ZHANG YUQING (CN)
CHEN JINHUI (CN)
| WO2010067299A2 | 2010-06-17 |
| CN103823110A | 2014-05-28 | |||
| CN201247283Y | 2009-05-27 | |||
| CN2921840Y | 2007-07-11 | |||
| CN2884212Y | 2007-03-28 | |||
| CN102072978A | 2011-05-25 |
| 权利要求书 [权利要求 1] 一种单相三线电能表双锰铜采样电路产生脉冲的方法， 包括单相三线 电能表， 所述单相三线电能表包括 MCU控制单元、 两个计量采样电 路和两个锰铜采样单元， 每个所述锰铜采样单元分别和一个所述计量 采样电路电连接， 两个计量采样电路分别和所述 MCU控制单元电连 接， 其特征在于， MCU控制单元中包括定吋器， 所述定吋器用于检 测两个计量采样电路产生脉冲的吋间间隔 T1和 T2， 并用于累加吋间 Τ 3， 当 T3≥[ (T1+T2) / Τ1χΤ2]日寸， MCU控制单元发出脉冲。 [权利要求 2] 根据权利要求 1所述的单相三线电能表双锰铜采样电路产生脉冲的方 法， 其特征在于： 所述定吋器的中断吋间 Tus的范围为 150uS≤T≤250u |
[0001] 技术领域
[0002] 本发明涉及电能表， 尤其涉及一种单相三线电能表双锰铜采样电路 产生脉冲的 方法。
[0003] ¾體
[0004] 传统的由两个采样电路组成的单相三线电能表 的主控芯片发出脉冲的方法一般 是通过计量芯片发出高频脉冲， 采用主控芯片累计该高频脉冲， 直到主控芯片 累计的高频脉冲数达到代表一个脉冲的数量吋 ， 主控芯片发出脉冲。 此种方法 对计量芯片的要求较高， 需要计量芯片能够产生高频脉冲， 而很多计量芯片没 有产生高频脉冲的能力， 并且此方法存在误差跳动。
[0005] 发明肉容
[0006] 本发明主要解决的技术问题是提供一种单相三 线电能表双锰铜采样电路产生脉 冲的方法。
[0007] 为解决上述技术问题， 本发明采用的一个技术方案是： 提供一种单相三线电能 表双锰铜采样电路产生脉冲的方法， 包括单相三线电能表， 所述单相三线电能 表包括 MCU控制单元、 两个计量采样电路和两个锰铜采样单元， 每个所述锰铜 采样单元分别和一个所述计量采样电路电连接 ， 两个计量采样电路分别和所述 MCU控制单元电连接， MCU控制单元中包括定吋器， 所述定吋器用于检测两 个计量采样电路产生脉冲的吋间间隔 T1和 T2, 并用于累加吋间 T3, 当 T3≥[ (T1 +Τ2) / Τ1χΤ2]吋， MCU控制单元发出脉冲。
[0008] 其中， 所述定吋器的中断吋间 T的范围为 150us≤T≤250us
[0009] 本发明的有益效果是： 在使用中不必考虑计量芯片的高频脉冲输出性 能， 摆脱 了对计量芯片性能的依赖， 使计量芯片的选择更加灵活， 有效降 ί氐电能表的成 本， 且采用此方法能更加精确地输出脉冲， 避免跳动误差。
[0010] 國綱
[0011] 图 1是本发明的一个实施方式中的硬件结构示意 。 [0012] 主要元件符号说明：
[0013] 控制单元 -10; 计量采样电路 -20; 锰铜采样单元 -30。
[0014] t m^
[0015] 为详细说明本发明的技术内容、 构造特征、 所实现目的及效果， 以下结合实施 方式并配合附图详予说明。
[0016] 请参阅图 1 , 本实施方式为一种单相三线电能表双锰铜采样 电路产生脉冲的方 法， 包括单相三线电能表， 单相三线电能表包括 MCU控制单元 10、 两个计量采 样电路 20和两个锰铜采样单元 30, 每个锰铜采样单元 30分别和一个计量采样电 路 20电连接， 两个计量采样电路 20分别和 MCU控制单元 10电连接。 MCU控制单 元 10中包括定吋器， 定吋器用于检测两个计量采样电路 20产生脉冲的吋间间隔 T 1和 T2, 并用于累加吋间 T3, 当 T3≥[ (T1+T2) / Τ1χΤ2]吋， MCU控制单元 10 发出脉冲。
[0017] 在本实施方式中， 单相三线两个计量电量的功率假设为 P1和 P2, 脉冲间隔吋 间为 T1和 T2, 单相三线总的功率和总吋间间隔假设为 P和 T3, 则功率可以表示 ¾P=P1+P2, 脉冲间隔吋间 T = 3600000/ (Ρχ脉冲常数） ， 单位为秒。 贝 ljP=Pl+ P2可以表示为 1/T3=1/T1+1/T2; 即当 1/Τ3≥1/Τ1+1/Τ2吋 MCU控制单元发出脉冲
。 由上述原理可知， 电能大小可采用两个计量采样电路产生脉冲的 吋间间隔 T1 、 Τ2以及累加吋间 Τ3来量化， 可等效为当 T3≥[ (T1+T2) /Τ1χΤ2]吋发出脉冲。
[0018] 进一步地， 在一个优选的实施方式中， 定吋器的中断吋间 Tus的区间可设置为 1 50us≤T≤250us。 选择小于等于 250us的定吋吋间是为了得到更小跳动的误差值 反之， 如果 Tus选择太小的话， MCU控制单元的中断更加频繁， 程序执行效率 变 ί氐， 因此需大于 150us。 故从 MCU控制单元的资源及执行效率及计量准确方 面综合考虑， 定吋器的中断吋间区间为 150us≤T≤250us。
[0019] 由于把脉冲累加量化为累加各个计量采样电路 的脉冲吋间间隔， 从而使控制更 加简单， 脉冲的产生更加精准， 并且由于对计量采样电路上的芯片的性能要求 也相应降 ί氐， 能够显著降 ί氐电能表的成本。 采用本发明的方法可使得电能表在 使用中不必考虑计量芯片的高频脉冲输出性能 ， 摆脱了电能表对计量芯片性能 的依赖， 使计量芯片的选择更加灵活， 有效降 ί氐电能表的成本， 且采用此方法 能更加精确地输出脉冲， 避免跳动误差。
以上所述仅为本发明的实施例， 并非因此限制本发明的专利范围， 凡是利用本 发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效 流程变换， 或直接或间接运用在 其他相关的技术领域， 均同理包括在本发明的专利保护范围内。
技术问题
问题的解决方案
发明的有益效果