JPS5972520 | [Title of the device] Infrared spectrophotometer |
JP2009300422 | SPECTROSCOPIC MODULE |
JPS60181630 | [Title of the device] Spectrometry instrument |
DU KEMING (CN)
WANG CHAO (CN)
YU WENKAI (CN)
ZHAI GUANGJIE (CN)
DU KEMING (CN)
WANG CHAO (CN)
YU WENKAI (CN)
CN102393248A | 2012-03-28 | |||
CN102353449A | 2012-02-15 | |||
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JP2000244933A | 2000-09-08 | |||
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See also references of EP 2728324A4
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权 利 要 求 1、 一种极弱光多光谱二维成像方法, 其特征在于, 该极弱光多光谱二维成像方法 采用压縮传感理论和 DLP技术, 并以单光子探测器线阵为探测元件, 实现了高分辨率 的光学调制; 其步骤包括: 1) 压縮采样的步骤; 所述的压縮采样是由 DMD控制系统 (7) 结合第一透镜 (1)和第二透镜 (2), 用 于将二维图像数据转化为一维数据序列完成被测信号的压縮采样, 极弱光通过滤光片 (6) 滤除杂光, 经第一透镜 (1) 在 DMD控制系统 (7) 处成 像, 并由 DMD控制系统 (7)控制光子被反射到第二透镜 (2) 的概率, 经过第二透镜 (2) 控制光子聚焦; 被调制和会聚的极弱光经由分光光度计 (3) 进行分光后, 通过单光子探测器线阵 (4) 对不同的波长进行成像; 2) 稀疏重建的步骤; 所述的稀疏重建是由中央处理单元(5)结合单光子探测器线阵(4)完成稀疏重建, 并和 DMD控制系统 (7) 上的测量矩阵经过最优化算法重建光子密度图像, 解算出二 维图像。 2、 根据权利要求 1所述的极弱光多光谱二维成像方法, 其特征在于, 该方法的具 体步骤包括: 1) 所述的压縮采样, 是被测信号由高维向低维映射的过程: 假设 是被测数据, ye ^是观测数据, Φ Ε^χ"是随机投影矩阵 ^ ^ 是测量噪声, 那么, 压縮采样的过程可以描述为 (1) 式: 如果 是变换域稀疏的, 即 ·9 = Ψ Ψ是稀疏变换矩阵, 那么 (1) 式变化为 (2) 式: γ = ^> 1& + 式中, Ψ为小波变换矩阵, Φ为 Gaussian随机矩阵; 2) 假设测量数为 , 二维图像的像素个数为 n, 则 (1) 式中的测量矩阵则为 Φ = {Φ1,···,Φ!,···,Φ,}; ^'是0>的第 行, 把 ^x ^的二维图像的列首尾相连, 化成 "xl的一维列向量, 对应 (1) 式中的 其中的每一个元素代表相应位置处的光子密 度; DMD控制系统具有同样的分辨率, 它的列首尾相连, 化成 Ix"的一维行向量, 对 应测量矩阵 Φ中的一行, 其中的每个元素代表相应位置处光子透射到第二透镜 (2) 的 概率; 3) 假设测量周期为: Γ, 在这段时间内, DMD控制系统 (7) 保持不变, 分光光度 计 (3)使光谱分离, 对准相应波长的单光子探测器, 单光子探测器线阵 (4) 中对应某 一波长的单光子探测器探测到的光子数为 W, 那么 就相当于被观察对象光谱中相 应波长的光子密度图像与 DMD控制系统上的随机数阵列的内积值, 对应于 (1) 式中 观察向量 y的一个元素 和 的第 个元素; 根据 测量矩阵改变 DMD控制系统, 重复 次测量, 就可以得到整个观测数据 y, 进而为得 到该波长的光谱图像准备好了数据; 其他波长的光谱图像的获取也适用同样的方法; 4)所述的稀疏重建是在已知观测数据 y和测量矩阵 Φ的条件下求解( 1 )式中的 一般用最优化方法求解, 可 如果 是变换域稀疏的, 2) 式的重建问题可以描述为 (4) 式: (3)式和 (4)式中, 第一项是最小二乘约束, 记为 (^); 第二项是对 稀疏度的 一种约束; 两项之和是目标函数, 记为 ^^。 3、 根据权利要求 1所述的极弱光多光谱二维成像方法, 其特征在于, 所述的最优 化方法是采用小波变换下可分离逼近的稀疏重建算法, 把本次迭代的估计值做 DWT变 换, 对变换系数做阈值处理, 再做 DWT反变换得到下一次迭代的估计值, 并且在每次 迭代中计算最优的步长因子; 如果阈值处理函数描述为 S( ,v) = ^ «( )max¾ |-V,0} ,那么,该算法可以描述为: 丄 其中 , 用 随迭代次数变化的 , 使 逼近 V^(x) , 即 : \\x - X 利用最小二乘法求解此式, 得到 4、 一种极弱光多光谱二维成像系统, 其特征在于, 该极弱光多光谱二维成像系统 采用压縮传感理论和 DLP技术, 并以单光子探测器线阵为探测元件, 实现了高分辨率 的光学调制; 所述的极弱光多光谱二维成像系统包括: 滤光片 (6)、 第一透镜 (1 )、 DMD控制 系统(7)、 第二透镜 (2)、 分光光度计 (3)、 由若干不同响应波长的单光子探测器组成 的单光子探测器线阵 (4), 和中央处理单元 (5); 其中, DMD控制系统 (7) 结合第一透镜 (1 ) 和第二透镜 (2), 用于将二维图像数据转 化为一维数据序列完成被测信号的压縮采样, 极弱光通过滤光片 (6) 滤除杂光, 经第 一透镜 (1 ) 在 DMD控制系统 (7) 处成像, 并由 DMD控制系统 (7) 控制光子被反 射到第二透镜 (2) 的概率, 经过第二透镜 (2) 控制光子聚焦; 被调制和会聚的极弱光经由分光光度计 (3) 进行分光后, 再通过单光子探测器线 阵 (4) 对不同的波长进行成像; 中央处理单元 (5) 结合单光子探测器线阵 (4) 完成稀疏重建, 并和 DMD控制系 统 (7) 上的测量矩阵经过最优化算法重建光子密度图像, 解算出二维图像。 5、 根据权利要求 4所述的极弱光多光谱二维成像系统, 其特征在于, 所述的单光 子探测器采用计数型单光子探测器, 用于在一定时间内对光子进行计数,用统计学方法 计算光子数密度, 将该数值折算成探测到光子的概率作为测量值。 6、 根据权利要求 4所述的极弱光多光谱二维成像系统, 其特征在于, 所述的单光 子探测器采用具备光子数分辨能力的单光子探测器,用于根据输出电信号幅值的大小获 得图像数据, 其输出的电信号幅值即可作为光子密度的测量值。 7、 根据权利要求 4所述的极弱光多光谱二维成像系统, 其特征在于, 所述的分光 光度计包括: 光准直部分、 分光部分、 角度测量部分、 光度观察和测量部分, 用于光谱 分析和测量。 8、 根据权利要求 4或 7所述的极弱光多光谱二维成像系统, 其特征在于, 所述的 分光光度计为棱镜分光光度计或光栅分光光度计。 |
技术领域
本发明涉及极弱光探测技术领域, 特别涉及一种极弱光多光谱成像方法及其系统 , 采用单光子探测器线性阵列和分光技术实现了 极弱光对象的多光谱二维成像,可应用在 生物自发光、 医疗诊断、 非破坏性物质分析、 天文观测、 国防军事、 光谱测量、 量子电 子学等领域。 背景技术
多光谱成像是获得和显示精确颜色信息的重要 技术,原因之一是多光谱图像包含了 更多的光谱信息, 原因之二是多光谱成像技术很好地克服了同色 异谱现象。极弱光对象 的多光谱成像更是在多种领域有广泛的应用前 景。
一种典型的极弱光探测器就是单光子探测器, 计数型的单光子探测器工作在饱和状 态, 灵敏度可以到达单光子水平, 采用统计学方法获得光子密度图像; 具备光子数分辨 能力的单光子探测器工作在亚饱和状态,输出 的电信号幅值随探测到的光子数的变化而 变化,据此电信号获得极弱光图像。虽然目前 的单光子探测器响应光谱范围覆盖了红外、 可见光等波段, 但是对于单个单光子探测器, 它的响应光谱范围很窄, 一般用来探测单 一频率的光。
其中, 单光子探测器实现二维成像是基于压縮传感理 论 (Compressive Sensing, 简 称 CS) 和数字光处理 (Digital Light Processing, 简称 DLP) 技术, 克服了目前的极弱 光二维成像技术中面元探测技术不甚成熟, 难以实现对极弱光对象的高质量成像的困 难, 避免了采用点探测器结合二维传动扫描的方法 带来的成像时间长、分辨率受机械传 动精度制约的问题。
CS理论是由 E.J.Canc½ S 等人提出的, 它打破了传统的线性采样模式, 表明可压縮 信号的少量线性随机投影中包含足够的信息来 重建原信号。这种"先采样, 后重建 "的思 想使得将二维信号转换为随时间分布的一维信 号, 并且由单个探测器采样成为可能。
CS理论包括两部分: 压縮采样和稀疏重建。
压縮采样是被测信号由高维向低维映射的过程 。假设 e W"是被测数据, y e Rk 是 观测数据, e R ix "是随机投影矩阵( << " ), e e ^是测量噪声, 那么压縮采样过程 可以描述为 (1 ) 式: 如果 是变换域稀疏的, 即 >9 = Ψ , Ψ是稀疏变换矩阵, 那么 (1 ) 式变化为 (2) 式:
y = 1 1 9 + e ( 2 )
随机投影矩阵 Φ, 也叫测量矩阵, 需要满足 RIP ( Restricted Isometry Property ) 另 外, Φ与 Ψ越不相关, 采样所需的测量数 越小。 所以, 一般情况下 Φ设计为随机矩 阵。
稀疏重建实际上是在已知观测数据 y和测量矩阵 Φ的条件下求解 (1 ) 式中的 这是一 ill-posed问题, 一般用最优化方法求解, 可描述为 (3) 式:
是变换域稀疏的, 对应于 (2) 式的重建问题可以描述为 (4) 式:
(3)式和 (4)式中, 第一项是最小二乘约束, 记为 ^(^; 第二项是对 稀疏度的 一种约束; 两项之和是目标函数, 记为^^。
DLP技术是美国德州仪器公司(TI)提出的一项技 术, 它与数字视频或图形信号结 合起来, 其微镜和透镜系统可以将数字图像反射到屏幕 或其它表面, 其核心是 DLP芯 片——数字微镜器件 (Digital Micro-mirror Device, 简称 DMD), 这可能是世界上最精 密的光开关。 它包含一个多达 200 万个安装在铰链上的微镜的矩阵, 每个微镜的大小 小于人的头发丝的五分之一。 每个微镜都可以在 -12°和 +12°之间摆动, 如果把这两种状 态记为 0和 1, 那么用脉宽调制波 (PWM) 来驱动微镜, 使其在 0和 1之间高速抖动, 就可以实现中间状态。 DMD及其周围精密的电子元件就是所谓的 DLP技术。 发明内容
本发明的目的在于, 结合单光子探测技术和光谱分光技术,解决采 用单光子探测器 这种点探测器实现二维成像以及极弱光对象的 多光谱成像问题,从而提供一种新型的极 弱光多光谱成像方法及其系统, 将各个响应波段的单光子探测器组成线性阵列 , 结合分 光技术, 即可实现极弱光对象的多光谱二维成像。 为实现上述第一个目的,本发明提供一种新型 的极弱光二维成像方法,其特征在于, 该极弱光二维成像方法采用压縮传感理论和 DLP技术, 并以单光子探测器线阵为探测 元件, 实现了高分辨率的光学调制。 其步骤包括: 1) 压縮采样的步骤;
所述的压縮采样是由 DMD控制系统 7结合第一透镜 1和第二透镜 2, 用于将二维 图像数据转化为一维数据序列完成被测信号的 压縮采样,
极弱光通过滤光片 6滤除杂光, 经第一透镜 1在 DMD控制系统 7处成像, 并由 DMD控制系统 7控制光子被反射到第二透镜 2的概率,经过第二透镜 2控制光子聚焦; 被调制和会聚的极弱光经由分光光度计 3 进行分光后, 通过单光子探测器线阵 4 对不同的波长进行成像;
2) 稀疏重建的步骤;
所述的稀疏重建是由中央处理单元 5结合单光子探测器线阵 4完成稀疏重建,并和 DMD控制系统 7上的测量矩阵经过最优化算法重建光子密度 像, 解算出二维图像。
该方法的具体步骤包括:
1) 所述的压縮采样, 是被测信号由高维向低维映射的过程:
假设 是被测数据, y e ^是观测数据, Φ Ε^ χ "是随机投影矩阵
^ ^ 是测量噪声, 那么, 压縮采样的过程可以描述为 (1) 式: 如果 是变换域稀疏的, 即 ·9 = Ψ Ψ是稀疏变换矩阵, 那么 (1) 式变化为 (2) 式:
y = 1 1 9 + e (2)
式中, Ψ为小波变换矩阵, Φ为 Gaussian随机矩阵;
2) 假设测量数为 , 二维图像的像素个数为 n, 则 (1) 式中的测量矩阵则为
Φ = {Φ 1 ,···,Φ ! ,···,Φ,} ; ^'是0>的第 行, 把 ^x ^的二维图像的列首尾相连, 化成
"xl的一维列向量, 对应 ( 1) 式中的 其中的每一个元素代表相应位置处的光子密 度; DMD控制系统具有同样的分辨率, 它的列首尾相连, 化成 1 χ «的一维行向量, 对 应测量矩阵 Φ中的一行, 其中的每个元素代表相应位置处光子透射到第 二透镜 (2) 的 概率;
3)假设测量周期为: Γ, 在这段时间内, DMD控制系统 7保持不变, 分光光度计 3 使光谱分离, 对准相应波长的单光子探测器, 单光子探测器线阵 4中对应某一波长的探 测器探测到的光子数为 W, 那么 就相当于被观察对象光谱中相应波长的光子密 度 图像与 DMD控制系统上的随机数阵列的内积值, 对应于 (1) 式中观察向量 Υ的一个 元素 ' 式中, Φ "、 ^分别是 Φ '和 的第 个元素;根据测量矩阵改变 DMD 控制系统, 重复 次测量, 就可以得到整个观测数据 y, 进而为得到该波长的光谱图像 准备好了数据;
其他波长的光谱图像的获取也适用同样的方法 ;
4)所述的稀疏重建是在已知观测数据 y和测量矩阵 Φ的条件下求解( 1 )式中的 一般用最优化方法求解, 可
如果 是变换域稀疏的, 对应于 (2) 式的重建问题可以描述为 (4) 式:
1
mini + τ
(4)
(3)式和 (4)式中, 第一项是最小二乘约束, 记为 (^ ; 第二项是对 稀疏度的 一种约束; 两项之和是目标函数, 记为^ ^。 作为一种优选, 所述的最优化方法是采用小波变换下可分离逼 近的稀疏重建算法
SpaRSA-DWT ( Sparse Reconstruction by Separable Approximation with Discrete Wavelet
Transform)把本次迭代的估计值做 DWT变换, 对变换系数做阈值处理, 再做 DWT反 变换得到下一次迭代的估计值, 并且在每次迭代中计算最优的步长因子;
如果阈值处理函数描述为 S ", v) = ^/i(M)ma X ¾ M | - V , 0} ,那么,该算法可以描述为:
其中 , 采用 随迭代次数变化的 , 使 逼近 V ^( x ) , 即
{χ - χ
χ - χ
利用最小二乘法求解此式, 得到 本发明的成像过程分为压縮采样和稀疏重建两 个步骤; 其中,压縮采样是将二维图 像数据转化为一维数据序列, 由 DMD结合透镜来完成; 稀疏重建是根据得到的一维数 据序列解算出二维图像。 为了实现第二个目的, 本发明提供一种新型的极弱光多光谱二维成像 系统。其特征 在于, 该极弱光多光谱二维成像系统采用压縮传感理 论和 DLP技术, 并以单光子探测 器线阵为探测元件, 实现了高分辨率的光学调制。
所述的极弱光多光谱二维成像系统包括:滤光 片 6、第一透镜 1、 DMD控制系统 7、 第二透镜 2、 分光光度计 3、 由若干不同响应波长的单光子探测器组成的单 光子探测器 线阵 4, 和中央处理单元 5; 其中,
DMD控制系统 7结合第一透镜 1和第二透镜 2, 用于将二维图像数据转化为一维 数据序列完成被测信号的压縮采样, 极弱光通过滤光片 6滤除杂光, 经第一透镜 1在 DMD控制系统 7处成像,并由 DMD控制系统 7控制光子被反射到第二透镜 2的概率, 经过第二透镜 2控制光子聚焦;
被调制和会聚的极弱光经由分光光度计 3进行分光后, 再通过单光子探测器线阵 4 对不同的波长进行成像; 被调制和会聚的极弱光在被单光子探测线阵接 收之前, 由分光 光度计(包括棱镜和光栅等各种分光器件和装 置)实现光谱分离, 便于后续的不同响应 波长的探测器探测, 就可以对不同的波长进行成像, 也就是多光谱成像;
中央处理单元 5结合单光子探测器线阵 4完成稀疏重建, 并和 DMD控制系统 7上 的测量矩阵经过最优化算法重建光子密度图像 , 解算出二维图像。 所述的单光子探测器采用计数型单光子探测器 , 用于在一定时间内对光子进行计 数, 用统计学方法计算光子数密度, 将该数值折算成探测到光子的概率作为测量值 。 所述的单光子探测器采用具备光子数分辨能力 的单光子探测器,用于根据输出电信 号幅值的大小获得图像数据, 其输出的电信号幅值即可作为光子密度的测量 值。 所述的分光光度计包括: 光准直部分、 分光部分、 角度测量部分、 光度观察和测量 部分, 用于光谱分析和测量。 所述的分光光度计为棱镜分光光度计或光栅分 光光度计。
本发明的优点是:本发明以压縮传感(Compressi ve Sensing,简称 CS)理论为基础, 以数字光学处理(Digital Light Processing, 简称 DLP)技术进行光学调制, 以单光子探 测器为探测元件, 实现了用点探测器对极弱光对象的单一光谱成 分进行二维成像,用线 阵单光子探测器对极弱光对象进行多光谱二维 成像, 结构简单, 灵敏度可以达到单光子 水平, 分辨率与 DMD直接相关, 而 DMD目前可以达到很高的分辨率; 探测器为单光 子探测线阵, 可以响应多种波长, 同时完成极弱光的多光谱二维成像。
本发明可广泛应用于生物自发光检测、 医疗诊断、 非破坏性物质分析、 天文观测、 国防军事、 光谱测量、 量子电子学等领域。 附图说明
图 1是本发明提出的系统结构图。
图 2 (a) 〜(1)是对本发明的采用 SpaRSA-DWT算法的重建彩色图像的模拟结果 图。
附图标识
1、 第一透镜 2、 第二透镜 3、 分光光度计
4、 单光子探测器线阵 5、 中央处理单元 6、 滤光片
7、 DMD控制系统
具体实施方式
以下结合附图对本发明作进一步的详细说明。
图 1中, 观察对象发出的极弱光被滤光片 6滤除杂光, 经第一透镜 1在 DMD处成 像。 DMD控制系统 7控制光子被反射到第二透镜 2的概率, 而后被第二透镜 2会聚。 如果探测器是计数型单光子探测器, 那么它在一定时间内对光子进行计数,将该数 值折 算成探测到光子的概率作为测量值; 如果采用具备光子数分辨能力的单光子探测器 ,那 么输出的电信号幅值即可作为光子密度的测量 值。 最后由计算机 5根据测量值和 DMD 控制系统 7上的测量矩阵经过最优化算法重建光子密度 像。
为了便于数学上的理解, 假设测量数为 , ( 1 ) 式中的测量矩阵写为
Φ = {Φ 1 ,· · ·, Φ ! ., · · ·,Φ λ } ; ^是0>的第 行。 我们把 ^的二维图像的列首尾相连, 化成" x l 的一维列向量, 对应 (1 ) 式中的 其中的每一个元素代表相应位置处的光 子密度; DMD具有同样的分辨率, 它的列首尾相连, 化成 l x "的一维行向量, 对应测 量矩阵 Φ中的一行,其中的每个元素代表相应位置处 子透射到第二透镜 2的概率。如 果探测器是计数型单光子探测器, 假设测量周期为 T, 在这段时间内, DMD保持不变, 单光子探测器探测到的光子数为 W, 那么 就相当于光子密度图像与 DMD上的随 机数阵列的内积值; 如果采用具备光子数分辨能力的单光子探测器 ,那么单光子探测器 的输出电信号幅值就相当于光子密度图像与 DMD控制系统 7上的随机数阵列的内积 值。 该内积值对应于 (1 ) 式中观察向量 y的一个元素 ' ( φ "、 分 别是 Φ '和 的第 '个元素)。 根据测量矩阵改变 DMD, 重复 次测量, 就可以得到整个 观测数据 y, 在物理上实现 (1 ) 式的过程。
根据光子学的知识, 在一个元面积 ^内, 任意时刻在 点观察到一个光子的概率 p(r> 正比于该处光强。 所以在模拟实验中, 我们用生物芯片的彩色图像模拟极弱光 图像。 生物芯片是典型的极弱光源, 目前主要通过荧光标记的方法使其便于观察。 实际 上生物都有自发光的特性, 并且自发光光谱包含很多重要的信息。
为验证本系统的可行性和实用性,在模拟实验 中将该生物芯片彩色图像看作 R、 G、 B三原色的组合来模拟光谱分离,在假设不知 原图像的情况下采用本系统介绍的方法 恢复原彩色图像。 实验中图像分辨率为 64x64, 采用 Gaussian 矩阵进行压縮采样, SpaRSA-DWT稀疏重建算法进行图像重建, 得到图 2所示的结果, 其中, 图 2 (a) 是 原始光子密度彩色图像; 图 2 (b) 是一次测量中 DMD上的随机矩阵, 黑点代表 0, 白 点代表 1, 灰点代表中间值; 图 2 (c) 是原图像的 R分量; 图 2 (d) 是 SpaRSA-DWT 算法的 R分量重建图像; 图 2 (e) 是 SpaRSA-DWT算法的 R分量残差图像; 图 2 (f) 是原图像的 G分量; 图 2 (g) 是 SpaRSA-DWT算法的 G分量重建图像, 图 2 (h) 是 SpaRSA-DWT算法的 G 分量残差图像; 图 2 (i) 是原图像的 B 分量; 图 2 (j ) 是 SpaRSA-DWT算法的 B分量重建图像; 图 2 (k) 是 SpaRSA-DWT算法的 B分量残差 图像; 图 2 (1)是 SpaRSA-DWT算法的重建彩色图像, 与原始图像的相关系数 0.9783, 信噪比 23.95dB。
最后所应说明的是, 以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非 限制。尽管参照 实施例对本发明进行了详细说明, 本领域的普通技术人员应当理解,对本发明的 技术方 案进行修改或者等同替换, 都不脱离本发明技术方案的精神和范围,其均 应涵盖在本发 明的权利要求范围当中。
Next Patent: METHOD AND APPARATUS FOR MONITORING NOISE AND INTERFERENCE OF TERMINAL