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Patent Searching and Data


Title:
METHOD AND SYSTEM FOR WASHING ELECTRONIC COMPONENT
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2009/110549
Kind Code:
A1
Abstract:
A method of washing electronic components comprises a purifying step of purifying an unused fluorine-containing organic detergent composition liquid by a purifier, a washing step of washing electronic components using the purified detergent composition liquid supplied from the purifier into a washing device, and a step of sending the washing liquid used for the washing from the washing device into the purifier, re-purifying the used washing liquid, and circulatingly supplying the liquid into the washing device. In the purifying step, at least the organic contaminants are removed by a rectifying device and solid contaminants are removed by a filter device.

Inventors:
KIKUCHI, Hideaki (LTD. Technical Centor 3600, Miho, Shimizu-k, Shizuoka-shi Shizuoka 31, 42486, JP)
Application Number:
JP2009/054168
Publication Date:
September 11, 2009
Filing Date:
March 05, 2009
Export Citation:
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Assignee:
DU PONT-MITSUI FLUOROCHEMICALS CO., LTD. (3600, Miho Shimizu-ku, Shizuoka-sh, Shizuoka 31, 42486, JP)
三井・デュポンフロロケミカル株式会社 (〒31 静岡県静岡市清水区三保3600 Shizuoka, 42486, JP)
International Classes:
B08B3/08; B08B3/02; C03C23/00; C23G5/00; C23G5/028; H01L21/304
Attorney, Agent or Firm:
NOGAWA, Shintaro (Nogawa Patent Office, Minamimorimachi Park Bldg. 1-3, Nishitenma 5-chome, Kita-ku, Osaka-sh, Osaka 47, 53000, JP)
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Claims:
 精製装置によって未使用のフッ素含有有機洗浄剤組成物液を精製する精製工程と、
 前記精製装置から洗浄装置内へ供給された精製後の洗浄剤組成物液を用いて電子部品を洗浄する洗浄工程と、
 洗浄に使用された洗浄液を洗浄装置から前記精製装置へ送り、使用済み洗浄液を再精製して洗浄装置へ循環供給する工程とを含み、
 前記精製工程で、精留装置による有機性汚染物の除去およびフィルター装置による固体汚染物の除去が少なくとも行われる電子部品の洗浄方法。
 前記精製工程が、水洗浄装置による水溶性汚染物の除去を含み、
 前記精製工程を、有機性汚染物の除去、水溶性汚染物の除去、固体汚染物の除去の順、または水溶性汚染物の除去、有機性汚染物の除去、固体汚染物の除去の順で行って前記洗浄剤組成物液を精製する、請求項1に記載の電子部品の洗浄方法。
 前記電子部品が、シリコンウェハ、セラミックウェハ、前記シリコンウェハを切断したシリコンチップ、前記セラミックウェハを切断したセラミックチップ、ガラス基板、金属基板、カラーフィルター基板、プリント基板およびこれらを用いた電子部品を含む、請求項1に記載の電子部品の洗浄方法。
 精製された洗浄剤組成物液を精製装置から洗浄装置へ補給する補給工程をさらに含む、請求項1に記載の電子部品の洗浄方法。
 前記洗浄装置が、前記精製装置により精製された洗浄剤組成物液が供給される濯ぎ槽と、該濯ぎ槽から溢れ出た洗浄剤組成物液を受容しかつ加熱する洗浄槽と、該洗浄槽内で加熱されて気化した洗浄剤組成物液の蒸気が滞留する蒸気滞留部と、該蒸気滞留部の蒸気を凝縮させて前記濯ぎ槽に還流させる蒸気凝縮部と、精製装置により精製された洗浄剤組成物液を噴出するシャワーノズルとを備え、
 前記洗浄工程が、前記洗浄槽内の洗浄剤組成物液中に電子部品を浸漬して洗浄し、洗浄された電子部品を前記濯ぎ槽内の洗浄剤組成物液中に浸漬して濯ぎ、濯がれた電子部品を蒸気滞留部の前記蒸気にて蒸気洗浄し、蒸気洗浄された電子部品を前記シャワーノズルからの洗浄剤組成物液によってシャワー洗浄する、請求項1に記載の電子部品の洗浄方法。
 前記請求項1に記載の洗浄方法によって電子部品を洗浄するための洗浄システムであって、
 未使用のフッ素含有有機洗浄剤組成物液に含まれる汚染物を除去して精製する精製装置と、該精製装置により精製された前記洗浄剤組成物液を用いて電子部品を洗浄するための洗浄装置とを備え、
 前記精製装置が、有機性汚染物を除去する精留装置および固体汚染物を除去するフィルター装置を少なくとも備え、前記精留装置および前記フィルター装置に前記洗浄剤組成物液を通して精製するように構成された電子部品の洗浄システム。
 前記精製装置が、水溶性汚染物を除去する水洗浄装置および水分を除去する水分除去装置をさらに備え、前記精留装置、前記水洗浄装置、前記水分除去装置および前記フィルター装置の順、または水洗浄装置、水分除去装置、精留装置およびフィルター装置の順に前記洗浄剤組成物液を通して精製するように構成された、請求項6に記載の電子部品の洗浄システム。
 前記精製装置が、イオン性汚染物を除去するイオン性汚染物除去装置をさらに備えてなる、請求項6に記載の電子部品の洗浄システム。
 前記洗浄装置が、前記精製装置により精製された洗浄剤組成物液が供給される濯ぎ槽と、該濯ぎ槽から溢れ出た洗浄剤組成物液を受容しかつ加熱する洗浄槽と、該洗浄槽内で加熱されて気化した洗浄剤組成物液の蒸気が滞留する蒸気滞留部と、該蒸気滞留部の蒸気を凝縮させて前記濯ぎ槽に還流させる蒸気凝縮部とを備え、
かつ前記洗浄槽内の洗浄剤組成物液中に電子部品を浸漬して洗浄し、洗浄された電子部品を前記濯ぎ槽内の洗浄剤組成物液中に浸漬して濯ぎ、濯がれた電子部品を蒸気滞留部の前記蒸気にて蒸気洗浄するように構成され、
 前記精製装置は、前記洗浄槽から排出される洗浄剤組成物液を再精製して前記濯ぎ槽へ循環供給するように構成された、請求項6に記載の電子部品の洗浄システム。
 洗浄剤組成物液を一時的に貯留するバッファータンクが、前記精製装置と前記洗浄装置との間にさらに備えられた、請求項6に記載の電子部品の洗浄システム。
 前記洗浄装置が、シャワーノズルをさらに備え、精製装置により精製された洗浄剤組成物液を前記シャワーノズルから噴出して、前記蒸気洗浄後の電子部品をシャワー洗浄するように構成された、請求項9に記載の電子部品の洗浄システム。
Description:
電子部品の洗浄方法および洗浄 ステム

 本発明は、フッ素含有有機洗浄剤組成物 を用いて電子部品を洗浄する方法および洗 システムに関する。

 従来、フッ素含有有機洗浄剤組成物液(以下 、「フッ素系洗浄液」という場合がある)を いて、シリコンウェハ、シリコンチップ、 リント基板等の電子部品を洗浄するための 置としては、蒸気脱脂洗浄装置が使用され いる(例えば、特許文献1)。
 また、電子部品の洗浄に使用した、洗浄装 内の汚れたフッ素系洗浄液を、別に設けら た再生装置に投入して再生し、電子部品の 浄に再び使用する方法も提案されている(例 えば、特許文献2)。

米国特許第3,881,949号

特開2001-129302号公報

 近年、電子部品における素子や配線等の高 度化により、従来許容されていた素子や配 のパターン形成で発生する残滓の量も許容 れなくなってきており、加えて、素子や配 のピッチ間隔が狭くなってきているため、 ッ素系洗浄液の高純度化が求められている
 一方、従来の蒸気脱脂洗浄装置では、汚れ 分が洗浄装置内に蓄積され、時間の経過と もに洗浄装置内のフッ素系洗浄液の洗浄能 が低下するため、未使用のフッ素系洗浄液 るいは再生したフッ素系洗浄液と頻繁に交 する必要があった。

 しかしながら、未使用のフッ素系洗浄液は 通常容器に収容されてメーカーから使用現 まで輸送されるため、容器内の僅かな汚れ 分がフッ素系洗浄液中に混入すること、お び該容器を開封して洗浄装置内へフッ素系 浄液を投入する際に、フッ素系洗浄液が外 雰囲気と接触し、外部雰囲気中の汚れ成分 フッ素系洗浄液中に混入することが十分に えられ、未使用のフッ素系洗浄液であって 、必ずしも要求される高い純度で使用され いるとは言えない。
 また、再生したフッ素系洗浄液の場合も、 生後のフッ素系洗浄液が再生装置から容器 収容されて搬送される間、また容器を開封 て洗浄装置内へフッ素系洗浄液が投入され 間に、前記と同様にフッ素系洗浄液が汚染 れるため、再生されたフッ素系洗浄液が要 される高い純度で使用されているとは言え い。
 したがって、より高密度化、微細化される 向にある電子部品を洗浄するためには、よ 高い純度のフッ素系洗浄液を使用すること 望まれている。

 本発明は、前記の課題に鑑みてなされたも であり、フッ素系洗浄液を高純度で使用す ことができる電子部品の洗浄方法、および れを用いた洗浄システムを提供することを 的とする。
 すなわち、本発明によれば、精製装置によ て未使用のフッ素含有有機洗浄剤組成物液 精製する精製工程と、前記精製装置から洗 装置内へ供給された精製後の洗浄剤組成物 を用いて電子部品を洗浄する洗浄工程と、 浄に使用された洗浄液を洗浄装置から前記 製装置へ送り、使用済み洗浄液を再精製し 洗浄装置へ循環供給する工程とを含み、前 精製工程で、精留装置による有機性汚染物 除去およびフィルター装置による固体汚染 の除去が少なくとも行われて前記洗浄剤組 物液が精製され、このようにして精製され 洗浄剤組成物液を用いて電子部品を洗浄す 方法が提供される。

 また、本発明の別の観点によれば、前記 浄方法によって電子部品を洗浄するための 浄システムであって、未使用のフッ素含有 機洗浄剤組成物液に含まれる汚染物を除去 て精製する精製装置と、該精製装置により 製された前記洗浄剤組成物液を用いて電子 品を洗浄するための洗浄装置とを備え、前 精製装置が、有機性汚染物を除去する精留 置および固体汚染物を除去するフィルター 置を少なくとも備え、前記精留装置および 記フィルター装置に前記洗浄剤組成物液を して精製するように構成され、前記洗浄装 内で電子部品の洗浄に使用された洗浄液を 記精製装置にて再精製して洗浄装置へ循環 給する電子部品の洗浄システムが提供され 。

 本発明によれば、フッ素含有有機洗浄剤組 物液(フッ素系洗浄液)のメーカーから輸送 れた未使用のフッ素系洗浄液を該容器から 製装置に投入し、精製装置にて未使用のフ 素系洗浄液中の汚れ成分を除去して該洗浄 を精製することができる。
 したがって、メーカーにおいて、微量の汚 成分が付着した容器内にフッ素系洗浄液を 填したために、フッ素系洗浄液中に汚れ成 が混入しても、精製装置にてフッ素系洗浄 中の汚れ成分を除去して精製し、その精製 た高純度のフッ素系洗浄液を外部雰囲気と 触させずに洗浄装置へ供給して電子部品を 浄することができる。換言すると、本発明 よれば、未使用のフッ素系洗浄液を原因と る電子部品の品質低下を防ぐことが可能と る。
 よって、本発明は、シリコンウェハ、セラ ックウェハ、前記シリコンウェハを切断し シリコンチップ、前記セラミックウェハを 断したセラミックチップ、ガラス基板、金 基板、カラーフィルター基板、プリント基 およびこれらを用いた電子部品等の電子部 のより一層の高密度化、微細化に対応する とができる。
 また、常時、高純度に清浄化されたフッ素 洗浄液で電子部品を洗浄することが可能と り、安定した洗浄品質を確保することがで る。
 さらに、フッ素系洗浄液の交換作業および の廃液処理が基本的に不要となるため、そ らに伴う膨大な労力、資源ならびにエネル ー浪費を大幅に削減することができ、その 果、電子部品の洗浄処理にかかるコストを 幅に低減することができる。

本発明の洗浄システムの実施形態1を示 す概略構成図である。 本発明の洗浄システムの実施形態2を示 す概略構成図である。 本発明の洗浄システムの実施形態3を示 す概略構成図である。 本発明の洗浄システムの実施形態4を示 す概略構成図である。 本発明の洗浄システムの実施形態5を示 す概略構成図である。 本発明の洗浄システムの実施形態6を示 す概略構成図である。 本発明の洗浄システムの実施形態7を示 す概略構成図である。

符号の説明

 10、100、100A、100B、100C 洗浄装置
 11、110 ボディ
 12、120 洗浄槽
 12a、150a ヒータ
 13、130 濯ぎ槽
 13a、130a 超音波発生機
 14、140a 蒸気凝縮部
 14a、140a 凝縮管
 14b、140b 樋部
 14c、22、140c、220 水分離器
 17 シャワーノズル
 20、200 精製装置
 21、210 向流型水接触カラム
 23、230 吸湿剤カラム
 24、240 イオン性汚染物除去カラム
 25、160 蒸留塔
 26、260 フィルター
 31 循環配管
 41 バッファータンク
 120a ヒータもしくは超音波発生機
 150 蒸気発生槽
 C フッ素含有有機洗浄剤組成物液(フッ素系 洗浄液)
 S 蒸気層

 本発明の電子部品の洗浄方法は、精製装 によって未使用のフッ素含有有機洗浄剤組 物液を精製する精製工程と、前記精製装置 ら洗浄装置内へ供給された精製後の洗浄剤 成物液を用いて電子部品を洗浄する洗浄工 と、洗浄に使用された洗浄液を洗浄装置か 前記精製装置へ送り、使用済み洗浄液を再 製して洗浄装置へ循環供給する工程とを含 、前記精製工程で、精留装置による有機性 染物の除去およびフィルター装置による固 汚染物の除去が少なくとも行われ、水洗浄 置による水溶性汚染物の除去を任意に行な てもよい。

 前記精製工程において、有機性汚染物、 溶性汚染物、固体汚染物を除去する順は任 であるが、効率的に各汚染物を除去できる 点から、有機性汚染物、水溶性汚染物、固 汚染物の順、または水溶性汚染物、有機性 染物、固体汚染物の順で除去して、洗浄剤 成物液を精製することが好ましい。

 この洗浄方法は、電子部品を限定するもの はないが、高純度のフッ素系洗浄液による 清浄化が要求されるようなシリコンウェハ セラミックウェハ、前記シリコンウェハを 断したシリコンチップ、前記セラミックウ ハを切断したセラミックチップ、ガラス基 、金属基板、カラーフィルター基板、プリ ト基板およびこれらを用いた電子部品等の 子部品を洗浄するのに好適である。
 この洗浄方法は、その他の電子部品、例え 液晶セル、PDPパネル、スタンパ、モールド 磁気ヘッド、VCM(ボイスコイルモーター)、HS A(ヘッドスタックアッセンブリー)、カセット 等の洗浄方法としても用いることができる。

 本発明において、フッ素系洗浄液としては 電子部品の洗浄に適したものを用いること できる。
 フッ素含有有機洗浄剤組成物液としては、 子量が1000未満で骨格中に炭素原子およびフ ッ素原子を含み、室温において液状で揮発性 を有するフッ素化合物が挙げられる。このフ ッ素化合物は、特に限定されないが、地球温 暖化防止の観点から、大気中での寿命を短く するために、さらに水素原子を含有している ことが好ましい。さらに、酸素原子、硫黄原 子、窒素原子等のヘテロ原子を含有していて もよい。炭素骨格は、直鎖状、分枝鎖状また は環状のいずれでもよく、二重結合または三 重結合を有していてもよい。

 このような特性を有する特性を有するフッ 系洗浄液としては、例えば、ノナフルオロ チルメチルエーテル、1,1,1,2,2,3,4,5,5,5-デカ ルオロプロパン、1,2,2,2-テトラフルオロエチ ル-2,2,2-トリフルオロメチルエーテル、1,1,1,3, 3-ペンタフルオロブタン、1,1,2,2,3,3,4-ヘプタ ルオロシクロペンタン、ジクロロペンタフ オロプロパン等が挙げられ、これらの中で 1,1,1,2,2,3,4,5,5,5-デカフルオロプロパンが好ま しい。
 また、本発明において、フッ素系洗浄液は 1種または2種以上のフッ素系洗浄液の混合 でもよい。
 さらに、フッ素系洗浄液と他の有機溶剤の1 種または2種類以上の混合液であってもよい 有機溶剤としては、例えば、2-プロパノール 、エタノール等のアルコール類、アセトン等 のケトン類、ジエチルエーテル等のエーテル 類、酢酸等の有機酸類、酢酸エチル等のエス テル類、ジクロロエチレン、ジクロロペンタ フルオロプロパン等のハロゲン化炭化水素類 等が挙げられる。
 電子部品や汚れの種類によっては、フッ素 洗浄液と水溶性有機溶剤(例えばアルコール )との混合物(共沸混合物)を洗浄液として使用 する場合がある。この場合、前記精製工程は 水溶性汚染物の除去工程を含まないものとさ れる。
 また、フッ素系洗浄液が、共沸組成を有す 混合物である場合には、共沸組成での混合 が望ましい。

 次に、この洗浄方法によって電子部品を洗 するための本発明の洗浄システムについて 明する。
 この洗浄システムは、前記洗浄方法によっ 電子部品を洗浄するための洗浄システムで って、未使用のフッ素含有有機洗浄剤組成 液に含まれる汚染物を除去して精製する精 装置と、該精製装置により精製された前記 浄剤組成物液を用いて電子部品を洗浄する めの洗浄装置とを備え、前記精製装置が、 機性汚染物を除去する精留装置および固体 染物を除去するフィルター装置を少なくと 備え、前記精留装置および前記フィルター 置に前記洗浄剤組成物液を通して精製する うに構成され、前記洗浄装置内で電子部品 洗浄に使用された洗浄液を前記精製装置に 再精製して洗浄装置へ循環供給するように 成されている。
 この精製装置は、水溶性汚染物を除去する 洗浄装置および水分を除去する水分除去装 をさらに備えていてもよい。

 前記精製装置において、精留装置、水洗 装置、水分除去装置、フィルター装置の配 順序は任意であるが、前記のように各汚染 を効率的に除去できる観点から、精製装置 、精留装置、水洗浄装置、水分除去装置お びフィルター装置の順、または水洗浄装置 水分除去装置、精留装置およびフィルター 置の順に前記洗浄剤組成物液を通して精製 るように構成されることが好ましい。

 (洗浄装置の説明)
 本発明において、前記洗浄装置は、電子部 に付着した汚れを除去するためのフッ素系 浄液を収容し、かつ洗浄装置内で電子部品 洗浄するように構成されたものであればよ 、特に限定されるものではない。
 洗浄装置としては、例えば、精製装置によ 精製されたフッ素系洗浄液が供給される濯 槽と、該濯ぎ槽から溢れ出たフッ素系洗浄 を受容しかつ加熱する洗浄槽と、該洗浄槽 で加熱されて気化したフッ素系洗浄液の蒸 が滞留する蒸気滞留部と、該蒸気滞留部の 気を凝縮させて前記濯ぎ槽に還流させる蒸 凝縮部とを備え、かつ前記洗浄槽内のフッ 系洗浄液中に電子部品を浸漬して洗浄し、 浄した電子部品を前記濯ぎ槽内のフッ素系 浄液中に浸漬して濯ぎ、濯いだ電子部品を 気滞留部の前記蒸気にて蒸気洗浄するよう 構成されたものが挙げられる。具体的には 例えば、特開平8-243515号公報、特開平10-19279 7号公報等に記載された公知の多槽式洗浄装 を用いることができる。

 また、洗浄装置は、シャワーノズルをさら 備え、精製装置により精製されたフッ素系 浄液を前記シャワーノズルから噴出して、 記蒸気洗浄後の電子部品をシャワー洗浄す ように構成されていてもよい。
 このように構成すれば、本発明の洗浄シス ムによる電子部品の清浄度をより高めるこ ができる。

(精製装置の説明)
 本発明における前記精製装置は、未使用の ッ素系洗浄液中に混入した汚れ成分を、そ 汚れの種類に応じて除去するものであり、 記のように、有機性汚染物を除去する精留 置および固体汚染物を除去するフィルター 置を少なくとも備え、さらに、水溶性汚染 を除去する水洗浄装置、水分を除去する水 除去装置およびイオン性汚染物を除去する オン性汚染物除去装置を具備していてもよ 。

 本発明において、汚染物の種類としては、 記有機性汚染物、水溶性汚染物、イオン性 染物、固体汚染物が挙げられる。これら各 の汚染物として、具体的には次のようなも が挙げられる。
 有機性汚染物としては、フッ素オイル(例え ば、クライトックス(登録商標))、フッ素ポリ マー等が挙げられる。
 水溶性汚染物としては、イソプロピルアル ール、エタノール等のアルコール類、アセ ン等のケトン類等が挙げられる。
 イオン性汚染物としては、フッ素イオン、 酸イオン、炭酸水素イオン、アンモニウム オン、ナトリウムイオン等のイオン類が挙 られる。
 固体汚染物としては、プラスチックやエラ トマー等の有機高分子化合物粒子、金属粒 、ダスト等が挙げられる。
 以下、精製装置の具体的な構成について説 する。なお、精製装置が、前記以外の汚染 を除去する装置を有していてもよいことは うまでもない。

 <精留装置>
 精留装置としては、フッ素系洗浄液の沸点 有機性汚染物の沸点との差(以下、「沸点差 」という)を利用した熱交換作用によって、 使用のフッ素系洗浄液中に含まれる有機性 染物を除去するように構成することができ 。
 例えば、沸点差が小さい場合には、フッ素 洗浄液と有機性汚染物との分離には複数回 熱交換作用が必要になり、高度の還流機能 有する精留装置が選択され、沸点差が大き 場合には、単蒸留装置またはフッ素系洗浄 を沸騰させずに加温する加温装置が選択さ る。
 このように、精留装置は、フッ素系洗浄液 有機性汚染物の沸点差または電子部品に要 される清浄度によって最適な装置が適宜選 される。
 なお、精留装置(例えば、蒸留装置)が洗浄 置に一体化されている場合は、精製装置か 精留装置を省略することができる。

<水洗浄装置>
 フッ素系洗浄液中に含まれる水溶性汚染物 除去には、フッ素系洗浄液を水と接触させ 水溶性汚染物を水に溶かし込むことが効果 であるため、水洗浄装置としては水接触装 が好適である。接触方法は特に限定されな が、簡便性、取扱い性を考慮すれば、向流 接触方式が好ましい。
 このような水接触装置としては、例えば、 流端に洗浄液流入口および水排出口を有し かつ下流端に洗浄液排出口および水流入口 有する筒体の内部に、複数の仕切り板を配 するか、あるいは充填物を充填することに り、内部流路でのフッ素系洗浄液と水との 触率を高めた構成の水接触装置が挙げられ 。このような構成の水接触装置は、上流端 上部に配置し、かつ下流端を下部に配置し 下方から上方へ向かって流れる水流中にフ 素系洗浄液を上方から下方へ流し入れる向 型接触方式とすることが好ましい。

 また、フッ素系洗浄液を水と接触させるこ により、フッ素系洗浄液中には微量ではあ が水が溶解するため、水接触装置の下流側 フッ素系洗浄液中の水分を除去する前記水 除去装置が併設される。
 なお、前記のように、洗浄液がフッ素系洗 液と水溶性有機溶剤との混合物からなる場 は、水洗浄装置および水分除去装置は精製 置から省略される。

<水分除去装置>
 水分除去装置としては、例えば、上流端に 浄液流入口を有し、かつ下流端に洗浄液排 口を有する筒体の内部に、ゼオライトに代 される粒状吸湿材を充填した構成の水分除 装置が挙げられる。なお、水溶性汚染物が オン性も有している場合、前記水接触装置 よび水分除去装置による水溶性汚染物除去 、イオン性汚染物除去も兼ねることとなる

 また、吸湿材の水分吸着量には限界がある め、水分除去装置は、吸湿材に吸着された 分を外部に排出するための水分排出手段を 備していてもよい。
 この水分排出手段としては、例えば、水分 去装置の上流端および下流端に形成された 気流入口および空気排出口と、空気流入口 熱風を送り込む熱風供給装置、あるいは空 流入口に室温の空気を送り込む送風機およ 筒体に巻きつけられて内部を加熱するバン ヒータを備え、筒体に加熱された空気を通 ことよって吸湿材を乾燥させるように構成 れたものを用いることができる。
 また、水分除去装置は、並列に2つ以上設置 されていることが好ましい。このようにすれ ば、1つの水分除去装置の吸湿材が乾燥中で るときに、もう1つの水分除去装置にてフッ 系洗浄液中の水分の除去を行うことができ ため、精製装置によるフッ素系洗浄液の清 化効率を高めることができる。

 また、筒体の周囲壁の一部を透明窓で構成 、かつ青色シリカゲルに代表されるような 和指示材を吸湿材と混合しておくことによ て、飽和指示材の色によって吸湿材の吸湿 合い(乾燥度合い)を目視できるようにして よい。あるいは、水分除去装置の下流側に 分測定装置を設置し、乾燥に供した空気中 水分率を水分測定装置によって測定するこ によって吸湿材の乾燥度合いを調べるよう してもよい。
 さらに、吸湿材による水分除去効率を向上 せるために、フッ素系洗浄液の比重とフッ 系洗浄液中に溶解している水分との比重の を利用してフッ素系洗浄液と水とを分離す 水分離器を、水接触装置と水分除去装置と 間に設置してもよい。

<イオン性汚染物除去装置>
 イオン性汚染物除去装置としては、例えば 上流端に洗浄液流入口を有し、かつ下流端 洗浄液排出口を有する筒体の内部に、アル ナゲルを充填した構成のイオン性汚染物除 装置が挙げられる。

<フィルター装置>
 固体汚染物を除去するフィルター装置とし は、フッ素系洗浄液を通過させる筒体内に 密ろ過膜、限外ろ過膜等が設けられたフィ ター装置が挙げられる。この場合、フィル ー装置にて除去された固体汚染物は、フィ ターの交換により筒体内から外部ヘ排出さ る。なお、複数の同じろ過膜あるいは異な ろ過膜を組み合わせて用いてもよい。

 本洗浄システムにおける精製装置は、前 の各種汚染物を効率よく除去する観点から 上流から下流に向かって、精留装置、水洗 装置、水分除去装置およびフィルター装置 順、または水洗浄装置、水分除去装置、精 装置およびフィルター装置の順に各装置が 管にて連続的に接続されていることが好ま い。なお、精製装置がイオン性汚染物除去 置を有する場合には、水洗浄装置と水分除 装置との間以外であれば、イオン性汚染物 去装置の設置位置は特に限定されない。

 本洗浄システムは、このように各種の汚 物除去装置を配管で連続的に接続した精製 置と、洗浄装置とを配管にて接続して一体 することにより、未使用のフッ素系洗浄液 ら連続的に各種の汚染物を除去して精製し 高純度のフッ素系洗浄液を、外部環境と接 させることなくそのまま洗浄装置に供給す ことが可能となる。なお、精製装置におい 、未使用のフッ素系洗浄液の移送が滞らな ように、例えばポンプ式またはエアー式の 送手段を配管の途中に設けてもよく、ある は重力差によってフッ素系洗浄液を移送す ようにしてもよい。

<その他の構成>
 本洗浄システムは、洗浄剤組成物液を一時 に貯留するバッファータンクが、前記精製 置と前記洗浄装置との間にさらに備えられ いてもよい。
 バッファータンクを洗浄装置の下流側に設 た場合、洗浄装置内の汚れた使用済みのフ 素系洗浄液を精製装置にて再精製する際に 使用済みのフッ素系洗浄液をバッファータ クに移送しながら、精製装置から精製済み フッ素系洗浄液を洗浄装置へ供給し、洗浄 置による洗浄工程の間に、再生用バッファ タンクから精製装置へ使用済みのフッ素系 浄液を供給して再精製を行うことができる なお、洗浄装置の上流側にも別のバッファ タンクを設ければ、再精製したフッ素系洗 液をその別のバッファータンクに連続的に り込んで次のバッチ用として貯留しておく とができる。

 本発明の洗浄システムは、前記の各汚染物 去装置を配管で連続的に接続した精製装置 、洗浄装置とを循環配管にて接続して一体 することにより、未使用のフッ素系洗浄液 ら連続的に各種の汚染物を除去して精製し 高純度のフッ素系洗浄液を、外部環境と接 させることなくそのまま洗浄装置に供給す ことができる。それに加え、洗浄後の汚れ フッ素系洗浄液を外部に排出することなく 一システム経路内で再精製(再生)するため 外部からの汚染物が混入しない高純度の再 したフッ素系洗浄液を繰り返し使用するこ ができる。
 なお、本洗浄システムにおいて、フッ素系 浄液の移送が滞らないように、例えばポン 式またはエアー式の移送手段を配管の途中 設けてもよく、あるいは重力差によって洗 液を移送するようにしてもよい。

(洗浄方法の説明)
 前記のように構成された洗浄システムにて 子部品を洗浄する本発明の洗浄方法は、精 されたフッ素系洗浄液を精製装置から洗浄 置へ補給する洗浄液補給工程を含んでもよ 。
 また、洗浄工程が、洗浄槽内のフッ素系洗 液中に電子部品を浸漬して洗浄し、洗浄し 電子部品を濯ぎ槽内のフッ素系洗浄液中に 漬して濯ぎ、濯いだ電子部品を蒸気滞留部 蒸気にて蒸気洗浄し、蒸気洗浄した電子部 をシャワーノズルからの精製済みフッ素系 浄液によってシャワー洗浄するものであっ もよい。

 以下、図面を参照しながら本発明の実施 態を詳しく説明する。なお、本発明は以下 例示したものに限定されるものではない。

(実施形態1)
 図1は本発明の洗浄システムの実施形態1を す概略構成図である。
 実施形態1の洗浄システムは、洗浄装置10と 洗浄装置10と循環配管31にて接続された精製 装置20とから構成されている。

 洗浄装置10は、上方開口状のボディ11と、 ボディ11内の下部に配置された洗浄槽12およ 濯ぎ槽13と、ボディ11の上部開口縁に沿って 置された蒸気凝縮部14とを備え、洗浄槽12お よび濯ぎ槽13の内部にフッ素系洗浄液Cが収容 される。なお、図1において、二点鎖線は、 ッ素系洗浄液Cの液面を表しており、フッ素 洗浄液Cは、濯ぎ槽13の液面よりも洗浄槽12 液面が常に低くなる量とされている。

 洗浄槽12は内部底面にヒータ12aを有してお 、ヒータ12aにて洗浄槽12内のフッ素系洗浄液 Cが加熱される。また、洗浄槽12内の加熱され たフッ素系洗浄液Cの一部は蒸気となって上 し、洗浄槽12および濯ぎ槽13の上方にフッ素 洗浄液Cの蒸気層Sが形成される。なお、図1 おいて、点線は蒸気層Sと外気との境界を表 している。
 濯ぎ槽13は内部底面に超音波発生機13aを有 ており、超音波発生機13aにて濯ぎ槽13内のフ ッ素系洗浄液Cに超音波が付与される。

 蒸気凝縮部14は、ボディ11の上部開口縁の内 面に沿って設けられた凝縮管14aおよび凝縮管 14a内に冷媒を循環させる図示しない冷却サイ クル部と、凝縮管14aの下部に設けられた樋部 14bと、樋部14bと濯ぎ槽13とを配管を介して接 する水分離器14cとを備える。
 蒸気層S中の蒸気の一部は、凝縮管14と接触 て熱を奪われることにより液化して樋部14b 集められる。液化したフッ素系洗浄液Cには 、空気中の水蒸気が凝縮した水分を含んでい るため、フッ素系洗浄液Cは樋部14bから水分 器14c内に導入されて水と分離され、フッ素 洗浄液Cよりも比重が小さい水は水分離器14c 上部の排水口から外部に排出され、水分離 14cの下部の開口からフッ素系洗浄液Cが配管 を通って濯ぎ槽13内に導入される。

 精製装置20は、水溶性汚染物を除去する水 浄装置を構成する水接触カラム21と、水分除 去装置を構成する水分離器22および吸湿材カ ム23と、イオン性汚染物除去装置を構成す イオン性汚染物除去カラム24と、有機性汚染 物を除去する精留装置を構成するヒータ内蔵 型蒸留塔25と、固体汚染物を除去するフィル ー装置26とが、上流側からこの順で配管に 直列に接続されてなる。
 水接触カラム21は、上部の上流端に洗浄液 入口および水排出口を有すると共に、下部 下流端に洗浄液排出口および水流入口を有 ており、洗浄液流入口は未使用のフッ素系 浄液Cを内部に導入するためのホッパ21aと配 を介して接続され、水流入口は図外の水供 源と配管を介して接続されている。
また、フィルター装置26は洗浄装置10の濯ぎ 13と配管にて接続されている。

 この洗浄システムを用いた洗浄方法は、 製装置20に未使用のフッ素系洗浄液を供給 て精製する精製工程と、洗浄装置10内のフッ 素系洗浄液Cにて電子部品を洗浄する洗浄工 と、洗浄に使用されたフッ素系洗浄液を洗 装置10から精製装置20へ送り、使用済みフッ 系洗浄液を再精製して洗浄装置10へ循環供 する工程とを含む。

<精製工程について>
 水接触カラム21内では、フッ素系洗浄液が 方から流入し、水が下方から流入する。フ 素系洗浄液中に水溶性汚染物が含まれてい 場合、フッ素系洗浄液が下降する間に水溶 汚染物が除去され、その後、水分離器22へ送 られる。なお、水接触カラム21の上部からは 理に供された水が排出される。
 水分離器22へ送られたフッ素系洗浄液には かに水が含まれているため、水分離器22内に おいてフッ素系洗浄液と水が下層と上層に分 離され、下層のフッ素系洗浄液が吸湿材カラ ム23へ送られる。なお、水分離器22の上部か は分離した水が排出される。
 吸湿材カラム23へ送られたフッ素系洗浄液 は微量の水分が含まれているため、吸湿材( えばゼオライト)にて水分が除去され、その 後、フッ素系洗浄液はイオン性汚染物除去カ ラム24へ送られる。

 イオン性汚染物除去カラム24へ送られたフ 素系洗浄液中にイオン性汚染物が含まれて る場合、イオン性汚染物除去カラム24内にお いて、イオン性汚染物除去材(例えばアルミ ゲル)にて該イオン性汚染物が除去され、そ 後、フッ素系洗浄液は蒸留塔25へ送られる
 蒸留塔25へ送られたフッ素系洗浄液中に有 性汚染物が含まれている場合、有機性汚染 とフッ素系洗浄液の沸点差を利用した蒸留 25内での蒸留操作によって、該有機性汚染物 が除去され、その後、フッ素系洗浄液はフィ ルター装置26へ送られる。
 フィルター装置26へ送られたフッ素系洗浄 中に固体汚染物が含まれている場合、精密 過膜、限外ろ過膜等を有するフィルター装 26にて固体汚染物が除去される。なお、固体 汚染物には、上流側の吸湿材やイオン性汚染 物除去材が含まれる場合もある。

 このように水接触カラム21、水分離器22、 吸湿材カラム23、イオン性汚染物除去カラム2 4、蒸留塔25およびフィルター装置26を通過し フッ素系洗浄液は、水溶性、イオン性、有 性、固体汚染物を含まない高純度に精製さ たフッ素系洗浄液Cとなり、洗浄装置10の空 濯ぎ槽13内に精製されたフッ素系洗浄液Cが 給され、濯ぎ槽13から溢れ出たフッ素系洗 液Cが洗浄槽12に供給される。

<洗浄工程について>
 洗浄工程では、まず、電子部品は洗浄槽12 の加熱されたフッ素系洗浄液C中に浸漬され 電子部品表面の汚れ(主として有機性汚染物 )が除去される。
 次に、電子部品は、濯ぎ槽13内のフッ素系 浄液C中に浸漬される。濯ぎ槽13内のフッ素 洗浄液Cは、洗浄槽12内のフッ素系洗浄液Cよ も低い温度に保たれているため、電子部品 濯ぎ槽13内で冷却される。また、濯ぎ槽13に おいては、超音波発生機13aによってフッ素系 洗浄液Cに超音波が付与されているため、洗 槽12で除去されずに電子部品の表面に残留し ている汚れが、超音波の作用によって電子部 品から剥離され、除去される。

 その後、電子部品は、濯ぎ槽13から引き上 られて蒸気層Sに導入され、電子部品の表面 凝縮液化するフッ素系洗浄液にて最終的な ぎが行われ、洗浄装置10の上方開口部より り出される。
 洗浄工程中、凝縮部14で凝縮液化した清浄 フッ素系洗浄液は、水分離した後に濯ぎ槽13 へ戻されると共に、洗浄槽12から電子部品に 伴して濯ぎ槽13に持ち込まれた汚染物はオ バーフローにより洗浄槽12に戻される。
 この洗浄工程では、未使用のフッ素系洗浄 の純度をより一層高めたフッ素系洗浄液を いて電子部品を洗浄することができるため 電子部品の清浄度をより一層向上させるこ ができる。

 また、洗浄工程中、洗浄槽12内の汚れたフ 素系洗浄液Cを循環配管31を通して精製装置20 の水接触カラム21へ連続的または断続的に導 し、フッ素系洗浄液を水接触カラム21、水 離器22、吸湿材カラム23、イオン性汚染物除 カラム24、蒸留塔25およびフィルター26を順 通過させて各種の汚染物を除去して再生し 再生したフッ素系洗浄液を循環配管31を通 て洗浄装置10の濯ぎ槽13へ連続的または断続 に供給することができる。したがって、汚 物を含まない清浄なフッ素系洗浄液を随時 ぎ槽13に供給しながら電子部品を洗浄する とができる。
 また、洗浄装置10にて所定個数の電子部品 洗浄処理(1バッチ洗浄処理)が行われた後、 浄装置10から精製装置20へ汚れたフッ素系洗 液を連続的に導入しながら再生し、再生し フッ素系洗浄液を洗浄装置10へ循環させて よい。
 また、洗浄装置10による電子部品の洗浄処 を繰り返すことによって内部のフッ素系洗 液Cが減少した場合は、洗浄中および/または 洗浄後に、精製したフッ素系洗浄液を濯ぎ槽 13に補充することができる。

 また、本洗浄システムにおいて、再生して 返し使用したフッ素系洗浄液Cを交換しても よい。
 この場合、洗浄槽12および濯ぎ槽13の底部に 設けた図示しない排出口のバルブを開けて内 部の使用済みフッ素系洗浄液を回収容器に回 収し、必要であれば空になった洗浄装置10内 精製装置20にて精製したフッ素系洗浄液Cで 浄し、前記排出口を閉じた後、前記のよう 精製装置20にて精製したフッ素系洗浄液Cを ぎ槽13および洗浄槽12に導入する。
 なお、回収した使用済みのフッ素系洗浄液 、廃棄処分されるか、あるいは再生装置に 再生され、再生されたフッ素系洗浄液を洗 装置10に直接投入して再使用してもよく、 るいは精製装置にてさらに純度を高めてか 洗浄装置10に投入して再使用してもよい。

(実施形態2)
 図2は本発明の洗浄システムの実施形態2を す概略構成図である。
 実施形態2の洗浄システムは、実施形態1と 様に、洗浄装置100と、洗浄装置100と配管に 接続された精製装置200とから構成されてい が、洗浄装置100および精製装置200の構成が 施形態1とは若干異なる。
 以下、実施形態2における実施形態1とは異 る点を主として説明する。

 洗浄装置100は、上方開口状のボディ110と、 ディ110内の下部に配置された洗浄槽120およ 濯ぎ槽130と、ボディ110の上部開口縁に沿っ 配置された蒸気凝縮部140と、洗浄槽120に隣 して配置された蒸気発生槽150と、蒸気発生 150の上方に配置された蒸留塔160とを備える
 実施形態1と同様に、洗浄槽120はヒータ120a 有し、濯ぎ槽130は超音波発生機130aを有し、 気凝縮部140は凝縮管140a、樋部140bおよび水 離器140cを有している。なお、ヒータ120aの代 りに超音波発生機を洗浄槽120内に設けてもよ い。

 蒸気発生槽150は、蒸気凝縮部140から外側に けられており、内部底面にヒータ150aを有し ている。
 ボディ110は、蒸気発生槽150の上方を覆う部 を有し、この部分に蒸留塔160が搭載されて る。なお、蒸留塔160と蒸気発生槽150とは、 ディ110に形成した連通孔にて相互に連通し いる。
 また、蒸留塔160の上端には蒸気を排出する 出口が形成されており、この排出口は循環 管310を介して後述の精製装置200の水接触カ ム210と接続されている。

 この洗浄装置100による電子部品の洗浄工程 実施形態1と同様に、まず、電子部品は、洗 浄槽120内の加熱されたフッ素系洗浄液C中に 漬されて洗浄され、次に濯ぎ槽130中の超音 が付与されたフッ素系洗浄液C中に浸漬され 濯がれ、洗浄槽120内の加熱されたフッ素系 浄液Cが気化した蒸気層S中に引き上げられ 蒸気洗浄された後、外部に取り出される。
 この間、洗浄槽120をオーバーフローしたフ 素系洗浄液Cが蒸気発生槽150内に導入され、 蒸気発生槽150内で加熱されて気化したフッ素 系洗浄液Cの蒸気の一部は、蒸留塔160および 環配管310を通って精製装置200へ導入される つまり、洗浄工程において、洗浄槽120内の れたフッ素系洗浄液が蒸気発生槽150に流入 、有機汚染物を含むフッ素系洗浄液は蒸気 生槽160にて気化し、その蒸気のうち有機汚 物の蒸気は蒸留塔160で冷却され液化して蒸 発生槽160に戻り、有機汚染物を含まないフ 素系洗浄液の蒸気のみが蒸留塔160を通り抜 、循環配管310を通過する間に冷えて液化し 有機汚染物を含まないフッ素系洗浄液が精 装置200へ導入される。

 精製装置200は、ホッパ210aが接続された水 接触カラム210と、水分離器220と、吸湿カラム 230と、イオン性汚染物除去カラム240と、フィ ルター260とが配管にて連続的に直列接続され て構成されている。前記のように水接触カラ ム210は、洗浄装置100の蒸留塔160と循環配管310 にて接続され、フィルター260は洗浄装置100の 濯ぎ槽130と循環配管310にて接続されて構成さ れている。

 この実施形態2の洗浄システムによれば、 精製装置200によって未使用のフッ素系洗浄液 中の有機性汚染物以外の水溶性汚染物の除去 、イオン性汚染物の除去および固体汚染物の 除去を経て精製されたフッ素系洗浄液を、洗 浄装置100の濯ぎ槽130に導入し、洗浄装置100に て電子部品を洗浄しながら、各種汚染物を含 むフッ素系洗浄液を蒸留塔160および精製装置 200によって清浄化して再生し、再生したフッ 素系洗浄液を洗浄装置100へ循環供給すること ができる。なお、洗浄装置100による電子部品 の洗浄処理を繰り返すことによって内部のフ ッ素系洗浄液Cが減少した場合は、洗浄中お び/または洗浄後に、精製したフッ素系洗浄 を濯ぎ槽130に補充することができる。

(実施形態3)
 図3は本発明の洗浄システムの実施形態3を す概略構成図である。
 実施形態3の洗浄システムは、図1で説明し 実施形態1の洗浄システムにおける洗浄装置1 0の濯ぎ槽13と精製装置20のフィルター26との に、精製したフッ素系洗浄液を一時的に貯 するバッファータンク41をさらに備えたもの である。
 この実施形態3の洗浄システムによれば、洗 浄装置10にて電子部品を洗浄している間に、 の1バッチ量以上のフッ素系洗浄液を精製し てバッファータンク41内へ貯留しておくこと できるため、洗浄システムによる洗浄処理 率を向上させることができる。また、洗浄 置10による1バッチ目の洗浄処理が終了した は、洗浄装置10内の汚れたフッ素系洗浄液 精製装置20へ導入して再精製し、その間にバ ッファータンク41内の精製した2バッチ目のフ ッ素系洗浄液を洗浄装置10へ供給し、バッフ ータンク41内に再精製したフッ素系洗浄液 貯留し、洗浄装置10にて2バッチ目の洗浄処 を行い、その後はこれを繰り返し行うこと できる。さらに、バッファータンク41に貯留 している精製したフッ素系洗浄液の一部を、 洗浄中の洗浄装置10へ随時補充することも可 となる。

 なお、精製用バッファータンク41の位置は 蒸留塔25とフィルター26の間、イオン性汚染 除去カラム24と蒸留塔25の間、吸湿材カラム 23とイオン性汚染物除去カラム24の間、また 洗浄装置10と水接触カラム21の間でもよい。 の場合、バッファータンク41には、精製中 再生中または再生前のフッ素系洗浄液が一 的に貯留される。
 また、実施形態3において、バッファータン クは洗浄装置10の洗浄槽12と精製装置20との間 に配置されてもよく、あるいは洗浄装置10の 流側と下流側の両方に配置されてもよい。
 また、このようなバッファータンク41を備 る構成は、実施形態1の洗浄システム以外に 、前記の実施形態2の洗浄システムにも適用 できることは言うまでもない。

(実施形態4)
 図4は本発明の洗浄システムの実施形態4を す概略構成図である。
 実施形態4の洗浄システムは、図1で説明し 実施形態1と同じ洗浄装置10および精製装置20 に加えて、洗浄装置10がシャワーノズル17を らに備え、精製装置20により精製されたフッ 素系洗浄液を前記シャワーノズル17から噴出 て、蒸気洗浄後の電子部品をシャワー洗浄 るように構成されたものである。なお、図4 において、図1と同一の構成要素には同一の 号を付している。
 以下、実施形態4における実施形態1とは異 る点を主として説明する。

 実施形態4では、例えば、シャワーノズル 17を洗浄装置10における蒸気滞留部Sの上方で って洗浄槽12寄りのボディ11の上縁付近に配 置し、精製装置20のフィルター26と洗浄装置10 とを接続する循環配管31の途中から分岐する 岐配管28を設け、分岐配管28とシャワーノズ ル17とを接続する。さらに、分岐配管28の途 に開閉バルブ28aを設けると共に、循環配管31 の分岐配管28よりも下流側に開閉バルブ31aを ける。

 このように構成することによって、洗浄工 中、開閉バルブ27aを閉じ、開閉バルブ28aを いて、精製装置20によって精製されたフッ 系洗浄液をシャワーノズル17から噴出し、蒸 気滞留部の蒸気Sによって蒸気洗浄された後 電子部品をシャワー洗浄することができる また、シャワー洗浄に供したフッ素系洗浄 を洗浄槽12中に落下させて、洗浄槽12内で再 用することができる。
 したがって、蒸気S中に有機性汚染物の蒸気 が含まれ、蒸気洗浄後の電子部品の表面に有 機性汚染物が残留していたとしても、精製さ れたシャワー状のフッ素系洗浄液によって電 子部品表面の有機性汚染物が洗い流されるた め、電子部品の清浄度をより一層高めること ができる。
 なお、このようなシャワー洗浄を可能とす 構成は、実施形態1の洗浄システム以外にも 、前記の実施形態2および3の洗浄システムに 適用できることは言うまでもない。
 特に、精製用バッファータンク41(図3参照) らシャワーノズル17に精製済みフッ素系洗浄 液を随時供給することができるように構成す ることが好ましい。

(実施形態5)
 図5は本発明の洗浄システムの実施形態5を す概略構成図である。
 実施形態5の洗浄システムは、図1で説明し 実施形態1の洗浄システムにおける洗浄装置1 0が異なる以外は、実施形態1と同様である。 お、図5において、図1と同一の構成要素に 同一の符号を付している。
 以下、実施形態5における実施形態1とは異 る点を主として説明する。

 実施形態5における洗浄装置10Aは、上方開口 部を有するボディ11と、ボディ11の上方開口 を開閉可能に遮蔽する蓋体11aと、ボディ11内 の下部に段違いに配置された洗浄槽12および ぎ槽13とを備え、洗浄槽12および濯ぎ槽13の 部にフッ素系洗浄液Cが収容される。なお、 フッ素系洗浄液Cは、濯ぎ槽13の液面よりも洗 浄槽12の液面が常に低くなる量とされている
 また、洗浄槽12および濯ぎ槽13は内部底面に 超音波発生機13aをそれぞれ有しており、各超 音波発生機13aにて洗浄槽12および濯ぎ槽13内 フッ素系洗浄液Cに超音波が付与される。

 この洗浄装置10Aによる電子部品の洗浄の際 、蓋体11aが開き、まず、電子部品は室温の 浄槽12内のフッ素系洗浄液C中に浸漬され、 子部品の表面の汚れが超音波の作用によっ 剥離される。続いて、電子部品は室温の濯 槽13内のフッ素系洗浄液C中に浸漬され、電 部品の表面に残留している汚れが超音波の 用によって剥離され、その後、洗浄装置10A 上方開口部より取り出される。
 このように、実施形態7では、実施形態1で っていた蒸気洗浄が省略されている。なお 基本的に電子部品の洗浄工程以外は蓋体11a 閉じており、洗浄槽13および濯ぎ槽13内に塵 埃、ごみ等が入らないように洗浄装置10A内 密閉される。

(実施形態6)
 図6は本発明の洗浄システムの実施形態6を す概略構成図である。
 実施形態6の洗浄システムは、図5で説明し 実施形態5の洗浄システムにおける洗浄装置1 0Aが異なる以外は、実施形態5と同様である。 なお、図6において、図5と同一の構成要素に 同一の符号を付している。
 以下、実施形態6における実施形態5とは異 る点を主として説明する。

 実施形態6における洗浄装置10Bは、実施形態 5における洗浄装置10Aにシャワーノズル17(図6 照)を設けたものである。シャワーノズル17 、実施形態4と同様に精製装置20と接続され いる。
 この洗浄装置10Bによる電子部品の洗浄の際 、電子部品は、実施形態5と同様に洗浄槽12 よび濯ぎ槽13で洗浄された後、シャワーノ ル17から噴出した精製されたフッ素系洗浄液 Cにてシャワー洗浄される。あるいは、洗浄 12での洗浄と濯ぎ槽13での洗浄のうちの一方 るいは両方を省略してから、シャワー洗浄 行ってもよい。また、シャワー洗浄は、高 シャワー洗浄でもよい。

(実施形態7)
 図7は本発明の洗浄システムの実施形態7を す概略構成図である。
 実施形態7の洗浄システムは、図1で説明し 実施形態1の洗浄システムにおける洗浄装置1 0が異なる以外は、実施形態1と同様である。 お、図7において、図1と同一の構成要素に 同一の符号を付している。
 以下、実施形態7における実施形態1とは異 る点を主として説明する。

 実施形態7における洗浄装置10Cは、実施形態 1における洗浄装置10の濯ぎ槽13が省略された のである。
 この洗浄装置10Cによる電子部品の洗浄の際 、電子部品は、洗浄槽12内の加熱されたフ 素系洗浄液C中には浸漬されず、蒸気層S内で 洗浄される。このとき、電子部品が冷えた状 態で蒸気層S内に持ち込まれると、部品表面 で洗浄液の蒸気が凝縮して液化することに り、部品表面上の汚れを洗い流す。その後 しばらく放置することにより、電子部品の 度が次第に上昇し最終的に洗浄液の沸点に 達するため、部品表面上の洗浄液は気化し 電子部品が乾燥する。なお、電子部品が乾 する前に蒸気層Sから取り出し、自然乾燥ま は外部の乾燥装置により乾燥させてもよい

(他の実施形態)
1.前記の各実施形態において、洗浄装置の濯 槽内のフッ素系洗浄液を循環させる循環経 を設け、その循環経路にフィルターを設置 、濯ぎ槽内のフッ素系洗浄液をフィルター 通して循環式に清浄化するように構成して よい。この構成によれば、洗浄前の電子部 に付着していた固体汚染物が濯ぎ槽内で剥 してフッ素系洗浄液中に混入した場合でも 濯ぎ槽内のフッ素系洗浄液から固体汚染物 除去することができ、電子部品の清浄度を り高めることができる。
2.実施形態2(図2参照)の洗浄システムでは、精 製装置200の水接触カラム210から未使用のフッ 素系洗浄液を導入するように構成されている が、洗浄装置100の蒸気発生槽150に未使用のフ ッ素系洗浄液を導入してもよい。このように すれば、未使用のフッ素系洗浄液は蒸気発生 槽150内のヒータ150aにて加熱されて蒸気とな 、その蒸気に有機性汚染物が含まれている 合は、有機性汚染物が除去された蒸気が蒸 塔160を通過して精製装置200へ導入される。 たがって、有機性汚染物を除去したより高 度の精製フッ素系洗浄液を洗浄装置100の濯 槽130内へ供給することができる。
3.実施形態5~7(図5~7)の洗浄システムも、実施 態3(図3)と同様にバファータンク41が備えら てもよい。

 以下、実施例を挙げて本発明を更に詳しく 明するが、本発明はこれらの実施例に限定 れるものではない。
(実施例1)
 フッ素系洗浄液としてバートレル(登録商標 )XF(三井・デュポンフロロケミカル株式会社 )に、水溶性汚染物として2-プロパノール(以 、IPAと記す)を200重量ppmと、有機性汚染物と してクライトックス(登録商標)143AC(デュポン 製)を5重量ppmとを混合して模擬汚れを有す フッ素系洗浄液を調製した。
 模擬汚れを有する前記フッ素系洗浄液を、 記の実施形態1(図1参照)における精製装置20 用いて精製し、精製後のフッ素系洗浄液か 各種汚染物および水分がどの程度除去され いるかを、水分計(三菱化学製、CA-06型)を用 いて測定し、その結果を表1に示した。なお イオン性汚染物除去装置24にはモレキュラー シーブ3A(ユニオンカーバイド社製)を用い、 留装置25には蒸留塔(オルダーショウ型、40段 )を用いた。

 実施例1の結果から、模擬汚れを有するフッ 素系洗浄液を本発明における精製装置にて精 製することにより、高純度のフッ素系洗浄液 が得られることが確認できた。

(実施例2)
 まず、本発明の洗浄システムに用いられる 使用のフッ素系洗浄液中にどのような汚染 が含まれているかを調べ、その後、未使用 フッ素系洗浄液を実施例1と同様に精製し、 その精製後のフッ素系洗浄液中からどの程度 各種汚染物が除去されたかを実施例1と同様 測定し、その結果を表2に示した。
 なお、未使用のフッ素系洗浄液として、18L チール缶入りの前記バートレルXF(登録商標) を用いた。

 実施例2の結果から、未使用のフッ素系洗 浄液にも複数種類の汚染物が含まれており、 このフッ素系洗浄液を精製装置にて精製する ことでより、高純度のフッ素系洗浄液が得ら れることが確認できた。

 本発明の電子部品の洗浄方法および洗浄 ステムは、電子部品を限定するものではな が、高純度のフッ素系洗浄液による高清浄 が要求されるようなシリコンウェハ、セラ ックウェハ、前記シリコンウェハを切断し シリコンチップ、前記セラミックウェハを 断したセラミックチップ、ガラス基板、金 基板、カラーフィルター基板、プリント基 およびこれらを用いた電子部品等の電子部 を洗浄するのに特に好適であり、常時、高 に清浄化されたフッ素系洗浄液を長期間に って使用することが可能となる。