本发明涉及成像领域，尤其涉及一种多光谱成 像颜色测量系统及其成像信 号处理方法。 背景技术

目前， 用分光光度计可以对大型单色样品进行颜色测 量， 并具有较高颜色 精确度。 但是， 由于分光光度计的空间分辨率极低， 它不能用于测量各种纺织 及成衣样品， 例如色织面料、 蕾丝、 饰品和印花面料。

传统成像设备包括数码相机和彩色扫描仪，它 们记录颜色信息的方法是物 体表面反射光通过具有不同光谱透过率的多个 颜色滤光片，然后利用电子传感 器将所述反射光形成图像。 它们在同时测量很多颜色方面具有很多优点， 在测 量小型、 多色物体和捕捉具有复杂纹理表面的物体的颜 色信息时尤其常用。 然 而， 一方面， 传统三原色和色度法成像系统由于违背了 Luther规则而很难产 生高颜色精确度的图像， Luther 规则是指多数相机的光 if^丈感度并不与人眼 相似或并是不是人眼的线性组合。 另一方面， 这种色度法成像系统仅能输出三 刺激值， 这种方式会导致由不同观察者和不同照明系统 引起的同色异谱错误。 因此， 这些色度法测量系统， 例如由 Ver ivide有限公司生产的 Dig iEye, 对 于颜色质量要求较高的纺织及成衣工业， 其精确度不够。 发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术 中的多光谱成像颜色测量系 统在应用于纺织及成衣工业中精确度不够的缺 陷，提供一种高精确度的多光谱 成像颜色测量系统及其成像信号处理方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

提供一种多光谱成像颜色测量系统，包括用于 为多光谱成像形成包围密闭 空间的黑室、位于黑室内用来安放和固定被测 样品的载样台以及位于黑室内用 来拍摄被测样品图像的成像系统， 还包括可控照明系统、 滤光片轮系统、 成像 信号处理系统和电子控制系统，

所述可控照明系统位于所述黑室内，包括至少 一个在被测样品上侧对称排 布并指向所述被测样品的灯管；

所述滤光片轮系统位于所述成像系统与所述被 测样品之间，用于过滤经所 述被测样品反射的所述可控照明系统发出的光 ；

所述成像信号处理系统位于所述成像系统内， 用于对所述成像系统拍摄的 图像进行校准和反射重构；

所述电子控制系统与所述可控照明系统、所述 滤光片轮系统以及所述成像 系统通信相连， 用于控制上述各个系统的运行状态。

本发明一种多光谱成像颜色测量系统中， 所述灯管包括依次连接的光源、 用于收集更多均匀光的光学积分柱、用于进一 步改善照明均匀性和放大倍数的 透镜组以及用于减少漫射光的光阻板，所述灯 管的内部还涂覆有用于减少内部 漫射光的吸光材料；

所述光源是具有平滑曲线光谱能量分布的面钨 灯，由两个高精度直流稳压 电源供电；

所述光学积分柱是由玻璃墙包围的中空喇叭结 构；

所述透镜组包括用于限制光束边缘的光栅，还 包括一个或多个具有不同折 射率的凸透镜和凹透镜；

所述光阻板置于所述透镜组的前边缘。

本发明一种多光谱成像颜色测量系统中，所述 滤光片轮系统包括电机、滤 光片轮以及连接所述电机和所述滤光片轮的皮 带装置；

所述电机用于给所述滤光片轮提供用于滤光片 位置选择的电源和通讯，由 所述电子控制系统控制；

所述滤光片轮进一步包括底盘，所述底盘上设 有一个或多个插槽以及一个 或多个用于减小旋转负重的洞， 滤光片通过顶扣环固定在所述插槽中， 所述滤 光片轮还包括一个内置的用于位置探测的红外 光学开关；

所述皮带装置进一步包括装在所述电机的旋转 轴上的第一同步轮、装在所 述底盘的轴上的第二同步轮以及与所述第一同 步轮和第二同步轮外边缘齿合 的皮带。

本发明一种多光谱成像颜色测量系统中， 所述成像系统进一步包括 CCD 传感器或 CMOS传感器， 所述传感器内置有 A/D转化器， 用于将投射到所述传 感器焦平面上的经过所述滤光片轮系统选定波 长的光信号转换为数字电信号， 产生多通道光谱图像。

本发明一种多光谱成像颜色测量系统中， 所述电子控制系统包括： 用于调整所述照明系统电源的电压和电流设置 值以符合光源稳定工作状 态的照明系统控制单元；

用于控制所述电机的加速、稳态驱动和减速这 三种工作状态的微处理器单 元；

用于所述成像系统、照明系统控制单元和滤光 片轮系统间通讯的接口电路 板。

本发明还提供一种成像信号处理方法，包括对 光学透镜或滤光片引起的误 差进行几何校正， 及对每个光通道图像进行亮度校正， 还包括： 估算传感器线 性工作范围的曝光时间，使所述传感器工作在 所述曝光时间内以便将入射光信 号转化为数字成像信号；对所述传感器中固有 噪声源引起的图像噪声进行校正; 对于不同滤光片下获取的不同光通道的图像进 行多通道图像配准，以消除由于 滤光片轮中滤光片的相对位置差异、滤光片的 不同折射率影响、镜头色散或成 像系统与被测物体间的微小差距造成的不同通 道图像间的内容偏移；对每个通 道上的叠影效应引起的叠影图像分别进行校正 ；

利用经过上述处理后的成像信号重构反射率， 生成所述被测样品的光谱反 射率图像。

本发明一种成像信号处理方法中，所述固有噪 声源包括暗电流， 用 Ic。 _rr 代 表校正后的图像， I _rep 代表最初或原始的没有校正过的图像， I _Dark 代表 "暗电 流" 图像， I _whits 代表均匀白色目标图像， 系数 k是一个保证 CCD传感器工作在 线性范围状态的校准常数， 则校准过程用下式表示： 本发明一种成像信号处理方法中， " 对于不同滤光片下获取的不同光通道 的图像进行多通道图像配准" 进一步包括：

选择一个通道的图像作为参考通道图像，根据 选定的参考通道图像分别对 其它目标通道图像进行校准；

对采集的各通道图像分别进行二值化预处理， 然后利用边缘检测算法提取 各通道图像的特征边缘；

将所述参考通道图像和目标通道图像分成一系 列局部区域，选择空间位移 的误差代价函数，取其最小值， 用基于梯度下降算法求所述每个局部区区域内 失真向量的最大相关系数；

将目标图像中除边缘部分外的其它部分进行双 线性插值生成局部区域内 其他像素的偏移向量，将所述剩余像素的偏移 向量与所对应的局部区域的边缘 部分的偏移向量一起生成所述选定局部区域内 与原始图像相同大小的偏移向 量的向量组， 产生映射函数 f (x) ;

根据所述生成的映射函数 f (X)对所述目标通道图像进行恢复校准。

本发明一种成像信号处理方法中， "对每个通道上的叠影效应引起的叠影 图像分别进行校正" 进一步包括：

利用图像阈值方法提取白色物体；

以扫描方式对整个图像的每个像素进行模板匹 配处理，确定叠影效应造成 的叠影图像的位置；

对于每个成像通道的叠影图像分别根据其相关 参数消除叠影效应。

本发明一种成像信号处理方法中， "利用经过上述处理后的成像信号重构 反射率" 具体包括使用维纳估计或伪逆校准来重构反射 率。

本发明多光谱成像颜色测量系统及其成像信号 处理方法的有益效果是：多 光谱成像颜色测量系统可以克服传统数码成像 系统和分光光度计系统的缺点。 在均匀照明系统设计、多光谱成像信号处理系 统和多光谱成像信号处理方法的 帮助下， 所述完整的多光谱成像颜色测量（ IC匪）系统可以为纺织工业应用用 户提供颜色测量和评定的基本功能。本发明设 计了均匀照明系统来提供均匀的 成像环境，并设计了成像信号处理系统以便同 步捕捉高空间分辨率的光谱颜色 图像。 因此， 任意多种颜色， 无论该颜色多小， 本发明都可以轻易测量。 这种 技术在提供物体的结构信息方面优于分光光度 计，且在获取真实光谱反射和消 除不同光源下的同色异谱方面优于现在的数码 相机系统。 附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说 明， 附图中：

图 1是根据本发明一个实施例的成像颜色测量系� �的示意图；

图 2是根据本发明一个实施例的灯管的示意图；

图 3是根据本发明一个实施例的光学积分柱的示� �图；

图 4是根据本发明一个实施例的透镜系的示意图� �

图 5是根据本发明的一个实施例的含两个灯管的� �称照明系统的示意图； 图 6是根据本发明的另一个实施例的由八个成 45°均匀分布的光源组成的 环状照明系统的示意图；

图 7A是根据本发明的另一个实施例的多层结构照� ��系统的示意图； 图 7B是根据本发明的另一个实施例的多层结构照� ��系统的夹角的示意图; 图 8是根据本发明的一个实施例的滤光片轮系统� �示意图；

图 9是根据本发明的成像信号处理方法的流程图� �

图 1 0是每个通道中拍摄图像的平均响应值与各自� �光时间区间的关系曲 线图；

图 11A是多通道图像校准过程中的参考通道图像；

图 11B是多通道图像校准过程中的目标通道图像；

图 11C是多通道图像校准前的参考通道图像与目标 通道图像的位置偏差 示意图；

图 11D是多通道图像校准后的参考通道图像与目标 通道图像的位置偏差 示意图；

图 12是根据本发明一个实施例的成像颜色测量系� ��中滤光片的非平行表 面示意图；

图 1 3是根据本发明一个实施例的叠影效应示意图� � 图 14是根据本发明一个实施例的模板匹配过程示� ��图。 具体实施方式

图 1是根据本发明一个实施例的成像颜色测量系� �的示意图。如图 1所示， 为了避免外部环境光线对颜色测量的干扰， 所有的成像部件都装在黑室 6中， 将白板 5和样品放在两个对称的分别以 45 士 5° 的几何角度倾斜的灯管 4下。 为了达到所要求的均匀的光强分布，对可控照 明系统进行了特殊设计。成像系 统 1、 分光片轮 3和透镜 2置于顶盒中， 用于实现物体的多光谱成像。 本发明 多光谱成像颜色测量系统中使用的是窄带干涉 滤光片。

图 2是根据本发明的一个实施例的灯管的示意图� � 在每个灯管中， 包括 3 个单元，例如光源、光学积分柱和透镜系。面 钨灯用作光源，可以发出持续的、 光谱功率集中分布在可视光长范围内的、在一 定时间内光强稳定的光。 光学积 分柱用于聚集尽可能多的光线，它可以在光学 积分柱出口产生均匀扩散的反射 光，所述反射光再通过透镜组以进一步改善均 匀照明有效范围内的均匀性和放 大倍数。 最后， 可以提供达到多光谱成像颜色测量系统要求的 均匀照明区域。

高压氙灯也能发射持续光谱， 它的色温一般在 5000k。 如果将某种转换滤 光片与氙灯结合，可以更好的模拟 D65标准的照明体。但是就像所有其它气体 放电光源一样， 氙灯的发射光谱有特定的谱线， 它的波长大概在 475nm左右。 为了减小特征谱线的影响，通常使用特殊的分 光片来抑制发射线谱。对比来说， 卤钨灯的相应光谱能量分布是没有尖峰或小抖 动的平滑曲线。在本发明中，用 卤钨灯作为光源， 为多光谱成像颜色测量系统提供持续光谱分布 的光。

作为多光谱成像颜色测量系统的光源，平面光 源的稳定性是获取高质量图 像的第一步。 两个高精度直流稳压电源为面钨灯提供能稳定 电压和电流， 以保 证光源光强的稳定性。有线或无线接口用于连 接直流稳压电源和主机。主机发 出指令，根据规定的一些有线或无线协议，调 整所需的电压和电流值以符合光 源稳定工作状态的设置值。

另外， 为了进一步减小光路和灯管中漫射光的影响， 每个灯管中进一步包 括光阻板。光阻板置于每个透镜组的前边缘， 用来减少所照明物体表面的漫射 光。 为了进一步减少漫射光， 整个灯管内部还可以涂抹吸光材料。 图 3是根据本发明一个实施例的光学积分柱的示� �图。如图 3所示，将卤 钨灯中经过多重反射的发射光看作一个具有一 定规模和高亮度的点光源。这个 点光源的亮度分布类似于高斯分布， 它是不均匀的。 为了达到多光谱成像颜色 测量系统中要求的 20cm*20cm区域内的均匀照明条件，要对所述发射 光作进一 步处理。 在本发明中， 设计了一个重要的光学器件来导光， 即光学积分柱。 它 的主要作用就是收集更多的均匀光。

在本发明中，积分柱是由光学玻璃片包围的中 空结构，用来均匀化发射光。 这种喇叭结构用来收集尽可能多的光，例如可 以获取光学积分柱左侧的平面漫 反射光。 当导入积分柱的光束的扩散角小于光导的孔径 角时， 经玻璃内壁多次 反射的光将从积分柱的出口射出。 当光束的扩散角大于光导的孔径角时，所述 光束将发生折射。通过这种光导机制，从积分 柱另一端出来的光将形成强度更 均匀的光束， 而这时光的传播方向是杂乱的。 光折射管孔径角由它的折射系数 决定。

图 4是根据本发明一个实施例的透镜系的示意图� �尽管从光学积分柱中经 多次镜面反射出来的光可以看作是均匀的，但 这种光的均匀照明区域的有效范 围相对较小，不能满足多光谱成像颜色测量系 统中测量平面上大规模均匀照明 区域的要求。 因此， 在本发明中， 使用一系列透镜来扩大从光学积分柱中出来 的光的均匀照明区域。 为了保证透镜系的放大系数， 减少光学畸变、 透镜像差 和色差， 本发明采用的透镜系包括多片透镜， 具体光路图如图 4所示。

本发明的一个实施例所采用的透镜系包括两个 透镜组。第一组包括五片透 镜， 其中有两片凹透镜和三片凸透镜。 第二组包括一片凹透镜和一片凸透镜。 将凹透镜和凸透镜组合使用是为了消除透镜组 的几何畸变。透镜系中选择不同 折射率的透镜是为了消除色散误差。如图 4所示，透镜系中的光栅的主要作用 是限制光束边缘以免投射到外部。在一般情况 下， 光束边缘的畸变甚至比改变 透镜位置造成的畸变还要严重。所述光栅可以 有效地增加屏幕亮度均勾性和对 比度， 但同时也限制了光源的利用率。

图 5是根据本发明的一个实施例的含两个灯管的� �称照明系统的示意图。 如图 5所示， 两个灯管对称的分别以 45 ± 5° 的几何角度倾斜放置。 尽管图 1 和图 5中给出的照明系统采用了两个对称的灯管，� �并不限制于两个对称灯管, 在本发明的另一个实施例中，本发明的环状照 明系统可以包括任意数量或组合 的卤钨灯光源。 另外， 本发明的照明系统还可以包括任意层数的光源 ， 以产 生均匀光照区域。

例如，图 6示出了根据本发明的另一个实施例的环状对� �照明系统的示意 图。 如图 6所示， 八个光源相互间隔 45°均匀分布在圆环上。

图 7A和图 7B进一步示出了多层环状照明系统的示意图。� �� 7中每层的每 个光源都以圆圈形式筒单表示。这种多层环状 照明系统的每一层都能独立工作。 多层环状照明系统可以从不同角度照射所测量 的物体，以获得对定向纹理图案 样品和其它颜色依赖于光源不同入射角效果的 物体的更精确的光谱分析。

图 8是根据本发明的一个实施例的滤光片轮系统� �示意图。 如图 8所示， 滤光片轮包括许多安装在轮齿上的窄带滤光片 ，窄带滤光片在轮上连续紧密排 布。这些波长可选的窄带滤光片允许不同波长 范围的光通过相应的滤光片。例 如，这些波长可选窄带滤光片的不同区域可以 将光过滤为 10或 20纳米宽的不 同光谱。例如，所述波长可选窄带通滤光片的 不同区域可以将光过滤为分别以 400nm、 420nm、 440nm、 460nm、 480nm、 500nm、 520nm、 540nm、 560nm、 580nm、 600謹、 620謹、 640謹、 660謹、 680謹 和 700謹为中心的不同的 20謹带宽的 光谱。 在本发明中， 窄带滤光片的数量不限于 16或 31 , 滤光片的带宽也不限 于 20謹或 10nm。

图 8示出了本发明的一个实施例， 该实施例中的滤光片轮包括 16个窄带 滤光片。在这个实施例中， 安装有波长可选窄带滤光片的自定义滤光片轮 可以 用在成像系统和被测物体之间来采集每个光谱 通道的信息，使成像系统用作彩 色分析仪 /传感器。 所述窄带滤光片为光谱分析和颜色测定提供合 适波长范围 的光谱。 例如， 波长可选窄带滤光片可以提供 16个不同波长范围的光谱以供 探测和分析， 当然， 也可以是其它适当数目的滤光片或光谱。

本实施例所采用的滤光片轮包括一个底盘， 底盘上有 16个用于安置滤光 片的插槽。 每个插槽中， 用一个顶扣环来固定滤光片的边缘， 减小滤光片轮旋 转时滤光片的倾斜。在滤光片轮中， 用一个皮带装置来取代直接耦合到步进电 机驱动器轴上的方式， 以便携带较重的负载， 并保证更高的转动精度。 第一同 步轮装在步进马达的旋转轴上， 第二同步轮装在轮底盘轴的外围，在轮底盘的 中心轴和外围之间装有许多等距环状排布的窄 带滤光片。轮底盘上各种各样的 洞用于减小其旋转时的负重。与第一同步轮和 第二同步轮各自外边缘齿合的皮 带的作用是， 以第一同步轮为中心， 带动滤光片轮底盘旋转。

图 8所示的滤光片轮是一个一端接有步进电机的� �凑圆盘设计。所述滤光 片轮有一个内置的用于位置探测的红外光学开 关，可以在每次旋转开始时对轮 子进行初始位置校准。 步进电机由微处理器模块控制，通过有线或无 线接口端 将滤光片轮和主机连接起来。步进电机是一个 给电动滤光片轮提供用于滤光片 位置选择的电源和通讯的外部元件。在本发明 中，设计了两个互补控制来检测 滤光片轮机制的旋转速度和位置。使用能给出 参考位置的增量编码器就能实现 自动控制。 步进电机即使停止时通常也是通电的， 固定在插槽中时没有明显的 反弹或位置漂移。

当轮子旋转时， 微处理器将三种工作状态的旋转脉沖发给电机 的驱动器， 所述三种工作状态包括加速、稳态驱动和减速 ，同时，将启动频率、驱动频率、 加速时间和减速时间设置为相应的预定值。在 滤光片轮的每个静止位置， 光束 以选定的波长通过滤光片和光学透镜传播。然 后，投射到电荷耦合器件（ CCD ) 或互补金属氧化物半导体（ CMOS )传感器的焦平面上， CCD或 CMOS传感器可 以通过内置于成像传感器电路的 A/D转换器将模拟光信号转换为数字电信号。 步进电机带动轮子连续旋转， 成像传感器就会产生 16个或更多通道的光谱图 像。

为了便于成像系统与照明系统控制单元和滤光 片轮间的通讯，安装了一个 接口电路板。该接口可以支持任意合适类型的 通信媒介， 例如有线或无线的网 络或连接 。 该接口可以包括任意适合微处理器与主机间通 信的结构。 例如， 可以是支持相机曝光时间的同步机制的接口电 路板，也可以是支持窄带滤光片 按照 RS232通信协议连接的持续定位的接口电路板。

图 9是根据本发明的成像信号处理方法的流程图� �如图 9所示，将原始图 像转换为光度成像信号的成像信号处理方法包 括： 曝光时间估算、成像噪声校 正、、 多通道图像校准、 叠影校正、 图像亮度校正以及反射率重构。 移动镜头 的几何校正和亮度校正是本领域技术人员常用 的技术手段，本文不再进行详细 描述。

每个 CCD传感器都有最大工作范围，在本文中称为曝 光时间。超过某个最 大输入值， 输出信号将不再增加， 传感器进入饱和。 此外， 所述传感器还有一 个最小响应值， 低于这个值， 传感器不做出响应。 为了估算 CCD传感器在每个 通道的曝光时间的线性范围， 在黑室中的样品台上放置一个白色均匀目标板 。 这样做是为了估算每个滤光片的曝光时间的第 一个适当值。

作为曝光时间估算的基本标准，设置拍摄图像 的平均值，来得到某个预定 值 s。 这个预定 s 接近于信号的最大可能值或饱和值（例如 14 位量化时是 16384 ),但为了避免出现采集图像出现饱和或过饱和� ��情形，通常会对预定值 s设定一个安全区间。 例如， 通常将乘法修正系数例如 0. 75应用于估算每个 通道的曝光时间。

图 9 是每个通道中拍摄图像的平均响应值与各自曝 光时间区间关系的曲 线图。 如图 9所示， 采用介于 35ms到 340ms之间的各种不同的最大估算时间 区间可以保证 CCD传感器工作在线性动态范围。

从技术上来说， CCD必须执行图像生成过程中的四个工作， 包括： 电荷产 生、 电荷收集、 电荷转移和电荷测量。 每个像素的电荷生成与当前入射光水平 成比例， 因此所有像素的共同作用就生成了一个连续图 像的空间样品代表。在 电荷收集过程中， CCD传感器在生成电子后对图像进行精确的再现 。 再现的数 码图像包括每个像素的电子电荷模式，所述电 子电荷模式是以保存有整合期间 产生的电子的数组来表示的。 当没有光到达 CCD的探测器时，每个像素的电荷 在像素间递增转移。 最后， 在电荷测量阶段， 每个像素的电荷量都连接到输出 放大器， 然后通过模数转换器（ADC )按顺序数字化。

在生成图像的过程中， 成像系统（例如 CCD相机）中固有的噪声源会改变 其相应于每个像素的数码水平，还造成真实图 像的畸变以及辐射精度、 图像质 量和分辨率的下降。 在本发明中， 最重要的噪声源是暗电流。

暗电流噪声的产生是一个热过程， 其中， 电子吸热阶跃到一个中间状态， 即被激发进入导带。 由于这个原因， 减小暗电流的最有效的方法就是给 CCD 降温。 在本发明中， CCD传感器工作在零下 30度以下， 在灯盒中还可以设计 了一个降温系统来降低环境温度，以维持多光 谱成像颜色测量系统的稳定状态。

尽管通过在硬件部分设计中减小光强的波动可 以很大程度上改善光源的 重复率，一个稳定和均匀的光源是获取用于光 度测量的高质量图像的另一个重 要因素。 不均匀的入射光源将会导致可视范围内图像系 统像素响应的小变化， 从而影响颜色测量的结果。

探测器大小和掺杂浓度稍有不同就会导致每个 像素产生的暗电流数量稍 有不同， 这是另一种主要的暗电流不均匀噪声信号产生 的原因。在本发明多光 谱成像颜色测量系统中，并不是 CCD传感器中所有的像素都有相同的光敏感度。 即使是硅晶片厚度的小变化也将影响敏感度。 另夕卜，尽管提供了一个可控照明 环境， 但由于发生在光学透镜中的光损失， 照到传感器上的光可能并不均匀。 由于图像本身里物体亮度的变化造成的这些小 变化不能被检测到，这些不需要 的像素或照明变化会在一定程度上影响多光谱 成像颜色系统的测量精度。上述 两种类型的空间不均匀共同造成了成像系统（ 例如 CCD相机）响应的空间不均 匀，如果基于 CCD相机的成像系统要实现高精度的幅度或光度 测量， 就必须对 所述空间不均匀进行校正。

为了校正所述暗电流，使用黑暗背景或关闭快 门或者两种方式一起作用来 拍摄黑暗图像，以消除由于黑暗图像匹配白色 目标图像引起的曝光时间造成的 暗电流不均匀噪声。在这种情况下， 图像照明和设备响应的两种空间不均匀都 造成了图像不均匀。 校准的基本过程用以下等式表示：

j ― _rep ― hark (j

1 white (i>j)― hark (}>])

其中， Ic。 _rr 代表校正后的图像， I _rep 代表最初或原始的没有校正过的图像， I _Dark 代表 "暗电流" 图像， I _wh 代表均匀白色目标图像， 系数 k是一个保证

CCD传感器工作在线性范围状态的校准常数。 用前置有滤光片轮的黑白 CCD相机获取多光谱图像， 由于滤光片的不同 折射系数导致所获取的不同光通道图像存在一 定的位移偏移。

为了计算参考通道和其它通道图像间的空间位 移，在所设计的黑室中采集 一个筒单的校正物体（例如白-黑棋盘格型） 的图像。 在这些多通道图像中， 选择某个通道的图像作为参考图像，例如在 560謹通道的图像。所有其它通道 的图像的匹配校正都是相对选定的参考通道图 像的。

多通道图像校准算法用于获得被测样品的多光 谱校准图像。所有其它通道 的图像是根据选定的参考通道图像校准的。为 了准确计算各通道局部区域的空 间位移， 首先根据图像的灰阶直方图分布，选定一个合 适的阈值将它们二值化 处理。 然后再利用边缘检测方法对多光谱图像进行以 局部区域的梯度筛选。 由 于多光谱图像的所有局部区域都保留了特征边 缘，对输入图像的边缘 选提供 了在宽波长范围的稳健性。

在图 11中， 示出了多通道图像校准方法的捕捉步骤： 被测图样是黑白格 子图样，图 11A中是参考通道（ 560纳米波长）图像，图 11B中是目标通道（700 纳米波长）图像。 图 11C中是校准前参考通道图像和目标通道图像的 差别， 图 11D中是校准后参考通道图像和目标通道图像的 差别。 可以看出， 校准后这种 差别明显减小。

如图 11C所示，在 X方向和 y方向的几何失真既不是某一个通道上的空间 常量， 也不是不同物体同一通道上图像的空间常量。 实际上， 它取决于物体距 离、 相机变焦和光圈， 因此， 每次多光谱曝光时， 软件要重新进行校准。 为了 达到这个目的，将参考图像和目标图像分成一 系列分区间， 以便考虑图像失真 向量的不均勾性。 计算失真向量时单独计算各个区间的。

多光谱图像校准的目的是产生映射函数 f : χ→χ ' , 将目标图像 Τ的空间 坐标 X转换为参考图像 S的坐标 χ， 。 在本发明中， 选择映射函数 f 的方法如 下： 取空间位移的误差代价函数的最小值， 然后求目标图像的边缘部分和参考 图像相应部分间的相关系数的最大值。 多通道图像校准过程的数学公式如下： max /(5( (x), 7( ), )) 其中 I ( )代表所选代价函数。 用合适算法找到每个区间失真向量的最大相关 系数。 除了参考图像的 560謹光谱外， 目标图像和重构图像在水平和竖直方向 的边缘最大位移都被用来记录所有其它的通道 图像。 最后， 生成与原始图像相 同大小的向量组。所述向量组包括选定区间的 失真向量。 目标图像中除了边缘 以外的其它部分的双线性插值生成了剩余像素 的向量。 多通道图像校准后，在 本发明多光谱成像颜色测量系统中，偏差不超 过一个像素， 能实现优良的空间 分辨功能。

由于设计和制作技术的限制，多光谱成像颜色 测量系统中的具有光反射和 透射干扰的滤光片并不是理想的光学元件。 尽管给所述滤光片涂了防反射膜， 一部分入射光还是会在介质表面发生反射。 更进一步的， 如图 12所示， 滤光 片的两个介质表面不是共平面的。此外，在滤 光片和透镜系之间会有单次或多 次反射。这些非理想光学特性导致在获得的图 像中出现不希望的双重成像或叠 影效应。

某个成像通道的叠影效应通常和其它通道是不 同的，因为这种效应主要是 非理想设计和滤光片的制作工艺引起的。 叠影效应毫无疑问将影响成像系统 (例如相机 )在每个像素位置的响应， 降低多光谱成像颜色测量系统的颜色测 量的精确度。 不同通道的叠影亮度与物体亮度的比率也不同 ， 一般低于 2°/。，。 这种密度比率将严重降低光度和色度的精确度 ， 尤其对于具有低亮度的样品， 因此每个成像通道上的叠影效应都要校正。

亮度比率和位置偏移是造成叠影效应的两个重 要参数。为了确定这两个参 数， 如图 13所示， 对一个黑暗背景中的白色十字架形状的平面样 品进行成像 处理。 应当理解， 白色物体并不限制于十字架形状， 其他形状也可以。 由于叠 影效应， 除了真实物体外， 所得到的图像还包括一个具有 4艮低亮度的重影十字 架。 重影十字架的位置由模板匹配方法确定。

计算叠影参数和消除叠影效应的方法描述如下 ：

1.白色物体的提取

白色物体的提取是通过图像阈值的方法实现的 。阈值 T由图像的最大亮度 I _max 和最小亮度 I _min 决定： T =

2

还可以使用其它阈值方法。认为亮度大于 T的像素在候选物体中， 而其它像素 在背景或叠影中。 由于图像噪声的影响， 可能有孤立像素或微小区间被认为是 候选物体。确定了最大候选物体的位置后，就 能识别包含真实物体的部分图像， 即模板图像 I

2.确定叠影效应的位置

图 14示出了确定叠影位置的模板匹配的过程。匹� ��过程以扫描方式运行， 例如， 从左到右或从上到下。 下式给出了从位置（s, t)开始的模板和候选分 图的相关系数。 可以看出， 如果像素（s+m, t+n)在物体区域内， 该像素将不 被计算， 因为它是物体像素。

∑∑(l(i ₀ +m>j ₀ +n)- r _temp )(l(s + m,t + n)— T _cmid )

77(S,t):

∑∑(I(i。 + j。 + n) - i _mp ) ² ∑∑(Ks + m,t + n)- T^)

」

上式中的标记 ^ 和 分别表示物体部分和候选叠影部分的平均亮度 。

对整个图像的每个像素进行模板匹配处理，就 可以找到具有最大相关系数 的位置（S。， t。）。 然后根据下式计算叠影的位移：

^offset ' Joffset) — — ^S 0， Jo— 。 )

相应地， 叠影效应的亮度比率由下式计算：

其中， r _B , r _c , I分别是区域 B、 C和 D的平均亮度。

3.叠影效应的消除

得到叠影效应的参数后，就可以消除任意捕捉 图像的叠影效应了。像素位 置（i, j ) 的校准密度是：

I~(i， j) = I(i,j)-^-I(i+i _offset , j + j _offset ) 注意参数 β和（i。 _ffset ， j。 _ffset )指的是单个滤光片， 要根据不同成像通道分 别实行叠影效应的消除。 经过以上一系列成像处理，就可以高精度地利 用数码图像值来估算反射重 构。多光谱重构方法的主要目标是重构来自成 像系统的相应数字响应的彩色样 品的反射率光谱图。反射率重构方法通常用于 多光谱成像系统， 因为所用的线 性模型需要采集较多的光谱通道才能估算可靠 的光谱反射率。

光谱重构的数学方法可以分为插值方法，例如 拉格朗日多项式插值、三次 样条插值、 三次插值、 离散傅里叶变换或修正离散正弦变换， 还有估算方法， 例如伪逆法、 平滑伪逆、 维纳估计、 非线性方法、 主成分分析、 独立成分分析 或非负矩阵分解。估算方法通常基于以前实现 的一系列测量发现的光谱类型的 已知知识， 即训练集。

在本发明中，使用维纳估计或伪逆校准来进行 光谱重构。这属于背景技术 范畴， 可以在相关出版物中找到详细描述， 在此不 #文介绍。

最后， 经过反射率重构，校准后的图像数据就可以用 于测量被测物体每个 图像点的颜色光谱， 且具有高光度精确度。

虽然本发明是通过具体实施例进行说明的， 本领域技术人员应当明白，在 不脱离本发明范围的情况下，还可以对本发明 进行各种变换及等同替代。另夕卜， 针对特定情形或材料， 可以对本发明做各种修改， 而不脱离本发明的范围。 因 此， 本发明不局限于所公开的具体实施例， 而应当包括落入本发明权利要求范 围内的全部实施方式。