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 6,

wobei die Glasfaser (5) in einer Ummantelung gelagert ist.

8. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 7,

wobei eine Mehrzahl an Orten verteilt über die Länge der Wicklung vorherbestimmt wird.

Description:
Beschreibung

Verfahren zum Ermitteln einer Temperatur in einer Wicklung von Teilleitern einer elektrischen Maschine

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Ermitteln einer Temperatur in einer Wicklung von Teilleitern einer

elektrischen Maschine. In einer elektrischen Maschine mit einer hohen

Klemmenleistung, wie z.B. ein Kraftwerksgenerator, werden herkömmlich elektrische Leiter mit einer hohen elektrischen Leitfähigkeit eingebaut. Vergrößert man den Querschnitt eines elektrischen Leiters, so steigt die Leitfähigkeit aufgrund von in dem Leiter auftretenden Wirbelströmen jedoch nicht in gleichem Maße an. Deswegen ist in der elektrischen Maschine ein sogenannter Roebelstab verwendet, der eine Transposition von elektrischen Teilleitern aufweist, wobei jeder der

Teilleiter von einer elektrischen Teilleiterisolation

ummantelt ist. Die Wicklung kann dabei zusätzlich von einer Hauptisolation ummantelt sein.

Im Betrieb der Maschine erwärmt sich der Roebelstab,

insbesondere durch den durch ihn fließenden Strom. Zu einer Verlängerung der Lebensdauer des Roebelstabes wird der

Roebelstab so ausgelegt, dass hohe Temperaturen vermieden werden. Dazu ist eine Kenntnis der Temperatur des

Roebelstabes im Betrieb der Maschine erforderlich,

insbesondere ist die Kenntnis der Temperatur des heißesten Orts, dem sogenannten Heißpunkt, erforderlich. Der Heißpunkt befindet sich zwischen dem heißesten Teilleiter und seiner Teilleiterisolation.

Zum Messen der Temperatur des Roebelstabes stehen

verschiedene Verfahren zu Verfügung. Herkömmlich wird ein elektrisches Widerstandsthermometer oder ein Thermoelement in den Zwischenschieber der Wicklung eingebracht. Jedoch sind das Widerstandsthermometer oder das Thermoelement nicht geeignet um die Temperatur direkt an dem Teilleiter zu messen, sondern sie werden lediglich eingesetzt, um

Temperaturen innerhalb der Nut, aber außerhalb der

Hauptisolation zu messen.

Alternativ wird eine Glasfaser verwendet, welche elektrisch nicht leitend ist. Dabei wird eine Glasfaser verwendet, an dessen Ende ein sogenannter Bragg-Sensor angeordnet ist. In dem Bragg-Sensor ist mittels eines Lasers eine periodische Modulation der Brechzahl in die Glasfaser eingeschrieben.

Diese periodische Modulation wirkt wie ein Interferenzfilter, bei dem nach Belichten des Interferenzfilters Licht mit einem vorherbestimmten Spektrum zurückreflektiert wird. Die

Zentralwellenlänge des Spektrums hängt von dem Abstand von zwei benachbarten Brechzahlmaxima in der periodischen

Modulation ab. Bei einer Temperaturerhöhung dehnt sich der Bragg-Sensor aus, wodurch sich der Abstand der

Brechzahlmaxima vergrößert und sich die Zentralwellenlänge des Spektrums verändert.

An dem dem Bragg-Sensor abgewandten Ende der Glasfaser ist eine Lichtquelle angeordnet, mit welcher der Bragg-Sensor belichtet wird. Das Spektrum des von dem Bragg-Sensor

zurückreflektierten Lichts wird gemessen und aus dem Spektrum wird die Temperatur des Bragg-Sensors bestimmt. Wird der

Bragg-Sensor an einen Teilleiter aus Kupfer angebracht, so entsteht aufgrund der Temperaturerhöhung eine

Differenzdehnung zwischen dem Sensor und dem Teilleiter, weil Glas und Kupfer unterschiedlichen

Wärmeausdehnungskoeffizienten aufweisen. Die

Differenzspannung stört die Messung, so dass die Genauigkeit der Messung stark abnimmt. Abhilfe schafft den Bragg-Sensor von einer Glaskapillare zu ummanteln, in der sich der Bragg- Sensor ausdehnen kann, ohne äußere Spannungen zu erfahren. Der Bragg-Sensor zusammen mit der Glaskapillare hat eine so große Erstreckung, dass er nicht zwischen dem Teilleiter und der Teilleiterisolation eingebracht werden kann, sondern er wird in die Wicklung zwischen den Teilleiterisolationen eingebracht. Dadurch beträgt der Abstand des Bragg-Sensors zu dem Heißpunkt etwa 2 mm bis 3 mm. Als Folge nimmt die

Genauigkeit der Messung der Temperatur des Heißpunktes stark ab .

Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zum Ermitteln einer Temperatur an einem vorherbestimmten Ort in er Wicklung von Teilleitern einer elektrischen Maschine zu schaffen, wobei das Verfahren eine hohe Genauigkeit hat.

Das erfindungsgemäße Verfahren zum Ermitteln einer Temperatur an einem vorherbestimmten Ort in einer Wicklung von

Teilleitern einer elektrischen Maschine, die jeweils mit einer elektrischen Teilleiterisolation ummantelt sind, weist folgende Schritte auf: Vorherbestimmen des Orts zwischen einem der Teilleiter und der zugehörigen Teilleiterisolation; Anordnen einer Glasfaser mit einem Sensormaterialstück in der Wicklung, wobei das Sensormaterialstück an den

vorherbestimmten Ort angebracht wird und die optischen

Eigenschaften des Sensormaterialstücks temperaturabhängig und nicht-dehnungsbeeinflusst sind; Belichten des

Sensormaterialstücks via die Glasfaser, so dass nach einer Wechselwirkung mit dem Sensormaterialstück Licht von dem Sensormaterialstück emittiert wird; Erfassen des Spektrums des Lichts; Ermitteln der Temperatur an dem vorherbestimmten Ort mit dem Spektrum. Das erfindungsgemäße Verfahren erlaubt es vorteilhaft, die Temperatur an einem Heißpunkt der

Wicklung und im Betrieb der elektrischen Maschine zu messen. Das Sensormaterialstück wird bevorzugt von dem Teilleiter kontaktiert. Ferner ist das Sensormaterialstück bevorzugt an dem Ende der Glasfaser befestigt, das an dem vorherbestimmten Ort angeordnet wird. Das Sensormaterialstück weist bevorzugt einen Halbleiter, insbesondere einen Galliumarsenidkristall , auf. Galliumarsenid ist ein Halbleiter, welcher sich durch eine geringe Energiedifferenz zwischen dem Valenzband und dem Leitungsband, der sogenannten Bandlücke, auszeichnet. Licht, dessen Energie höher als die Energiedifferenz der Bandlücke ist, wird unter Anheben eines Elektrons vom Valenzband in das Leitungsband absorbiert. An dem dem Sensor abgewandten Ende der Glasfaser ist eine Lichtquelle angeordnet, mit welcher der Galliumarsenidkristall belichtet wird. Das Spektrum von dem Galliumarsenidkristall zurückreflektierten Licht wird gemessen. Dabei zeigt sich, dass Licht mit kürzeren

Wellenlängen als eine sogenannte Bandkante absorbiert wird. Die spektrale Lage der Bandkante hängt von der Temperatur ab und verschiebt sich mit ca. 0,4 nm/K. Aus dem Spektrum wird die Bandkante und daraus die Temperatur des

Galliumarsenidkristalls bestimmt .

Der vorherbestimmte Ort ist bevorzugt ein vorherberechneter Heißpunkt der Wicklung. Bevorzugtermaßen wird das

Sensormaterialstück in einer Aussparung angebracht, die in einem der Teilleiter vorgesehen ist. Ferner ist die Glasfaser bevorzugt in einer Ummantelung gelagert. Außerdem wird bevorzugt eine Mehrzahl an Orten verteilt über die Länge der Wicklung vorherbestimmt.

Im Folgenden wird anhand der beigefügten schematischen

Zeichnungen die Erfindung näher erläutert. Die Figurl und die Figur 2 verschiedene Ansichten von zeigen perspektivische Darstellungen eines Schnitts eines Roebelstabes mit einer nach dem erfindungsgemäßen Verfahren vorgesehenen Glasfaser.

Wie es aus Figur 1 ersichtlich ist, weist der Roebelstab 1 elektrische Teilleiter 2 mit einem rechteckigen Querschnitt auf, die jeweils von einer Teilleiterisolation 3 ummantelt sind. Die Teilleiter 2 sind übereinander und nebeneinander gestapelt, wobei die Gesamtheit der Teilleiter von einer Hauptisolation 4 ummantelt ist. Zwischen der Hauptisolation 4 und dem obersten Teilleiter 2 ist eine Glasfaser 5 zwischen zwei Abstandshaltern 6 angeordnet. Die Glasfaser ist dabei in Längsrichtung des Roebelstabes 1 geführt. Im obersten

Teilleiter 2 ist eine Aussparung 7 vorgesehen. Wie es aus Figur 2 ersichtlich ist, ist das Ende der Glasfaser 8 in der Aussparung 7 angebracht. Am Ende der Glasfaser 8 ist ein Sensormaterialstück 9 angeordnet.

Anhand eines Beispiels wird im Folgenden das erfindungsgemäße Verfahren näher erläutert.

Eine Mehrzahl an Heißpunkten des Roebelstabes 1 wird

vorherberechnet. An jedem der vorherberechneten Heißpunkte wird in den Teilleitern 2 eine Aussparung 7 vorgesehen. Für jeden der Heißpunkte ist je eine Glasfaser 5 vorgesehen, an dessen Ende 8 ein Galliumarsenidkristall angeordnet ist.

Mittels Abstandshalter 6 werden die Glasfasern 5 in dem

Roebelstab geführt, wobei die Galliumarsenidkristalle in den Aussparungen 7 angeordnet sind. Auf den Roebelstab 1 wird anschließend die Hauptisolation 4 aufgebracht. Im Betrieb der elektrischen Maschine, in die der Roebelstab 1 eingebaut ist, werden die Galliumarsenidkristalle von den gegenüberliegenden Enden der Glaserfasern 5 aus belichtet. Die Spektren des von den Galliumarsenidkristallen zurückreflektierten Lichts werden gemessen. Aus den gemessenen Spektren werden die

Temperaturen der Galliumarsenidkristalle bestimmt.