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Title:
MOLDING COMPOUND-ENCLOSED POWER SEMICONDUCTOR ELEMENT
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2010/081465
Kind Code:
A2
Abstract:
The invention relates to a molding compound-enclosed power semiconductor element, wherein a power semiconductor is surrounded with metal contacts guided to the outside of a molded module in enveloping syringes by being encased with thermoset materials using a molding process, and wherein for the heat dissipation of a bottom side a heat dissipation section is provided at least by the semiconductor and a substrate carrier, wherein at least one contact tab is attached at least in the region of one of the contacts of the semiconductor, said tab covering one of the contacts on the upper side of the semiconductor in a planar manner, and wherein on the at least one planar section of the contact tap, in a heat conducting manner to the upper side of the molded module, at least one heat conducting element is provided to form a second heat-dissipating bridge to the outside of the module.

Inventors:
OSTERWALD FRANK (DE)
ULRICH HOLGER (DE)
KOCK MATHIAS
Application Number:
PCT/DE2010/000019
Publication Date:
July 22, 2010
Filing Date:
January 13, 2010
Export Citation:
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Assignee:
DANFOSS SILICON POWER GMBH (DE)
OSTERWALD FRANK (DE)
ULRICH HOLGER (DE)
KOCK MATHIAS
International Classes:
H01J27/16; F03H1/00; H01J27/18; H01J37/32
Domestic Patent References:
WO2006068643A12006-06-29
WO2003036717A12003-05-01
Foreign References:
US20070145540A12007-06-28
US20070108564A12007-05-17
US20070114352A12007-05-24
US20070267739A12007-11-22
US20070266558A12007-11-22
US20070222044A12007-09-27
US20040232545A12004-11-25
Other References:
None
Attorney, Agent or Firm:
BIEHL, Christian (DE)
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Claims:
ANSPRUCHE

1. Formmassenumschlossenes Leistungshalbleiterelement, bei dem ein Leistungshalbeiter mit metallischen, an die Außenseite eines Moldmoduls geführten Kontakten mit einer Umhüllung aus Duroplasten, Thermoplasten oder Zementen umgeben ist, und wobei zur Wärmeableitung einer Bodenseite eine Wärmeleitungsstrecke wenigstens durch den Halbleiter und einen Substratträger vorhanden ist, dadurch gekennzeichnet, daß

wenigstens eine wenigstens im Bereich eines der Kontakte des Halbleiters auf seiner Oberseite einen der Kontakte flächig bedeckend ausgebildete Kontaktlasche angesetzt ist,

auf dem wenigstens einen flächigen Abschnitt der Kontaktlasche wärmeleitend zur Oberseite des Moldmoduls wenigstens ein wärmeleitendes Element zur Ausbildung einer zweiten wärmeableitenden Brücke an die Außenseite des Moduls vorgesehen ist.

2. Formmassenumschlossenes Leistungshalbleiterelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens eines der wärmeleitenden Element zur Oberseite des Umhüllungskörpers eine keramische Schicht ist.

3. Formmassenumschlossenes Leistungshalbleiterelement nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die keramische Schicht eine keramische Platte ist.

4. Formmassenumschlossenes Leistungshalbleiterelement nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die keramische Schicht durch Plasmaspritzen auf die metallische Kontaktlasche aufgespritzt ist.

5. Formmassenumschlossenes Leistungshalbleiterelement nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens eines der wärmeleitenden Elemente eine metallische Platte ist.

6. Formmassenumschlossenes Leistungshalbleiterelement nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die metallische Platte ballig ausgebildet ist mit einer leicht konkaven "Wölbung auf den Leistungshalbleiter hin.

7. Formmassenumschlossenes Leistungshalbleiterelement nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass unterhalb des freigeführten Teils der metallischen Kontaktlasche eine isolierende Lagenschicht eingelegt ist.

8. Formmassenumschlossenes Leistungshalbleiterelement nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das wärmeleitende Element eine kompressible, elektrisch und thermisch leitfähige Schicht aus sinterfähigem Metallpartikeln ist.

9. Formmassenumschlossenes Leistungshalbleiterelement nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens eine weitere Substratoberfläche mit einer organischen Schutzfolien unter der Formmassenumhüllung versehen ist.

10. Formmassenumschlossenes Leistungshalbleiterelement nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass vor dem Prozess des Umhül- lens die Baugruppe ganz oder teilweise einen Überzug aus einem verbindungsför- dernden und isolierenden Schichtstoff aufweist.

Description:
Formmassenumschlossenes Leistungshalbleiterelement

Die Erfindung betrifft ein formmassenurnschlossenes Leistungshalbleiterelement. Dabei wird ein Halbleiter zu seinem Schutz mit einer Kunststoffmasse - denkbar sind jedoch auch Zemente, d.h. mineralische, gießfähige Gusstoffe - vergossen oder umspritzt.

Bei Leistungshalbleiterelementen, insbesondere bei solchen mit Formverguss werden die Bauelemente üblicherweise nur einseitig durch das Substrat oder das Stanzgitter einen Kühlungspfad zum äußeren Kühlkörper aufweisen. Diese Ableitung der gesamten erzeugten Verlustleistung über nur einen definierten Kühlpfad ist mit Problemen behaftet. Zum einen führt dieser Kühlpfad von der Unterseite des Halbleiterelementes durch das Substrat der Baugruppe beziehungsweise durch ein Stanzgitter an eine äußere Fläche des formvergossenen Leistungshalbleitermoduls (des s. g. mold packages). Von dort wird die Verlustleistung üblicherweise über Wärmeleitpasten an Luft oder Wasserkühler abgegeben.

Andererseits ist schon bekannt, dass die Verlustleistung in einem Halbleiter insbesondere bei einem MOSFET und IGBE-Bauelementen einige lOμm bis lOOμm unterhalb der Kontaktoberfläche des Halbleiters entsteht. Dies entspricht also den oberen 20% der üblichen Gesamtdicke eines Halbleiters.

Da die Montage des Halleiters auf dem Substrat/Stanzgitter üblicherweise auf seiner Unterseite (der von Source-Kontakt bzw. Emitter und Gate abgewandten Seite) erfolgt, ist lediglich der Drain- bzw. Kollektoranschluss an der Unterseite. Die Verlustleistung muss daher im wesentlichen durch die Trägerschichten des Siliziums bis zum Substrat, also durch ca. 80% der Gesamtdicke des Halbleiters geführt werden. Dieser lange Entwärmungspfad fuhrt bei möglichst effektivem Betrieb (hohe Stromlast pro Halbleiterfläche) zu einer starken Erwärmung der Sperrschicht des Halbleiters und dies hat weitere ungünstige Folgen.

Im Stand der Technik werden diese Module auch als Halbleiter-Moldpackages (also als mit Duroplast umspritzte Umhüllungskörper einer elektronischen Baugruppe mit mindestens einen Halbleiterelement) bezeichnet und sind als robuste, umhüllungsge- spritzte Baugruppen bekannt, in denen für bestimmte Anwendungen (z.B. Motorsteuerungen) vorzugweise Leistungsbauelemente mit besonders hoher Verlustleistung zugefasst werden.

Die Oberseite solcher Halbleiterbauelemente ist üblicherweise durch bogenförmig aufgesetzte Kontaktdrähte (Bonddrähte) mit anderen Leiterbahnen des Substrates oder des Stanzgitters verbunden und von isolierender Duroplastmasse umhüllt. Die sehr geringe Wärmeleitung der Duroplastmassen (< 1 W/mK) fuhrt nur zu einer sehr geringen Leitung von Verlustwärme durch den Umhüllungskörper an die Umgebung.

Die oben erwähnten ungünstigen Folgen bestehen daher in :

• geringere Lebensdauer durch höhere Sperrschichttemperatur

• früheres Ablösen der Bonddrähte (Wirebond lift off) bei hoher mittlerer Betriebstemperatur bei wechselnden Lasten

• Suboptimaler Maximalstrom (uneffektive Ausnutzung der Siliziumfläche)

• Größeres Volumen durch unsymmetrische, äußere Kühlkörper der gesamten Baugruppe

Bei der Fertigung des Moldpackage nach dem Stand der Technik sind durch den unsymmetrischen Aufbau (Bauteileträger unten und großes Moldvolumen oben) starke Verformungen durch unsymmetrisches Schrumpfen zu beobachten. Nur durch langwierige Temperung kann diese Verwerfung vermindert werden.

Die Erfindung hat sich daher zur Aufgabe gestellt, eine verbesserte Ableitung der Verlustwärme zu ermöglichen. Erfindungsgemäß wird dies durch ein formumschlossenes Halbleistungshalbleitermodul mit den Merkmalen des Hauptanspruches gelöst. Die Unteransprüche geben vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung wieder. Besonders vorteilhaft ist, dass die Betriebsbedingungen der Halbleiter und die damit verbundenen Nachteile durch einen weiteren Entwärmungspfad zur Umgebung deutlich verringert werden können. Der Wärmepfad soll auf der dem vorhandenen Substrat, gegenüberliegenden Seite des Moldpackage an die Umgebung geführt werden. Dort kann dann thermischer Kontakt zu einem Luft- oder Wasserkühler hergestellt werden.

Der zusätzliche Wärmepfad steigert die Wärmeabfuhr um 20% bis 30% und um den gleichen Anteil sinkt der verlustleistungsbedingte Temperaturhub in der Sperrschicht des Halbleiters. Dieser geringere Temperaturhub kann nun für eine gesteigerte Lebensdauer oder erhöhte Stromabgabe genutzt werden.

Der zusätzliche Entwärmungspfad beginnt dabei in sehr günstiger Weise auf der heißen Oberseite des Halbleiters und wird durch folgenden Aufbau realisiert:

1. Anstelle der üblichen Bonddrähte werden durch Löten, Sintern oder Leitkleben überwiegend ebene Kontaktlaschen zur elektrischen Kontaktierung eingesetzt.

Optionen: a. Die Kontaktlasche kann Bestandteil eines zweiten, ausgedehnten Stanz gitters sein. b . Die Kontaktlasche kann in Ihrem Verlauf eine partielle elektrische Isolierung tragen (Isolierlacke, Polyimidschlauch) zur Vermeidung möglicher, montagebedingter Berührungen von potentialtragenden Leiterbahnen o- der Bauteilberandungen.

2. Auf diesen Kontaktlaschen kann nun durch Löten, Sintern oder Leitkleben eine thermisch und elektrisch leitende Brücke aufgesetzt werden, die den Wärmepfad bis zur Oberfläche des Moldpackages verlängert. Optionen: a. Eine weitere Funktion dieser metallischen Wärmebrücke ist die Gestaltung als nachgiebiges Element. Diese Eigenschaft ist erforderlich, um die technisch bedingten Dickentoleranzen aller gestapelten Materialien durch Nachgeben beim Schließen des Spritzwerkzeugen auszugleichen. Durch eine z.B. ballige Formgebung der Wärmebrücke wird sicherge- stellt, dass keine positive Dickentoleranz entstellt und so Halbleiterbauelemente durch Schließkraft des Werkzeuges zerstört werden. Nach dem Schließen des Spritzwerkzeuges folgt das Einpressen der Duroplastmasse und das vollständige Ausfüllen der verbliebenen Hohlräume innerhalb des Werkzeuges. Eine weitere Verformung der Wärmebrücke ist danach nicht mehr möglich. b. Die Balligkeit soll vorzugsweise so orientiert werden, dass die konvexe Seite dem Inneren des Moldpacke zugewandt ist. Die konkave Seite ist demnach an äußeren Fläche dem geschlossenen Werkzeug zugewandt. Damit wird erreicht, dass ein Eindringen der Duroplastmasse (das Over- mold) zwischen Wärmebrücke und Werkzeugwand verhindert wird. Eine Nacharbeit zur Beseitigung von Duroplast-Flecken entfällt.

3. Für viele Anwendungen ist zusätzlich eine üotentialfreie Entwärmung erforderlich. Dann wird eine möglichst gut Wärme leitende Keramik (z.B. AIn, A12O3) unterhalb oder oberhalb der metallischen Wärmebrücke in den Wärmepfad durch Löten, Sintern oder Leitkleben zur elektrischen Isolation eingesetzt. Das Nachgeben der Wärmebrücke ist auch bei Einsatz einer elektrischen Isolation vorteilhaft.

4.

Optionen: a. Der elektrische Isolator kann ein Wärme leitender Keramikkörper (AlN oder A12O3) auf der Kontaktlasche des Halbeiters sein. b. Der elektrische Isolator kann eine Wärme leitende Schicht sein, die beispielsweise auf der Wärmebrücke (unten oder oben) durch (kaltgas- oder plasmagespritztes AlN oder A12O3) aufgebracht ist und dann durch Löten, Sintern oder Kleben stoffschlüssig verbunden wird. c. Der elektrische Isolator kann ein Wärme leitender Keramikkörper (AlN oder Al 2 O 3 ) oder eine keramische Schicht auf der Außenseite des Moldpackage auf den Flächen der Stanzgitter und der Wärmebrücke

Die unsymmetrische Schrumpfung mit den ungünstigen Formverwerfungen entfällt vorteilhafterweise durch die Füllung des Moldkörpers mit dem zusätzlichem Material der Wärmebrücke. Der energieaufwendige Temperprozess entfällt.

Weitere Vorteile des Formvergusses sind : • Erhöhung der elektischen Isolation zwischen unterschiedlichen Potentialen im Inneren und gegenüber äußeren Potentialen

• Erhöhung der mechanischen Robustheit und Möglichkeiten zur weiterführenden automatischen Bestückung durch Greifer

• Bestehen hoher klimatischer Anforderungen durch Schaffung eines luftfreien Bauteilvolumens (Vermeidung kondensierender Feuchte im Bauteilvolumen)

• Mechanische Fixierung der äußeren Anschlüsse

• Erhöhung der Zuverlässigkeit des Bauelementes durch angepasste thermische Ausdehnungskoeffizienten von Umhüllungswerkstoff und Bauteilkom- ponenten, und

• Verbesserung der Montagefähigkeit auf Kühlkörpern (Anpressdruck zur Verbesserung des Wärmeüberganges).

Diese Ziele können durch Umhüllen mit einem isolierenden Werkstoff erreicht werden. Solche Werkstoffen sind typischerweise Kunststoffe (Thermoplaste oder Duroplaste), z.T. mit mineralischen Füllstoffen (SiO2, A12O3, AlN oder ähnlich) versehen oder vollständig bindungsfähige Mineralstoffe (Zemente).

Der Formverguss entsteht dabei durch Verfällen einer offenen oder geschlossenen Form in der sich das zu umhüllen Bauelement ganz oder teilweise befindet. Besitzt die Baugruppe externen Kühlungsbedarf, so ist die teilweise Freistellung von kühlbaren Flächen (Substratflächen oder Wärmespreizelementen) erforderlich, damit ein optimaler Wärmefluss aus der umhüllten Baugruppe gewährleistet ist.

Vor dem Prozess des Umhüllens kann die Baugruppe ganz oder teilweise mit einem verbindungsfördernden und isolierenden Schichtstoff (Monomere, z.b. Parylene oder Polymere, z.B. Lacke) überzogen sein. Dies vermeidet Mikrolunker an Komponentenkanten und Hinterschneidungen.

Der Formverguss kann gegebenenfalls unter Anwendung von Druck und Temperatur während und nach der Umhüllung gefördert werden. Bei drucklosem Formverguss hat sich unter anderem das Befüllen im Vakuum als vorteilhaft erwiesen. Nach dem Beenden des Formvergießens wird die teil- oder vollumhüllte Baugruppe aus der Form entnommen und besitzt damit in der Regel die endgültige äußere Gestalt. Die elektrischen und mechanischen Anschlüsse können bei Bedarf durch Schneiden, Stanzen und Biegen in die endgültige Form gebracht werden."

Weitere Merkmale der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung anhand eines bevorzugten Ausführungsbeispiels. Dabei zeigt :

Fig.l die erfindungsgemäße Baugruppe (substratlos) mit einem zweiten Wärmepfad nach oben durch eine Metall-Kontaktlasche und einen elektrisch isolierenden, aber Wärme leitenden Isolierkörper,

Fig.2 den Stand der Technik in Form einer Moldpackage-Baugruppe mit

Stanzgitter als Bauteileträger (also substratlos)

Fig. 3 den Stand der Technik in Form einer Moldpackage-Baugruppe mit DCB- Substrat als Bauteileträger (und einem Stanzgitter für die elektrischen Anschlüsse)

Fig. 4 die erfindungsgemässe Baugruppe mit einem zweiten Wärmepfad nach oben durch eine Metall-Kontaktlasche und einen elektrisch isolierenden, aber Wärme leitenden Isolierkörper, mit einem DCB-Substrat als Bauteileträger und einem zweiten DCB als zweiter (elektrisch isolierter Hauptwärmebrücke (und einem Cu-Stanzgitter für die Kontaktierung des Substrats und einem zweiten Stanzgitter zur Laschenkontaktierung des Halbleiters mit nachgiebiger balliger Ausprägung) und

Fig. 5 die erfindungsgemässe Baugruppe mit einem zweiten Wärmepfad nach oben durch eine Metall-Kontaktlasche und einen elektrisch leitende ballig geprägte Al oder Cu-Scheibe die mit einer dünnen Polyimindschicht elektrisch von den Spannungen der Leistungselektronik getrennt ist.

In der Fig. 1 wird der erfindungsgemäße formmassenvergossene Leistungshalbleitlei- ter als Modul mit einem an der Seite herausragenden Stanzgitter 19, 24 dargestellt, so dass auf ein Substrat verzichtet werden kann und das Stanzgitter als Bauteileträger dient. Oberhalb des Stanzgitters 10 ist über eine Lotschicht oder eine Ag- Sinterschicht ein Leistungshalbleiter 12 angeordnet, der mit Bonddrähten 14 elektrisch kontaktiert wird. Der erfindungsgemäße elektrische Kontakt 16 an der Oberseite kann als Kupfer- oder Silberlasche mit einer darunter liegenden Polyimidisolie- rung 18 flächig auf die größeren Kontakte des Halbleiters an der Oberseite aufgelegt werden.

Oberhalb dieser Lasche ist ein wärmeleitender Körper, beispielsweise ein keramischer Isolierkörper 20 mit wiederum Lot- oder Wärmeleitungspaste angeordnet.

Oberhalb dieses wiederum ist (zur Verdeutlichung mit einem tatsächlich so nicht vorhandenen weis belassenen Freiraum) eine metallische Wärmebrücke, z. B. eine balliggeprägte Aluminium- oder Kupferscheibe dargestellt.

Es kann jedoch auch nur ein wärmeleitender Körper vorgesehen werden, also lediglich eine dünne, isolierende Schicht auf die Leiterlasche aufgelegt werden und dann direkt der thermische Kontakt zu einer Metallscheibe oder auch nur einem keramischen Leitelement gesucht werden.

Fig. 2 zeigt einen Aufnau ohne Substrat nach dem Stand der Technik, Fig. 3 einen Aufbau auf einem DCB (direct copper bond substrat) nach dem Stand der Technik.

In Fig. 4 ist das erfindungsgemäße formmassenumschlossenes Leistungshalbleiterelement, bei dem ein Leistungshalbeiter mit metallischen, an die Außenseite eines Moldmoduls geführten Kontakten in Umhüllungsspritzen beispielsweise mit Duroplasten umgeben ist, und wobei zur Wärmeableitung einer Bodenseite eine Wärmeleitungsstrecke wenigstens durch den Halbleiter und einen Substratträger vorhanden ist, mit zwei DCB dargestellt, einem DCB-Substrat als Bauteileträger und einem zweiten DCB als zweiter (elektrisch isolierter) Haupt- Wärmebrücke (und einem Cu- Stanzgitter für die Kontaktierung des Substrats und einem zweiten Stanzgitter zur Laschenkontaktierung des Halbleiters mit nachgiebiger balliger Ausprägung) wodurch ebenfalls ein zweiter Wärmepfad nach oben durch eine Metall-Kontaktlasche und einen elektrisch isolierenden, aber Wärme leitenden Isolierkörper über wenigstens einen Bereich eines Kontakts des Halbleiters auf seiner Oberseite gebildet ist. Wie zuvor ist eine den Kontakte flächig bedeckend ausgebildete Kontaktlasche realisiert, die Balligkeit legt sich ohne Lunker im wesentlichen vollflächig an (d.h. die Balligkeit der Darstellung ist überdeutlich vorgesehen).

Das auf dem wenigstens einen flächigen Abschnitt der Kontaktlasche wärmeleitend zur Oberseite des Moldmoduls vorgesehene wenigstens eine wärmeleitende Element zur Ausbildung einer zweiten wärmeableitenden Brücke an die Außenseite des Moduls ist hier ein DCB.

Dass das wenigstens eine wärmeleitenden Element zur Oberseite des Umhüllungskörpers eine keramische Schicht sein kann, ist durch die Schicht 40 in Fig. 5 angedeutet. Die keramische Schicht kann eine keramische Platte sein, oder eine durch Plasmaspritzen auf die metallische Kontaktlasche - oder wie in Fig. 5 dargestellt auf eine darunter liegende ballige Metallplatte - aufgespritzte Schicht.

Die wärmeleitende metallische Platte kann auch allein eingesetzt werden, sie ist dann aber bevorzugt durch eine dünne Isolierschicht - wie ebenfalls der Fig. 5 zu entnehmen - von der stromführenden Kontaktlasche zu trennen. Es ist auch möglich andere Substratoberflächen, z.B. Chipkanten mit organischen Schutzfolien zu versehen, um so die bei den vielfachen Temperaturwechseln besonders kritischen Eckbereiche gegen Alterung besser zu schützen.

Die in einer bevorzugten Ausführungsform vorgeschlagene Balligkeit der metallischen Platte ist mit einer leicht konkaven Wölbung auf den Leistungshalbleiter hin vorgesehen.

Neben der Isolierung oberhalb der Kontaktlasche ist auch der frei geführte Teil der Lasche (der schmaler sein kann) elektrisch zu isolieren, z.B. durch einen Schlauch 18 wie in Fig. 1 oder eine untergelegte Isolierblatt, um jedenfalls gegenüber dem Stanzgitter zu isolieren.

Das wärmeleitende Element kann ein fester Keramikkörper oder auch eine kompres- sible, elektrisch und thermisch leitfähige Schicht aus sinterfälligen Metallpartikeln sein.