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Title:
METHOD FOR SUPPRESSING MULTIPLE SCATTERING IN EXAMINATIONS OF TURBID MEDIA USING A CROSS-CORRELATION TECHNIQUE
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2002/095368
Kind Code:
A1
Abstract:
Disclosed is a novel method for suppressing multiple scattering in examinations of turbid media by means of a cross-correlation technique. Prior to the adjustment of said method, a medium is disposed in an examination container and is illuminated by two laser beams. The light intensity scattered by the laser beams is picked up by detection lenses and cross-correlated. The direction vectors of the two scatter geometries are arranged in such a way that they are tilted at an angle in relation to at least one plane extending through the point of intersection of the illuminating beams in the examination container. The illuminating beams (k1, k2) and the direction vectors are arranged in such a way that the two scatter geometries are disposed in a non-symmetrical manner in relation to each of the planes extending through the point of intersection of the two intersecting illuminating beams (k1, k2) in the examination container, whereby at least parts of equivalent light spots are picked up by both detection lenses and the scatter light intensities picked up by both detection lenses for dispersions which are approximately transparent are cross-correlated.

Inventors:
ABERLE LISA (DE)
KLEEMEIER MALTE (DE)
Application Number:
PCT/DE2002/001846
Publication Date:
November 28, 2002
Filing Date:
May 22, 2002
Export Citation:
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Assignee:
FRAUNHOFER GES FORSCHUNG (DE)
ABERLE LISA (DE)
KLEEMEIER MALTE (DE)
International Classes:
G01N15/02; G01N21/49; (IPC1-7): G01N15/02; G01N21/49
Foreign References:
DE19755589A11999-08-05
Other References:
ABERLE L ET AL: "A comparison of 3D static light-scattering experiments with Monte Carlo simulations", J.PHYS.D: APPLIED PHYSICS, vol. 32, no. 1, 7 January 1999 (1999-01-07), pages 22 - 29, XP001108830
ABERLE L ET AL: "Effective suppression of multiply scattered light in static and dynamic light scattering", APPLIED OPTICS, vol. 37, no. 27, 20 September 1998 (1998-09-20), pages 6511 - 6523, XP001108831
Attorney, Agent or Firm:
Tegel, Letizia (München, DE)
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Claims:
Patentansprüche
1. l. Verfahren zur Unterdrückung der Mehrfachstreuung bei Unter suchungen an trüben Medien mittels Kreuzkorrelationstechnik, bei dem zur Justage des Verfahrens ein Medium in einem Un tersuchungsbehälter angeordnet und durch zwei Laserstrahlen deren Kreuzungspunkt im Untersuchungsbehälter liegt, be leuchtet wird, und wobei die von den Laserstrahlen gestreute Lichtintensität durch auf den Kreuzungspunkt justierte De tektionsoptiken aufgenommen und kreuzkorreliert wird und.
2. wo bei die Richtungsvektoren der beiden, jeweils aus einem ein fallenden Strahl und dem von einer Detektionsoptik aufgenom menen Anteil der Streulichtintensität gebildeten Streugeome trien, so angeordnet sind, dass sie gegenüber wenigstens ei ner, durch den Kreuzungspunkt der beleuchtenden Strahlen im Untersuchungsbehälter verlaufenden Ebene, um einen Winkel verkippt sind, dadurch gekennzeichnet, dass die beleuchten den Strahlen (kl, k2) und die Richtungsvektoren so angeordnet sind, dass die beiden Streugeometrien in Bezug auf jede durch den Kreuzungspunkt der beiden sich im Untersuchungsbe hälter kreuzenden beleuchtenden Strahlen (kl, k2) verlaufende Ebene, unsymmetrisch angeordnet sind so, dass die beiden De tektionsoptiken wenigstens Anteile äquivalenter Lichtflecken aufnehmen und dass die von den beiden Detektionsoptiken an nahezu transparenten Dispersionen aufgenommenen Streulicht intensitäten kreuzkorreliert sind.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der erste beleuchtende Strahl (kl) und die Richtung der von der ersten Detektionsoptik aufgenommenen Streulichtintensität (kB) eine Ebene E aufspannen und dass die Richtung des zwei ten beleuchtenden Strahles (k2) gegenüber der Richtung des er sten beleuchtenden Strahles (kl) um einen Winkel phi gegen über diesem verkippt ist, wobei eine erste Verkippachse in der Ebene E und senkrecht zur Richtung des ersten beleuchten den Strahles (kl) liegt und dass die Richtung der von der zweiten Detektionsoptik aufgenommenen Streulichtintensität (kA) ebenfalls um einen Winkel phi gegenüber der Richtung der von der ersten Dektionsoptik aufgenommenen Streulichtintensi tät (kB) um eine zweite Verkippachse verkippt ist, wobei die se Verkippachse in der Ebene E und senkrecht zur Richtung des von der ersten Detektionsoptik aufgenommenen Streulichtinten sität (kB) liegt, und dass die Richtungen der von den beiden Detektionsoptiken aufgenommenen Streulichtintensitä ten (kA, kB) kreuzkorreliert werden und dass eine Kreuzkorre lationsfunktion bestimmt wird und dass der Winkel phi einen Wert aufweist, so dass die beiden Detektionsoptiken wenig stens Anteile äquivalenter Lichtflecken aufnehmen und dass die von den beiden Detektionsoptiken an nahezu transparenten Dispersionen aufgenommenen Streulichtintensitäten kreuzkorre liert sind.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite beleuchtende Strahl (k2) und die Richtung der von der ersten Detektionsoptik aufgenommenen Streulichtintensität (kB) eine Ebene E aufspannen und dass die Richtung des er sten beleuchtenden Strahles (kl) gegenüber der Richtung des zweiten beleuchtenden Strahles (k2) um einen Winkel phi ge genüber diesem verkippt ist, wobei eine erste Verkippachse in der Ebene E und senkrecht zur Richtung des zweiten be leuchtenden Strahles (k2) liegt und dass die Richtung der von der zweiten Detektionsoptik aufgenommenen Streulichtin tensität (kA) um einen Winkel minus phi in Bezug auf die Ebene E gegenüber der Richtung der von der ersten Dektion soptik aufgenommenen Streulichtintensität (kB) um eine zwei te Verkippachse verkippt ist, wobei diese Verkippachse in der Ebene E und senkrecht zur Richtung des von der ersten Detektionsoptik aufgenommenen Streulichtintensität (kB) liegt, und dass die Richtungen der von den beiden Detektion soptiken aufgenommenen Streulichtintensitäten (kA, kB) kreuzkorreliert werden und dass eine Kreuzkorrelationsfunk tion bestimmt wird und dass der Winkel phi einen Wert auf weist, so dass die beiden Detektionsoptiken wenigstens An teile äquivalenter Lichtflecken detektieren und dass die von den beiden Detektionsoptiken an nahezu transparenten Disper sionen aufgenommenen Streulichtintensitäten kreuzkorreliert sind.
5. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Ebene E senkrecht zur Wand des Un tersuchungsbehälters verläuft.
6. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die beleuchtenden Strahlen auf eine Linse so auftreffen, dass ein Strahl durch die Mitte der Linse trifft und seine Richtung nicht beeinflußt wird und dass der zweite beleuchtende Strahl so auf die Linse trifft, dass er in seiner Richtung um den Winkel phi gegenüber dem ersten Strahl verkippt wird.
7. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass ein beleuchtender Strahl (2) auf einen Strahlteiler (11) trifft und durch diesen in zwei be leuchtende und zueinander geneigte Strahlen (17,18) mit ei nem Kreuzungspunkt (19), der im Untersuchungsbehälter liegt, gespalten wird.
8. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der beleuchtende Strahl (2) in ein zu seiner Richtung unter einem Winkel (gamma) stehendes Glasplättchen (11) ein tritt und beim Austritt aus dem Plättchen auf eine teilver spiegelte Fläche (14) trifft, an der er unter Bildung des er sten beleuchtenden Strahles (17) teilweise austritt und teil weise reflektiert wird und dass der reflektierte Teil auf ei ne vollverspiegelte Fläche (15) des Glasplättchens (11) trifft und an dieser vollständig reflektiert wird und an ei ner Schräge (16) des Glasplättchens (11) unter Bildung des zweiten beleuchtenden Strahles (18) austritt und dabei so ge neigt wird, dass er den ersten Strahl (17) im Kreuzungspunkt (19) kreuzt.
Description:
Verfahren zur Unterdrückung der Mehrfachstreuung bei Untersu- chungen an trüben Medien mittels Kreuzkorrelationstechnik Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Unterdrückung der Mehrfachstreuung bei Untersuchungen an trüben Medien mittels Kreuzkorrelationstechnik, gemäß dem Oberbegriff des Hauptan- spruchs.

Kreuzkorrelationstechnik ist geeignet zur Durchführung von Un- tersuchungen an trüben Medien durch den Einsatz der Licht- streuung, da sich mit solchen Techniken der störende Einfluß des in trüben Medien auftretenden mehrfach gestreuten Lichtes unterdrücken läßt, bzw. die einfach gestreute Lichtintensität selektiert werden kann. Auf diese Weise lassen sich auch in trüben Medien zuverlässige Informationen über die dynamischen Prozesse solcher Medien gewinnen.

Die DE 197 55 589 beschreibt ein Verfahren zur Durchführung von Untersuchungen an trüben Medien mittels Kreuzkorrelation- stechnik bei dem gleichzeitig zwei Streuexperimente am selben Streuvolumen durchgeführt werden, und zwar so, daß die Wellen- vektoren der beiden Streuexperimente unterschiedlich, aber die Streuvektoren dieser Streuexperimente nach Betrag und Richtung gleich sind. Die Streugeometrien von 3D Kreuzkorrelationsexpe- rimenten zeichnen sich durch eine symmetrische Anordnung ge- genüber einer, durch den Kreuzungspunkt der beleuchtenden Strahlen im Untersuchungsbehälter verlaufenden Ebene aus. Die Justageprozedur von derartigen 3D Kreuzkorrelationsuntersu- chungen ist hochempfindlich bzw. technisch aufwendig und muß sehr präzise ausgeführt werden. Eine nicht optimale Justage führt schnell zu einer mangelhaften Qualität der Kreuzkorrela- tionssignale.

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Verfahren zur Durchführung von Kreuzkorrelationsuntersuchungen in trüben Me- dien anzugeben, dessen Justage bei gleichzeitiger hoher Genau- igkeit einfach durchführbar ist.

Diese Aufgabe ist durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Die Unteransprüche stellen vorteilhafte Weiterbildungen dar.

Danach sind die beiden das Probenvolumen beleuchtenden Strah- len und die Detektionsoptiken so angeordnet, dass die beiden, jeweils durch einen einfallenden Strahl und dem von einer De- tektionsoptik aufgenommenen Anteil der Streulichtintensität gebildeten Streugeometrien in Bezug auf jede durch den Kreu- zungspunkt der sich im Untersuchungsbehälter kreuzenden Be- leuchtungsstrahlen verlaufende Ebene, unsymmetrisch angeordnet sind, jedoch so, dass die beiden Detektionsoptiken wenigstens Anteile äquivalenter Lichtflecken aufnehmen und dass die von diesen an nahezu transparenten Dispersionen aufgenommenen Streulichtintensitäten kreuzkorreliert sind.

In Ausgestaltung ist nach Anspruch 2 vorgesehen, dass der er- ste beleuchtende Strahl (kl) und die Richtung der von der er- sten Detektionsoptik aufgenommenen Streulichtintensität (kB) eine Ebene E aufspannen und dass die Richtung des zweiten be- leuchtenden Strahles (k2) gegenüber der Richtung des ersten be- leuchtenden Strahles (kl) um einen Winkel phi gegenüber diesem verkippt ist, wobei eine erste Verkippachse in der Ebene E und senkrecht zur Richtung des ersten beleuchtenden Strahles (kl) liegt und dass die Richtung der von der zweiten Detektionsop- tik aufgenommenen Streulichtintensität (kA) ebenfalls um einen Winkel phi gegenüber der Richtung der von der ersten Dektion- soptik aufgenommenen Streulichtintensität (kB) um eine zweite Verkippachse verkippt ist, wobei diese Verkippachse in der Ebene E und senkrecht zur Richtung des von der ersten Detekti- onsoptik aufgenommenen Streulichtintensität (kB) liegt, und dass die Richtungen der von den beiden Detektionsoptiken auf- genommenen Streulichtintensitäten (kA, kB) kreuzkorreliert werden und dass eine Kreuzkorrelationsfunktion bestimmt wird und dass der Winkel phi einen Wert aufweist, so dass die bei- den Detektionsoptiken wenigstens Anteile äquivalenter Licht- flecken aufnehmen und dass die von den beiden Detektionsopti- ken an nahezu transparenten Dispersionen aufgenommenen Streu- lichtintensitäten kreuzkorreliert sind.

Eine weitere Ausgestaltung des Verfahrens nach Anspruch 3 sieht im Unterschied zur Ausgestaltung nach Anspruch 2 vor, dass die Verkippwinkel phi für die beiden Streulichtintensitä- ten sich in bezug auf die Verkippachsen im Vorzeichen unter- scheiden, d. h. dass die beiden Streulichtintensitäten in bezug auf die Ebene E in zwei verschiedene Richtungen verkippt sind.

In Ausgestaltung sieht die Erfindung vor, dass die Ebene E so angeordnet ist, dass sie senkrecht auf die Wand des Untersu- chungsbehälters steht.

Vorteilhaft ist, wenn gemäß den Ansprüchen 6 und 7 eine einfa- che und genaue Möglichkeit der Einstellung des Verlaufs der beleuchtenden Strahlen unter einem bestimmten Winkel phi gege- ben ist. Die beiden beleuchtenden Strahlen entstehen durch die Spaltung eines, auf einen entsprechend ausgestalteten Strahl- teiler, auftreffenden Strahles. Dadurch ist gewährleistet, dass die Einstellung des Verkippwinkels phi einfach und genau erfolgt.

Die Erfindung wird anhand der Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen : Fig. 1 Schematische Darstellung des Verlaufs der beleuchten den Strahlen und der Streugeometrien in bezug auf eine Ebene bei einem nicht symmetrischen Strahlenverlauf.

Fig. 2 Schematische Darstellung des Verfahrensaufbaus zu Fig. 1 Fig. 3 Eine andere Darstellung des Strahlen-und Streugeome- trieverlaufs in Bezug auf eine Ebene Fig. 4 Schematische Darstellung des Verfahrensaufbaus zu Fig. 3 Fig. 5 Schematische Darstellung des Verfahrensaufbaus mit einem Strahlteiler Fig. 6 Strahlteiler der Fig. 5 In Fig. 1 ist schematisch der Strahlenverlauf der beleuchten- den Strahlen kl und k2, und der Verlauf der durch die Detekti- onsoptiken'aufgenommenen Streuintensitäten kA und kB und die Streuvektoren q1A und q2B dargestellt. Im Unterschied zur 3D Kreuzkorrelationstechnik ist die Streugeometrie nicht symme- trisch zur x-y Ebene,, d. h. zu der Ebene E. Die Wellenvekto- ren k2 und kB liegen in der x-y-Ebene. Die beiden Wellenvekto- ren kl und kA sind gegenüber diesen Vektoren um denselben Win- kel (p verkippt, so, daß die Streuvektoren q1A = kl,-kA und q2B = k2,-kB dieselbe Richtung besitzen. D. h., die Verkippung liegt für den einen Vektor kl oberhalb und für den anderen Vek tor kA unterhalb der x-y-Ebene. Die Beträge |q1Alund |q2B| der Streuvektoren sind leicht unterschiedlich. Der Grund hierfür liegt in den leicht unterschiedlichen Streuwinkeln 01 und 62.

Die Wellenvektoren k2 und kB befinden sich in diesem Verfahren in der x-y-Ebene. Dadurch, daß wenigstens eine der beiden Streuebenen in der x-y-Ebene liegt, wird die Justage verein- facht und verbessert.

Fig. 2 zeigt die Verfahrensanordnung für die unsymmetrische Streugeometrie der Fig. l. Der beleuchtende Strahl 2 wird in zwei parallele Strahlen 9a und 9b durch den Strahlteiler 3 ge- teilt. Es tritt nun einer der beiden parallelen Laserstrahlen 9b durch die Mitte einer Linse 4 und wird deshalb nicht abge- lenkt. Der andere beleuchtende Strahl 9a trifft seitlich auf die Linse 4 und wird dadurch zu dem ersten beleuchtenden Strahl um den Winkel phi verkippt. Beide Strahlen 9a, 9b kreu- zen sich im Untersuchungsbehälter 1. Die in dem zu untersu- chendem Medium gestreute Lichtintensität wird detektiert und kreuzkorreliert. Auf der Detektionsseite wird die Intensität des Streulichtes von zwei Single-Mode-Fasern 5a, 5b aufgenommen und an zwei Photomultiplier 7a, 7b weitergeleitet, deren Aus- gangssignale dann von einem Korrelator 8 kreuzkorreliert wer- den. Vor einer der Fasern 5a, 5b befindet sich für die Justage des Verfahrens ein Spiegel 6.

Eine andere Ausführungsform für eine unsymmetrische Streugeo- metrie für Kreuzkorrelationsuntersuchungen ist in Fig. 3 ge- zeigt : Hier liegen die Wellenvektoren kl und kB in der x-y- Ebene. Die beiden Wellenvektoren kA und k2 sind gegenüber die- sen Vektoren um denselben Winkel (p verkippt. Diese Verkippung liegt für beide Wellenvektoren kA und k2 entweder oberhalb oder unterhalb der x-y-Ebene. In Fig. 3 liegt diese Verkippung bei- spielsweise unterhalb der x-y-Ebene. Dann ist der Betrag der beiden Streuvektoren gleich und es gilt : qj= 2 = ! qL aber die Richtung von q1A und q2B ist leicht unterschiedlich.

Diese unsymmetrische Streugeometrie kann durch einen in Fig. 4 dargestellten Verfahrensaufbau realisiert werden. Dieser Ver- fahrensaufbau unterscheidet sich von der Darstellung der Fig. 2 dadurch, dass der Strahl 9a durch die Mitte der Linse 4 und der Strahl 9b unterhalb der Mittellinie der Linse 4 auf diese trifft.

Eine weitere vorteilhafte Ausführung des Verfahrensaufbaus ist in Fig. 5 beschrieben. Der beleuchtende Strahl 2 trifft auf ei- nen Strahlteiler 11 auf und wird in zwei Teilstrahlen lla, llb gespaltet. Der Strahl lla wird gleichzeitig so abgelenkt, daß sich beide Teilstrahlen lla, llb im Untersuchungsbehälter 1 kreuzen. Bei der unsymmetrischen Strahlführung muß lediglich einer der beiden Laserstrahlen lla geneigt werden. Durch den Einsatz des Strahlteilers 11 wird sowohl die Justage weiter vereinfacht als auch die Stabilität des Verfahrensablaufs er- höht.

Die Funktionsweise des Strahlteilers 11 ist in Fig. 6. darge- stellt. Der Strahlteiler 11 ist ein planparalleles, auf einer Seite 16 abgeschrägtes Glasplättchen. Der Laserstrahl 2 tritt an der Stelle 13 in das Glasplättchen 11 ein. In einer vor- teilhaften Ausführung ist das Glasplättchen 11 an dieser Stel- le wenigstens teilweise entspiegelt. Das Glasplättchen 11 ist gegenüber der Richtung des Laserstrahles 2 um einen Winkel y geneigt. Daher ändert der Laserstrahl 2 beim Eintritt in das Glasplättchen seine Richtung und trifft an der Stelle 14 auf eine Beschichtung, die einen Teil der Intensität des Laser- strahles reflektiert und den anderen Teil 17 durchläßt. Der reflektierte Anteil des Laserstrahles trifft an der Stelle 15 auf eine vollverspiegelte Schicht und wird möglichst vollstän- dig reflektiert. Der an der Stelle 15 reflektierte Laserstrahl 18 verläßt das Glasplättchen 11 an der Stelle 16 so, daß er den Teilstrahl 17 an einer vorgegebenen Stelle 19 kreuzt.

Durch die Veränderung des Neigungswinkels y läßt sich mit dem Glasplättchen 11 der Abstand der Teilstrahlen 17 und 18 an den Austrittsstellen 14 und 16 sowie der Abstand des Kreuzungs- punktes 19 von den Austrittstellen 14 und 16 variieren.