DOMAINE DE L'INVENTION

La présente invention a trait au domaine de l'imagerie infrarouge et de la pyrométrie bolométrique.

Plus particulièrement, la présente invention concerne des dispositifs de détection de rayonnement électromagnétique, comportant des matrices d'éléments sensibles bolométriques, dits bolomètres élémentaires, ou plus simplement bolomètres, dont la résistance est commandée, notamment à des fins de réduction de phénomènes de rémanence.

ETAT ANTÉRIEURDE LA TECHNIQUE

Dans le domaine des détecteurs de rayonnements électromagnétiques, notamment infrarouges, il est connu d'utiliser des dispositifs agencés sous forme matricielle, et susceptibles de fonctionner à température ambiante, c'est-à-dire ne nécessitant pas de refroidissement à de très basses températures, contrairement aux dispositifs de détection appelés "détecteurs quantiques" qui eux, nécessitent un fonctionnement à très basse température, typiquement celle de l'azote liquide.

Ces détecteurs non refroidis utilisent traditionnellement la variation d'une grandeur physique d'un matériau approprié, en fonction de la température, au voisinage de 300K. Dans le cas des détecteurs bolométriques, cette grandeur physique est la résistivité électrique.

Un tel détecteur non refroidi associe généralement : - des moyens d'absorption du rayonnement infrarouge et de conversion de celui-ci en chaleur ; des moyens d'isolation thermique du détecteur, de telle sorte à permettre à celui- ci de s'échauffer sous l'action du rayonnement infrarouge ; des moyens de thermométrie qui, dans le cadre d'un détecteur bolométrique, mettent en œuvre un élément résistif ; et des moyens de lecture des signaux électriques fournis par les moyens de thermométrie. Les détecteurs destinés à l'imagerie infrarouge sont classiquement réalisés sous la forme d'une matrice de détecteurs élémentaires, ou bolomètres, selon une ou deux dimensions, lesdits bolomètres prenant la forme de membranes suspendues au dessus d'un substrat, généralement réalisé en silicium, via des bras d'isolement thermique et de soutien ancrés au substrat.

Il est usuellement ménagé dans le substrat des moyens d'adressage séquentiel des détecteurs élémentaires et des moyens d'excitation électrique et de pré-traitement des signaux électriques générés par ces détecteurs élémentaires. Ce substrat et les moyens intégrés sont communément désignés par le terme « circuit de lecture ».

Classiquement, chaque bolomètre est connecté à un transistor de polarisation apte à injecter dans le bolomètre un courant, et à un intégrateur capacitif apte à intégrer le courant circulant dans le bolomètre pour la lecture de celui-ci.

Pour obtenir une image de la scène observée par l'intermédiaire de ce détecteur, on projette la scène à travers une optique adaptée sur la matrice de détecteurs élémentaires (le substrat est agencé au niveau du plan focal de cette optique), et des stimuli électriques cadencés sont appliqués par l'intermédiaire du circuit de lecture à chacun des détecteurs élémentaires, ou à chaque rangée de tels détecteurs, afin d'obtenir un signal électrique constituant l'image de la température atteinte par chacun desdits détecteurs élémentaires. Ce signal est traité de manière plus ou moins élaborée par le circuit de lecture, puis éventuellement par un dispositif électronique extérieur au boîtier afin de générer l'image thermique de la scène observée.

Les matériaux usuellement utilisés pour concevoir les bolomètres sont connus pour ne pas être thermiquement très stables. Aussi, lorsque les bolomètres comprenant ces matériaux sont soumis à des flux infrarouges trop importants (par exemple observation d'une source lumineuse très chaude comme le soleil ou un luminaire à incandescence), il apparait un décalage persistant de résistance après exposition, par rapport à la résistance avant exposition. La phase d'éclairement excessif est qualifiée de « surexposition », et les bolomètres concernés sont dits ensuite « surexposés ». La résistance d'un bolomètre surexposé tend ensuite à revenir à sa valeur initiale, mais sur une période de temps qui peut être problématique pour l'utilisateur. On parle alors de « rémanence » ou d'« effet mémoire ». Le signal de sortie (dit niveau continu ou « NC » lorsque le détecteur est placé devant une scène uniforme) du détecteur en provenance de ces bolomètres est alors décalé par rapport aux signaux (NC) en provenance des autres bolomètres de la matrice, ce décalage peut aller jusqu'à une saturation du signal.

En outre, indépendamment de ce phénomène, les bolomètres ne sont pas strictement identiques et présentent classiquement des sensibilités et des niveaux continus différents. Ces dispersions de sensibilité et de niveau continu sont usuellement corrigées par l'utilisation de tables de gains et d'offsets établies lors d'une calibration du détecteur en usine (on parle alors de correction « 2 points »).

La correction d'offset pour sa part est typiquement fréquemment renouvelée lors du fonctionnement du système (caméra par exemple) par fermeture temporaire d'un obturateur (« shutter ») qui fournit une scène de référence uniforme, il en résulte qu'après une phase de surexposition, tant que le signal n'est pas saturé, c'est à dire tant qu'il reste dans les limites de la dynamique électrique le l'électronique de traitement, l'effet de rémanence n'est plus visible sur l'image, au moins pour des scènes de faible dynamique, dès qu'une correction d'offset est appliquée.

Par contre, le décalage rémanent de résistance produit d'une part une perte de dynamique de scène des bolomètres surexposés par suite du décalage de l'offset, et d'autre part un décalage de sensibilité desdits bolomètres, qui peut perturber durablement la qualité des signaux : la surexposition des bolomètres a pour effet de rendre les tables de correction de gain au moins temporairement invalides.

La durée du phénomène de rémanence dépend du flux incident sur le bo Io mètre ainsi que de la durée d'exposition de ceux-ci. Cette durée de rémanence peut être très longue, jusqu'à plusieurs mois, alors même que le bolomètre n'est pas détruit.

Pour remédier au phénomène de rémanence, il a été proposé de détecter en cours d'exposition la présence de bolomètres surexposés, et de limiter cette surexposition par l'emploi de filtres absorbants saturables et/ou d'un obturateur mécanique de manière à protéger les éléments sensibles. Toutefois, ces techniques font perdre l'usage du détecteur pendant la durée d'application de la protection, par exemple lors de la fermeture de l'obturateur, et nécessitent des circuits électroniques et mécaniques supplémentaires. Or, la non-disponibilité du détecteur est préjudiciable dans certaines applications, de sorte que la durée de perte de l'image doit être la plus courte possible. Dans le document US-A-2005/0274892, il a été proposé de réduire le phénomène de rémanence d'un détecteur bolométrique en portant temporairement la température du plan focal, et donc aussi celle des bolomètres, à une température supérieure à celle à laquelle étaient soumis les bolomètres surexposés pendant leur surexposition, par la mise en oeuvre d'un module Peltier, ou module TEC (acronyme de l'expression anglo-saxonne « Thermo-Electric Cooler ») pour chauffer le plan focal.

Toutefois, outre le fait rédhibitoire que les composants bolométriques d'aujourd'hui sont de plus en plus souvent dépourvus de module Peltier, ce qui implique de disposer d'autres méthodes de traitement, on observe que l'élimination des phénomènes de rémanence utilisant une telle technique prend plusieurs secondes, voire plusieurs minutes. En effet, cette technique utilise plusieurs étapes de chauffage successives pour porter le plan focal à une température souhaitée de manière stable. En outre, le chauffage par module Peltier est coûteux en énergie de par l'utilisation d'un courant élevé, puisé notamment, qui induit des appels de courant qui contraignent les éléments électroniques de commande. Enfin, la température du plan focal (TPF) est modifiée, et le retour de la TPF à une valeur proche de sa valeur avant la mise œuvre du protocole précédemment décrit nécessite une attente relativement prolongée. Or, les tables de gains et d'offsets utilisées pour la correction des dispersions des bolomètres dépendent de cette température. La modification de la température du plan focal nécessite donc de prévoir des tables pour plusieurs configurations si la disponibilité de l'image doit être préservée pendant le processus de traitement de rémanence. L'établissement des tables de correction est cependant délicat et coûteux en temps.

II a également été proposé dans ce document de réduire le phénomène de rémanence en modifiant les paramètres du circuit de lecture réglant la quantité de courant circulant dans le bo Io mètre. Dans ce dernier cas, une polarisation du bolomètre et un temps d'intégration (ou plus exactement, un temps d'adressage) supérieurs sont ainsi utilisés pour échauffer le bolomètre et ainsi réduire les phénomènes de rémanence.

Toutefois, la marge de puissance disponible offerte par ces méthodes pour échauffer les bolomètres est relativement limitée, car autant la polarisation que le temps d'intégration nominaux mis en œuvre lors de l'utilisation normale, sont habituellement choisis de manière à optimiser les performances du détecteur. De fait, les meilleures performances sont typiquement obtenues pour la polarisation maximale offerte par le circuit de lecture, et le temps d'intégration le plus long compatible avec la fréquence trame. Il n'est donc pas particulièrement aisé de modifier ces paramètres pour maîtriser réchauffement des bolomètres au-delà du point de repos nominal.

EXPOSE DE L'INVENTION

Le but de la présente invention est de résoudre les problèmes susmentionnés en proposant un procédé de commande de la résistance d'un ou plusieurs bolomètre(s) d'un détecteur matriciel du type précité, qui soit rapide et qui ne modifie pas le point de fonctionnement de celui-ci, ledit détecteur comportant un circuit de lecture apte à adresser ledit ou lesdits bolomètre(s).

Selon l'invention, le procédé comporte une étape de réglage de la récurrence d'adressage du bolomètre par le circuit de lecture.

Ici le terme « adressage » combine la notion classique d'adressage d'une matrice de bolomètres, visant à « désigner », par une commande appropriée d'interrupteurs, les bolomètres qui vont être sollicités, et l'envoi de courant dans les bolomètres ainsi désignés.

Ce terme peut, pour simplifier, être assimilé au temps d'intégration de l'état de l'art, lequel est en toute rigueur à comprendre comme le temps pendant lequel est intégré le courant traversant le bolomètre. Il est cependant bien clair que réchauffement du bolomètre adressé est lié au temps d'application du courant de polarisation, et donc au « temps d'adressage », quel que soit le temps d'intégration.

La « fréquence trame » f _trame désigne, comme cela est connu en soi, l'inverse du temps écoulé entre deux rafraîchissements consécutifs du flux vidéo en sortie du circuit de lecture. La fréquence trame correspond donc au nombre d'images, ou « trames », délivrées par le détecteur en l'espace d'une seconde.

Dans la majorité des détecteurs, et comme cela est le cas des modes de réalisation décrits ci-après, un bolomètre (ou pixel, pour retenir un terme courant en imagerie) n'est adressé qu'une seule fois par trame. Ainsi, dans le cadre de tels modes de réalisation, la fréquence trame règle également le nombre d'adressages par seconde d'un bolomètre dont on souhaite commander la résistance selon le procédé de l'invention. En d'autres termes, dans de tels détecteurs, le réglage de la fréquence d'adressage d'un bolomètre, selon ces définitions, revient en pratique au réglage de la fréquence trame f _tram e.

La « fréquence ligne » f _llgne désigne l'inverse du temps écoulé entre la lecture de deux lignes consécutives d'une même trame par le circuit de lecture. Ledit temps écoulé est compris en relation avec le même événement du chronogramme de commande, vu d'une ligne à la suivante. D'un point de vue mathématique, la fréquence ligne correspond au nombre de lignes consécutives d'une même trame lues par le circuit de lecture en l'espace d'une seconde. La fréquence ligne est usuellement associée au cas d'un circuit de lecture à balayage ligne par ligne, et où tous les pixels d'une même ligne sont adressés simultanément.

La « fréquence pixel » f _pixel désigne le nombre prédéterminé de pixels consécutifs adressés par le circuit de lecture en l'espace d'une seconde. Ce terme n'est employé ici que dans le cas d'un circuit de lecture à balayage pixel par pixel, ou autrement dit, à adressage sériel.

Dans l'état de la technique décrit ci-dessus, et dans le cadre particulier de l'élimination de la rémanence, un chauffage des bo Io mètres était notamment effectué en modifiant l'amplitude et/ou la durée du courant les traversant. Dans le cas de la présente invention, le chauffage global du plan focal n'est pas nécessaire, et on peut ainsi appliquer l'invention aux dispositifs modernes qui sont dépourvus du module Peltier mentionné dans l'art antérieur.

Selon l'invention, une commande de la résistance d'un bolomètre est effectuée également en élevant temporairement la température de celui-ci, mais par le biais d'une injection de courant plus fréquente, les caractéristiques du courant restant par ailleurs, dans un mode de réalisation privilégié, inchangées. Selon des modes particuliers de mise en œuvre de l'invention, il est cependant possible d'utiliser conjointement à une injection plus fréquente de courant, une variation de tension de polarisation ou/et de temps d'adressage de manière à disposer d'un ou deux leviers supplémentaires pour ajuster la résistance du bolomètre. De même, conjointement à une injection de courant plus fréquente, il est possible d'élever la température du plan focal par contrôle du module Peltier. Les caractéristiques du circuit de lecture restent donc inchangées, et notamment, la polarisation et le temps d'intégration dans la forme préférentielle de l'invention, limitée à la variation de la fréquence d'injection de courant. Comme le point de fonctionnement des bolomètres ainsi que la température du plan focal demeurent inchangés, il n'est donc pas nécessaire de prévoir plusieurs tables de gains et d'offsets.

Dans le cadre d'une réduction de la rémanence, le demandeur a en outre observé que le procédé selon l'invention permet un gain de temps substantiel. Ainsi, il est possible grâce au procédé de l'invention de corriger un phénomène de rémanence en quelques dizaines de millisecondes, contre quelques secondes voire minutes pour l'état antérieur de la technique. Ce processus de correction, est traduit par le terme « ajuster » appliqué à la résistance du bo Io mètre, utilisé dans le contexte de ce document.

De plus, il est possible grâce au procédé selon l'invention d'obtenir des températures plus élevées pour les bolomètres que celles usuellement obtenues dans l'état antérieur de la technique. Ainsi, le demandeur a expérimenté qu'il est facilement possible par exemple, au moins dans le cas de détecteurs modernes dont les membranes bo Io métriques présentent de hautes résistances thermiques, de porter les bolomètres à une température au moins 180 ⁰ C supérieure à celle du plan focal, alors que l'élévation de température dans l'état de la technique au moyen du module Peltier n'atteint raisonnablement que quelques dizaines de ⁰ C. En effet, imposer un courant très élevé dans les modules Peltier afin d'obtenir éventuellement des écarts de température supérieurs, n'est pas sans risques en regard de la probabilité de défaillance du détecteur par perte d'intégrité du module lui-même ou d'autres éléments du dispositif, ou encore au niveau de la qualité du vide dans le boîtier du détecteur après l'opération. En outre, la dissipation de puissance très importante induit un flux thermique qui se propage dans le corps de boîtier et au-delà dans le système, ce qui est aussi relativement contraignant pour le système, en termes de sollicitation thermo -mécanique et de temps de retour aux conditions antérieures.

Selon un mode de réalisation de l'invention, l'étape de réglage comporte :

" la sélection au moyen du circuit de lecture d'une fenêtre de la matrice de bolomètres, ladite fenêtre comprenant le bo Io mètre et ayant un nombre de lignes L inférieur au nombre total N de lignes de la matrice de bolomètres ; " la sélection au moyen du circuit de lecture d'une fréquence trame f _trame telle que ftrame ≤ fhgne/L et correspondant à la récurrence d'adressage souhaitée, où fhgne est une fréquence ligne prédéterminée ; et

" la lecture récurrente par le circuit de lecture à la fréquence f _trame des L lignes consécutives de la fenêtre sélectionnée, à la fréquence ligne f _llgne prédéterminée, de sorte que le nombre de lignes inférieur de la fenêtre produit un adressage plus fréquent de chaque ligne de celle-ci et donc une augmentation de la récurrence d'adressage du bolomètre.

En d'autres termes, le détecteur conforme à l'invention est capable de fenêtrer librement la matrice de bo Io mètres et de lire les bo Io mètres compris dans une telle fenêtre ligne par ligne. De même, le détecteur selon l'invention est capable de piloter la fréquence trame indépendamment de la fréquence ligne. En choisissant une fenêtre dont au moins la « hauteur » L est réduite (par rapport au plein format M), le temps mis pour adresser l'ensemble des lignes de la fenêtre est donc réduit, de sorte qu'une ligne de la fenêtre, et donc les bolomètres la constituant, est adressée plus fréquemment. Un courant circule donc plus souvent dans les bolomètres de la fenêtre. Les dimensions de la fenêtre permettent ainsi de régler la récurrence d'adressage, et donc réchauffement subi par les bolomètres.

La récurrence la plus fréquente pour une fenêtre de hauteur L donnée, et donc réchauffement le plus élevé pour ladite fenêtre, est obtenue dans le cas où f _trame est choisie égal à f _llgn e/L, qui correspond au retour immédiat à la première ligne en fin de trame, comme si les dernière et première lignes étaient adjacentes.

La récurrence la plus élevée réalisable, et donc réchauffement le plus élevé réalisable, est obtenue selon le choix particulier L = 1 et f _trame = f _llgn e, qui correspond à l'adressage récurrent d'une seule et même ligne à la fréquence ligne prédéterminée.

La valeur de la fréquence f _trame est habituellement réglée par la fréquence de récurrence d'une impulsion digitale particulière, indépendante des autres commandes de cadencement, formée par la logique du circuit de lecture et ordinairement dénommé « synchronisation trame », qui déclenche le retour du balayage à la première ligne de la matrice. En conséquence, toutes les configurations satisfaisant la relation f _trame < fhgne/L sont accessibles aux circuits de lecture pourvus des fonctions de fenêtrage programmable et de réglage de la fréquence trame. Dans le cas général où le temps total de balayage de la fenêtre est inférieur au temps trame, il existe un temps « d'attente » pendant lequel aucune ligne n'est adressée entre deux trames successives, avec d'autant plus de latitude qu'un fenêtrage sur un nombre de lignes inférieur au plein format M de la matrice est mis en œuvre. Au point limite f _trame = fhgne/L, le balayage de la fenêtre est ininterrompu.

Selon un mode de réalisation de l'invention, le procédé comporte, préalablement à l'étape de réglage de la récurrence d'adressage, une étape de sélection du bolomètre selon une comparaison entre son niveau continu et la moyenne des niveaux continus de l'ensemble des bolo mètres de la matrice, le bolomètre étant sélectionné si cette différence est supérieure à un seuil prédéterminé.

En d'autres termes, le procédé s'applique avantageusement à la réduction de la rémanence induite par une surexposition. Une étape préliminaire de détection des bolo mètres surexposés permet ainsi de ne régler le NC, image de la résistance, que de ceux-ci.

Ceci est particulièrement avantageux dans le cas où un fenêtrage est réalisé. En effet, usuellement la matrice et son circuit de lecture associé sont intégrés dans une enceinte hermétique placée sous une pression réduite, idéalement très faible. L'échauffement de certains éléments a pour effet de libérer des gaz adsorbés ou dissous, réduisant de fait la durée de vie du détecteur. Ainsi, un nombre réduit d'éléments chauffés limite en proportion la diminution de durée de vie du détecteur.

Selon un mode de réalisation particulier préférentiel de l'invention, lors du réglage de la récurrence d'adressage du bolomètre, le procédé comporte une étape de fermeture d'un obturateur équipant le détecteur ou bien le procédé comporte une étape de défocalisation

En d'autres termes, la fermeture de l'obturateur coupe le flux incident sur tous les bolo mètres, et en particulier sur les bolo mètres surexposés, permettant ainsi d'adresser ces derniers sans ajouter d'effet parasite supplémentaire.

Selon un mode des modes de réalisation particuliers de l'invention, la récurrence d'adressage est variable et comporte au moins une première et une seconde phase, la valeur de la récurrence d'adressage dans la première phase étant différente de la valeur de la récurrence d'adressage dans la seconde phase.

De cette manière, il est possible de commander la résistance du bolomètre de manière plus précise. Selon un mode de réalisation particulier de l'invention, le procédé comporte en outre une étape de modification des caractéristiques de polarisation du bo Io mètre, notamment sa tension de polarisation.

Selon un mode de réalisation particulier de l'invention, le procédé comporte en outre une étape de modification de la durée au cours de laquelle le bo Io mètre est parcouru par un courant lors de l'adressage de celui-ci.

Selon un mode de réalisation particulier de l'invention, le procédé comporte en outre une étape de chauffage du bolomètre par une source de chaleur externe à celui-ci, notamment une source de chaleur du type Peltier.

L'invention a également pour objet un détecteur bo Io métrique comprenant une matrice de bo Io mètres et un circuit de lecture de la matrice apte à adresser chaque bolomètre de celle-ci. Selon l'invention, le circuit de lecture est apte à régler la résistance de chaque bolomètre de la matrice par un réglage de la récurrence d'adressage de celui-ci.

En d'autres termes, le détecteur bolométrique est apte à mettre en œuvre un procédé du type précité.

BRÈVE DESCRIPTION DES FIGURES

L'invention sera mieux comprise à la lecture de la description qui va suivre, donnée uniquement à titre d'exemple, et réalisée en relation avec les dessins annexés, dans lesquels des références identiques désignent des éléments identiques ou analogues, et dans lesquels :

- la figure 1 est une vue schématique d'une matrice de bolomètres associés à un circuit de lecture ; - la figure 2 représente une fenêtre locale inscrite dans la matrice complète ;

- la figure 3 est un organigramme d'un procédé selon l'invention ; et

- la figure 4 est un exemple de tracé de la température d'un bolomètre, en fonction du temps, obtenu par le procédé selon l'invention. DESCRIPTION DÉTAILLÉE DE L'INVENTION

On a illustré schématiquement sur la figure 1 un détecteur bolométrique qui comprend une matrice bidimensionnelle 12 d'imagerie comprenant M lignes et N colonnes de pixels bolométriques 14, où N et M sont des entiers supérieurs ou égaux à 1. La matrice d'imagerie 12 est agencée dans le plan focal 16 d'une optique transparente au rayonnement infrarouge (non représentée).

Le détecteur comprend également un circuit de lecture 15 réalisé dans un substrat agencé dans le plan focal 16, lequel supporte la matrice d'imagerie 12. Le circuit de lecture 15 comprend un circuit d'adressage 18 des pixels 14 de la matrice 12, et, pour chaque colonne de celle-ci, un élément de lecture 20 apte à être connecté à chaque pixel 14 de la colonne par des moyens électriques.

Chaque pixel 14 comprend un bolomètre résistif 22, soumis à un rayonnement infrarouge « IR », et connecté à l'une de ses bornes à une tension constante V _DET prédéterminée. Le pixel 14 comprend également un interrupteur 24 de lecture, pilotable au moyen d'un signal « Select » émis par le circuit d'adressage 18, et un transistor MOS 26 d'injection, dont la grille est mise à une tension GFID constante prédéterminée, dont la source est connectée à l'autre borne du bolomètre 22, et dont le drain est connecté à l'une des bornes du premier interrupteur 24 de sélection.

L'élément de lecture 20 comprend quant à lui un intégrateur 21 formé : d'un amplificateur opérationnel 28 dont l'entrée non inverseuse (+) est mise à une tension constante Vbus prédéterminée, et dont l'entrée inverseuse (-) est connectée à l'autre borne de l'interrupteur de lecture 24 ; d'un condensateur 30, de capacité C _mt prédéterminée, connecté entre l'entrée inverseuse (-) de l'amplificateur 28 et la sortie de celui-ci ; et d'un interrupteur de remise à zéro 32 connecté en parallèle du condensateur 30, et pilotable au moyen d'une commande « Reset ».

L'élément de lecture 20 comporte également une colonne de compensation (désigné également par le terme « d'ébasage ») 34 comprenant un bolomètre de compensation 36, réalisé dans le même matériau que le bolomètre 22 et présentant une faible résistance thermique vers le substrat, et un transistor MOS 38 d'injection pour la polarisation du bolomètre de compensation 36. La colonne de compensation 34 a pour effet de produire un courant dit de compensation de mode commun, (correspondant à l'expression anglo-saxonne « skimming »), comme cela est connu en soi de l'état de la technique. Dans l'exemple illustré, la matrice 12 de pixels 14 est lue ligne par ligne, la lecture d'une ligne de pixels comprenant sa connexion aux colonnes de compensation 34, comme cela est connu en soi.

Plus particulièrement, au début d'un cycle de lecture d'un bolomètre 22 d'une ligne en cours de lecture, l'interrupteur de remise à zéro 32, qui est à l'état fermé suite à un cycle de décharge du condensateur 30, est basculé à l'état ouvert par réglage de la commande « Reset » à une valeur appropriée.

L'interrupteur 24 de lecture, qui est dans l'état ouvert, est basculé à l'état fermé par réglage de la commande « Select », et un courant traverse le bolomètre 22, dont la polarisation est ajustée par le transistor MOS 26 par une commande appropriée de la tension de grille GFID. Cette séquence est désignée par l'expression « adressage » du bolomètre 22. La durée de polarisation est donc imposée par la durée de la phase de fermeture de cet interrupteur 24.

Le courant traversant le bolomètre 22 est alors intégré par le condensateur 30 après soustraction du courant traversant le bolomètre de compensation 36 dont la polarisation est ajustée par le transistor MOS 38. Lorsqu'une durée d'intégration AT _mt prédéterminée s'est écoulée depuis le début du cycle de lecture, l'interrupteur d'adressage 24 est basculé dans son état ouvert.

Selon un premier mode de réalisation de l'invention, le circuit de lecture 15 est apte à mettre en œuvre une lecture par fenêtrage de la matrice 12, c'est-à-dire apte à lire uniquement les bolomètres d'une fenêtre 39 (figure 2) quelconque de la matrice 12 en mettant en œuvre une limitation programmée du format d'adressage, la position et les dimensions de cette fenêtre étant définies au moyen du circuit de lecture 15 selon les commandes programmées par l'utilisateur, via un lien de communication série par exemple. Le choix des dites commandes étant lui-même guidé par étalonnage de la récurrence d'adressage comme cela sera expliqué plus en détail ci-dessous. Le mode de lecture par fenêtrage est connu en soi et ne sera donc pas expliqué plus en détail pour des raisons de concision.

Il est à noter que la commande de la résistance d'un bolomètre particulier est réalisée dès lors que le circuit de lecture 15 est capable de sélectionner un nombre de lignes approprié, voire même une seule ligne si la commande le nécessite, et d'adresser ces lignes sélectionnées de manière récurrente à la fréquence trame choisie. Dans le cas d'un mode de lecture ligne par ligne de la matrice 12, tous les pixels d'une même ligne sont adressés simultanément, il n'y a donc pas de bénéfice en termes de temps de traitement selon l'invention, à limiter le nombre de colonnes de la fenêtre en dessous du nombre de colonnes N de la matrice 12. Cependant, l'utilisateur peut préférer n'appliquer la polarisation que sur une fenêtre dont le nombre de colonnes est inférieur à N. Par exemple, dans le but de limiter encore plus la consommation liée à la mise en œuvre de l'invention, bien que cette consommation soit déjà fort limitée par rapport à l'état de la technique lorsqu'une fenêtre comprend les N colonnes de la matrice, ou encore éviter d'appliquer le cycle thermique de correction aux bolomètres situés sur les mêmes lignes, mais ne nécessitant pas de correction.

Le circuit de lecture conforme à l'invention comporte donc au minimum une fonction de fenêtrage programmable selon une seule dimension, à savoir le nombre et la position des lignes sélectionnées, formant donc une bande « horizontale ». Il suffit par exemple dans ce cas de programmer par exemple par lien série le numéro de la première ligne et le nombre de lignes L à adresser à chaque trame. Dans le cas où il est préféré un fenêtrage selon deux dimensions inférieures au nombre maximal de lignes et de colonnes, pour les raisons précédentes de consommation ou/et de polarisation uniquement des bolomètres inscrits dans la fenêtre, ledit circuit de lecture conforme à l'invention nécessite par exemple un interrupteur supplémentaire inséré en série avec l'interrupteur 24, dont la commande est activée par colonne. Cet interrupteur sera activé en condition fermée dans les colonnes à corriger, et en position ouverte dans les colonnes ne nécessitant pas de correction. Il n'est pas nécessaire de détailler davantage cette disposition particulière qui sera facilement mise en place par l'homme de métier au niveau de la conception du circuit de lecture.

Il doit être compris par ailleurs que le circuit de lecture 15 tel que précédemment décrit n'est proposé qu'à titre exemplatif, étant entendu que n'importe quel type de circuit de lecture à polarisation en tension, à lecture balayée ligne par ligne et à fenêtrage programmable fournit tous les moyens de mise en œuvre de l'invention.

Usuellement, comme cela a été précédemment décrit, le circuit de lecture 15 lit la matrice 12, ou la fenêtre 39 de celle-ci, ligne par ligne à une fréquence de trame prédéterminée, classiquement 30 ou 60 Hz. Enfin, le détecteur comprend un obturateur mécanique (non représenté) coupant le flux incident sur la matrice 12, comme cela est connu en soi.

La figure 4 est un organigramme d'un procédé de réduction de la rémanence induite par exemple par une surexposition de bolomètres de la matrice 12.

Lors d'une première étape 40, une détection de bolomètres surexposés de la matrice 12 est mise en œuvre. Par exemple, les bolomètres dont le signal de sortie hors éclairement de scène dans les conditions de référence prédéterminée (température du plan focal donnée, obturateur fermé) diffère d'une valeur de seuil prédéterminée d'un niveau continu dit de référence, sont considérés comme surexposés. Le signal de sortie dans de telles conditions est usuellement désigné comme le niveau continu (NC) des bolomètres. Le niveau continu de référence est avantageusement choisi égal à la moyenne des niveaux continus des bolomètres de la matrice 12, les bolomètres surexposés étant donc ceux dont le niveau continu s'écarte du niveau moyen observé.

De manière plus générale, ces bolomètres seront dits par la suite « à corriger ». En effet, il convient de noter que l'application du procédé selon l'invention modifie la résistance (et donc le NC) des bolomètres détectés lors de l'étape 40, en particulier, mais non limitativement par suite d'une période de surexposition.

S'il existe des bolomètres à corriger (étape de test 42), l'obturateur est fermé en 44 ou bien une défocalisation de l'image de la scène est mise en oeuvre.

En 46, une fenêtre est alors sélectionnée autour du ou des pixel(s) à corriger. La position et les dimensions de cette fenêtre, et plus particulièrement son nombre de lignes L, sont choisies en premier lieu en fonction de la répartition spatiale des bolomètres à corriger, de manière à les corriger éventuellement tous lors d'une unique phase de correction, si la fréquence trame f _trame jugée nécessaire à leur correction le permet. En effet, la contrainte f _trame ≤ fhgne/L doit être satisfaite. Si la fenêtre est trop étendue, plusieurs applications successives du procédé peuvent être nécessaires, de manière à couvrir l'ensemble de la ou des zones concernées.

Le nombre d'adressages des bolomètres, à une fréquence f _trame donnée, pour parvenir à une limitation ou une élimination des phénomènes de rémanence est par exemple déterminé lors d'une étude préliminaire, effectuée en usine sur des bolomètres de test, qu'on a appelée plus haut étalonnage. Ce nombre dépend notamment de la polarisation des bolomètres 14, de leur conception (c'est-à-dire leurs caractéristiques physiques), et de la température atteinte lors de la procédure d'adressage récurrent. Les principaux paramètres dits de conception sont la résistance électrique, la résistance thermique Rth, le coefficient TCR de variation en température de la résistance, la capacité thermique Cth).

Un étalonnage empirique consiste typiquement à soumettre délibérément dans une première phase une rétine sensible de référence (de test) à une surexposition particulière, en termes de puissance radiative et de durée, et à mesurer le décalage initial de niveau continu qui en résulte. L'étalonnage consiste à mesurer ensuite, pour une fréquence ligne prédéterminée, l'évolution temporelle du décalage de niveau continu après application d'un adressage récurrent à une fréquence trame f _trame donnée, et ceci pour plusieurs durées d'application du procédé (plusieurs nombres de récurrences) de manière à obtenir si nécessaire la cinétique de modification de la résistance. L'ensemble du processus est alors recommencé avec une fréquence trame différente, jusqu'à obtenir suffisamment de points empiriques d'étalonnage de la résistance finale selon les paramètres du procédé.

Les dimensions du fenêtrage appliqué pendant cette phase d'étalonnage ne sont pas importantes, dès l'instant où le nombre de lignes choisi ne limite pas la gamme de fréquences trame que l'on entend explorer. La sélection d'une seule ligne, comme déjà indiqué, donne accès à la fréquence trame la plus élevée. Il en résulte l'information recherchée du nombre de récurrences à appliquer en fonction de la fréquence trame pour obtenir par exemple l'effacement de 90% du décalage de niveau continu initial.

Cette opération d'étalonnage peut être reconduite avec un décalage de niveau continu initial préalable différent (c'est-à dire des conditions de surexposition différentes), jusqu'à obtenir un abaque contenant l'information nécessaire pour la programmation de la fréquence trame d'application, dans l'ensemble des cas raisonnablement utiles (c'est à dire tant que les éléments sensibles ne sont pas détruits) d'application de l'invention.

Le comportement de la valeur de la résistance d'un bolomètre 14 (et par suite, de son niveau continu) après le retour du bolomètre à la température opératoire du plan focal consécutif une phase de correction selon l'invention, est essentiellement déterminé par la température à laquelle est porté le bolomètre pendant la phase de correction. II est donc possible de simplifier la phase d'étalonnage, en appliquant une série limitée de conditions particulières de fréquences de récurrence, destinées à produire une série prédéterminée de valeurs d'échauffement du bolomètre 14. Ces valeurs sont par exemple évaluées par mesure directe ou par simulation numérique.

L'estimation de ladite température est simple à obtenir à l'aide d'une modélisation thermique, à partir des paramètres connus de conception du bolomètre et des paramètres d'excitation Joule. Un exemple de résultat de modélisation thermique dans un cas représentatif est présenté en figure 3.

Par contre, le comportement temporel en termes de résistance électrique, c'est-à-dire l'évolution de niveau continu après retour à la température ambiante (ou la température opérationnelle du plan focal) qui résulte d'un cycle thermique de correction donné, par exemple selon l'invention, appliqué après une période de surexposition, en fonction de la température précédemment estimée, dépend en particulier du matériau sensible mis en œuvre. Il n'est donc pas possible ni même utile de proposer ici une forme générale d'expression analytique qui modéliserait ce comportement. Cependant, lorsque tous les paramètres de surexposition d'une part, de processus de réduction de rémanence d'autre part sont fixés, on observe que le comportement est suffisamment déterministe (reproductible), d'autant plus qu'il n'est pas besoin de précision pour obtenir l'effet recherché, pour être applicable à tous les produits construits à partir du même type de bolomètre élémentaire. Il est en conséquence pertinent d'appliquer une relation analytique simple, basée sur l'acquisition empirique évoquée précédemment, qui fournit très rapidement et pour une large gamme de conditions initiales un ordre de grandeur de la fréquence de récurrence et du nombre de récurrences (la durée de la phase d'adressage récurrent) à appliquer préférentiellement, selon par exemple le choix des conditions opératoires les plus pratiques, ou les plus rapides pour parvenir au but recherché.

Toujours en 46, la fréquence ligne utilisée pour l'adressage ligne par ligne des L lignes la fenêtre 39 est choisie constante et égale à la fréquence ligne f _llgne utilisée lors de la lecture plein format de la matrice 12, et la fréquence de trame est choisie selon le résultat de l'étalonnage, sous la contrainte f _trame ≤ fhgne/L, de manière à obtenir le résultat recherché en termes de résistance finale (du NC final) après retour à la température opératoire. En effet, en conservant la fréquence ligne et en raison du nombre restreint de lignes dans la fenêtre 39, une augmentation de la fréquence de trame, et donc de la récurrence d'adressage des bolomètres de cette fenêtre, est rendu possible. Une fois la fenêtre et la fréquence de trame sélectionnées, un adressage ligne par ligne de celle-ci est réalisé par le circuit de lecture 15 à la fréquence ligne f _llgne utilisée pour la lecture plein format de la matrice 12, pendant une durée prédéterminée définie par exemple selon un critère empirique comme exposé précédemment. L'application de la fréquence trame f _trame choisie est typiquement obtenue au moyen de la commande digitale de synchronisation trame habituellement prévue dans tous les circuits de lecture, comme précédemment indiqué.

Le profil de la température d'un bolomètre de la fenêtre sélectionné est illustré à la figure 3.

Ce profil alterne des périodes d'augmentation quasi- linéaire de la température du bolomètre, pendant lesquelles le bolomètre est adressé, avec des périodes de refroidissement libre du bolomètre, pendant lesquelles le bolomètre n'est pas adressé.

Comme on peut le constater, la température moyenne du bolomètre augmente du fait d'une fréquence d'adressage élevée de celui-ci. En effet, la fenêtre comprend un nombre réduit de lignes en comparaison du plein format de la matrice 12. En conséquence, le balayage de l'ensemble de ces lignes est rapide, une même ligne étant lue de nouveau avant refroidissement complet des bolomètres de celle-ci.

De fait, la température moyenne (telle que considérée sur la durée d'un temps ligne) augmente. Au-delà d'un nombre d'adressages supérieur à environ 3 fois la constante de temps thermique du bolomètre, c'est-à-dire typiquement 15 à 30 millisecondes, la température moyenne (sur un temps ligne) n'augmente plus. Cette stabilisation est le résultat de l'équilibre entre la puissance électrique efficace dissipée par effet Joule dans le bolomètre, et les pertes thermiques, principalement par conduction vers le substrat resté à sa température de départ.

En se référant de nouveau à la figure 4, le procédé se poursuit en 48 par la fin de la lecture récurrente de la fenêtre et l'ouverture de l'obturateur, puis reboucle sur l'étape 40 de détection. La rémanence des bolomètres surexposés est ainsi réduite en amplitude et en durée, voire éliminée.

De cette manière il est obtenu après retour au mode normal ordinaire de fonctionnement, disponible immédiatement puisque sans changement de la température du plan focal, un décalage de niveau continu négligeable, ou à tout le moins inférieur à un seuil de différence prédéterminé acceptable pour un fonctionnement nominal des bo Io mètres sélectionnés par rapport aux autres bolomètres de la matrice.

Il a été décrit un mode de réalisation dans lequel, une fenêtre de dimensions fixes comprenant des pixels à corriger est sélectionnée.

En variante, lors de la procédure de réduction des phénomènes de rémanence, les dimensions de la fenêtre varient au cours du temps, ou la fréquence trame varient au cours du temps. Le profil temporel de la température moyenne des bolomètres à corriger peut ainsi être commandé avec précision. En conséquence, la résistance finale est commandée avec précision. Par exemple, une fréquence trame élevée est sélectionnée dans un premier temps, afin d'obtenir une élévation moyenne importante de la température, puis une fréquence trame plus faible est ensuite sélectionnée dans un second temps afin d'obtenir un accroissement de la température moyenne (par rapport à la température initiale) plus modéré. La température moyenne des bolomètres est ainsi ajustée graduellement. En relation, le nombre de lignes L de la fenêtre balayée peut être adapté si nécessaire entre le premier et le second temps, de manière à assurer la compatibilité entre le nombre de lignes L et la fréquence trame : ttrame — Iligne/ *-ι-

De même il a été décrit un mode de réalisation dans lequel le temps d'adressage ou d'intégration est inchangé par rapport au fonctionnement nominal. En variante, le temps d'adressage ou d'intégration est également modifié.

De même il a été décrit un mode de réalisation dans lequel la tension de polarisation des bolomètres est inchangée par rapport au fonctionnement nominal. En variante, la tension de polarisation est également modifiée.

De même il a été décrit un mode de réalisation dans lequel, le module à effet Peltier, lorsqu'il existe, n'est pas utilisé pour chauffer le plan focal. En variante, ce module à effet Peltier est également utilisé.

De même il a été décrit un mode de réalisation dans lequel la matrice de bo Io mètre est lue ligne par ligne. L'invention s'applique également aux matrices de bolomètres lues pixel par pixel. Dans un tel cas, le circuit de lecture est apte adresser individuellement les pixels séquentiellement un par un de manière dite sérielle. Les mêmes avantages que ce qui est précédemment décrit dans le cas de la lecture ligne par ligne seront obtenus d'un tel circuit à lecture sérielle pourvu d'une fonction de fenêtrage d'une série de pixels contigus. L'ajustement de la fréquence trame rendu possible par le nombre réduit de pixels à lire, conduit à un ajustement de la résistance des pixels adressés à ladite fréquence trame après retour aux conditions thermiques ordinaires.

La condition à satisfaire entre l'extension de la fenêtre et la fréquence trame accessible devient dans ce cas f _trame < f _P i _Xe i/P, où P est le nombre de pixels de la fenêtre. La température la plus élevée est obtenue par l'adressage d'un unique pixel (bolomètre) à une fréquence trame N x M fois plus élevée que la fréquence trame nominale du plein format de la matrice.

Bien entendu, on comprendra que l'invention ne se limite pas au détecteur bo Io métrique décrit en relation avec la figure 1, mais s'applique à tout type de détecteur bolométrique.

Il a été décrit une application privilégiée de l'invention à la correction de rémanence. Bien entendu, l'invention peut s'envisager pour d'autres applications nécessitant une modification de la résistance des bolomètres.

Grâce à l'invention, il est ainsi obtenu les avantages suivants :

- le temps pendant lequel le détecteur est indisponible est limité. En effet, en quelques dizaines de millisecondes, on observe déjà une réduction substantielle, voire une élimination complète, des phénomènes de rémanence ;

- la consommation électrique induite par la mise en œuvre du procédé selon l'invention est réduite. En effet, la réduction des phénomènes de rémanence mise en œuvre selon l'invention ne nécessite pas l'utilisation de matériel grand consommateur d'énergie, comme un module à effet Peltier par exemple ; - le procédé selon l'invention ne modifie ni la température du plan focal (au premier ordre), ni les caractéristiques de courant (polarisation, temps d'intégration). Les tables utilisées pour la correction des dispersions de gains et d'offsets dans la matrice demeurent donc valables dès la fin du processus de correction des résistances ; - une efficacité accrue de la réduction des phénomènes de rémanence est obtenue, car les températures accessibles grâce à l'invention sont supérieures à ce que procure l'état antérieur de la technique, et par ailleurs applicable de manière conjointe (cumulée) avec un d'ajustement du temps d'intégration, ou/et de la tension de polarisation des bolomètres, ou/et la mise en œuvre du module Peltier, s'il s'en trouve un ;

- la conception des détecteurs bo Io métriques restent inchangés puisque aucune de leurs caractéristiques, comme la polarisation des bolomètres ou le temps d'intégration (qui correspond dans la majorité des cas au temps d'adressage), n'a besoin d'être modifiable ; et

- une altération de la durée de vie ou de la fiabilité du détecteur est particulièrement modérée par le fait qu'aucune sollicitation électrique et thermique n'est imposée aux éléments du boîtier, et du fait qu'une très faible partie des éléments internes à l'enceinte sous vide est thermiquement concernée par une correction, de surcroît localisée, des phénomènes de rémanence.