201210175470.2、 发明名称为 "控制硬盘阵列中硬盘上电的方法和系统" 的中 国专利申请的优先权， 其全部内容通过引用结合在本申请中。 技术领域 本发明涉及存储技术， 尤其涉及一种控制硬盘阵列中硬盘上电的方法 和 系统。

背景技术 随着对存储空间的需求越来越庞大， 硬盘阵列应运而生。 硬盘阵列通常作 为独立系统在主机外直连或通过网络与主机相 连， 其内部由多个硬盘组成， 所 有的硬盘通常会由一个或多个电源模块对其提 供电源。机械硬盘内部通常有一 个电动马达， 用以驱动硬盘内部磁盘的转动， 在上电时由于硬盘内部的马达起 转， 会产生冲击电流。 如果硬盘阵列的所有磁盘同时上电， 则产生的巨大的冲 击电流很可能超过电源模块的最大输出能力， 造成电源输出过流、 被关断等异 常情况， 降低硬盘阵列的可靠性。

为了规避硬盘阵列中的所有硬盘同时上电可能 造成的问题，现有技术中通 常釆用分组上电的方式。 该方式下， 将硬盘阵列中的硬盘分为多组， 依次对每 组的硬盘进行上电， 当一组硬盘上电完成后等待一段时间再对另一 组硬盘进行 上电。 但是， 如果将两组硬盘之间的时间设置的过短或过长 ， 可能会造成电流 超标， 或者硬盘阵列的累加的上电时间很长， 影响用户体验。 发明内容 本发明实施例提供一种控制硬盘阵列中硬盘上 电的方法和系统， 用以 在硬盘阵列上电时控制上电冲击电流不超过电 源输出极限， 又使得整个硬 盘阵列的上电时间较短。 本发明实施例提供了一种控制硬盘阵列中硬盘 上电的方法， 包括： 实时检测电源模块的输出电流； 将所述输出电流与设定的第一阔值进行比较；

当所述输出电流小于设定的第一阔值时， 釆用预设的第一时间间隔依 次对硬盘阵列中的每个硬盘进行上电；

当所述输出电流大于设定的第一阔值时， 将所述输出电流与设定的第 二阔值进行比较； 当所述输出电流大于或等于所述第一阔值且小 于第二阔值时， 釆用预 设的第二时间间隔依次对所述每个硬盘进行上 电， 其中所述第二阔值大于 所述第一阔值， 所述第二时间间隔大于所述第一时间间隔。 本发明实施例提供了一种硬盘阵列中硬盘上电 的控制系统， 包括： 电流检测模块， 用于实时检测电源模块的输出电流；

控制模块， 用于将所述输出电流与设定的第一阔值进行比 较； 当所述 输出电流小于设定的第一阔值时， 釆用预设的第一时间间隔依次对硬盘阵 列中的每个硬盘进行上电； 当所述输出电流大于设定的第一阔值时， 将所 述输出电流与设定的第二阔值进行比较； 当所述输出电流大于或等于所述 第一阔值且小于第二阔值时， 釆用预设的第二时间间隔依次对所述每个硬 盘进行上电， 其中所述第二阔值大于所述第一阔值， 所述第二时间间隔大 于所述第一时间间隔。

由上述技术方案可知， 本发明实施例通过检测电源模块的输出电流， 当输出 电流较小时釆用较小的时间间隔对硬盘进行上 电， 可以尽量降低累加的上电时 间， 当输出电流较大时釆用较大的时间间隔对硬盘 进行上电， 可以避免冲击电 流多大， 避免超出电源输出极限， 这样就可以在上电时使得冲击电流不超出电 源输出极限又使得整个硬盘阵列的上电时间较 短。 附图说明 图 1为本发明控制硬盘阵列中硬盘上电的方法一� �施例的流程示意图； 图 2为本发明控制硬盘阵列中硬盘上电的方法另� �实施例的流程示意 图；

图 3中本发明实施例中第一阔值和第二阔值的示� �图；

图 4为本发明实施例中硬盘阵列的示意图；

图 5为本发明实施例中系统的一种结构示意图；

图 6为本发明实施例中系统的另一种结构示意图� �

图 7为本发明硬盘阵列中硬盘上电的控制系统一� �施例的结构示意图。 具体实施方式 为使本发明实施例的目的、 技术方案和优点更加清楚， 下面将结合本 发明实施例中的附图， 对本发明实施例中的技术方案进行清楚、 完整地描 述， 显然， 所描述的实施例是本发明一部分实施例， 而不是全部的实施例。 基于本发明中的实施例， 本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前 提 下所获得的所有其他实施例， 都属于本发明保护的范围。

图 1为本发明控制硬盘阵列中硬盘上电的方法一� �施例的流程示意图， 包括：

步骤 11 : 实时检测电源模块的输出电流。

步骤 12: 将所述输出电流与设定的第一阔值进行比较； 当所述输出电 流小于设定的第一阔值时， 釆用预设的第一时间间隔依次对硬盘阵列中的 每个硬盘进行上电； 当所述输出电流大于设定的第一阔值时， 将所述输出 电流与设定的第二阔值进行比较； 当所述输出电流大于或等于所述第一阔 值且小于第二阔值时， 釆用预设的第二时间间隔依次对所述每个硬盘 进行 上电， 其中所述第二阔值大于所述第一阔值， 所述第二时间间隔大于所述 第一时间间隔。

其中， 第一阔值小于第二阔值， 第一时间间隔小于第二时间间隔， 这 样就可以实现在输出电流较小时， 尽快的上电， 在输出电流较大时， 降低 上电速度以避免电流超标。

另外， 可选的， 本发明实施例还可以包括： 将所述硬盘阵列划分为至 少两个的组； 此时， 对所述每个硬盘进行上电包括： 每次上电时， 以每个 组为单位， 上电对应组内所有的硬盘， 如同时上电两个或更多个硬盘。 本实施例通过检测电源模块的输出电流， 当输出电流较小时釆用较小 的时间间隔对硬盘进行上电， 可以尽量降低累加的上电时间， 当输出电流 较大时釆用较大的时间间隔对硬盘进行上电， 可以避免冲击电流多大， 避 免超出电源输出极限， 这样就可以在上电时使得冲击电流不超出电源 输出 极限又使得整个硬盘阵列的上电时间较短。 图 2为本发明控制硬盘阵列中硬盘上电的方法另� �实施例的流程示意 图 , 本实施例以依次对每个硬盘进行上电为例 , 本实施例包括： 步骤 21 : 控制模块设置第一阔值和第二阔值。 其中， 控制模块可以是系统单板管理软件或 SCSI箱体服务

( SCSI Enclosure Services, 简称 SES ) 或者单片机等。

参见图 3 , 控制模块设置的第一阔值和第二阔值可以分别 表示为 A阔 值和 B阔值， B的值大于 A的值。

A和 B的值可以根据电源模块的输出规格进行设置� � B的值为电源模 块的最大过流输出值， 本领域技术人员可以理解的是 B的值比最大过流输 出值略大或者略小， 都在本发明实施例的范围以内， A的值为略小于 B的 值， 例如， 对于额定输出 51.7A的电源模块， 其设置的标称过流点为 76A, 则 A的值可以为 70A, B值设置为 76A。 步骤 22: 控制模块以较短的时间间隔对硬盘阵列中的硬 盘进行依次上 电， 并且电流检测模块实时检测电源模块的输出电 流。

其中， 较短的时间间隔可以称为第一时间间隔， 对应的， 较长的时间 间隔可以称为第二时间间隔。 具体的， 第一时间间隔可以为 1 ms , 较长的时 间间隔可以为 ls。

参见图 4 , 本实施例以硬盘阵列包括 12个硬盘、 将所有硬盘划分为 12 个组， 每组包括一个硬盘， 或者也可以理解为没有进行分组， 就是依次对 每个硬盘进行上电为例， 控制模块可以从 1号盘开始依次上电， 例如， 首 先对 1号盘进行上电， 间隔 lms后对 2号盘进行上电， 在 2号盘上电之后 lms再对 3号盘进行上电。 又例如， 可以将 12个硬盘划分为 4个组， 每组 3个硬盘， 例如， 硬盘 1〜硬盘 3为第一个组， 硬盘 4〜硬盘 6为第二个组， 硬盘 7〜硬盘 9为第三个组， 硬盘 10〜硬盘 12为第四个组， 此时， 首先对第 一个组进行上电， 也就是硬盘 1〜硬盘 3都进行上电， 间隔 lms后对第二个 组进行上电， 也就是硬盘 4〜硬盘 6都进行上电， 在第二个上电之后 lms再 对第三个组进行上电， 依此类推。 需要说明的是， 本发明实施例中的依次对硬盘阵列中的每个硬 盘进行 上电可以是以个为单位依次对每个硬盘进行上 电， 也可以是以组为单位依 次对每组硬盘进行上电。 另外， 在上电过程中， 电流检测模块一直在实时检测电源模块的输出 电流。 参见图 5和图 6 , 电流检测模块可以位于电源模块外部， 也可以位于 电源模块内部， 电源模块为硬盘提供电源输入。 当电流检测模块位于电源 模块外部时， 电流检测模块从电源模块检测得到电源模块的 输出电流， 之 后将输出电流通知给控制模块， 控制模块根据该输出电流控制硬盘上电； 当电流检测模块位于电源模块内部时， 电源模块通过电流检测模块检测到 输出电流后， 将输出电流通知给控制模块， 控制模块根据该输出电流控制 硬盘上电。 步骤 23 :控制模块判断输出电流是否达到 A阔值，若是，执行步骤 24, 否则重复执行步骤 22及其后续步骤。 其中， 当输出电流小于设定的 A的值时， 表明未达到 A阔值， 否则为 达到 A阔值。 另外， 电源模块可以是一个， 也可以是多个。 当电源模块为一个时， 则上述设置的 A点和 B点是针对单个电源模块的保护点； 当电源模块为多 个时， 该多个电源模块间实现了均流， 系统对多个电源模块进行统一控制， 上述的 A点和 B点分别是多个电源模块电流点相加之和。 步骤 24: 控制模块以较长的时间间隔对硬盘阵列中的硬 盘进行依次上 电， 并且电流检测模块实时检测电源模块的输出电 流。

例如， 当对 6号盘 （即第六组） 进行上电后， 检测到输出电流超过 A 阔值， 则需要间隔较长的时间间隔， 如 Is再对 7号盘 （即第七组） 进行上 电， 而不是再间隔 lms, 之后在 7号盘 （即第七组） 上电后再间隔 Is对 8 号盘 （即第八组） 进行上电。 同样， 在这个上电过程中也需要实时检测电源的输出 电流。

步骤 25:控制模块判断输出电流是否达到 B阔值，若是，执行步骤 26, 否则执行步骤 27。

其中， 当输出电流小于设定的 B的值时， 表明未达到 B阔值， 否则为 达到 B阔值。 步骤 26: 暂停对硬盘的上电一段时间。 该暂停的时间可以预先设置， 例如， 设置为 5s, 那么假设 9号盘 （即 第九组） 上电后检测的输出电流大于 B的值， 那么为了避免过流， 就需要 暂停上电 5s, 等待已经上电的硬盘的电流恢复到正常值， 避免继续上电引 起的电源过流的问题。 步骤 27: 控制模块判断所有硬盘是否都已经上电， 若是， 执行步骤 28 , 否则重复执行步骤 22及其后续步骤。

也就是说， 当硬盘没有全部上电完毕时， 实时检测电源模块的输出电 流， 当输出电流小于 A的值时， 釆用较短的时间间隔对未上电的硬盘依次 上电， 当输出电流等于或大于 A的值且小于 B的值时， 釆用较长的时间间 隔对未上电的硬盘依次上电， 当输出电流超过 B的值时， 暂停一段时间再 对未上电的硬盘进行上电。 重复上述流程直至所有的硬盘都完成上电。

步骤 28: 上电结束。

本实施例以每组硬盘包括 1个硬盘为例， 也可以是每组硬盘包括多个 硬盘， 例如， 每组硬盘包括两个硬盘， 那么每次上电则同时对这两个硬盘 进行上电， 如果输出电流小于 A, 则以第一时间间隔继续上电下一组的两 个硬盘， 如果输出电流大于 A小于 B , 则以第二时间间隔继续上电下一组 的两个硬盘， 如果输出电流大于 B , 则停止上电一段时间。 其中， 可以预先 将硬盘划分为多个组。 本实施例通过检测电源模块的输出电流， 当输出电流较小时釆用较小 的时间间隔对硬盘进行上电， 可以尽量降低累加的上电时间， 当输出电流 较大时釆用较大的时间间隔对硬盘进行上电， 可以避免冲击电流多大， 避 免超出电源输出极限， 这样就可以在上电时使得冲击电流不超出电源 输出 极限又使得整个硬盘阵列的上电时间较短。 另外， 本实施例逐个上电每个 硬盘， 可以使得上电电流更平滑， 每个硬盘的上电时间更短。 图 7为本发明硬盘阵列中硬盘上电的控制系统一� �施例的结构示意图， 包括电流检测模块 71和控制模块 72; 电流检测模块 71用于实时检测电源 模块的输出电流； 控制模块 72用于将所述输出电流与设定的第一阔值进行 比较； 当所述输出电流小于设定的第一阔值时， 釆用预设的第一时间间隔 依次对硬盘阵列中的每个硬盘进行上电； 当所述输出电流大于设定的第一 阔值时， 将所述输出电流与设定的第二阔值进行比较； 当所述输出电流大 于或等于所述第一阔值且小于第二阔值时， 釆用预设的第二时间间隔依次 对所述每个硬盘进行上电， 其中所述第二阔值大于所述第一阔值， 所述第 二时间间隔大于所述第一时间间隔。 可选的， 所述控制模块 72还用于： 当所述输出电源大于或等于所述第 二阔值时， 在预设的时间内停止对所述每个硬盘进行上电 。 在本发明实施例中， 电流检测模块 71可以是电源模块内部的具有检测 功能的装置， 而本发明实施例中的电源模块既包含能够提供 电流的电源， 也包括用于检测电流的检测模块； 本发明实施例中的控制模块可以是 CPU 也可以是 SES芯片。

可选的， 所述硬盘阵列预先被划分为至少两个的组， 所述控制模块 72 具体用于在每次上电时， 以每个组为单位， 上电对应组内所有的硬盘电流 检测模块。 可选的， 当所述电源模块为至少两个时， 所述电流检测模块 71具体用 于将所有电源模块的输出电流之和确定为通知 给所述控制模块的输出电 流。 可选的， 所述控制模块 72还用于对每组硬盘进行上电之后， 判断是否 还存在没有上电的硬盘， 当存在没有上电的硬盘时， 重复执行上述流程直 至所有硬盘都已经上电。 在本发明实施例中， 电流检测模块可以是集成在电源内部的电路， 控 制模块可以是 C P U芯片、 单板管理控制芯片或者单片机。 其中， 电流检测系统和控制模块可以位于同一个物理 设备中， 也可以 位于不同的物理设备中， 当电流检测系统和控制模块独立设置时， 电流检 测系统可以位于电源模块中， 也可以位于电源模块的外部。 本实施例通过 检测电源模块的输出电流， 当输出电流较小时釆用较小的时间间隔对硬盘 进行上电， 可以尽量降低累加的上电时间， 当输出电流较大时釆用较大的 时间间隔对硬盘进行上电， 可以避免冲击电流多大， 避免超出电源输出极 限， 这样就可以在上电时使得冲击电流不超出电源 输出极限又使得整个硬 盘阵列的上电时间较短。 本领域普通技术人员可以理解： 实现上述各方法实施例的全部或部分 步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。 前述的程序可以存储于一计算 机可读取存储介质中。 该程序在执行时， 执行包括上述各方法实施例的步 骤； 而前述的存储介质包括： ROM、 RAM, 磁碟或者光盘等各种可以存储 程序代码的介质。

最后应说明的是： 以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案， 而非对其 限制； 尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的 说明， 本领域的普通技术 人员应当理解： 其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案 进行修改， 或者 对其中部分或者全部技术特征进行等同替换； 而这些修改或者替换， 并不使相 应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方 案的范围。