DESCRIPTION Titre de l'invention : Méthode et système pour calibration d’un spectromètre pour particules chargées Domaine technique : [0001] La concerne le domaine des spectromètres pour particules chargées et plus particulièrement la calibration des spectromètres pour particules chargées. Par « spectromètres pour particules chargées », on entend ici des spectromètres adaptés pour mesurer le spectre d’énergie de molécules chargées ou d’électrons ou encore d’ions. Technique antérieure : [0002] La figure 1A illustre un spectre typique de perte d'énergie d'un électron (ou EELS pour l’acronyme anglais de Electron Energy Loss Spectra) dans le cas où une interaction se produit entre l'électron et de la lumière. Le pic central, à énergie nulle, est appelé pic de perte nulle (ou ZLP pour l’acronyme anglais de Zero Loss Peak). Des deux côtés, on peut voir deux pics, qui sont respectivement le pic EELS stimulé du premier ordre (à droite) et le pic de gain d'énergie d’électron stimulé noté EEGS (à gauche). [0003] De manière connue en soi, les mesures effectuées par les spectromètres pour particules chargées et plus particulièrement les spectromètres d’électrons souffrent de plusieurs types d’erreurs de calibration. [0004] La figure 1B illustre l’effet d’une erreur de calibation linéaire d’un spectromètre sur la mesure du spectre d’énergie de l’électron avec le spectre de la figure 1A. A titre d’exemple, on observe sur la figure 1B que les pics sont décalés symétriquement par rapport à 0 vers des énergies plus importantes en valeur absolue que celles observées dans la figure 1A. Plus généralement, l’effet d’une erreur d’échelle. [0005] La figure 1C illustre l’effet d’une erreur de type décalage d’un spectromètre sur la mesure du spectre d’énergie de l’électron avec le spectre de la figure 1A. Ici, on observe que les pics sont décalés non symétriquement d’une même valeur ^^ vers des énergies plus importantes que celles observées dans la figure 1A. Plus généralement, l’effet d’une erreur de type décalage est une addition d’une valeur égale au décalage ^^ à la valeur de l’énergie des pics EEGS et EELS, cette valeur ^^ pouvant être négative. [0006] La figure 1D illustre l’effet d’une erreur non-linéaire d’un spectromètre sur la mesure du spectre d’énergie de l’électron avec le spectre de la figure 1A. On observe que les pics sont décalés non-symétriquement par rapport à 0 et de manière différente entre le pic EEGS et EELS par rapport à la figure 1A. [0007] Dans les meilleurs spectromètres d’électrons, généralement utilisé dans les microscopes électroniques pour la spectroscopie EELS, la précision linéaire et l'exactitude sont limitées à environ 1 % (10 eV à 1000 eV ou 20 meV à 2 eV). Par « précision linéaire et exactitude » on entend ici la précision dans la détermination de S et de O respectivement. En effet, il existe typiquement deux façons connues de calibrer le facteur d’échelle S et le décalage O des spectres de particules chargées. [0008] Une première méthode consiste à utiliser un étalon traversé par le faisceau de particules chargées et présentant une caractéristique spectrale (absorption, gain) d'énergie connue. Cette caractéristique spectrale peut être déterminée par des calculs ou des expériences préalables. Il est alors possible de déterminer le facteur d’échelle S et le décalage O par une mesure du spectre des particules chargées sans traversée de l’étalon et par une mesure du spectre des particules chargées avec traversée de l’étalon. Cependant, cette méthode présente un inconvénient important. En effet, les incertitudes liées à l'énergie de transition dans les solides entrainent une incertitude dans la détermination du facteur d’échelle S et du décalage O. Par exemple, le seuil L d’absorption du Ni dans le NiO peut être déterminé avec une précision de 0.1 eV mais avec une exactitude faible car la position en énergie du seuil L précise dépend de l'état d'oxydation réel de Ni. [0009] Une deuxième méthode consiste à modifier l'énergie de la particule du faisceau émis d'une quantité supposée connue, typiquement par l’application d’un champ magnétique ou d’un potentiel électrique. Il est alors possible de déterminer le facteur d’échelle S et le décalage O par deux mesures du spectre des particules chargées avec deux énergies différentes. [0010] Cependant, à l'heure actuelle, les deux méthodes souffrent des incertitudes dues aux déviations de la trajectoire des électrons du fait de divers effets (champs de fuite dans les éléments optiques des particules chargées, aberrations...). Ces effets entrainent une incertitude dans la détermination du facteur d’échelle S et du décalage O. [0011] L’invention vise à pallier certains problèmes de l’art antérieur. A cet effet, un objet de l’invention est une méthode (et un système associé) pour calibration d’un spectromètre pour particules chargées comprenant une étape consistant à effectuer un couplage, via un champ électromagnétique évanescent, entre un faisceau laser et un faisceau de particules chargées. Ce couplage permet de générer un faisceau de particules chargées présentant un spectre comprenant une pluralité de pics d’énergies distincts séparés spectralement d’une énergie égale à l’énergie du faisceau laser. A l’aide du spectromètre pour particules chargées, on détermine une variation d’énergie d’au moins deux des pics d’énergies distincts par rapport à l’énergie du faisceau de particules chargées. A partir des variations d’énergie, il est alors possible de déterminer une valeur du facteur d’échelle ^^ et une valeur du décalage ^^ propre à la mesure du spectre du faisceau de sortie par le spectromètre. [0012] La méthode de l’invention présente l’avantage de permettre une détermination du facteur d’échelle ^^ et du décalage ^^ avec une précision limitée uniquement par la précision de l’énergie du faisceau laser. Elle permet une amélioration de plusieurs ordres de grandeur dans la mesure du facteur d’échelle ^^ et du décalage ^^ par rapport aux méthodes connues de l’art. Résumé de l’invention : [0013] A cet effet, un objet de l’invention est une méthode de calibration d’un spectromètre pour particules chargées comprenant les étapes suivantes : A. générer un faisceau de particules chargées incident monochromatique présentant une première énergie ^^ ₁ ; B. générer un faisceau laser incident présentant une deuxième énergie ^^ ₂ ; C. illuminer une surface d’un échantillon avec le faisceau laser incident afin de générer un champ électromagnétique évanescent dans une région à proximité de ladite surface ; D. superposer spatialement et temporellement le faisceau laser incident et le faisceau de particules chargées incident dans ladite région afin de les coupler via ledit champ électromagnétique évanescent en générant un faisceau de particules chargées dit faisceau de sortie présentant un spectre comprenant une pluralité de pics d’énergies distincts séparés spectralement d’une valeur égale à la deuxième énergie ^^ ₂ ; E. mesurer, par le spectromètre, tout ou partie du spectre du faisceau de sortie, puis déterminer une variation d’énergie ^^ ^^ d’au moins deux des pics d’énergies distincts par rapport à la première énergie ^^ ₁ ; F. déterminer une valeur du facteur d’échelle ^^ et une valeur du décalage ^^ propre à ladite mesure du spectre du faisceau de sortie par le spectromètre à partir des variations d’énergie ^^ ^^. [0014] De manière préférentielle, la variation d’énergie ^^ ^^ de chacun des au moins deux pics d’énergie distincts est égale à ^^ ^^ = ± ^^ × ^^ ₂ , avec ^^ un nombre entier positif ou nul égal à un nombre d’intervalles inter-pics séparant ledit pic d’énergie distinct du pic du spectre à la première énergie ^^ ₁ et dans laquelle ladite variation d’énergie ^^ ^^ de chacun des au moins deux pics d’énergies distincts est déterminée dans l’étape E par le spectromètre par la relation suivante, nommée première équation : ^^ ^^( ^^) = ^^ × ^^ + ^^ + ^^ ^^( ^^) avec ^^ un canal d’un détecteur matriciel du spectromètre où est détecté ledit pic d’énergie distinct, avec ^^ ^^( ^^) une fonction du canal ^^ représentative de non- linéarités subies par les particules chargées lors de leur trajet et détection, dite fonction NL. [0015] Selon un premier mode de réalisation, on détermine que lesdites non- linéarités subies par les particules chargées sont faibles ou nulles, et, dans l’étape E, on détermine la variation d’énergie ^^ ^^ de deux des pics d’énergies distincts, numérotés par l’indice 1 et 2 respectivement via la première l’équation de manière à obtenir le premier système (S1) suivant : ( ^{^^ ^^( ^^} ₁ ^{) = ^^} ₁ ^{× ^^ + ^^ = ± ^^} ₁ ^{× ^^} ₂ l'étape F consistant à (S1) pour déterminer la valeur du facteur d’échelle ^^ et la valeur du décalage. [0016] De manière préférentielle, dans le premier mode de réalisation, un nombre ^^ > 1 entier d’intervalles inter-pics séparant lesdits deux pics pour lesquels est déterminée la variation d’énergie ^^ ^^ est telle qu’une erreur sur la détermination de la valeur facteur d’échelle est inférieure ou égale à 1% de la deuxième énergie. [0017] Selon un second mode de réalisation, on détermine que les non-linéarités subies par lesdites particules chargées ne sont pas faibles ou nulles et, dans l’étape E, on détermine la variation d’énergie ^^ ^^ d’un nombre ^^ > 2 pics d’énergies distincts chacun numéroté par un indice ^^ ∈ [1; ^^] via la première l ^{’équation de manière à obtenir le deuxième système (S2) suivant : (} ^^2 ⁾ ^^ ∈ ^[ 1; ^^ ^]{ ^^ ^^ ⁽ ^^ _^^ ⁾ = ^^ _^^ × ^^ + ^^ + ^^ ^^ ⁽ ^^ _^^ ⁾ = ± ^^ _^^ × ^^ ₂ l'étape F consistant à : - résoudre le deuxième système d’équation (S2) pour déterminer la valeur du facteur d’échelle ^^ et la valeur du décalage ^^ et les N valeurs ^^ ^^( ^^ _^^ ), ^^ ∈ [1; ^^] de la fonction NL ; - extrapoler la fonction NL à partir des N valeurs ^^ ^^( ^^ _^^ ) , ^^ ∈ [1; ^^] afin de caractériser les non-linéarités subies par les particules chargées lors de leur trajet et détection. [0018] De manière préférentielle, la méthode du second mode de réalisation comprend une étape ultérieure à l’étape F consistant à minimiser de manière itérative les valeurs de la fonction NL en répétant les étapes A à F une pluralité de fois et en modifiant des paramètres du trajet et de la détection des particules chargées entre chaque itération. [0019] Selon un mode de réalisation, l’étape D comprend en outre une sous étape consistant à mesurer un spectre du faisceau laser incident simultanément à la génération du faisceau de sortie, la détermination la valeur du facteur d’échelle ^^ et la valeur du décalage ^^ étant effectuée à partir de ladite mesure du spectre du faisceau laser incident. [0020] Un autre objet de l’invention est un système pour calibrer un spectromètre pour particules chargées, ledit système comprenant : - une source de particules chargées adaptée pour générer un faisceau de particules chargées incident monochromatique présentant une première énergie ^^ ₁ ; - une source laser adaptée pour générer un faisceau laser incident présentant une deuxième énergie ^^ ₂ ; - un ensemble de transport optique et de particules chargées adapté pour : • illuminer une surface d’un échantillon avec le faisceau laser incident afin de générer un champ électromagnétique évanescent dans une région à proximité de ladite surface ; • superposer spatialement et temporellement le faisceau laser incident et le faisceau de particules chargées incident dans ladite région afin de les coupler via ledit champ électromagnétique évanescent de manière à générer un faisceau de particules chargées dit faisceau de sortie présentant un spectre comprenant une pluralité de pics d’énergies distincts séparés spectralement d’une valeur égale à la deuxième énergie ^^ ₂ ; ledit spectromètre étant adapté pour mesurer tout ou partie du spectre du faisceau de sortie, ledit système comprenant en outre un processeur relié au spectromètre et adapté pour : • déterminer une variation d’énergie ^^ ^^ d’au moins deux des pics d’énergies distincts par rapport à la première énergie ^^ ₁ ; • déterminer une valeur du facteur d’échelle ^^ et une valeur du décalage ^^ propre à ladite mesure du spectre du faisceau de sortie par le spectromètre à partir des variations d’énergie ^^ ^^. [0021] De manière préférentielle, le faisceau laser incident est un faisceau continu ou un faisceau impulsionnel avec une largeur spectrale inférieure à 40 meV. [0022] Selon un mode de réalisation, le système comprend un spectromètre additionnel optique adapté pour mesurer un spectre du faisceau laser incident simultanément à la génération du faisceau de sortie, le processeur étant également relié au spectromètre additionnel de sorte que la détermination la valeur du facteur d’échelle ^^ et la valeur du décalage ^^ soit effectuée à partir de ladite mesure du spectre du faisceau laser incident. [0023] De manière préférentielle, la source laser et l’ensemble de transport sont adaptés pour que le faisceau laser incident présente intensité supérieure ou égale à 10 ⁸ ^^⁄ ^^ ^^ ² dans ladite région. [0024] De manière préférentielle, la source laser et l’ensemble de transport sont adaptés pour que le faisceau laser incident présente une polarisation selon une direction adaptée à la géométrie et la symétrie de l’échantillon afin de maximiser localement l’intensité du champ évanescent dans ladite région. [0025] De manière préférentielle, ledit ensemble de transport comprend une parabole hors axe adaptée pour focaliser le faisceau laser incident sur ladite surface de l’échantillon, ladite parabole présentant une ouverture traversée par le faisceau de particules chargées incident de sorte qu’il se co-propage avec le faisceau laser incident vers ladite région après que ce dernier se soit réfléchi sur ladite parabole hors axe. [0026] De manière préférentielle, le système comprend une cavité optique résonante pour le faisceau laser incident dans laquelle est agencé l’échantillon, ledit ensemble de transport et ladite cavité optique étant en outre adaptés pour que le faisceau laser incident effectue une pluralité de réflexions dans la cavité optique en traversant ladite région. Brève description des figures : [0027] D’autres caractéristiques, détails et avantages de l’invention ressortiront à la lecture de la description faite en référence aux dessins annexés donnés à titre d’exemple et qui représentent, respectivement : [0028] [Fig.1A], un spectre typique de perte d'énergie d'un électron (EELS) dans le cas où une interaction se produit entre l'électron et de la lumière [0029] [Fig.1B], [Fig.1C], [Fig.1D], l’effet d’une erreur d’échelle, d’une erreur de type décalage et d’une erreur non linéaire respectivement sur la mesure du spectre d’énergie de l’électron avec le spectre de la figure 1A, [0030] [Fig.2], une représentation graphique de la méthode selon l’invention pour la calibration d’un spectromètre pour particules chargées, [0031] [Fig.3], une représentation schématique du système selon l’invention pour calibrer un spectromètre pour particules chargées, [0032] [Fig.4A], une représentation graphique de l’intensité du champ évanescent généré dans la région, [0033] [Fig.4B], un diagramme d’énergie représentant l’interaction particules chargées-photons de l’étape D de la méthode de l’invention, [0034] [Fig.4C], un exemple de spectre de perte d'énergie comprenant trois pics EELS et trois pics EEGS et le pic ZLP, [0035] [Fig.5], une représentation schématique d’un mode de réalisation particulier de l’invention dans lequel le système de l’invention comprend un spectromètre optique additionnel adapté pour mesurer un spectre du faisceau laser incident simultanément à la génération du faisceau de sortie, [0036] [Fig.6], une représentation schématique d’un mode de réalisation particulier de l’invention, dans lequel le système de l’invention comprend une cavité optique dans laquelle est agencé l’échantillon, [0037] [Fig.7], une représentation graphique de la méthode selon le second mode de réalisation de l’invention, [0038] Dans les figures, sauf contre-indication, les éléments ne sont pas à l’échelle. Description détaillée : [0039] La figure 2 est une représentation graphique de la méthode selon l’invention pour la calibration d’un spectromètre SM pour particules chargées. Comme évoquée plus haut, la méthode de l’invention méthode vise à calculer le facteur d’échelle ^^ et le décalage ^^ associé aux mesures du spectromètre SM. [0040] La figure 3 illustre schématiquement le système 1 selon l’invention pour calibrer un spectromètre SM pour particules chargées. Le système 1 est spécifiquement adapté pour mettre en œuvre la méthode de l’invention illustrée en figure 2. Le système 1 comprend notamment une source SP de particules chargées, une source laser SL, un ensemble de transport SO optique et de particules chargées, un échantillon Ech et le spectromètre SM. [0041] Dans une étape A de la méthode de l’invention, la source SP de particules chargées génère un faisceau de particules chargées incident FP. La source SP est adaptée pour que le faisceau FP soit monochromatique de manière à présenter une première énergie ^^ ₁ . Par « monochromatique », on entend ici que le faisceau FP présente la première énergie ^^ ₁ à < ±0.1%. [0042] Dans une étape B, la source laser SL génère un faisceau laser incident FL présentant une deuxième énergie ^^ ₂ = ℏ ^^ ₂ , avec ^^ ₂ une fréquence centrale du faisceau laser incident. Selon un mode de réalisation, la source laser SL délivre un faisceau impulsionnel. Alternativement, selon un autre mode de réalisation, la source laser SL délivre un faisceau continu. Comme cela sera détaillé plus loin, la durée des impulsions -via la largeur spectrale- influe directement sur la précision de la détermination du facteur d’échelle S et du décalage O. [0043] Les sources SL et SP sont configurées pour que les faisceaux FL et FP soient dirigés vers l’ensemble de transport SO. [0044] Dans une étape C, l’ensemble de transport SO dirige le faisceau laser incident FL de sorte qu’il illumine une surface SF de l’échantillon Ech de manière à générer un champ électromagnétique évanescent EV dans une région R à proximité de la surface SF. [0045] A titre purement illustratif, la figure 4A est une représentation graphique de l’intensité du champ évanescent EV dans la région R en fonction de la distance ^^ par rapport à la surface SF. [0046] L’échantillon de l’invention peut prendre toute forme connue de l’homme de l’art permettant la génération du champ évanescent EV par une illumination laser. A titre d’exemple non limitatif, l’échantillon est une surface métallique, un nanotube métallique, un nanofil métallique, une nanosphère, une fibre optique, une cavité fibrée en anneau, un guide d’onde ou plus généralement une cavité optique. [0047] Dans une étape D, l’ensemble de transport SO superpose spatialement et temporellement le faisceau laser incident FL et le faisceau de particules chargées incident FP dans la région R. Par cette superposition, un couplage entre les faisceaux FL et FP est permis via le champ évanescent EV. Ce couplage consiste en l’absorption ou l’émission, par les particules chargées, de photons du faisceau laser FL et permet la génération d’un faisceau de particules chargées (nommé faisceau de sortie FS) présentant un spectre comprenant une pluralité de pics d’énergies distincts séparés spectralement d’une valeur égale à la deuxième énergie ^^ ₂ . [0048] Ce mécanisme de couplage est connu de l’homme de l’art et est décrit pour l’interaction photon/électron dans le document Barwick, B., Flannigan, D. J., & Zewail, A. H. (2009). Photon-induced near-field electron microscopy. Nature, 462(7275), 902-906. Ce phénomène est un mécanisme non- linéaire dans lequel une particule chargée du faisceau FP d’énergie initiale ^^ ₁ absorbe ou émet ^^ ≥ 1 photons de manière à gagner ou perdre une énergie égale à un multiple de l’énergie ^^ ₂ d’un photon du faisceau laser FL. Après cette interaction, l’énergie de la particule chargée est donc ^^ ₁ ^′ = ^^ ₁ ± ^^ × ^^ ₂ , avec ^^ ₁ ^′ l’énergie de la particule chargée dans le faisceau de sortie FS. La figure 4B est le diagramme d’énergie représentant cette interaction. [0049] A la suite de cette interaction photon/particules chargées, le faisceau de sortie FS présente donc un spectre d’énergie comprenant une pluralité de pics d’énergie distincts à des énergies ^^ ₁ ^′ = ^^ ₁ ± ^^ × ^^ ₂ ( ^^ ≥ 1) et à une énergie ^^ ₁ (le pic nommé ZLP). Pour la suite, afin de faciliter les notations, on dira par la suite que le faisceau de sortie FS présente un spectre d’énergie comprenant une pluralité de pics d’énergie distincts à des énergies ^^ ₁ ^′ = ^^ ₁ ± ^^ × ^^ ₂ ( ^^ entier supérieur ou égal à 0). [0050] Dans une étape E, le faisceau de sortie est dirigé dans le spectromètre SM qui mesure tout ou partie du spectre du faisceau de sortie FS. Plus précisément, le spectromètre mesure un spectre de perte d'énergie du faisceau de sortie FS. Dans l’invention, il est essentiel que la partie mesurée du spectre du faisceau de sortie FS comprennent au moins deux des pics d’énergies distincts afin de pouvoir déterminer le facteur d’échelle ^^ et le décalage ^^ (voir plus loin). [0051] La figure 4C illustre un exemple de spectre de perte d'énergie obtenu dans l’étape E comprenant trois pics EELS et trois pics EEGS et le pic ZLP à une variation d’énergie nulle (c’est-à-dire du pic correspondant aux particules chargées d’énergie ^^ ₁ ). A titre d’exemple non limitatif, dans l’exemple de la figure 4C, la source laser SL émet un faisceau FL présentant une longueur d’onde de 519 nm, soit 2.4 eV. Aussi, les pics du spectre de la figure 4C sont séparés de 2.4 eV. On note que le nombre ^^ de photons absorbés/émis par la particule chargée d’énergie ^^ ₁ ^′ = ^^ ₁ ± ^^ × ^^ ₂ est égal au nombre d’intervalles inter-pics séparant le pic d’énergie distinct du pic ZLP. [0052] Le système comprend en outre un processeur UT relié au spectromètre SM et adapté pour déterminer une variation d’énergie ^^ ^^ d’au moins deux des pics d’énergies distincts par rapport à la première énergie ^^ ₁ . C’est-à-dire que le processeur sélectionne au moins deux pics du spectre mesuré, chacun à une énergie ^^ ₁ ^′ = ^^ ₁ ± ^^ × ^^ ₂ puis calcule ^^ ^^ = ^^ ₁ ^′ − ^^ ₁ = ± ^^ × ^^ ₂ . Les pics sélectionnés pour le calcul de la variation d’énergie ^^ ^^ ne sont pas nécessairement différents du pic du spectre à l’énergie ^^ ₁ . Le processeur peut donc sélectionner le pic ZLP et un pic à une énergie ^^ ₁ ^′ = ^^ ₁ ± ^^ × ^^ ₂ ( ^^ ≥ 1). [0053] On note ^^ le nombre d’intervalles inter-pics séparant les deux pics sélectionnés et on note ^^ _^^ l’énergie les séparant. [0054] Dans une étape finale F, le processeur détermine la valeur du facteur d’échelle ^^ et la valeur du décalage ^^ propre au spectromètre SM à partir de ces variations d’énergie ^^ ^^ . En effet, de manière connue en soi, les variations d’énergie ^^ ^^ sont déterminées dans l’étape E par le spectromètre et le processeur via la relation suivante, nommée première équation : ^ _{^ ^^} ⁽ _^^ ⁾ _{= ^^ × ^^ + ^^ + ^^ ^^} ⁽ _^^ ⁾ avec ^^ un canal d’un détecteur matriciel du spectromètre où est détecté le pic d’énergie distinct, et avec ^^ ^^ ⁽ ^^ ⁾ une fonction du canal ^^ représentative de non- linéarités subies par les particules chargées lors de leur trajet et détection, dite fonction NL. Ces non linéarités sont typiquement dues aux composants optiques du système 1 et au détecteur matriciel du spectromètre. [0055] Par « canal du détecteur matriciel du spectromètre », on entend ici la rangée, ou sous-partie de la rangée (ou colonne ou sous-partie de la colonne selon l’orientation du détecteur) de pixel où est détecté le pic d’énergie distinct. [0056] L’invention comprend deux modes de réalisation distincts, un premier mode de réalisation dans lequel on détermine uniquement la valeur du facteur d’échelle ^^ et la valeur du décalage ^^ (erreur linéaire) et un second mode de réalisation dans lequel on détermine la valeur du facteur d’échelle ^^ et la valeur du décalage ^^ et on extrapole la fonction NL (l’erreur non-linéaire), voir figure 7 et description associé plus loin). [0057] Selon le premier mode de réalisation de l’invention, le processeur détermine que les non linéarités subies par les particules chargées lors de leur trajet et détection sont faibles ou nulles. Par exemple, le processeur détermine que les valeurs ^^ × ^^ + ^^ sont très supérieures aux valeurs ^^ ^^( ^^) . Par « très supérieures », on entend ici que les valeurs ^^ × ^^ + ^^ sont supérieures à dix fois les valeurs valeurs ^^ ^^( ^^) .. Dans le premier mode de réalisation, l’étape E consiste alors à déterminer la variation d’énergie ^^ ^^ de deux des pics d’énergies distincts, numérotés par l’indice 1 et 2 respectivement, via la première l’équation de manière à obtenir le premier système (S1) suivant : ( ^{^^ ^^( ^^} ₁ ^{) = ^^} ₁ ^{× ^^ + ^^ = ± ^^} ₁ ^{× ^^} ₂ avec ^^ ₁ et ^^ ₂ les canaux les pics d’énergie distinct d’indice 1 et 2 respectivement et avec ^^ ₁ et ^^ ₂ le nombre de photons absorbés/émis par les particules chargées des pics d’indice 1 et 2 respectivement. [0058] On possède alors un premier système (S1) de deux équations à deux inconnues. L’étape F du premier mode de réalisation consiste alors à résoudre le premier système d’équation (S1) pour déterminer la valeur du facteur d’échelle ^^ et la valeur du décalage ^^. [0059] Considérons deux des pics d’énergie distincts séparés par un nombre d’intervalles inter-pics égal à ^^ et séparés d’une énergie ^^ _^^ . Soit ^^ un nombre de canaux séparant deux pics d’énergie distincts adjacents sur le détecteur matriciel du spectromètre. Par « pics d’énergie distincts adjacents », on entend ici des pics d’énergie séparés d’une énergie égale à ^^ ₂ . Les deux pics sélectionnés sont séparés d’un nombre de canaux ^^ × ^^ sur le détecteur matriciel. [0060] On a alors : ^^ = ^{^^ ^^} = ^{^^× ^^2} ^ = ^{^^2} ^ _{^ ^^ ^ ^ ^^} . [0061] Soit, ^^ ^^ _^^ la précision sur la ^^ _^^ séparant les deux pics d’énergie distincts et soit ^^ ^^ _^^ la précision sur la détermination du nombre de canaux séparant les deux pics d’énergie distincts sur le détecteur matriciel. On considère que la précision ^^ ^^ _^^ est égale à la précision sur la valeur de l’énergie des photons du faisceau laser FL émis par la source SL. Cette précision est la largeur spectrale ^^ ^^ du faisceau laser FL [0062] De plus, on considère que précision ^^ ^^ _^^ est égale au pas du pixel du détecteur ^^ ^^. [0063] La précision sur la détermination de ^^ vaut alors : ^ ^{^} 2 2 ² ^ _{^ ^^} ^{^^ ^^ ^^ ^^} [0064] En définissant ^ ^{^2 ^^ ^^} [0065] On observe que la de ^^ est inversement proportionnelle avec le nombre d’intervalles inter-pics ^^ et est égale à ^^ ^^ _^^ = ^^ ^^⁄ ^^ car ^^ ^^ _^^ = ^^ ^^ et car ^^ ^^ _^^ = ^^ ^^. [0066] De ces calculs, on détermine deux conclusions importantes : A. la méthode de l’invention selon le premier mode de réalisation de l’invention permet une détermination de la valeur du facteur d’échelle ^^ et la valeur du décalage ^^ avec une erreur limitée par la largeur spectrale ^^ ^^ du faisceau laser, B. afin d’améliorer la précision sur la détermination de ^^, il faut mesurer des pics avec un nombre d’intervalles inter-pics ^^ plus élevé. [0067] La méthode de calibration de l’invention permet de déterminer une valeur du facteur d’échelle ^^ avec une précision ^^ ^^ de l'ordre de 0,01% ou moins de l’énergie ^^ ₂ du faisceau laser FL, et cela même en mesurant la variation d’énergie ^^ ^^ avec deux pics d’énergie distincts présentant un nombre intervalles inter-pics ^^ égal à 1. Par exemple, avec des lasers commerciaux et des spectromètres optiques, une précision ^^ ^^ de 30 μeV pour une énergie ^^ ₂ = 2 ^^ ^^ (soit 620 nm de longueur d’onde) est réalisable en utilisant une source laser SL avec une largeur spectrale de 10 pm. Une précision ^^ ^^ améliorée peut être obtenue en utilisant un laser avec une meilleure résolution spectrale. À l'heure actuelle, même une précision de 0.001% de l’énergie ^^ ₂ pour le facteur d’échelle ^^ et pour le décalage ^^ est déjà supérieure de deux ordres de grandeur à la résolution spectrale des spectromètres électroniques de pointe. [0068] Selon un mode de réalisation préféré de l’invention, le faisceau laser incident est un faisceau continu ou un faisceau impulsionnel avec une largeur spectrale inférieure à 40 meV. Ainsi, en adaptant la détection du spectromètre SM, il est possible d’assurer une détermination de la valeur du facteur d’échelle ^^ avec une précision ^^ ^^ inférieure ou égale à 0,01% de l’énergie ^^ ₂ . [0069] Selon un mode de réalisation, la source laser SL est un laser femtoseconde présentant une largeur spectrale ^^ ^^ = 40 meV et le détecteur matriciel du spectromètre SM avec 1000 canaux et une dispersion de 20 meV/canal. En effectuant une mesure de la variation d’énergie ^^ ^^ avec deux pics d’énergie distincts présentant un nombre intervalles inter-pics ^^ égale à 5, on effectue une détermination de la valeur du facteur d’échelle ^^ avec une précision ^^ ^^ = ^{20 ^^. ^^ =} 0 _{.004 ^^ ^^ ^^, soit une précision ^^ ^^ égale à 0,01% de l’énergie ^^2.} [0070] De manière plus générale, selon un mode de réalisation préféré de l’invention, pour une largeur spectrale ^^ ^^ fixée, le spectromètre SM est adapté pour que le nombre intervalles inter-pics ^^ séparant les deux pics pour lesquels est déterminée la variation d’énergie ^^ ^^ est tel que ^^ ^^ soit inférieur ou égal à 1% de la deuxième énergie ^^ ₂ , préférentiellement inférieure à 0.01% de la deuxième énergie ^^ ₂ . [0071] Il a été démontré que la probabilité que l’interaction photon/particule chargée donnant lieu aux pics d’énergies distincts ait lieu est proportionnelle à l’intensité du champ évanescent EV (F. Javier Garcia de Abajo et al., Nano Letters, 10, 1859 (2010)). De plus, de manière connue, la sensibilité de détection du spectromètre SM est limitée par le bruit de fond provenant de nombreux facteurs. Aussi, selon un mode de réalisation préféré de l’invention, la source laser SL et l’ensemble de transport SO sont adaptés pour que le faisceau laser incident présente une intensité supérieure ou égale à 10 ⁸ ^^ ^⁄ ^^ ^^ ² dans la région R. Cette intensité permet de générer un champ évanescent EV avec une intensité suffisamment importante pour que le taux de l’interaction photon/particule chargée soit suffisamment élevé pour générer une pluralité de pics d’énergies dans le faisceau de sortie FS suffisamment intenses pour permettre leur détection par le spectromètre SM. L’augmentation de l’intensité faisceau laser incident dans la région R permettra donc une détection d’un nombre de pics distincts plus important dans le spectre du faisceau de sortie, ce qui permettra d’améliorer la précision dans la détermination du facteur d’échelle ^^ et du décalage ^^ par la sélection d’un nombre intervalles inter-pics ^^ plus important dans l’étape E. [0072] Dans le mode de réalisation illustré dans la figure 3, l’ensemble de transport SO comprend une parabole hors d’axe permettant de focaliser le faisceau laser incident FL dans la région R. La parabole présente une ouverture traversée par le faisceau de particules chargées incident de sorte qu’il se co-propage avec le faisceau laser incident vers la région après que ce dernier se soit réfléchi sur la parabole hors axe. Ce mode de réalisation présente l’avantage d’être simple à mettre en œuvre. [0073] Bien que ce montage soit préféré, il est entendu que d’autres dispositifs de transport des faisceaux FL et FP peuvent être utilisés par l’homme de l’art afin de former l’ensemble de transport SO. Aussi, selon un autre mode de réalisation, l’ensemble de transport SO comprend un ou plusieurs miroirs et/ou une ou plusieurs lentilles et/ou un couplage fibré. [0074] Afin de contrôler plus facilement la superposition temporelle des faisceaux FL et FP, selon un mode de réalisation de l’invention, le système 1 comprend une ligne à retard disposée sur le trajet optique du faisceau laser FL. [0075] De manière préférentielle, la source laser et l’ensemble de transport sont adaptés pour que le faisceau laser incident présente une polarisation selon une direction sensiblement adaptée à la géométrie et symétrie de l’échantillon afin de maximiser localement l’intensité du champ évanescent EV dans la région R. Par exemple, lorsque l’échantillon est un nanotube ou un nanofil, une polarisation orientée selon une direction sensiblement parallèle à l’axe longitudinal du nanotube ou du nanofil permet de maximiser l’intensité du champ évanescent EV dans la région R. [0076] La figure 5 illustre un mode de réalisation particulier de l’invention dans lequel le système 1 comprend un spectromètre optique additionnel SMA adapté pour mesurer un spectre du faisceau laser incident simultanément à la génération du faisceau de sortie. Ainsi, le spectromètre optique additionnel SMA permet de mesurer en temps réel -ou avec une fréquence prédéterminée- la deuxième énergie ^^ ₂ ⁽ ^^ ⁾ et la largeur spectrale ^^ ^^ du faisceau FL. En outre, le processeur UT est relié au spectromètre optique additionnel SMA de sorte que la détermination la valeur du facteur d’échelle ^^ et la valeur du décalage ^^ soit effectuée à partir de la mesure de la deuxième énergie ^^ ₂ ( ^^) effectuée par le spectromètre optique additionnel SMA. Ce mode de réalisation permet de réduire les imprécisions sur la valeur du facteur d’échelle ^^ et la valeur du décalage ^^ dues aux fluctuations de la valeur de la deuxième énergie en fonction du temps. Il permet de plus de déterminer plus précisément la valeur de la précision ^^ ^^ via la mesure de la largeur spectrale ^^ ^^. [0077] La figure 6 illustre un mode de réalisation particulier de l’invention dans lequel le système 1 comprend une cavité optique CO dans laquelle est agencé l’échantillon. Cette cavité CO est résonante pour le faisceau laser incident FL de sorte que, de par sa disposition et sa structure, la cavité optique CO soit adaptée pour que le faisceau laser incident FL effectue une pluralité de réflexions dans la cavité optique en traversant la région R en augmentant l’intensité du faisceau FL dans la région R. Cette augmentation d’intensité permet d’augmenter l’intensité du champ évanescent EV et permet donc de générer un nombre pics d’énergies distincts dans le faisceau de sortie FS plus important que le nombre de pics d’énergies distincts qui serait obtenu sans la présence de ladite cavité optique. Comme expliqué précédemment, la détection d’un nombre de pics distincts plus important dans le spectre du faisceau de sortie permet d’améliorer la précision dans la détermination du facteur d’échelle ^^ et du décalage ^^ par la sélection d’un nombre intervalles inter-pics ^^ plus important dans l’étape E. [0078] De manière préférentielle, la cavité CO est une cavité micrométrique afin d’améliorer la compacité du système 1. De manière encore préférentielle, l’ensemble de transport SO comprend une fibre optique adaptée pour coupler le faisceau FL à la cavité CO. [0079] La figure 7 illustre schématiquement la méthode du second mode de réalisation de l’invention. Dans ce second mode de réalisation, le processeur UT détermine que les non linéarités subies par les particules chargées lors de leur trajet et détection ne sont pas faibles ou nulles. Par exemple, le processeur détermine que les valeurs ^^ × ^^ + ^^ sont inférieures ou égales à dix fois les valeurs ^^ ^^( ^^).. De plus, dans l’étape E, le processeur UT détermine la variation d’énergie ^^ ^^ d’un nombre ^^ > 2 pics d’énergies distincts chacun numérotés par un indice ^^ ∈ [1; ^^] via la première l’équation. Ainsi, on obtient le deuxième s ^{ystème (S2) suivant : (} ^^2 ^){ ^^ ^^ ⁽ ^^ _^^ ⁾ = ^^ _^^ × ^^ + ^^ + ^^ ^^ ⁽ ^^ _^^ ⁾ = ± ^^ _^^ × ^^ ₂ ; ^^ ∈ ^[ 1; ^^ ^] Avec ^^ _^^ le canal du détecteur matriciel où est détecté le pic d’énergie distinct d’indice ^^ et avec ^^ _^^ le nombre de photons absorbés/émis par les particules chargées du pic d’indice ^^. [0080] Dans le second mode de réalisation, l'étape F consiste à résoudre le d ^{euxième système d’équation (S2) afin de déterminer les valeurs de ^^ ^^( ^^ ^^), ^^ ∈} [ _{1; ^^] et la valeur du facteur d’échelle ^^ et la valeur du décalage ^^. De plus,} l’étape F comprend une deuxième sous-étape consistant à extrapoler la fonction N _{L à partir des N valeurs ^^ ^^} ⁽ _{^^ ^^} ⁾ _{, ^^ ∈} ^[ _{1; ^^} ^] _{afin de caractériser les non-linéarités} subies par les particules chargées lors de leur trajet et détection. A la suite de l’étape F, et moyennant un nombre ^^ de pics d’énergies distincts détecté suffisamment élevé, la méthode de l’invention permet la caractérisation les non linéarités subies par les particules chargées lors de leur trajet au sein du système 1. [0081] De manière préférentielle, la méthode du second mode de réalisation de l’invention comprend une étape ultérieure à l’étape F consistant à minimiser de manière itérative les valeurs de la fonction NL en répétant les étapes A à F une pluralité de fois et en modifiant des paramètres du trajet et de la détection des particules chargées entre chaque itération. Ainsi, la méthode permet de minimiser les effets-non linéaires subis par les particules chargées dans le système 1. [0082] Par exemple, ces paramètres peuvent être l’alignement des composants optique du système 1. [0083] Alternativement, la minimisation des valeurs de la fonction NL est effectuée à l’aide du processeur UT en mettant en œuvre les sous étapes suivantes : A. générer un tableau de correction des valeurs d’énergies des pixels du détecteur matriciel du spectromètre SM ; B. corriger une mesure ultérieure du spectre d’un faisceau de particules chargées par le spectromètre SM à l’aide du tableau de correction, de manière à obtenir des mesures d’énergie non ou faiblement modifiées par les effets non-linéaires.