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Patent Searching and Data


Title:
OPTICAL IMAGE MEASURING DEVICE
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2009/153929
Kind Code:
A1
Abstract:
A technique for measuring a physical quantity of an object to be measured with high accuracy from OCT images showing different regions of the object.  An optical image measuring device (1) splits a low-coherence light beam (LO) into a signal light beam (LS) and a reference light beam (LR), splits the reference light beam (LR) into two reference light beams (LRa, LRb) by dividing the optical path of the reference light beam (LR) into two optical paths having different optical path lengths, causes interference between the reference light beam (LRa) passing through the corresponding optical path and the signal light beam (LS) passing through an eye (E) and interference between the reference light beam (LRb) passing through the corresponding optical path and the signal light beam (Ls), produces an interference light beam (LC) reflecting the forms in two depth positions (the eye ground (Ef) and the cornea (Ec)) of the eye (E), generates a detection signal by detecting the interference light beam (LC), creates an eye ground tomogram and a cornea tomogram from the detection signal, analyzes the tomograms, and determines the distance between the cornea and the retina of the eye (E).

Inventors:
HAYASHI TAKEFUMI (JP)
SHIMIZU HITOSHI (JP)
Application Number:
PCT/JP2009/002565
Publication Date:
December 23, 2009
Filing Date:
June 08, 2009
Export Citation:
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Assignee:
TOPCON CORP (JP)
HAYASHI TAKEFUMI (JP)
SHIMIZU HITOSHI (JP)
International Classes:
A61B3/10; A61B3/12; A61B3/14; G01B9/02; G01B11/24; G01N21/17
Domestic Patent References:
WO2007065670A22007-06-14
Foreign References:
JP2008073099A2008-04-03
JPH10267830A1998-10-09
JPH11325849A1999-11-26
JP2002139421A2002-05-17
JP2007024677A2007-02-01
JP2006153838A2006-06-15
JP2008073099A2008-04-03
JPH09276232A1997-10-28
JPH114808A1999-01-12
JP2007045831A2007-02-22
Other References:
See also references of EP 2301423A4
Attorney, Agent or Firm:
MISAWA PATENT OFFICE, p. c. (JP)
Patent business corporation Misawa patent firm (JP)
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Claims:
 低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、前記参照光の光路を光路長の異なる複数の光路に分割することで前記参照光を複数の参照光に分割し、前記複数の光路をそれぞれ経由した前記複数の参照光と被測定物体を経由した前記信号光とを干渉させて、前記被測定物体の複数の深度位置のそれぞれにおける形態を反映した干渉光を生成する光学系と、
 前記生成された干渉光を検出して検出信号を生成する検出手段と、
 前記生成された検出信号に基づいて、前記複数の深度位置における前記被測定物体の形態を表す複数の断層画像をそれぞれ形成する画像形成手段と、
 前記複数の断層画像を解析して前記被測定物体の所定の物理量を求める解析手段と、
 を備えることを特徴とする光画像計測装置。
 前記光学系は、前記低コヒーレンス光から分割された参照光を前記複数の参照光に分割するビームスプリッタと、前記複数の参照光のそれぞれの光路に設けられた参照ミラーとを含み、
 前記ビームスプリッタは、前記参照ミラーによりそれぞれ反射された前記複数の参照光を合成し、
 前記光学系は、前記合成された前記複数の参照光を前記信号光に干渉させて前記干渉光を生成する、
 ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。
 前記光学系は、前記低コヒーレンス光から分割された参照光の一部分の光路長を延長する光学部材と、前記光学部材により光路長が延長された前記参照光の一部分と、前記参照光の他の部分とを反射する参照ミラーとを含み、前記参照ミラーにより反射された前記参照光を前記信号光に干渉させて前記干渉光を生成する、
 ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。
 前記解析手段は、前記所定の物理量として、前記複数の断層画像のうちの一の断層画像中の位置と他の断層画像中の位置との間の距離を求める、
 ことを特徴とする請求項1に記載の光画像計測装置。
 前記被測定物体は生体眼であり、
 前記複数の参照光は、前記生体眼の網膜に対応する光路長を有する第1の光路を経由する第1の参照光と、前記生体眼の角膜に対応する光路長を有する第2の光路を経由する第2の参照光とを含み、
 前記画像形成手段は、前記第1の参照光と前記網膜で反射された前記信号光との干渉成分に相当する第1の信号成分を前記検出信号から抽出して前記網膜の形態を表す第1の断層画像を前記一の断層画像として形成し、かつ、前記第2の参照光と前記角膜で反射された前記信号光との干渉成分に相当する第2の信号成分を前記検出信号から抽出して前記角膜の形態を表す第2の断層画像を前記他の断層画像として形成し、
 前記解析手段は、前記第1及び前記第2の断層画像を解析して、前記生体眼の角膜網膜間距離を求める、
 ことを特徴とする請求項4に記載の光画像計測装置。
 前記第1の光路と前記第2の光路とは、角膜網膜間距離の標準値に略等しい光路長差を有し、
 前記解析手段は、予め記憶された眼球光学情報に含まれる眼球光学系の屈折率の値で前記標準値を除算し、その商の値と前記第1及び前記第2の断層画像とに基づいて前記角膜網膜間距離を求める、
 ことを特徴とする請求項5に記載の光画像計測装置。
 前記解析手段は、前記所定の物理量として、前記求められた角膜網膜間距離に基づいて前記生体眼の眼球光学系の倍率を求める倍率演算手段を含む、
 ことを特徴とする請求項5に記載の光画像計測装置。
 前記倍率演算手段は、予め記憶された眼球光学情報に含まれる眼球光学系の光学情報と、前記求められた角膜網膜間距離とに基づいて前記倍率を求める、
 ことを特徴とする請求項7に記載の光画像計測装置。
 前記眼球光学情報は、角膜の前後面のそれぞれの曲率半径、角膜の厚さ、角膜の屈折率、水晶体の前後面のそれぞれの曲率半径、水晶体の厚さ、水晶体の屈折率、硝子体の屈折率、及び、角膜前面と水晶体後面との間の距離を表す前眼部距離のそれぞれの値を含み、
 前記倍率演算手段は、前記角膜網膜間距離から前記前眼部距離の値を減算して水晶体後面と網膜表面との間の距離を表す後眼部距離を算出し、前記眼球光学情報及び前記後眼部距離とに基づいて眼球モデルを形成し、前記眼球モデルに基づいて前記倍率を求める、
 ことを特徴とする請求項8に記載の光画像計測装置。
 前記生体眼に対して前記光学系を位置合わせするアライメント手段を更に備え、
 前記解析手段は、前記位置合わせが行われた後に前記光学系により生成された干渉光に基づく前記第2の断層画像のフレーム内における位置を特定し、該特定された位置に基づいて前記生体眼の角膜曲率半径を求める角膜曲率半径演算手段を含み、
 前記倍率演算手段は、前記眼球光学情報に含まれる角膜の曲率半径の値の代わりに、前記求められた角膜曲率半径に基づいて前記眼球モデルを形成する、
 ことを特徴とする請求項9に記載の光画像計測装置。
 前記生体眼に対して前記光学系を位置合わせするアライメント手段を更に備え、
 前記解析手段は、前記位置合わせが行われた後に前記光学系により干渉光が生成されたときの前記第2の光路の光路長に基づいて前記生体眼の角膜曲率半径を求める角膜曲率半径演算手段を含み、
 前記倍率演算手段は、前記眼球光学情報に含まれる角膜の曲率半径の値の代わりに、前記求められた角膜曲率半径に基づいて前記眼球モデルを形成する、
 ことを特徴とする請求項9に記載の光画像計測装置。
 前記光学系は、前記生体眼に対する前記信号光の照射位置を走査する走査手段を含み、
 前記解析手段は、前記眼球モデル及び前記求められた倍率に基づいて、前記網膜の所定位置に前記信号光を照射させるような前記走査手段による前記信号光の走査態様を特定する特定手段を含み、
 前記光学系は、新たな低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、前記特定された走査態様に基づき前記走査手段により当該新たな信号光を走査しつつ、前記第1の光路を経由した当該新たな参照光と前記網膜を経由した当該新たな信号光とを干渉させて新たな干渉光を生成し、
 前記検出手段は、前記新たな干渉光を検出して新たな検出信号を生成し、
 前記画像形成手段は、前記新たな検出信号に基づいて、前記網膜の新たな断層画像を形成する、
 ことを特徴とする請求項9に記載の光画像計測装置。
 前記特定手段は、前記眼球モデル及び前記求められた倍率に基づく光線追跡演算を行うことにより、前記眼球モデルの網膜の前記所定位置に信号光が照射されるような前記走査態様を特定する、
 ことを特徴とする請求項12に記載の光画像計測装置。
 前記特定手段は、前記網膜の視神経乳頭中心を中心とし所定半径を有する円形の軌跡に沿って前記信号光の照射位置を走査させるための前記走査態様を特定する、
 ことを特徴とする請求項12に記載の光画像計測装置。
 前記解析手段は、前記新たな断層画像に基づいて前記生体眼の網膜厚を求める、
 ことを特徴とする請求項12に記載の光画像計測装置。
Description:
光画像計測装置

 この発明は、光ビームを用いて被測定物 の表面形態や内部形態を表す画像を形成す 光画像計測装置に関する。

 近年、レーザ光源等からの光ビームを用 て被測定物体の表面形態や内部形態を表す 像を形成する光画像計測技術が注目を集め いる。光画像計測技術は、X線CT装置のよう 人体に対する侵襲性を持たないことから、 療分野や生物学分野における応用の展開が に期待されている。

 特許文献1には、光画像計測技術を適用し た装置が開示されている。この装置は、測定 腕が回転式転向鏡(ガルバノミラー)により物 を走査し、参照腕に参照ミラーが設置され おり、その出口に計測腕及び参照腕からの 束の干渉光の強度を分光器で分析する干渉 が設けられている。更に、参照腕は、参照 光束位相を不連続な値で段階的に変えるよ に構成されている。

 特許文献1の装置は、いわゆる「フーリエ ドメインOCT(Fourier Domain Optical Coherence Tomogra phy)」の手法を用いるものである。すなわち 被測定物体に対して低コヒーレンス光のビ ムを照射し、その反射光と参照光とを重ね わせて干渉光を生成し、この干渉光のスペ トル強度分布を取得してフーリエ変換を施 ことにより被測定物体の深度方向(z方向)の 態を画像化するものである。

 更に、特許文献1に記載の装置は、光ビー ム(信号光)を走査するガルバノミラーを備え それにより被測定物体の所望の測定対象領 の画像を形成するようになっている。この 置においては、z方向に直交する1方向(x方向 )にのみ光ビームを走査するように構成され いるので、この装置により形成される画像 、光ビームの走査方向(x方向)に沿った深度 向(z方向)の2次元断層画像となる。

 特許文献2には、信号光を水平方向及び垂 直方向に走査することにより水平方向の2次 断層画像を複数形成し、これら複数の断層 像に基づいて測定範囲の3次元の断層情報を 得して画像化する技術が開示されている。 の3次元画像化としては、たとえば、複数の 断層画像を垂直方向に並べて表示させる方法 や(スタックデータなどと呼ばれる)、複数の 層画像にレンダリング処理を施して3次元画 像を形成する方法などが考えられる。

 特許文献3、4には、他のタイプの光画像 測装置が開示されている。特許文献3には、 測定物体に照射される光の波長を走査し、 波長の光の反射光と参照光とを重ね合わせ 得られる干渉光に基づいてスペクトル強度 布を取得し、それに対してフーリエ変換を すことにより被測定物体の形態を画像化す 光画像計測装置が記載されている。このよ な光画像計測装置は、スウェプトソース(Swe pt Source)タイプなどと呼ばれる。

 また、特許文献4には、所定のビーム径を 有する光を被測定物体に照射し、その反射光 と参照光とを重ね合わせて得られる干渉光の 成分を解析することにより、光の進行方向に 直交する断面における被測定物体の画像を形 成する光画像計測装置が記載されている。こ のような光画像計測装置は、フルフィールド (full-field)タイプ、或いはエンフェイス(en-face) タイプなどと呼ばれる。

 特許文献5には、OCT技術を眼科分野に適用 した構成が開示されている。なお、光画像計 測装置が眼科分野に応用される以前には、眼 底カメラ等の眼科撮影装置が利用されていた (たとえば特許文献6を参照)。

 OCT技術を用いた眼底撮影装置は、眼底を 方から撮影するだけの眼底カメラと比較し 、眼底の断層画像や3次元画像を取得できる という利点がある。そのため、診断精度の向 上や病変の早期発見への寄与が期待されてい る。

特開平11-325849号公報

特開2002-139421号公報

特開2007-24677号公報

特開2006-153838号公報

特開2008-73099公報

特開平9-276232号公報

 光画像計測装置により取得される画像(OCT 画像:断層画像、3次元画像等)は、被測定物体 (又はその一部)の各種物理量の計測に用いら る。たとえば眼科分野においては、病変部 サイズや隅角などの物理量の計測に利用さ ている。

 しかしながら、従来の光画像計測装置で 、一枚のOCT画像に描写された対象物の物理 を計測することはできるが、複数のOCT画像 亘って描写された対象物の物理量を高い確 で計測することは困難である。

 たとえば、従来の光画像計測装置によれ 、一枚のOCT画像中の二点間の距離について 計測できたが、第1のOCT画像中の一点と第2 OCT画像中の一点との間の距離を高い確度で 測することは難しかった。特に、生体眼の うに静止状態にない被測定物体については 第1のOCT画像と第2のOCT画像の取得タイミング にズレが生じるので、計測確度が低下する可 能性が高かった。

 このように、従来の光画像計測装置では 一枚のOCT画像で描写可能な比較的狭い範囲 おける物理量の計測は容易であったが、こ を超える比較的広い範囲における物理量を い確度で計測することは困難であった。

 この発明は、このような問題を解決する めになされたもので、その目的は、被測定 体の異なる部位を描写する複数のOCT画像を に被測定物体の物理量を高い確度で計測可 な光画像計測装置を提供することにある。

 上記目的を達成するために、請求項1に記 載の発明は、低コヒーレンス光を信号光と参 照光とに分割し、前記参照光の光路を光路長 の異なる複数の光路に分割することで前記参 照光を複数の参照光に分割し、前記複数の光 路をそれぞれ経由した前記複数の参照光と被 測定物体を経由した前記信号光とを干渉させ て、前記被測定物体の複数の深度位置のそれ ぞれにおける形態を反映した干渉光を生成す る光学系と、前記生成された干渉光を検出し て検出信号を生成する検出手段と、前記生成 された検出信号に基づいて、前記複数の深度 位置における前記被測定物体の形態を表す複 数の断層画像をそれぞれ形成する画像形成手 段と、前記複数の断層画像を解析して前記被 測定物体の所定の物理量を求める解析手段と 、を備えることを特徴とする光画像計測装置 である。

 また、請求項2に記載の発明は、請求項1 記載の光画像計測装置であって、前記光学 は、前記低コヒーレンス光から分割された 照光を前記複数の参照光に分割するビーム プリッタと、前記複数の参照光のそれぞれ 光路に設けられた参照ミラーとを含み、前 ビームスプリッタは、前記参照ミラーによ それぞれ反射された前記複数の参照光を合 し、前記光学系は、前記合成された前記複 の参照光を前記信号光に干渉させて前記干 光を生成する、ことを特徴とする。

 また、請求項3に記載の発明は、請求項1 記載の光画像計測装置であって、前記光学 は、前記低コヒーレンス光から分割された 照光の一部分の光路長を延長する光学部材 、前記光学部材により光路長が延長された 記参照光の一部分と、前記参照光の他の部 とを反射する参照ミラーとを含み、前記参 ミラーにより反射された前記参照光を前記 号光に干渉させて前記干渉光を生成する、 とを特徴とする。

 また、請求項4に記載の発明は、請求項1 記載の光画像計測装置であって、前記解析 段は、前記所定の物理量として、前記複数 断層画像のうちの一の断層画像中の位置と の断層画像中の位置との間の距離を求める ことを特徴とする。

 また、請求項5に記載の発明は、請求項4 記載の光画像計測装置であって、前記被測 物体は生体眼であり、前記複数の参照光は 前記生体眼の網膜に対応する光路長を有す 第1の光路を経由する第1の参照光と、前記生 体眼の角膜に対応する光路長を有する第2の 路を経由する第2の参照光とを含み、前記画 形成手段は、前記第1の参照光と前記網膜で 反射された前記信号光との干渉成分に相当す る第1の信号成分を前記検出信号から抽出し 前記網膜の形態を表す第1の断層画像を前記 の断層画像として形成し、かつ、前記第2の 参照光と前記角膜で反射された前記信号光と の干渉成分に相当する第2の信号成分を前記 出信号から抽出して前記角膜の形態を表す 2の断層画像を前記他の断層画像として形成 、前記解析手段は、前記第1及び前記第2の 層画像を解析して、前記生体眼の角膜網膜 距離を求める、ことを特徴とする。

 また、請求項6に記載の発明は、請求項5 記載の光画像計測装置であって、前記第1の 路と前記第2の光路とは、角膜網膜間距離の 標準値に略等しい光路長差を有し、前記解析 手段は、予め記憶された眼球光学情報に含ま れる眼球光学系の屈折率の値で前記標準値を 除算し、その商の値と前記第1及び前記第2の 層画像とに基づいて前記角膜網膜間距離を める、ことを特徴とする。

 また、請求項7に記載の発明は、請求項5 記載の光画像計測装置であって、前記解析 段は、前記所定の物理量として、前記求め れた角膜網膜間距離に基づいて前記生体眼 眼球光学系の倍率を求める倍率演算手段を む、ことを特徴とする。

 また、請求項8に記載の発明は、請求項7 記載の光画像計測装置であって、前記倍率 算手段は、予め記憶された眼球光学情報に まれる眼球光学系の光学情報と、前記求め れた角膜網膜間距離とに基づいて前記倍率 求める、ことを特徴とする。

 また、請求項9に記載の発明は、請求項8 記載の光画像計測装置であって、前記眼球 学情報は、角膜の前後面のそれぞれの曲率 径、角膜の厚さ、角膜の屈折率、水晶体の 後面のそれぞれの曲率半径、水晶体の厚さ 水晶体の屈折率、硝子体の屈折率、及び、 膜前面と水晶体後面との間の距離を表す前 部距離のそれぞれの値を含み、前記倍率演 手段は、前記角膜網膜間距離から前記前眼 距離の値を減算して水晶体後面と網膜表面 の間の距離を表す後眼部距離を算出し、前 眼球光学情報及び前記後眼部距離とに基づ て眼球モデルを形成し、前記眼球モデルに づいて前記倍率を求める、ことを特徴とす 。

 また、請求項10に記載の発明は、請求項9 記載の光画像計測装置であって、前記生体 に対して前記光学系を位置合わせするアラ メント手段を更に備え、前記解析手段は、 記位置合わせが行われた後に前記光学系に り生成された干渉光に基づく前記第2の断層 画像のフレーム内における位置を特定し、該 特定された位置に基づいて前記生体眼の角膜 曲率半径を求める角膜曲率半径演算手段を含 み、前記倍率演算手段は、前記眼球光学情報 に含まれる角膜の曲率半径の値の代わりに、 前記求められた角膜曲率半径に基づいて前記 眼球モデルを形成する、ことを特徴とする。

 また、請求項11に記載の発明は、請求項9 記載の光画像計測装置であって、前記生体 に対して前記光学系を位置合わせするアラ メント手段を更に備え、前記解析手段は、 記位置合わせが行われた後に前記光学系に り干渉光が生成されたときの前記第2の光路 の光路長に基づいて前記生体眼の角膜曲率半 径を求める角膜曲率半径演算手段を含み、前 記倍率演算手段は、前記眼球光学情報に含ま れる角膜の曲率半径の値の代わりに、前記求 められた角膜曲率半径に基づいて前記眼球モ デルを形成する、ことを特徴とする。

 また、請求項12に記載の発明は、請求項9 記載の光画像計測装置であって、前記光学 は、前記生体眼に対する前記信号光の照射 置を走査する走査手段を含み、前記解析手 は、前記眼球モデル及び前記求められた倍 に基づいて、前記網膜の所定位置に前記信 光を照射させるような前記走査手段による 記信号光の走査態様を特定する特定手段を み、前記光学系は、新たな低コヒーレンス を信号光と参照光とに分割し、前記特定さ た走査態様に基づき前記走査手段により当 新たな信号光を走査しつつ、前記第1の光路 を経由した当該新たな参照光と前記網膜を経 由した当該新たな信号光とを干渉させて新た な干渉光を生成し、前記検出手段は、前記新 たな干渉光を検出して新たな検出信号を生成 し、前記画像形成手段は、前記新たな検出信 号に基づいて、前記網膜の新たな断層画像を 形成する、ことを特徴とする。

 また、請求項13に記載の発明は、請求項12 に記載の光画像計測装置であって、前記特定 手段は、前記眼球モデル及び前記求められた 倍率に基づく光線追跡演算を行うことにより 、前記眼球モデルの網膜の前記所定位置に信 号光が照射されるような前記走査態様を特定 する、ことを特徴とする。

 また、請求項14に記載の発明は、請求項12 に記載の光画像計測装置であって、前記特定 手段は、前記網膜の視神経乳頭中心を中心と し所定半径を有する円形の軌跡に沿って前記 信号光の照射位置を走査させるための前記走 査態様を特定する、ことを特徴とする。

 また、請求項15に記載の発明は、請求項12 に記載の光画像計測装置であって、前記解析 手段は、前記新たな断層画像に基づいて前記 生体眼の網膜厚を求める、ことを特徴とする 。

 この発明に係る光画像計測装置は、低コ ーレンス光を信号光と参照光とに分割し、 に、この参照光を複数の参照光に分割する 更に、この発明に係る光画像計測装置は、 れら複数の光路をそれぞれ経由した参照光 被測定物体を経由した信号光とを干渉させ 、被測定物体の複数の深度位置のそれぞれ おける形態を反映した干渉光を生成し、こ 干渉光の検出結果に基づいて被測定物体の 数の断層画像を形成する。そして、この発 に係る光画像計測装置は、これら複数の断 画像を解析して被測定物体の所定の物理量 求める。

 このように作用する光画像計測装置によ ば、被測定物体の複数の部位の計測を同時 実行できるので、これら複数の部位の断層 像(OCT画像)に描写された被測定物体の物理 を高い確度で計測することが可能である。

この発明に係る光画像計測装置の実施 態の全体構成の一例を表す概略構成図であ 。 この発明に係る光画像計測装置の実施 態のアライメント光学系の構成の一例を表 概略構成図である。 この発明に係る光画像計測装置の実施 態によるアライメント動作の一例を説明す ための概略図である。 この発明に係る光画像計測装置の実施 態におけるOCTユニットの構成の一例を表す 略構成図である。 この発明に係る光画像計測装置の実施 態の制御系の構成の一例を表す概略ブロッ 図である。 この発明に係る光画像計測装置の実施 態の動作の一例を表すフローチャートであ 。 この発明に係る光画像計測装置の実施 態による眼底断層画像及び角膜断層画像の 示態様の一例を表す概略図である。 この発明に係る光画像計測装置の実施 態の動作の一例を表すフローチャートであ 。 この発明に係る光画像計測装置の実施 態の変形例の光学系の構成の一例を表す概 図である。 この発明に係る光画像計測装置の実施 形態の変形例の光学系の構成の一例を表す概 略図である。

1 光画像計測装置
1A 眼底カメラユニット
141 走査ユニット
150 OCTユニット
160 低コヒーレンス光源
174a、174b 参照ミラー
176a、176b 参照ミラー駆動機構
180 スペクトロメータ
184 CCD
190A アライメント光学系
200 演算制御装置
210 制御部
211 主制御部
212 記憶部
212a 眼球光学情報
220 画像形成部
221 干渉成分抽出部
230 画像処理部
231 解析処理部
232 眼内距離演算部
233 倍率演算部
234 走査態様特定部
235 角膜曲率演算部
240 表示部
250 操作部

 この発明に係る光画像計測装置の実施形 の一例について、図面を参照しながら詳細 説明する。この実施形態では、眼科分野に いて使用され、生体眼のOCT画像を取得する 置について説明する。生体眼は、固視微動 の眼球運動や心臓の拍動などにより常時動 ている。なお、生体眼以外の被測定物体(特 に動きを伴うもの)のOCT画像を取得する場合 ついても、同様の構成により同様の効果を ることが可能である。

 この実施形態では、フーリエドメインタ プの手法を適用する構成について詳しく説 する。特に、この実施形態では、特許文献5 に開示された装置とほぼ同様の構成を具備す る光画像計測装置を取り上げる。なお、他の 構成を適用する場合においても、この実施形 態と同様の構成を適用することで同様の作用 及び効果が得られる。たとえば、スウェプト ソースタイプのように信号光を走査(スキャ )して計測を行う任意のタイプのOCT技術に対 て、この実施形態に係る構成を適用するこ が可能である。また、フルフィールドタイ のように信号光をスキャンしないタイプのO CT技術に対して、この実施形態に係る構成を 用することも可能である。

[構成]
 光画像計測装置1は、図1に示すように、眼 カメラユニット1A、OCTユニット150及び演算制 御装置200を含んで構成される。眼底カメラユ ニット1Aは、従来の眼底カメラとほぼ同様の 学系を有する。眼底カメラは、眼底を撮影 て2次元画像を取得する装置である。また、 眼底カメラは、眼底血管の形態の撮影に利用 される。OCTユニット150は、被検眼のOCT画像を 取得するための光学系を格納している。演算 制御装置200は、各種の演算処理や制御処理等 を実行するコンピュータを具備している。

 OCTユニット150には、接続線152の一端が取 付けられている。接続線152の他端には、接 線152を眼底カメラユニット1Aに接続するコ クタ部151が取り付けられている。接続線152 内部には光ファイバ152aが導通されている(図 4を参照)。OCTユニット150と眼底カメラユニッ 1Aは、接続線152を介して光学的に接続され いる。演算制御装置200は、眼底カメラユニ ト1A及びOCTユニット150のそれぞれと、電気信 号を伝達する通信線を介して接続されている 。

〔眼底カメラユニット〕
 眼底カメラユニット1Aは、眼底表面の形態 表す2次元画像を形成するための光学系を有 る。ここで、眼底表面の2次元画像には、眼 底表面を撮影したカラー画像やモノクロ画像 、更には蛍光画像(フルオレセイン蛍光画像 インドシアニングリーン蛍光画像等)などが まれる。

 眼底カメラユニット1Aには、従来の眼底 メラと同様に、照明光学系100と撮影光学系12 0が設けられている。照明光学系100は眼底Efに 照明光を照射する。撮影光学系120は、この照 明光の眼底反射光を撮像装置10、12に導く。 た、撮影光学系120は、OCTユニット150からの 号光を被検眼Eに導くとともに、被検眼Eを経 由した信号光をOCTユニット150に導く。

 照明光学系100は、従来の眼底カメラと同 に、観察光源101、コンデンサレンズ102、撮 光源103、コンデンサレンズ104、エキサイタ ィルタ105及び106、リング透光板107(リングス リット107a)、ミラー108、LCD(Liquid Crystal Display )109、照明絞り110、リレーレンズ111、孔開き ラー112、対物レンズ113を含んで構成される

 観察光源101は、たとえば約400nm~700nmの範 の可視領域の波長を含む照明光を出力する 撮影光源103は、たとえば約700nm~800nmの範囲の 近赤外領域の波長を含む照明光を出力する。 この近赤外光は、OCTユニット150で使用する光 の波長よりも短く設定されている。

 観察光源101から出力された照明光は、コ デンサレンズ102、104、(エキサイタフィルタ 105又は106、)リング透光板107、ミラー108、LCD10 9、照明絞り110、リレーレンズ111を介して孔 きミラー112に到達する。更に、この照明光 、孔開きミラー112により反射され、対物レ ズ113を介して被検眼Eに入射して眼底Efを照 する。一方、撮影光源103から出力された照 光は、コンデンサレンズ104から対物レンズ11 3までを経由して被検眼Eに入射して眼底Efを 明する。

 撮影光学系120は、対物レンズ113、孔開き ラー112(の孔部112a)、撮影絞り121、バリアフ ルタ122及び123、変倍レンズ124、リレーレン 125、撮影レンズ126、ダイクロイックミラー1 34、フィールドレンズ(視野レンズ)128、ハー ミラー135、リレーレンズ131、ダイクロイッ ミラー136、撮影レンズ133、撮像装置10、反射 ミラー137、撮影レンズ138、撮像装置12、レン 139及びLCD140を含んで構成される。撮影光学 120は、従来の眼底カメラとほぼ同様の構成 有する。

 ダイクロイックミラー134は、照明光学系1 00からの照明光の眼底反射光(約400nm~800nmの範 に含まれる波長を有する)を反射する。また 、ダイクロイックミラー134は、OCTユニット150 からの信号光LS(たとえば約800nm~900nmの範囲に まれる波長を有する;図4を参照)を透過させ 。

 ダイクロイックミラー136は、観察光源101 らの照明光の眼底反射光を透過させる。ま 、ダイクロイックミラー136は、撮影光源103 らの照明光の眼底反射光を反射する。

 LCD140は、被検眼Eを固視させるための固視 標(内部固視標)を表示する。LCD140からの光は レンズ139により集光され、ハーフミラー135 より反射され、フィールドレンズ128を経由 てダイクロイックミラー136に反射される。 に、この光は、撮影レンズ126、リレーレン 125、変倍レンズ124、孔開きミラー112(の孔部 112a)、対物レンズ113等を経由して被検眼Eに入 射する。それにより、眼底Efに内部固視標が 影される。

 LCD140による内部固視標の表示位置を変更 ることにより、被検眼Eの固視方向を変更す ることができる。被検眼Eの固視方向として 、たとえば従来の眼底カメラと同様に、眼 Efの黄斑部を中心とする画像を取得するため の固視方向や、視神経乳頭を中心とする画像 を取得するための固視方向や、黄斑部と視神 経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を 取得するための固視方向などがある。

 撮像装置10には、撮像素子10aが内蔵され いる。撮像装置10は、特に近赤外領域の波長 の光を検出可能である。つまり、撮像装置10 、近赤外光を検出する赤外線テレビカメラ して機能する。撮像装置10は、近赤外光を 出して映像信号を出力する。撮像素子10aは たとえば、CCD(Charge Coupled Devices)やCMOS(Complem entary Metal Oxide Semiconductor)等の任意の撮像素 子(エリアセンサ)である。

 撮像装置12には、撮像素子12aが内蔵され いる。撮像装置12は、特に可視領域の波長の 光を検出可能である。つまり、撮像装置12は 可視光を検出するテレビカメラとして機能 る。撮像装置12は、可視光を検出して映像 号を出力する。撮像素子12aは、撮像素子10a 同様に、任意の撮像素子(エリアセンサ)によ り構成される。

 タッチパネルモニタ11は、各撮像素子10a 12aからの映像信号に基づいて眼底画像Ef″を 表示する。また、この映像信号は演算制御装 置200に送られる。

 眼底カメラユニット1Aには、走査ユニッ 141とレンズ142とが設けられている。走査ユ ット141は、OCTユニット150から出力される信 光LSの被検眼E(たとえば眼底Ef)に対する照射 置を走査する。走査ユニット141は、この発 の「走査手段」の一例である。

 走査ユニット141は、図1に示すxy平面上に いて信号光LSを走査する。そのために、走 ユニット141には、たとえば、x方向への走査 のガルバノミラーと、y方向への走査用のガ ルバノミラーとが設けられている。

 変倍レンズ124とリレーレンズ125との間の 路上には、ハーフミラー190が斜設されてい 。ハーフミラー190は、図2(A)に示すアライメ ント光学系190Aの光路と撮影光学系120の光路( 影光路)とを合成するように作用する。アラ イメント光学系190Aは、被検眼Eに対する光学 の位置合わせに用いられるアライメント輝 を被検眼Eに投影するための光学系である。

 このアライメント輝点は、被検眼Eの角膜 Ecの頂点位置(角膜頂点)を光学系100、120の光 に一致させるアライメント(図1に示すxy方向 アライメント)と、被検眼Eと光学系100、120 の間の距離(図1のz方向;ワーキングディスタ ス(working distance);被検眼Eの角膜Ec(角膜頂点) と対物レンズ113との間の距離)のアライメン との双方に用いられる(たとえば特開平11-4808 号公報を参照)。

 アライメント光学系190Aは、図2(A)に示す うに、ハーフミラー190とともに、アライメ ト光源190a、ライトガイド190b、反射ミラー190 c、2孔絞り190d及びリレーレンズ190eを含んで 成されている。アライメント光源190aは、た えば、近赤外領域の光(アライメント光)を 力するLED等の光源を含んで構成される。

 2孔絞り190dは、図2(B)に示すように、二つ 孔部190d1、190d2を有している。孔部190d1、190d 2は、たとえば円盤状の2孔絞り190dの中心位置 190d3に対して対称な位置に形成されている。2 孔絞り190dは、その中心位置190d3がアライメン ト光学系190Aの光軸上に位置するようにして 設される。

 ライトガイド190bの射出端190βから出射し アライメント光は、反射ミラー190cにより反 射されて2孔絞り190dに導かれる。2孔絞り190d 孔部190d1、190d2を通過したアライメント光(の 一部)は、リレーレンズ190eを経由し、ハーフ ラー190により反射されて孔開きミラー112に かれる。このとき、リレーレンズ190eは、ラ イトガイド190bの射出端190βの像を孔開きミラ ー112の孔部112aの中央位置(撮影光学系120の光 上の位置)に中間結像させる。孔開きミラー 112の孔部112aを通過したアライメント光は、 物レンズ113を介して被検眼Eの角膜Ecに投影 れる。

 ここで、被検眼Eと眼底カメラユニット1A( 対物レンズ113)との位置関係が適正である場 、すなわち、被検眼Eと眼底カメラユニット1 Aとの間の距離(ワーキングディスタンス)が適 正であり、かつ、眼底カメラユニット1Aの光 系の光軸と被検眼Eの眼軸とが(ほぼ)一致し いる場合、2孔絞り190dにより形成される二 の光束(アライメント光束)は、角膜頂点と角 膜曲率中心との中間位置においてそれぞれ結 像するようにして被検眼Eに投影される。

 二つのアライメント光束(アライメント光 )の角膜反射光は、撮影光学系120を介して、 とえば撮像素子10aにより受光される。撮像 子10aによる撮影画像は、タッチパネルモニ 11や演算制御装置200のディスプレイ(後述)等 表示デバイスに表示される。このときのア イメント光の表示態様を図3に示す。

 図3中の符号Sは括弧形状を有するスケー を表し、符号P1、P2は二つのアライメント光 の受光像(アライメント輝点)を表す。なお スケールSは、その中心位置が撮影光学系120 光軸に一致するようにしてディスプレイ等 表示される。

 被検眼Eの位置と眼底カメラユニット1Aの 置とが上下方向(y方向)や左右方向(x方向)に れている場合、図3(A)に示すように、アライ メント輝点P1、P2は、スケールSに対して上下 向や左右方向にずれた位置に表示される。 た、ワーキングディスタンスが適正でない 合には、アライメント輝点P1、P2は、それぞ れ別々の位置に表示される。

 一方、被検眼Eと眼底カメラユニット1Aと xy方向の位置が一致しており、かつ、ワー ングディスタンスが適正である場合、アラ メント輝点P1、P2は、図3(B)に示すように、互 いに重なった状態でスケールS内に表示され 。検者は、アライメント輝点P1、P2が互いに なるように、かつ、それらがスケールS内に 表示されるように、被検眼Eと眼底カメラユ ット1Aとの位置関係を調整することにより、 アライメントを実施する。ここで、被検眼E 眼底カメラユニット1Aとの位置関係の調整は 、たとえば従来の眼底カメラと同様に、眼底 カメラユニット1Aの光学系を可動テーブル上 て移動させることにより行われる。

 アライメント光学系190A、及び、アライメ ント光を被検眼Eに導くため撮影光学系120の 学素子は、この発明の「アライメント手段 の一例を構成するものである。

〔OCTユニット〕
 OCTユニット150の構成について図4を参照しつ つ説明する。OCTユニット150は、従来のフーリ エドメインタイプの光画像計測装置と同様の 光学系を備えている。すなわち、OCTユニット 150は、低コヒーレンス光を参照光と信号光に 分割し、被検眼を経由した信号光と参照物体 を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生 成する光学系と、この干渉光を検出する検出 手段とを備えている。干渉光の検出結果(検 信号)は演算制御装置200に送られる。

 低コヒーレンス光源160は、広帯域の低コ ーレンス光L0を出力する広帯域光源である この広帯域光源としては、たとえば、スー ールミネセントダイオード(Super Luminescent Di ode:SLD)や、発光ダイオード(Light Emitting Diode:L ED)などを用いることができる。

 低コヒーレンス光L0は、たとえば、近赤 領域の波長の光を含み、かつ、数十マイク メートル程度の時間的コヒーレンス長を有 る。低コヒーレンス光L0は、眼底カメラユニ ット1Aの照明光(波長約400nm~800nm)よりも長い波 長、たとえば約800nm~900nmの範囲の波長を含ん いる。

 低コヒーレンス光源160から出力された低 ヒーレンス光L0は、光ファイバ161を通じて カプラ162に導かれる。光ファイバ161は、た えばシングルモードファイバやPMファイバ(Po larization maintaining fiber;偏波面保持ファイバ) により構成される。

 光カプラ162は、低コヒーレンス光L0を参 光LRと信号光LSとに分割する。なお、光カプ 162は、光を分割する手段(スプリッタ;splitter )、及び、光を重畳する手段(カプラ;coupler)の 方の作用を有するが、ここでは慣用的に「 カプラ」と称する。

 光カプラ162により生成された参照光LRは シングルモードファイバ等からなる光ファ バ163により導光されてそのファイバ端面か 出射される。更に、参照光LRは、コリメータ レンズ171により平行光束とされ、ガラスブロ ック172及び濃度フィルタ173を経由する。

 単一の参照物体(参照ミラー)を具備する 来の光画像計測装置と異なり、この実施形 に係る光画像計測装置1には複数(二つ)の参 ミラー174a、174bが設けられている。

 各参照ミラー174a、174bは、後述の駆動機 (図5を参照)により、それぞれ第1、第2の参照 光LRa、LRbの進行方向(図4に示す両側矢印方向) に移動される。それにより、被検眼Eの眼軸 やワーキングディスタンスなどに応じて、 1、第2の参照光LRa、LRbの光路長を確保できる 。また、各参照ミラー174a、174bを移動させる とにより、被検眼Eの様々な深度位置の計測 が可能になる。

 参照ミラー174aを介する光路を第1の光路 呼び、参照ミラー174bを介する光路を第2の光 路と呼ぶ。参照ミラー174a、174bは、第1の光路 の光路長と第2の光路の光路長とが異なるよ に配置される。すなわち、参照ミラー174a、1 74bは、ビームスプリッタ175に対する距離が互 いに異なるように配置される。たとえば、第 1の光路と第2の光路との光路長差は、角膜と 膜との間の距離(角膜網膜間距離)にほぼ等 くなるように配置される。この角膜網膜間 離としては、たとえば、Gullstrand模型眼から られる眼軸長の値や、多数の被検眼の検査 果を統計的に処理して得られた値(平均値等 )など、角膜と網膜との間の距離の標準値を いることが可能である。なお、角膜網膜間 離は、深度方向(z方向)に沿った距離である 要はなく、深度方向に対して傾斜した方向 沿った距離であってもよい(たとえば信号光L Sの進行方向に沿った距離であってもよい)。

 濃度フィルタ173を透過した参照光LRは、 ームスプリッタ175により第1の参照光LRaと第2 の参照光LRbに分割される。ビームスプリッタ 175は、たとえばハーフミラーにより構成され る。ビームスプリッタ175により生成された第 1の参照光LRaは、(第1の)参照ミラー174aにより 射されてビームスプリッタ175に戻ってくる 他方、ビームスプリッタ175により生成され 第2の参照光LRbは、(第2の)参照ミラー174bに り反射されてビームスプリッタ175に戻って る。ビームスプリッタ175は、それぞれ戻っ きた参照光LRa、LRbを合成する。

 ビームスプリッタ175により生成された参 光LRa、LRbの合成光(これも参照光LRと呼ぶこ にする)は、再び濃度フィルタ173及びガラス ブロック172を経由し、コリメータレンズ171に よって光ファイバ163のファイバ端面に集光さ れ、光ファイバ163を通じて光カプラ162に導か れる。

 なお、ガラスブロック172と濃度フィルタ1 73は、参照光LRと信号光LSの光路長(光学的距 )を合わせるための遅延手段として作用する また、ガラスブロック172と濃度フィルタ173 、参照光LRと信号光LSの分散特性を合わせる ための分散補償手段として作用する。

 また、濃度フィルタ173は、参照光LRの光 を減少させる減光フィルタとして作用する 濃度フィルタ173は、たとえば、回転型のND(Ne utral Density)フィルタにより構成される。濃度 フィルタ173は、図示しない駆動機構によって 回転駆動されて、干渉光LCの生成に寄与する 照光LRの光量を変更する。

 他方、光カプラ162により生成された信号 LSは、シングルモードファイバ等からなる ファイバ164により接続線152の端部まで導光 れる。ここで、光ファイバ164と光ファイバ15 2aは、単一の光ファイバから形成されていて よいし、各々の端面同士を接合するなどし 一体的に形成されていてもよい。

 信号光LSは、光ファイバ152aにより導光さ て眼底カメラユニット1Aに案内される。更 、信号光LSは、レンズ142、走査ユニット141、 ダイクロイックミラー134、撮影レンズ126、リ レーレンズ125、ハーフミラー190、変倍レンズ 124、撮影絞り121、孔開きミラー112の孔部112a 対物レンズ113を経由して被検眼Eに照射され 。なお、信号光LSを被検眼Eに照射させる際 は、バリアフィルタ122、123は事前に光路か 退避される。このとき、ハーフミラー190も 路から退避させてもよい。

 被検眼Eに入射した信号光LSは、被検眼Eの 様々な部位にて反射される。たとえば、信号 光LSは、角膜Ec、水晶体、眼底Efなどにおいて 反射される。このとき、信号光LSは、角膜Ec 眼底Efの前面で反射されるだけでなく、その 深部の屈折率境界において散乱される。たと えば、信号光LSは、角膜Ecの前面だけでなく 角膜Ecの後面や角膜細胞の層の境界などにお いても反射される。また、信号光LSは、眼底E fの前面面(網膜表面)だけでなく、網膜を構成 する細胞層の境界や、網膜と脈絡膜との境界 などにおいても反射される。また、信号光LS 、水晶体の前面だけでなく後面においても 射される。したがって、被検眼Eを経由した 信号光LSは、被検眼Eの様々な部位の前面や後 面の形態を反映する情報と、その深層組織の 屈折率境界における後方散乱の状態を反映す る情報とを含んでいる。

 被検眼Eを経由した信号光LSは、被検眼Eに 向かう信号光LSと同じ経路を逆方向に案内さ て光ファイバ152aの端面に集光される。更に 、この信号光LSは、光ファイバ152aを通じてOCT ユニット150に入射し、光ファイバ164を通じて 光カプラ162に戻ってくる。

 光カプラ162は、被検眼Eを経由して戻って きた信号光LSと、参照ミラー174a、174bにより 射されて戻ってきた参照光LRとを干渉させて 干渉光LCを生成する。干渉光LCは、シングル ードファイバ等からなる光ファイバ165を通 てスペクトロメータ180に導かれる。

 スペクトロメータ(分光計)180は、干渉光LC のスペクトル成分を検出する。スペクトロメ ータ180は、コリメータレンズ181、回折格子182 、結像レンズ183、CCD184を含んで構成される。 回折格子182は、透過型でも反射型でもよい。 また、CCD184に代えて、CMOS等の他の光検出素 (ラインセンサやエリアセンサ)を用いること も可能である。

 スペクトロメータ180に入射した干渉光LC 、コリメータレンズ181により平行光束とさ 、回折格子182によって分光(スペクトル分解) される。分光された干渉光LCは、結像レンズ1 83によってCCD184の撮像面上に結像される。CCD1 84は、分光された干渉光LCの各スペクトル成 を検出して電荷に変換する。CCD184は、この 荷を蓄積して検出信号を生成する。更に、CC D184は、この検出信号を演算制御装置200に送 。スペクトロメータ180(特にCCD184)は、この発 明の「検出手段」の一例である。

 なお、この実施形態ではマイケルソン型 干渉計を採用しているが、たとえばマッハ ェンダー型など任意のタイプの干渉計を適 に採用することが可能である。

〔演算制御装置〕
 演算制御装置200の構成について説明する。 算制御装置200は、CCD184から入力される検出 号を解析して被検眼EのOCT画像を形成する。 OCT画像の形成対象部位としては、眼底Ef、角 Ec、水晶体などがある。OCT画像を形成する めの演算処理は、従来のフーリエドメイン イプの光画像計測装置と同様である。

 また、演算制御装置200は、眼底カメラユ ット1A及びOCTユニット150の各部を制御する

 眼底カメラユニット1Aの制御として、演 制御装置200は、観察光源101や撮影光源103に る照明光の出力制御、エキサイタフィルタ10 5、106やバリアフィルタ122、123の光路上への 入/退避動作の制御、LCD140等の表示装置の動 制御、アライメント光源190aの点灯/消灯の 御、照明絞り110の移動制御(絞り値の制御)、 撮影絞り121の絞り値の制御、変倍レンズ124の 移動制御(倍率の制御)などを行う。更に、演 制御装置200は、走査ユニット141を制御して 号光LSを走査させる。

 また、OCTユニット150の制御として、演算 御装置200は、低コヒーレンス光源160による コヒーレンス光L0の出力制御、各参照ミラ 174a、174bの移動制御、濃度フィルタ173の回転 動作(参照光LRの光量の減少量の変更動作)の 御、CCD184による電荷蓄積時間や電荷蓄積タ ミングや信号送信タイミングの制御などを う。

 演算制御装置200は、従来のコンピュータ 同様に、マイクロプロセッサ、RAM、ROM、ハ ドディスクドライブ、キーボード、マウス ディスプレイ、通信インターフェイスなど 含んで構成される。ハードディスクドライ には、光画像計測装置1を制御するためのコ ンピュータプログラムが記憶されている。ま た、演算制御装置200は、CCD184からの検出信号 に基づいてOCT画像を形成する専用の回路基板 を備えていてもよい。

〔制御系〕
 光画像計測装置1の制御系の構成について図 5を参照しつつ説明する。

 光画像計測装置1には参照ミラー駆動機構 176a、176bが設けられている。参照ミラー駆動 構176aは、参照光LRaの進行方向に沿って参照 ミラー174aを移動させる。参照ミラー駆動機 176bは、参照光LRbの進行方向に沿って参照ミ ー174bを移動させる。

 各参照ミラー駆動機構176a、176bは、アク ュエータと伝達機構とを含んで構成される アクチュエータは、たとえばパルスモータ より構成され、演算制御装置200(主制御部211) からのパルス信号を受けて、そのパルス数に 応じた駆動力を発生する。伝達機構は、たと えばギア等を含んで構成され、アクチュエー タにより発生された駆動力を参照ミラー174a 174bに伝達する。このように、各参照ミラー1 74a、174bは、演算制御装置200の制御の下に動 する。

(制御部)
 光画像計測装置1の制御系は、演算制御装置 200の制御部210を中心に構成される。制御部210 は、たとえば、前述のマイクロプロセッサ、 RAM、ROM、ハードディスクドライブ、通信イン ターフェイス等を含んで構成される。

 制御部210には、主制御部211と記憶部212が けられている。主制御部211は、前述した各 の制御を行う。また、主制御部211は、記憶 212にデータを書き込む処理や、記憶部212か データを読み出す処理を行う。

 また、主制御部211は、各参照ミラー駆動 構176a、176bを制御して、参照ミラー174a、174b を移動させる。なお、主制御部211は、参照ミ ラー駆動機構176a、176bをそれぞれ独立に制御 てもよいし、双方を連動して制御してもよ 。この連動制御は、たとえば参照光LRa、LRb 光路長差が常に等しくされる場合などに適 可能である。連動制御のみを行う場合には 単一の参照ミラー駆動機構によって双方の 照ミラー174a、174bを移動させるように構成 きる。

 記憶部212は、各種のデータを記憶する。 憶部212に記憶されるデータとしては、たと ば、OCT画像の画像データ、眼底画像Ef″の 像データ、被検眼情報などがある。被検眼 報は、患者IDや氏名などの被検者に関する情 報や、左眼/右眼の識別情報などの被検眼に する情報を含む。

 記憶部212には眼球光学情報212aが予め記憶 される。眼球光学情報212aは、眼球光学系に する情報を含んでいる。たとえば、眼球光 情報212aには、眼球光学系の光学情報が含ま る。

 眼球光学系は、角膜、水晶体、硝子体な を含んで構成される。眼球光学情報212aには 、角膜に関する情報として、角膜の前面(表 )及び後面のそれぞれの曲率半径、角膜の厚 、角膜の屈折率などが含まれる。また、眼 光学情報212aには、水晶体に関する情報とし て、水晶体の前面及び後面のそれぞれの曲率 半径、水晶体の厚さ、水晶体の屈折率などの 情報が含まれる。また、眼球光学情報212aに 、硝子体の屈折率など、水晶体に関する情 も含まれる。また、眼球光学情報212aには、 球光学系の構造に関する情報も含まれる。 球光学系の構造に関する情報としては、眼 長、前眼部距離などの距離に関する情報が る。前眼部距離とは、角膜前面と水晶体後 との間の距離を表すものとする。また、眼 光学系の構造に関する情報としては、眼球 学系の構成要素の位置情報や、光学的な特 点(主点、焦点等)の位置情報や、眼球光学 の屈折力情報などが含まれていてもよい。

 眼球光学情報212aに含まれる各種の値は、 標準的な値(標準値)であってもよいし、被検 を実際に検査して得られた値(測定値)であ てもよい。標準値としては、たとえば、グ ストランド(Gullstrand)模型眼の値などを用い ことが可能である。また、複数の被検眼の 査結果に基づいて統計的に算出された値を 準値として用いることも可能である。一方 測定値としては、各被検眼の検査結果を個 に用いることができる。この場合、各検査 果は、被検眼(被検者)の識別情報に関連付け て記憶、管理される。

(画像形成部)
 画像形成部220は、撮像装置10、12からの映像 信号を受けて眼底画像Ef″の画像データを形 する。

 また、画像形成部220は、CCD184からの検出 号に基づいて眼底Efの断層画像の画像デー を形成する。この処理には、従来のフーリ ドメインタイプのOCT技術と同様に、ノイズ 去(ノイズ低減)、フィルタ処理、FFT(Fast Fouri er Transform)などの処理が含まれている。

 画像形成部220は、たとえば、前述のマイ ロプロセッサ、回路基板、通信インターフ イス等を含んで構成される。なお、この明 書では、「画像データ」と、それに基づい 呈示される「画像」とを同一視することが る。

(干渉成分抽出部)
 画像形成部220には干渉成分抽出部221が設け れている。干渉成分抽出部221は、深度位置( z方向の位置)が異なる被検眼Eの複数の部位を 同時に計測するときに動作する。

 被検眼Eの複数部位の同時計測について説 明する。光画像計測装置1は二つの参照ミラ 174a、174bを備えている。これら参照ミラー174 a、174bは、前述のように、所定の光路長差を 成するように配置される。したがって、干 光LCは、この光路長差に対応する距離だけ 度方向に離れた、被検眼Eの二つの部位のそ ぞれの形態を表す情報(干渉成分)を含んで る。よって、CCD184から出力される検出信号 は、これら二つの部位のそれぞれに相当す 信号成分が含まれている。

 たとえば、参照ミラー174a、174がそれぞれ 眼底Ef、角膜Ecに対応する位置に配置されて る場合、つまり光路長差が角膜網膜間距離 ほぼ等しい場合、CCD184から出力される検出 号には、眼底Ef(網膜)に相当する信号成分と 角膜Ecに相当する信号成分とが含まれてい 。

 なお、「参照ミラー174aが眼底Efに対応す 位置に配置されている」とは、光カプラ162 ら参照ミラー174aまでの光学的距離と、光カ プラ162から眼底Efまでの距離とが(ほぼ)等し ことを意味する。参照ミラー174bと角膜Ecに いても同様である。光画像計測装置1は、低 ヒーレンス光L0を用いた干渉光LCを生成する ので、各参照ミラー174a、174bに対応する被検 Eの部位の画像を選択的に形成するように機 能するものである。

 干渉成分抽出部221は、CCD184から出力され 検出信号から二つの信号成分を抽出する。 の処理の例を説明する。検出信号は、眼底E fに相当する信号成分(眼底成分)と、角膜Ecに 当する信号成分(角膜成分)とを含んでいる 眼底成分と角膜成分は、検出信号において 互いに異なる周波数成分(周波数帯)を成して いる。すなわち、検出信号は、眼底成分を構 成する周波数成分と、角膜成分を構成する周 波数成分とを重ね合わせた信号である(その 、ノイズも含まれる)。

 干渉成分抽出部221は、(必要に応じてノイ ズを除去した後、)検出信号に含まれる様々 周波数成分を抽出する。この処理は、たと ば任意の周波数分解処理により行われる。 に、干渉成分抽出部221は、抽出された複数 周波数成分のうちから、眼底成分と角膜成 を選択する。この処理は、たとえば、事前 計測を行って決定した周波数成分を選択す ことにより実行できる。また、眼底成分と 膜成分以外はノイズに起因する周波数成分 あることを考慮し、抽出された複数の周波 成分のうちから、信号強度の強い周波数成 を選択するようにしてもよい。

 眼底成分と角膜成分が抽出されると、画 形成部220は、眼底成分に基づいて眼底Efの 層画像を形成するとともに、角膜成分に基 いて角膜Ecの断層画像を形成する。

(画像処理部)
 画像処理部230は、画像形成部220により形成 れた画像に対して各種の画像処理や解析処 を施す。たとえば、画像処理部230は、画像 輝度補正や分散補正等の各種補正処理など 実行する。

 また、画像処理部230は、画像形成部220に り形成された断層画像の間の画素を補間す 補間処理等を実行することにより、眼底Ef 3次元画像の画像データを形成する。

 なお、3次元画像の画像データとは、3次 座標系により画素の位置が定義された画像 ータを意味する。3次元画像の画像データと ては、3次元的に配列されたボクセルからな る画像データがある。この画像データは、ボ リュームデータ或いはボクセルデータなどと 呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を 表示させる場合、画像処理部230は、このボリ ュームデータに対してレンダリング処理(ボ ュームレンダリングやMIP(Maximum Intensity Proje ction:最大値投影)など)を施して、特定の視線 向から見たときの擬似的な3次元画像の画像 データを形成する。表示部240等の表示デバイ スには、この擬似的な3次元画像が表示され 。

 また、3次元画像の画像データとして、複 数の断層画像のスタックデータを形成するこ とも可能である。スタックデータは、複数の 走査線に沿って得られた複数の断層画像を、 走査線の位置関係に基づいて3次元的に配列 せることで得られる画像データである。す わち、スタックデータは、元々個別の2次元 標系により定義されていた複数の断層画像 、一つの3次元座標系により表現する(つま 一つの3次元空間に埋め込む)ことにより得ら れる画像データである。

 画像処理部230は、たとえば、前述のマイ ロプロセッサ、RAM、ROM、ハードディスクド イブ、回路基板等を含んで構成される。

(解析処理部)
 画像処理部230には解析処理部231が設けられ いる。解析処理部231は、被検眼Eの複数部位 の同時計測により取得された複数の断層画像 を解析することにより、被検眼Eの所定の物 量を求める。また、解析処理部231は、求め れた被検眼Eの物理量に基づいて、信号光LS 走査態様を特定する。

 なお、物理量(physical quantity)とは、一般 、物理系の性質を表現し、その測定法や大 さの単位が規定された量を意味する。物理 の例としては、質量、長さ、体積、圧力、 間、エネルギーなどがある。特にこの実施 態において物理量とは、物体(被検眼E)に固 であり、かつ、客観的に測定可能な量、及 その量を用いて算出できる量を意味する。 の実施形態では、所定の物理量として、被 眼Eの眼内距離、倍率、角膜曲率半径(角膜曲 率)、網膜厚などを取り扱う場合について特 詳しく説明する。

 解析処理部231には、眼内距離演算部232、 率演算部233、走査態様特定部234及び角膜曲 演算部235が設けられている。なお、眼球光 情報212aに含まれている角膜曲率半径の値を 利用する場合や、当該被検眼Eの角膜曲率半 の実測値を利用する場合などには、角膜曲 演算部235を設ける必要はない。

(眼内距離演算部)
 眼内距離演算部232は、被検眼Eの複数の断層 画像のうちの一の断層画像中の位置と他の断 層画像中の位置との間の距離を求める。特に 、この実施形態では、眼内距離演算部232は、 眼底Efの断層画像(眼底断層画像)と角膜Ecの断 層画像(角膜断層画像)を解析して、被検眼Eの 角膜網膜間距離を求める。以下、眼内距離演 算部232が実行する処理の例を説明する。

 なお、眼内距離演算部232は、角膜網膜間 離以外にも、被検眼Eの任意の眼内距離を求 めることが可能である。ここで、眼内距離に は、被検眼Eの内部の二点間の距離、被検眼E 表面の一点と内部の一点との間の距離、及 、被検眼Eの表面の二点間の距離が含まれる ものとする。

 さて、眼内距離演算部232は、まず、眼底 層画像と角膜断層画像とを取得するための 時計測が実行されたときの、参照光LRaと参 光LRbとの光路長差を取得する。この光路長 は、たとえば、二つの参照ミラー174a、174b 位置から取得することができる。

 なお、前述したように、同時計測時には 参照ミラー174a、174bの光路長差は、角膜網 間距離(眼軸長等)の標準値にほぼ等しくなる ように設定することができる。この場合、眼 内距離演算部232により取得される光路長差は 角膜網膜間距離の標準値となる。

 光路長差の他の取得方法として、同時計 時における各参照ミラー174a、174bの位置に づいて光路長差を求めることもできる。各 照ミラー174a、176bの位置は、たとえば、主制 御部211から各参照ミラー駆動機構176a、176bに られたパルス信号のパルス数を基に取得す ことができる。また、各参照ミラー174a、174 bの位置を位置センサで検出するようにして よい。

 参照光LRa、LRbの光路長差を取得した眼内 離演算部232は、この光路長差の値を、眼球 学系の屈折率で除算する。この屈折率とし は、たとえば眼球光学情報212aに記録された 値(標準値、測定値)を用いることが可能であ 。この演算により、光路長差で表現された 学的距離が、空間的な距離に変換される。

 続いて、眼内距離演算部232は、求められ 空間的な距離と、眼底断層画像及び角膜断 画像とに基づいて、被検眼Eの角膜網膜間距 離を求める。この演算処理について以下に説 明する。

 上記の空間的な距離は、眼底断層画像と 膜断層画像との間の距離にほぼ等しい。す わち、上記の空間的な距離は、眼底断層画 が描写されるフレーム中の所定位置(たとえ ばフレームの上端)と、角膜断層画像が描写 れるフレーム中の所定位置(前者と同じ位置) との深度方向における間隔にほぼ等しい。こ の関係を考慮することにより、双方の断層画 像を同じ座標系(特にz座標)で表現することが 可能となる。

 眼内距離演算部232は、眼底断層画像を解 して内境界膜(網膜表面)に相当する画像領 (内境界膜領域)を特定するとともに、角膜断 層画像を解析して角膜表面に相当する画像領 域(角膜表面領域)を特定する。この処理は、 来と同様に、断層画像を構成する画素の画 値(輝度値)に基づく閾値処理やフィルタ処 を行うことにより実行できる。なお、眼底 層画像や角膜断層画像を表示させ、この表 画像上にオペレータが手作業で内境界膜領 や角膜表面領域を指定するようにしてもよ (以下の処理についても同様である)。

 次に、眼内距離演算部232は、たとえば、 境界膜領域中の一点(たとえば視神経乳頭中 心や黄斑中心等の特徴点)を特定する。この 理は、内境界膜領域の形状を解析して特徴 (窪みの中心位置等)を特定することにより実 行できる。

 続いて、眼内距離演算部232は、内境界膜 域中の上記の一点と同じx座標値(及び/又はy 座標値)を有する、角膜表面領域中の一点を 定する。なお、内境界膜領域中の上記一点 照射された信号光LSの軌跡が、眼底カメラユ ニット1Aの光学系の光軸に対して傾斜してい 場合(信号光LSの走査によりこのような場合 ある)、当該軌跡と交差する角膜表面領域中 の一点を特定するようにしてもよい。

 そして、眼内距離演算部232は、双方の断 画像を表現する上記座標系を参照し、内境 膜領域中の上記一点の座標値と、角膜表面 域中の上記一点の座標値とに基づいて、こ ら二点間の距離を演算する。一例として、 内距離演算部232は、これら二点のz座標値の 差を演算することにより、これら二点の間の 距離を求める。なお、二点がz方向に延びる 線上に配置されない場合には、xyz座標系に ける距離を求める一般的な演算式(三つの座 軸のそれぞれの座標値の差の二乗和の平方 )を用いて二点間距離を算出することができ る。以上の処理により、被検眼Eの二つの断 画像から角膜網膜間距離が得られる。取得 れた角膜網膜間距離(眼内距離)は、倍率演算 部233に送られる。

 なお、上記処理例では、内境界膜領域中 一点を特定した後に、角膜表面領域中の一 を特定するようになっているが、これとは のプロセスを実行することも可能である。 とえば、まず、角膜頂点に相当する一点を 膜表面領域中から特定し、それから、この 点に対応する内境界膜領域中の一点を特定 るようにしてもよい。

(倍率演算部)
 倍率演算部233は、眼内距離演算部232により められた角膜網膜間距離に基づいて、被検 Eの眼球光学系の倍率を求める。倍率演算部 233は、この発明の「倍率演算手段」の一例で ある。以下、倍率演算部233が実行する処理の 例を説明する。

 倍率演算部233は、たとえば、記憶部212に 憶された眼球光学情報212aに含まれる眼球光 学系の光学情報と、眼内距離演算部232により 得られた角膜網膜間距離とに基づいて、被検 眼Eの眼球光学系の倍率を求めることができ 。

 眼球光学情報212aには、前述のように、角 膜の前後面のそれぞれの曲率半径、角膜の厚 さ、角膜の屈折率、水晶体の前後面のそれぞ れの曲率半径、水晶体の厚さ、水晶体の屈折 率、硝子体の屈折率、前眼部距離(角膜前面 水晶体後面との間の距離)など、眼球光学系 各種の光学情報が含まれている。

 倍率演算部233は、まず、眼内距離演算部2 32により得られた角膜網膜間距離から前眼部 離の値を減算して、水晶体後面と網膜表面 の間の距離(後眼部距離)算出する。

 次に、倍率演算部233は、算出された後眼 距離と、眼球光学情報212aとに基づいて眼球 モデルを形成する。ここで、眼球光学情報212 aが標準値(Gullstrand模型眼などの値)を含んで ても、少なくとも後眼部距離は当該被検眼E 反映した値である。したがって、形成され 眼球モデルは、当該被検眼Eを反映したもの となる。なお、眼球光学情報212aに多くの測 値が含まれる方が、当該被検眼Eを反映する 合いが高まることは言うまでもない。

 眼球モデルとは、たとえば模型眼のよう 、眼球やその構成部位の形態や性質を表す 連の物理量の集合である。眼球モデルは、 のような物理量の単なる集合(リスト等)で ってもよいし、これら物理量に基づいて眼 を画像化したものであってもよい。

 倍率演算部233は、形成された眼球モデル 基づいて眼球光学系の倍率を求める。求め れた倍率の値は、当該被検眼Eの眼球光学系 の倍率として用いられる。倍率を求める処理 は、たとえば、一般的な光線追跡演算により 、被検眼Eに入射する単位長さの像を眼底Ef( 膜表面)に投影したときの当該像の投影像の さを求め、更に、この投影像の長さと単位 さとの比を演算することにより行われる。 お、光線追跡演算

(走査態様特定部)
 走査態様特定部234は、求められた倍率と上 眼球モデルとに基づいて、被検眼Eの網膜の 所定位置に信号光LSを照射させるような、走 ユニット141による信号光LSの走査態様を特 する。走査態様特定部234は、この発明の「 定手段」の一例である。

 走査態様特定部234が実行する処理の例を 明する。以下の処理例では、視神経乳頭中 を中心とし所定半径を有する円形の軌跡に って信号光LSの照射位置を走査させる場合 ついて特に詳しく説明する。この場合、眼 距離演算部232は、内境界膜領域中の視神経 頭中心に相当する一点と、角膜断層画像中 一点との間の角膜網膜間距離を求めること 望ましい(前述)。

 走査態様特定部234は、たとえば光線追跡 算を行うことにより、信号光LSの目的の走 態様を求める。この光線追跡演算では、た えば、眼球モデルと倍率に基づいて、眼球 デルの網膜における上記円形の軌跡上の各 置について、当該位置に信号光LSが照射され るような、眼球モデルに対する信号光LSの入 軌跡(眼軸や光学系光軸に対する入射角度な ど)が求められる。すなわち、この光線追跡 算は、眼球モデルの網膜の所定位置をター ットとし、このターゲット位置に信号光LSが 照射されるような信号光LSの入射軌跡を逆算 るものである。

 更に、走査態様特定部234は、特定された 査態様を実現するような走査ユニット141の 作態様を求める。この処理では、たとえば 特定された入射軌跡に沿って信号光LSを伝 させるような、走査ユニット141内のガルバ ミラーの向きが求められる。なお、ガルバ ミラーの向きと信号光LSの伝播軌跡との関係 は、予め求められたものを記憶しておいても よい。また、上記と同様の光線追跡演算(眼 カメラユニット1Aの光学系を加味して行う) より、目的の軌跡に沿って信号光LSが伝播す るようなガルバノミラーの向きを逆算するよ うにしてもよい。

(角膜曲率演算部)
 角膜曲率演算部235は、被検眼Eの角膜曲率半 径(又は角膜曲率)を求める。なお、角膜曲率 径と角膜曲率は、それぞれ他方の逆数であ ので、一方が求まれば他方も求まる。角膜 率演算部235は、この発明の「角膜曲率半径 算手段」の一例である。以下、角膜曲率演 部235が実行する処理の例を説明する。

 前述のように、光画像計測装置1は、アラ イメント輝点P1、P2を用いて、被検眼Eに対す 光学系の位置合わせを行うことができる(図 2、図3を参照)。ワーキングディスタンス)が 正であり、かつ、光学系の光軸と被検眼Eの 軸とが一致された状態において、アライメ ト輝点P1、P2を形成する二つのアライメント 光束は、角膜頂点と角膜曲率中心との中間位 置においてそれぞれ結像する。なお、ワーキ ングディスタンスは、角膜頂点と光学系との 間の距離である。

 角膜曲率演算部235は、このようなアライ ントの特徴を利用して角膜曲率半径を求め 。そのために、アライメントが適正な状態 つまり、二つのアライメント輝点P1、P2が重 なった状態で同時計測を行って眼底断層画像 と角膜断層画像を形成する。

 角膜曲率演算部235は、角膜断層画像のフ ーム内における、たとえば角膜表面に相当 る画像の位置(特に角膜頂点に相当する位置 )を求める。なお、眼内距離演算部232により 膜表面領域(角膜頂点に相当する位置)が特定 されている場合には、この特定結果を利用す ることができる。そして、角膜曲率演算部235 は、求められた角膜表面の画像位置の所定位 置(後述)からの変位に基づいて被検眼Eの角膜 曲率半径を演算する。

 角膜曲率演算部235の他の動作例を説明す 。上記と同様に適正なアライメント状態に いて実施された同時計測における参照ミラ 174b(角膜用)の位置を求める。眼内距離演算 232が実行する処理において既に参照ミラー1 74bが取得されている場合には、これを利用す ることができる。そして、角膜曲率演算部235 は、求められた参照ミラー174bの位置の所定 置(後述)からの変位に基づいて被検眼Eの角 曲率半径を演算する。

 角膜曲率演算部235が実行する処理の具体 を説明する。この処理例では、事前に模型 の計測を行い、その結果を利用して角膜曲 半径を求める。模型眼の角膜曲率半径(角膜 前面の曲率半径)を8mmとする。

 事前計測では、まず、眼底カメラユニッ 1Aの光学系を、この模型眼にアライメント る。次に、模型眼の角膜を計測するための 置に参照ミラー174bを配置させ、OCTユニット1 50を動作させて模型眼の角膜の計測を行う。 に、この計測結果に基づいて、模型眼の角 の断層画像を形成する。そして、この断層 像のフレーム内における角膜表面に相当す 画像の位置(基準位置と呼ぶ)を求める。こ 基準位置は、模型眼の角膜曲率半径の値と もに、たとえば記憶部212に記憶される。以 で、事前計測は終了となる。

 実際の計測(眼底Efと角膜Ecの同時計測)で 、前述のように、被検眼Eに対して光学系を アライメントし、眼底Efを計測するための位 に参照ミラー174aを配置させるとともに、角 膜Ecを計測するための位置に参照ミラー174bを 配置させる。そして、OCTユニット150を動作さ せ、眼底Efと角膜Ecの同時計測を行う。更に この計測結果に基づいて、眼底断層画像と 膜断層画像を形成する。

 角膜曲率演算部235は、この角膜断層画像 フレーム内における、角膜表面に相当する 像の位置を求める。更に、角膜曲率演算部2 35は、事前計測で得られた基準位置に対する 求められた角膜表面の画像位置の変位を求 る。そして、角膜曲率演算部235は、この変 の値を2倍し、その積に8mm(模型眼の角膜曲 半径)を加算することにより、被検眼Eの角膜 曲率半径を求める。なお、被検眼Eの屈折力 考慮する場合には、測定値を利用してもよ し、光学系のレンズ位置(変倍レンズ124等の 置)に基づいて求めるようにしてもよい。参 照ミラー174bの位置に基づいて角膜曲率半径 求める処理も同様に実行できる。

(表示部、操作部)
 表示部240は、ディスプレイを含んで構成さ る。操作部250は、キーボードやマウス等の 力デバイスや操作デバイスを含んで構成さ る。又、操作部250には、光画像計測装置1の 筐体や外部に設けられた各種のボタンやキー が含まれていてもよい。

 なお、表示部240と操作部250は、それぞれ 別のデバイスとして構成される必要はない たとえばタッチパネル方式のLCDのように、 示部240と操作部250とが一体化されたデバイ を用いることも可能である。

〔信号光の走査及びOCT画像について〕
 ここで、信号光LSの走査及びOCT画像につい 説明しておく。

 光画像計測装置1による信号光LSの走査態 としては、たとえば、水平スキャン、垂直 キャン、十字スキャン、放射スキャン、円 キャン、同心円スキャン、螺旋スキャンな がある。これらの走査態様は、眼底の観察 位、解析対象(網膜厚など)、走査に要する 間、走査の精密さなどを考慮して適宜に選 的に使用される。

 水平スキャンは、信号光LSを水平方向(x方 向)に走査させるものである。水平スキャン は、垂直方向(y方向)に配列された複数の水 方向に延びる走査線に沿って信号光LSを走査 させる態様も含まれる。この態様においては 、走査線の間隔を任意に設定することが可能 である。走査線の間隔を十分に狭くすること により、前述の3次元画像を形成することが きる(3次元スキャン)。垂直スキャンについ も同様である。

 十字スキャンは、互いに直交する2本の直 線状の軌跡(直線軌跡)からなる十字型の軌跡 沿って信号光LSを走査するものである。放 スキャンは、所定の角度を介して配列され 複数の直線軌跡からなる放射状の軌跡に沿 て信号光LSを走査するものである。なお、十 字スキャンは放射スキャンの一例である。

 円スキャンは、円形状の軌跡に沿って信 光LSを走査させるものである。同心円スキ ンは、所定の中心位置の周りに同心円状に 列された複数の円形状の軌跡に沿って信号 LSを走査させるものである。円スキャンは同 心円スキャンの特殊例と考えられる。螺旋ス キャンは、螺旋状の軌跡に沿って信号光LSを 査するものである。

 走査ユニット141は、前述のような構成に り、信号光LSをx方向及びy方向にそれぞれ独 立に走査できるので、xy面上の任意の軌跡に って信号光LSを走査することが可能である それにより、上記のような各種の走査態様 実現できる。

 上記のような態様で信号光LSを走査する とにより、走査線(走査軌跡)に沿った深度方 向の断層画像を形成することができる。また 、特に走査線の間隔が狭い場合には、前述の 3次元画像を形成することができる。

[動作]
 光画像計測装置1の動作について説明する。 図6に示すフローチャートは、光画像計測装 1の動作の一例を表す。なお、眼球光学情報2 12aは既に記憶部212に記憶されているものとす る。また、前述の事前計測における模型眼の 角膜曲率半径の値と、角膜表面の画像の基準 位置とは、既に記憶部212に記憶されているも のとする。

 まず、被検眼Eに対する光学系のアライメ ントを行う(S1)。アライメントは、図3に示す うに、アライメント輝点P1、P2を被検眼Eに 影してその状態を観察しつつ眼底カメラユ ット1Aの位置を調整することにより行う。

 次に、参照ミラー174aを眼底Efに対応する 置に配置させるとともに、参照ミラー174bを 角膜Ecに対応する位置に配置させる(S2)。前述 のように、参照ミラー174a、174bは、角膜網膜 距離の標準値に等しい光路長差を参照光LRa LRbに与えるような位置に配置される。特に 参照ミラー174aは、眼底Efの所定部位(たとえ ば網膜表面)の画像が明瞭になる位置に配置 れ、参照ミラー174bは、角膜Ecの所定部位(た えば角膜表面)の画像が明瞭になる位置に配 置される。参照ミラー174a、174bの移動動作は 操作部250を用いて手作業で行うようにして よいし、検出信号やそれを加工した信号に づいて主制御部211が制御するようにしても い。

 参照ミラー174a、174bが目的の位置に配置 れたら、主制御部211は、低コヒーレンス光 160、走査ユニット141、CCD184等を制御し、眼 Efと角膜Ecの同時計測を実行させる(S3)。この 同時計測は、たとえば操作部250を用いた開始 要求に対応して開始される。また、参照ミラ ー174a、174bの移動動作の完了に対応して自動 に同時計測を開始するようにしてもよい。 お、同時計測の際には、必要に応じて、内 固視標により被検眼Eを固視させる。

 干渉成分抽出部221は、検出信号から眼底 分と角膜成分を抽出する(S4)。画像形成部220 は、この眼底成分に基づいて眼底Efの断層画 を形成するとともに、この角膜成分に基づ て角膜Ecの断層画像を形成する(S5)。これら 層画像を形成する順序は任意である。また 双方の画像の形成処理を並行して行っても い。

 画像形成部220は、眼底断層画像と角膜断 画像を制御部210に送る。主制御部211は、眼 断層画像と角膜断層画像を画像処理部230に る。また、主制御部211は、記憶部212から読 出して眼球光学情報212aを画像処理部230に送 る。また、記憶部212は、画像処理部230により 参照される各種情報(前述)を記憶部212から読 出して画像処理部230に送る。

 また、主制御部211は、眼底断層画像と角 断層画像を表示部240に表示させてもよい。 のときの表示態様の例を図7に示す。主制御 部211は、眼底断層画像Gfと角膜断層画像Gcを 示部240の表示画面(の一部領域)240Aに表示さ る。

 この標示態様では、眼底断層画像Gfと角 断層画像Gcは深度方向に並べて配置される。 このとき、断層画像Gf、Gcを同じ倍率で表示 せてもよいし、異なる倍率で表示させても い。また、断層画像Gf、Gcの表示間隔は、実 の間隔(たとえば角膜網膜間距離の標準値) 合わせてもよいし、そうでなくてもよい。

 断層画像Gf、Gcを取得するための同時計測 は、視神経乳頭の画像を取得するための固視 方向に被検眼Eを固視させて実施される。眼 断層画像Gfは、眼底Efの視神経乳頭Dの近傍を 描写している。符号Msは、網膜表面(内境界膜 )に相当する画像領域を表している(内境界膜 域)。符号Cfは、角膜表面(角膜前面)に相当 る画像領域を表している(角膜表面領域)。符 号Cbは、角膜後面に相当する画像領域を表し いる。

 眼内距離演算部232は、眼底断層画像と角 断層画像を解析し、被検眼Eの角膜網膜間距 離を求める(S6)。図7に示す断層画像Gf、Gcにお いては、眼内距離演算部232は、角膜表面領域 Cf上の点Pc(角膜頂点の位置など)と、内境界膜 領域Ms上の点Pmとの間の距離Distを算出する。

 次に、倍率演算部233は、ステップ6で求め られた角膜網膜間距離と眼球光学情報212aに づいて、被検眼Eの眼球光学系の倍率を求め (S7)。この処理は、前述のように眼球モデル を用いて行われる。

 続いて、走査態様特定部234は、ステップ7 で求められた倍率と上記眼球モデルとに基づ いて、被検眼Eの網膜の所定位置に信号光LSを 照射させるような信号光LSの走査態様を特定 る(S8)。この処理は、前述のように光線追跡 演算を用いて行われる。また、図7に示す断 画像Gf、Gcが取得された場合、走査態様特定 234は、たとえば、視神経乳頭Dの中心位置を 中心とし、かつ所定半径を有する円形の軌跡 に沿って信号光LSの照射位置を走査させるた の走査態様を特定する。特定された走査態 は、制御部210に送られる。

 主制御部211は、低コヒーレンス光源160、 査ユニット141、CCD184等を制御することによ 、次のような本計測を実行させる(S9)。すな わち、新たな低コヒーレンス光を出力させる とともに、この新たな低コヒーレンス光に基 づく新たな信号光を、ステップ8で特定され 走査態様に基づいて走査させつつ、第1の光 を経由した新たな参照光と、網膜を経由し 新たな信号光とを干渉させて新たな干渉光 生成させる。

 CCD184は、この新たな干渉光を検出して新 な検出信号を出力する。更に、画像形成部2 20は、この新たな検出信号に基づいて、網膜( 眼底Ef)の新たな断層画像を形成する(S10)。こ 新たな断層画像は、たとえば、眼底Efの視 経乳頭中心を中心とし、かつ所定半径を有 る円形の軌跡に沿った断層画像である。ス ップ10で形成された眼底Efの断層画像は、た えば記憶部212に記憶される。

 ところで、緑内障等の眼科疾患の診断に いては、網膜厚を評価対象とすることがあ 。その場合、視神経乳頭中心を中心とする 径m1、m2、m3の3つの円形の軌跡に沿って計測 を行うことがある。半径m1、m2、m3は、それぞ れ、たとえば1.2mm、1.6mm、2.0mmに設定される。

 このような同心円状の軌跡を適用する場 、ステップ8において当該同心円状の軌跡を 設定し、これに基づいて新たな信号光を走査 する。そして、画像形成部220は、これら三つ の円形の軌跡のそれぞれに沿った断層画像を 形成し、更に、画像処理部230は、各断層画像 に基づいて網膜厚を計測する。

 網膜厚の正常範囲の情報を予め記憶して る場合、画像処理部230は、計測された網膜 が正常範囲に含まれるか否かを判定する。 制御部211は、この判定結果を表示部240に表 させる。なお、このような網膜厚に関する 理については、たとえば特願2007-45831号に記 載されている。以上で、図7に示す動作の説 を終了する。

 図8に示すフローチャートを参照し、光画 像計測装置1の動作例を説明する。図6に示す 作例は、角膜曲率半径の標準値を被検眼Eの 角膜曲率半径とみなして眼球光学系の倍率を 求めている。一方、図8に示す動作例では、 検眼Eの角膜曲率半径を求めて倍率の演算を う。

 まず、図6の動作例と同様に、被検眼Eに する光学系のアライメントを行い(S21)、参照 ミラー174a、174bを移動し(S22)、眼底Efと角膜Ec 同時計測を実行する(S23)。干渉成分抽出部22 1は、検出信号から眼底成分と角膜成分を抽 する(S24)。画像形成部220は、抽出された二つ の信号成分に基づいて眼底断層画像と角膜断 層画像を形成する(S25)。

 眼内距離演算部232は、眼底断層画像と角 断層画像を解析し、被検眼Eの角膜網膜間距 離を求める(S26)。

 また、角膜曲率演算部235は、角膜断層画 に基づいて、被検眼Eの角膜曲率半径を求め る(S27)。前述のように、角膜断層画像の代わ に、同時計測時の参照ミラー174bの位置、つ まり第2の参照光LRbの光路長に基づいて角膜 率半径を求めてもよい。

 ステップ26の処理とステップ27の処理を実 行する順序は任意である。また、これらの処 理を並行して実行することも可能である。

 倍率演算部233は、ステップ26で求められ 角膜網膜間距離と、ステップ27で求められた 角膜曲率半径と、眼球光学情報212aとに基づ て、被検眼Eの眼球光学系の倍率を求める(S28 )。

 走査態様特定部234は、ステップ28で求めら た倍率と眼球モデルとに基づいて、被検眼E 網膜の所定位置に信号光LSを照射させるよ な信号光LSの走査態様を特定する(S29)。
 主制御部211は、ステップ29で特定された走 態様に基づいて信号光を走査させつつ、本 測を実行させる(S30)。画像形成部220は、本計 測で得られた検出信号に基づいて、網膜(眼 Ef)の新たな断層画像を形成する(S31)。以上で 、図8に示す動作の説明を終了する。

[作用・効果]
 以上のような光画像計測装置1の作用及び効 果について説明する。

 光画像計測装置1は、次のように作用する 。まず、光画像計測装置1は、低コヒーレン 光L0を信号光LSと参照光LRとに分割し、参照 LRの光路を光路長の異なる二つの光路に分割 することで参照光LRを二つの参照光LRa、LRbに 割する。更に、光画像計測装置1は、これら 二つの光路をそれぞれ経由した参照光LRa、LRb と被検眼Eを経由した信号光LSとを干渉させて 、被検眼Eの二つの深度位置(眼底Ef、角膜Ec) それぞれにおける形態を反映した干渉光LCを 生成し、この干渉光LCを検出して検出信号を 成する。そして、光画像計測装置1は、この 検出信号に基づいて眼底断層画像と角膜断層 画像を形成し、これら断層画像を解析して被 検眼Eの所定の物理量(角膜網膜間距離)を求め る。

 このように作用する光画像計測装置1によ れば、被検眼Eの二つの部位(眼底Ef、角膜Ec) 計測を同時に実行することができるので、 れら二つの部位の断層画像に描写された被 眼Eの物理量を高い確度で計測することが可 である。

 また、光画像計測装置1は、被検眼Eの所 の物理量として求められた角膜網膜間距離 基づいて、被検眼Eの眼球光学系の倍率を求 るように作用する。この処理においては、 膜曲率半径の標準値や、被検眼Eの角膜曲率 半径の測定値が使用される。また、この処理 は、角膜網膜間距離や眼球光学情報212aに基 いて眼球モデルを形成し、この眼球モデル 基づいて実行される。

 また、光画像計測装置1は、被検眼Eに対 る信号光LSの照射位置を走査する走査ユニッ ト141を備えている。更に、光画像計測装置1 、上記の眼球モデルと倍率に基づいて、網 の所定位置に信号光を照射させるような信 光の走査態様を特定し、この走査態様に応 て信号光を走査して新たな眼底断層画像を 成するように作用する。

 このような光画像計測装置1によれば、先 に取得された眼底断層画像と角膜断層画像に 基づいて被検眼Eの眼球光学系の倍率を推定 、この推定値や眼球モデルに基づいて網膜 所定位置の断層画像を取得することが可能 ある。

 更に、光画像計測装置1は、この新たな断 層画像に基づいて被検眼Eの網膜厚を求める とが可能である。それにより、網膜の所定 置における網膜厚を測定でき、たとえば網 厚の評価を高い確度で行うことが可能とな 。

 すなわち、従来では、眼球光学系の倍率 の影響により、網膜の所定位置(たとえば、 視神経乳頭中心を中心とし所定半径を有する 円形の軌跡)に信号光を正確に照射すること 困難であった。一方、この実施形態によれ 、取得された倍率や眼球モデルに基づいて 信号光を目的の位置に高い確度で照射する とができ、それにより、網膜厚を高い確度 評価することが可能である。

[変形例]
 以上に説明した構成は、この発明を好適に 施するための一例に過ぎない。この発明を 施しようとする者は、この発明の要旨の範 内における任意の変形を適宜に施すことが 能である。

 所定の物理量は、角膜網膜間距離に限定 れるものではない。たとえば、病変部のサ ズ(面積、体積等)などを所定の物理量とし 求めることが可能である。

 上記の実施形態では、被検眼Eの複数の断 層画像を解析することにより、被検眼Eの所 の物理量を求めているが、断層画像の代わ に、CCD184からの検出信号や、この検出信号 加工して得られる信号を解析することによ 所定の物理量を求めることも可能である。

 たとえば、検出信号から抽出された眼底 分と角膜成分をそれぞれFFTして得られた信 に基づいて網膜表面と角膜前面の各位置(各 座標値)を特定することにより、角膜網膜間 離を求めることが可能である。検出信号か 断層画像を形成する処理が変わらない限り 検出信号と断層画像とを同一視できる。よ て、この発明にいう「複数の断層画像を解 して被測定物体の所定の物理量を求める」 は、当該変形例で説明した処理も含まれる のとする。

 上記実施形態では、参照光LRの光路を二 に分割し、被検眼Eの二つの部位を同時に計 しているが、参照光の光路を三つ以上に分 することにより被測定物体の三つ以上の部 を同時に計測するように構成することも可 である。

 参照光LRの光路を三つに分割する光学系 構成例を図9に示す。なお、図9は、図4に示 構成の一部を置換するものであり、この一 とは、参照光LRの光路の濃度フィルタ173以降 の構成である。

 この構成例には、三つの参照ミラー174a、 174b、174cが設けられている。参照ミラー174a、 174b、174cは、参照ミラー駆動機構により、そ ぞれ図9に示す両側矢印方向に沿って移動さ れる。

 濃度フィルタ173を透過した参照光LRは、 ームスプリッタ175aにより二分割される。ビ ムスプリッタ175aによる反射光(参照光LRb)は 参照ミラー174bに導かれる。

 ビームスプリッタ175aを透過した光は、ビ ームスプリッタ175bにより二分割される。ビ ムスプリッタ175bによる反射光(参照光LRc)は 参照ミラー174cに導かれる。ビームスプリッ 175bを透過した光(参照光LRa)は、参照ミラー1 74aに導かれる。

 参照光LRa、LRb、LRcは、それぞれ、参照ミ ー174a、174b、174cにより反射される。そして これら参照光LRa、LRb、LRcは、ビームスプリ タ175a、175bにより合成される(同じく参照光L Rと呼ぶ)。この参照光LRは、光カプラ162(図4を 参照)により信号光LSと重畳されて干渉光LCを 成する。この干渉光LCは、これら三つの光 の光路長に対応する被検眼Eの三つの部位の 態を表す情報を含んでいる。

 スペクトロメータ180は、この干渉光LCの ペクトル成分を検出して検出信号を生成す 。画像形成部220は、この検出信号から三つ 信号成分を抽出し、各信号成分に基づいて 検眼Eの三つの部位の断層画像を形成する。 析処理部231は、このような同時計測に基づ 三つの断層画像(のうちの少なくとも二つ) 解析して所定の物理量を求める。参照光LRを 四つ以上に分割する場合についても同様であ る。

 参照光を分割するための構成は、上記実 形態のもの、つまりビームスプリッタを用 たものには限定されない。たとえば、参照 の一部分の光路長を延長する光学部材を用 て参照光を分割することが可能である。

 このような構成の例を図10に示す。光学 材177は、OCTユニット150の内部の雰囲気(空気 )とは異なる屈折率を有する透光材料により 形成されている。光学部材177は、たとえばガ ラスブロックにより構成される。光学部材177 は、参照光LRの光路の一部、つまり参照光LR ビーム断面の一部領域のみを透過させる位 に配置される。

 光学部材177を透過する参照光LRの一部(参 光LR1)は、光学部材177の影響により、光学部 材177を透過しない一部(参照光LR2)よりも光路 が長くなる。

 このような構成によっても、被検眼Eの複 数(二つ)の部位を同時計測することが可能で る。

 なお、光路長の延長距離の異なる複数の 学部材を設けることにより、被検眼Eの三つ 以上の部位を同時計測することも可能である 。また、光路長の延長距離の異なる複数の光 学部材を選択的に光路上に配置させることに より、被検眼Eの様々な深度位置を選択的に 時計測することが可能である。また、光路 の延長距離を連続的に変更可能な光学部材 設けることも可能である。

 上記の実施形態においては、参照ミラー1 74の位置を変更して信号光LSの光路と参照光LR の光路との光路長差を変更しているが、光路 長差を変更する手法はこれに限定されるもの ではない。たとえば、被検眼Eに対して眼底 メラユニット1AやOCTユニット150を移動させて 信号光LSの光路長を変更することにより光路 差を変更することができる。また、特に被 定物体が生体部位でない場合などには、被 定物体を深度方向に移動させることにより 路長差を変更することも有効である。

 上記の実施形態におけるコンピュータプ グラムを、コンピュータのドライブ装置に って読み取り可能な任意の記録媒体に記憶 せることができる。この記録媒体としては たとえば、光ディスク、光磁気ディスク(CD- ROM/DVD-RAM/DVD-ROM/MO等)、磁気記憶媒体(ハードデ ィスク/フロッピー(登録商標)ディスク/ZIP等) どを用いることが可能である。また、ハー ディスクドライブやメモリ等の記憶装置に 憶させることも可能である。更に、インタ ネットやLAN等のネットワークを通じてこの ログラムを送受信することも可能である。