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Title:
PHYSICAL QUANTITY SENSOR
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2009/099124
Kind Code:
A1
Abstract:
This aims to provide a physical quantity sensor, which can reduce the influences of a strain to be propagated to the individual parts connected with anchor portions, even if a supporting substrate is deformed, and which can extract wiring layers properly to the outside of an element portion along the surface from the portions connected with the anchor portions. In an SOI layer, there are formed an element portion (13), which is constituted of a moving portion (6) positioned over a supporting substrate (3) having an insulating layer removed therefrom and detecting portions (61 and 62) for detecting the displacement of the moving portion (6), and anchor portions (21 to 24), which are formed over the insulating layer for supporting the element portion (13) on the supporting substrate (3). The anchor portions (21 to 24) are positioned inside of a region (C) surrounding the outermost periphery of the moving portion (6). Wiring layers (70 to 72), which are electrically connected with the detecting portions, are extracted from the portions connected with the anchor portions (21 to 24), to the outside of the element portion (13) through slits (40, 43, 44, 54 and 55), which are formed by removing the SOI layer formed at the element portion (13).

Inventors:
YAZAWA HISAYUKI (JP)
Application Number:
PCT/JP2009/051934
Publication Date:
August 13, 2009
Filing Date:
February 05, 2009
Export Citation:
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Assignee:
ALPS ELECTRIC CO LTD (JP)
YAZAWA HISAYUKI (JP)
International Classes:
G01P15/125; G01P15/18; H01L29/84
Foreign References:
JP2003166999A2003-06-13
JP2007078439A2007-03-29
Attorney, Agent or Firm:
NOZAKI, Teruo et al. (1-21-11 Higashi-IkebukuroToshima-k, Tokyo 13, JP)
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Claims:
 支持基板と絶縁層とSOI層より成るSOI基板を用いて形成された物理量センサにおいて、
 前記SOI層には、前記絶縁層が除去された前記支持基板の上方に位置する可動部及び前記可動部の変位量を検出するための検出部にて構成される素子部と、前記素子部を支持するための絶縁層上に形成されたアンカ部とが形成されており、
 前記アンカ部は前記可動部の最外周を囲んだ領域よりも内側に位置し、
 前記検出部と電気的に接続される配線層が、前記アンカ部との接続位置から前記素子部に形成された前記SOI層が除去されて成るスリットを通って前記素子部の外側に引き出されていることを特徴とする物理量センサ。
 前記スリット内には、前記絶縁層を介して前記SOI層が残されてなるリブ部が前記アンカ部から前記素子部の外側に延出して形成されており、前記配線層は前記アンカ部との接続位置から前記リブ部の表面に形成されている請求項1記載の物理量センサ。
 前記アンカ部は、前記可動部の略中央位置に集約されている請求項1又は2に記載の物理量センサ。
 前記検出部は、平面的に交互に並設された櫛歯状の可動電極と固定電極とで構成され、前記可動電極は、前記絶縁層が除去された前記支持基板の上方に位置して前記可動部と一体化しており、前記固定電極は前記可動部から分離した位置に設けられており、前記アンカ部は前記可動部を支持するアンカ部と、前記固定電極を支持するアンカ部を備える請求項1ないし3のいずれかに記載の物理量センサ。
 前記可動部には、前記可動部の最外周を囲んだ領域よりも内側に、前記固定電極を設けるための空間が設けられており、前記空間内に前記固定電極を支持するアンカ部が設けられ、前記可動部の最外周面から前記空間に連続する前記スリットが設けられ、前記配線層は、前記空間及び前記スリットを通って前記素子部の外側に引き出されている請求項4記載の物理量センサ。
Description:
物理量センサ

 本発明は、特に、SOI基板を用いて形成し 加速度センサ等の物理量センサに関する。

 SOI基板を用いて形成された例えば加速度 ンサは、支持基板の上方に位置するSOI層(活 性層)に、加速度を受けて変位する可動部、 び可動部の変位を測定するための検出部等 設けられる。

 例えば下記特許文献に示すように、可動部 を支持するアンカ部は、可動部の外周より 外側に位置しており、このような構成とす ことで、多層配線や貫通配線を利用せずと 、検出部と電気的に接続される配線層をア カ部との接続位置から外部回路との接続位 まで引き出すことが簡単に出来る。

特開平11-304834号公報

特開2001-133479号公報

特開2006-266873号公報

 しかしながら、従来のように、支持基板 固定支持されるアンカ部を可動部の外側に 置すると、パッケージ応力の影響を受けて 持基板が変形したとき、アンカ部に接続し いる可動部や検出部等の各素子部分に歪み 伝播されてしまい、検出部を構成する固定 極と可動電極との相対位置が変化して検出 度が低下するといった問題があった。

 また製造費を低減等すべく、多層配線や 通配線を利用せずとも、配線層を簡単にア カ部との接続位置から外部に引き出す必要 あった。

 そこで本発明は上記従来の課題を解決す ためのものであり、特に、支持基板が変形 てもアンカ部に接続している各素子部分に 播される歪みの影響を小さくでき、また、 線層を、アンカ部との接続位置から表面を って適切に素子部の外側に引き出すことが 来る物理量センサを提供することを目的と ている。

本発明は、支持基板と絶縁層とSOI層より成る SOI基板を用いて形成された物理量センサにお いて、
 前記SOI層には、前記絶縁層が除去された前 支持基板の上方に位置する可動部及び前記 動部の変位量を検出するための検出部にて 成される素子部と、前記素子部を支持する めの絶縁層上に形成されたアンカ部とが形 されており、
 前記アンカ部は前記可動部の最外周を囲ん 領域よりも内側に位置し、
 前記検出部と電気的に接続される配線層が 前記アンカ部との接続位置から前記素子部 形成された前記SOI層が除去されて成るスリ トを通って前記素子部の外側に引き出され いることを特徴とするものである。

 これにより、支持基板が変形してもアン 部に接続している各素子部分に伝播される みの影響を小さくでき、検出精度を向上さ ることができる。しかもアンカ部を可動部 最外周を囲む領域の内側に位置させても配 層を、アンカ部との接続位置から表面を伝 て適切に素子部の外側に引き出すことが出 る。

 本発明では、前記スリット内には、前記 縁層を介して前記SOI層が残されてなるリブ が前記アンカ部から前記素子部の外側に延 して形成されており、前記配線層は前記ア カ部との接続位置から前記リブ部の表面に 成されていることが好ましい。これにより 配線層をアンカ部表面と同じSOI層の表面に 成できるので配線層を適切且つ容易に接続 良等起こすことなく形成できる。またリブ の下には絶縁層が残されて支持基板に固定 持されているので、リブ部を支持基板にし かり固定でき電気的安定性を向上させるこ ができる。

 また、前記アンカ部は、前記可動部の略 央位置に集約されていることがより好まし 。

 また、前記検出部は、平面的に交互に並 された櫛歯状の可動電極と固定電極とで構 され、前記可動電極は、前記絶縁層が除去 れた前記支持基板の上方に位置して前記可 部と一体化しており、前記固定電極は前記 動部から分離した位置に設けられており、 記アンカ部は前記可動部を支持するアンカ と、前記固定電極を支持するアンカ部を備 る構成に対して、本発明を効果的に適用で る。

 また櫛歯状電極構造において、前記可動 には、前記可動部の最外周を囲んだ領域よ も内側に、前記固定電極を設けるための空 が設けられており、前記空間内に前記固定 極を支持するアンカ部が設けられ、前記可 部の最外周面から前記空間に連続する前記 リットが設けられ、前記配線層は、前記空 及び前記スリットを通って前記素子部の外 に引き出されていることが好ましい。

 本発明の物理量センサによれば、支持基 が変形してもアンカ部に接続している各素 部分に伝播される歪みの影響を小さくでき 検出精度を向上させることができる。しか アンカ部を可動部の最外周を囲む領域の内 に位置させても配線層を、アンカ部との接 位置から表面を伝って適切に素子部の外側 引き出すことが出来る。

 図1(a)は本実施形態における加速度センサ の平面図、図1(b)は、矢印A方向から見たビー 部の側面図、図1(c)は、高さ方向に加速度が 作用して変位したビーム部及び可動部の側面 図、図2は、ばね部、ビーム部、及び腕部の 部を示す拡大斜視図、図3は図1(a)に示すB-B線 に沿って高さ方向に切断した切断面を矢印方 向から見た部分断面図、である。

 加速度センサ1は、図3に示すようにSOI(Silicon  on Insulator)基板2を用いて形成される。SOI基 2は、シリコン基板で形成された支持基板3 、シリコン基板で形成されたSOI層(活性層)5 、支持基板3とSOI層5の間に位置する例えばSiO 2 で形成された酸化絶縁層4の積層構造である

 図1(a)に示すようにSOI層5には素子部13が形 成される。素子部13には、可動部(錘)6と、可 部6の変位量を検出するための検出部61,62、 び支持部8~11が形成される。可動部6は支持 8~11を介してアンカ部21,23に支持されている 可動部6や検出部61,62の下には図3に示す酸化 縁層4が形成されておらず支持基板3上に浮 ているがアンカ部21~24は支持基板3上に酸化 縁層4を介して固定支持されている。

 図1(a)に示す形態では、可動部6は、その 外周面を囲んだ領域C(図1(a)では点線で示す) 矩形状で形成される。可動部6の左右方向(X1 方向、X2方向)の最外側面6a,6bの幅中心の位置 ら可動部6の中心O方向に向けて窪む凹部7が 成されている。

 そして凹部7の可動部6の中心O寄りの位置 第1アンカ部21と第2アンカ部23が設けられる

 第1アンカ部21からはX2方向に延びる2本の 部25,26が設けられる。一方、第2アンカ部23 らはX1方向に延びる2本の腕部27,28が設けられ る。図1(a)に示すように、第1アンカ部21から びる腕部25,26の間にはY1-Y2方向に所定間隔の リット40が形成されている。また同様に、 2アンカ部23から延びる腕部27,28の間にはY1-Y2 向に所定間隔のスリット41が形成されてい 。

 これら腕部25~28は、支持基板3に酸化絶縁 4を介して支持されていてもよいし、酸化絶 縁層4が除去されて支持基板3上に浮いていて よいが、腕部25~28は支持基板3上から浮いて るほうが、例えば支持基板3が歪んだときに その歪みの影響を小さくでき好適である。

 図1(a)、図2に示すように、各腕部25~28のア ンカ部21,23側と反対側の端部には腕部25~28の 寸法W2よりも細い幅寸法W1を有するアンカ側 ね部29が直線的に連設されている。腕部25~28 はアンカ側ばね部29よりも高剛性である。

 図2に示すようにアンカ側ばね部29は、そ 高さ寸法(厚さ寸法)H1が、幅寸法W1に比べて い形状である。この実施形態では、アンカ ばね部29の高さ寸法H1は腕部25~28の高さ寸法H 2と同じである。また、長さ寸法L2は幅寸法W1 りも大きい。アンカ側ばね部29の幅寸法W1は 0.8~2.0μm、長さ寸法L2は、50~100μm、高さ寸法H1 10~30μm程度である。

 図1(a)に示すように第1アンカ部21に設けら れた腕部25には、アンカ側ばね部29を介して 可動部6の外周面6bの外側にて、Y2方向に平行 に延びる第1ビーム部30が連設されている。ま た図1(a)に示すように、第1アンカ部21に設け れた腕部26には、アンカ側ばね部29を介して 可動部6の外周面6bの外側にて、Y1方向に平 に延びる第2ビーム部31が連設されている。 た図1(a)に示すように第2アンカ部23に設けら た腕部27には、アンカ側ばね部29を介して、 可動部6の外周面6aの外側にて、Y2方向に平行 延びる第3ビーム部32が連設されている。さ に図1(a)に示すように、第2アンカ部23に設け られた腕部28には、アンカ側ばね部29を介し 、可動部6の外周面6aの外側にて、Y1方向に平 行に延びる第4ビーム部33が連設されている。 図1(a)に示すように、各ビーム部30~33の後端部 30b~33b側がアンカ側ばね部29に接続される。

 図1(a)、図2に示すように各ビーム部30~33の 幅寸法W3は、アンカ側ばね部29の幅寸法W1より も大きい。よって各ビーム部30~33は、アンカ ばね部29よりも高剛性である。

 各ビーム部30~33の高さ寸法(厚さ寸法)は、 アンカ側ばね部29の高さ寸法H1、腕部の高さ 法H2と略同一であり、各ビーム部30~33は、支 基板3上で浮いている。この実施形態では、 図1(a)に示すように、各ビーム部30~33の長さ寸 法L1は、各ビーム部30~33の先端部30a~33aが、可 部6の各角とX1-X2方向にてほぼ対向する長さ 形成されている。そして、各ビーム部30~33 先端部30a~33aと可動部6の四つ角近傍間が直線 的に延びる可動部側ばね部34を介して連結さ ている。可動部側ばね部34の幅寸法や高さ 法(厚さ寸法)は、アンカ側ばね部29の幅寸法W 1及び高さ寸法H1とほぼ同じである。ビーム部 30~33の幅寸法W3は10~30μm、長さ寸法L1は、300~600 μm、高さ寸法は10~30μm程度である。

 このように可動部6と第1アンカ部21及び第 2アンカ部23の間は、腕部25~28、アンカ側ばね 29、ビーム部30~33及び可動部側ばね部34より る支持部8~11により連結されている。

 アンカ側ばね部29及び可動部側ばね部34は 、いずれも高さ方向(厚み方向)に撓み難い。 って、図1(b)のように、高さ方向(Z方向)に加 速度が作用していない初期状態では、各ビー ム部30~33はY1-Y2方向に平行であり高さ方向に 位していない。

 図1(b)に示す初期状態から例えば加速度に 伴う力(慣性力)が可動部6に対して下方向に作 用すると、可動部側ばね部34及びアンカ側ば 部29は捩れ、図1(c)に示すように、各ビーム 30~33の後端部30b~33b側を回転中心として、各 ーム部30~33の先端部30a~33bが同じ変位量にて 方向に向けて回動変位する。すなわちビー 部30~33の先端部30a~33aのほうが、後端部30b~33b よりも下方向に変位する。ビーム部30~33の剛 は高いため、ビーム部30~33自体が例えば曲 ったり捩れたりはほとんどせず、ビーム部30 ~33は直方体形状を保ちながら、ばね部29,34の れにより高さ方向に変位する。このように ね部29,34の捩れ、及び、各ビーム部30~33の先 端部30a~33aの高さ方向への変位により、可動 6が、支持基板3の上面3a(図3参照)と平行な状 を維持しつつ下方向に向けて移動する(高さ 方向に平行移動する)。

 図1(a)に示すように、可動部6のY1-Y2方向に 向く最外周面6c,6dの幅中心の位置から可動部6 の中心Oに向けて所定間隔のスリット43,44が設 けられている。スリット43,44よりも内側の可 部には検出部61,62を構成する固定電極57,58を 設置するに必要な大きさの空間19が設けられ いる。

 図1(a)に示すように、空間19には、可動部6 の中心O方向に凹む凹部19aが形成され、この 部19a内に、第3アンカ部22及び第4アンカ部24 設置される。第3アンカ部22からは2本の腕部5 0,51(兼固定電極)がY2方向に延びている。また 第4アンカ部24からは2本の腕部52,53(兼固定電 極)がY1方向に延びている。腕部50,51間、及び 部52,53間には夫々、X1-X2方向に所定間隔のス リット54,55が形成されている。腕部50、51間及 び腕部52,53間に形成された各スリット54,55は 可動部6に形成されたスリット43,44と空間的 連続して可動部6の外側に開放されている。

 図1(a)に示すように、第3アンカ部22から延 びる2本の腕部50,51から、可動部6に形成され 空間19内にて、夫々X1方向、及びX2方向に延 、X1-X2方向に所定の間隔を空けて並設された 櫛歯状の第1固定電極57が形成されている。ま た図1(a)に示すように、第4アンカ部24から延 る2本の腕部52,53から、可動部6に形成された 間19内にて、夫々X1方向及びX2方向に延び、X 1-X2方向に所定の間隔を空けて並設された櫛 状の第2固定電極58が形成されている。

 図1(a)に示すように、空間19内には、第1固 定電極57と交互に且つ間隔を空けて並設され 第1可動電極59が、可動部6と一体的に形成さ れている。また図1(a)に示すように空間19内に は、第2固定電極58と交互に且つ間隔を空けて 並設された第2可動電極60が、可動部6と一体 に形成されている。

 図1(a)に示す第1固定電極57と第1可動電極59 とで第1検出部61が構成され、図1(a)に示す第2 定電極58と第2可動電極60とで第2検出部62が 成される。

 第1検出部61と第2検出部62の具体的構成及び 出原理を以下で説明する。
 図10では、可動電極59、60及び固定電極57、58 を厚み方向から切断した断面形状で示してい るが、可動電極と固定電極を区別しやすいよ うに可動電極59,60のみを斜線で示している。

 図10に示すように、第1可動電極59、第1固 電極57、第2可動電極60及び第2固定電極58は て同じ高さ寸法(厚さ寸法)で形成される。図 10(a)(b)に示すように、初期状態では、第1可動 電極59の上面と第2固定電極58の上面が同位置 あり、第2可動電極60の上面と第1固定電極57 上面とが同位置で且つ第1可動電極59及び第2 固定電極58に対して低い位置にずれて配置さ ている。

 図10(a)に示すように、可動電極59、60が下 向に移動すると、第1検出部61では、第1可動 電極59と第1固定電極57との対向面積は増大す ため、静電容量は増大する。一方、第2検出 部62では、第2可動電極60と第2固定電極58との 向面積は減少するため、静電容量は減少す 。

 次に、図10(b)に示すように、可動電極59、 60が上方向に移動すると、第1検出部61では、 1可動電極59と第1固定電極57との対向面積は 少するため、静電容量は減少する。一方、 2検出部62では、第2可動電極60と第2固定電極 58との対向面積が増大するため、静電容量は 大する。

 固定電極57、58の電位、及び可動電極59、60 電位は、第1アンカ部21、第3アンカ部22及び 4アンカ部24との接続位置から引き出された 線層70,71,72(図1(a)参照)を介して夫々取り出さ れ、第1検出部61及び第2検出部62の静電容量の 差動出力を得ることが出来る。この差動出力 に基づき、可動部6の移動距離及び移動方向 知ることができる。
 なお、図10に示す櫛歯状電極構造は一例で り、他の形態であってもよい。

 図1(a)に示すように、配線層70は、第1アン カ部21から延びる2本の腕部25,26間のスリット4 0を通って素子部13の外側に引き出されている 。この実施形態では、図3に示すように配線 70は、第1アンカ部21との接続位置から酸化絶 縁層4上に形成されている。

 また図1(a)に示すように、配線層71は、第3 アンカ部22から延びる2本の腕部50,51間のスリ ト54及び可動部6に形成されたスリット44を って素子部13の外側に引き出されている。こ の配線層71も配線層70と同様にアンカ部との 続位置から例えば酸化絶縁層4上に引き出し 成される。

 また図1(a)に示すように、配線層72は、第4 アンカ部24から延びる2本の腕部52,53間のスリ ト55及び可動部6に形成されたスリット43を って素子部13の外側に引き出されている。こ の配線層72も配線層70と同様にアンカ部との 続位置から例えば酸化絶縁層4上に引き出し 成される。

 本実施形態の特徴的構成について説明する
 図1(a)に示すように、アンカ部には可動部6 支持する第1アンカ部21及び第2アンカ部23と 固定電極57,58を夫々支持する第3アンカ部22及 び第4アンカ部24とが設けられる。

 図1(a)に示すようにアンカ部21~24の全ては 動部6の最外周を囲んだ領域Cよりも内側に 置している。これにより、例えば応力の影 を受けて支持基板3が変形しても、各アンカ 21~24から可動部6や検出部等の各素子部分に 播される歪みの影響を小さくできる。特に 素子部13を構成する可動部6下や可動電極下 みならず固定電極や支持部8~11を構成する腕 部25~28、50~53の下にも絶縁層がなく支持基板3 から浮いていることが好適である。

 以上により歪みによる可動電極59,60と固 電極57,58との相対位置の変化を小さくでき、 出力のばらつきを小さくでき優れた検出精度 を得ることが出来る。また、図1(a)に示すよ に、各アンカ部21~24を可動部6の中心Oから一 の範囲内の中央領域に集約させることで、 り歪みの影響を小さくでき、検出精度を向 させることが可能になる。

 また図1(a)に示すように、第1検出部61及び 第2検出部62と電気的に接続される配線層70~72 、アンカ部21,22,24との接続位置から可動部6 アンカ部21,22,24から延びる2本の腕部間に形 されたSOI層5が除去されて成るスリット40、4 3,44,54,55を通って可動部6の外側にまで引き出 れている。すなわち本実施形態では、アン 部21~24を可動部6の最外周で囲まれた領域Cよ りも内側に集約させても、配線層70~72をアン 部21~24との接続位置から表面をつたって形 でき、各アンカ部21~24に低負荷な状態で配線 を接続することが出来る。また、多層配線基 板等を用いる必要もないので、製造費も抑え ることが出来る。

 なおスリット40、43,44,54,55の間隔は、例え ば10~30μm程度であるが、本実施形態で言うス ットとは、2つの対向する壁面間の空間を指 し、配線層を可動部6の内側から外側にSOI層 除去された表面(例えば酸化絶縁層4の表面) つたって引き出すために設けた空間はスリ トである。

 また図1(a)のように櫛歯状電極構造におい て、可動部6には、可動部6の最外周を囲んだ 域Cよりも内側に、固定電極57,58を設けるた の空間19が設けられている。そしてこの空 19内に固定電極57,58を支持する第3アンカ部22 び第4アンカ部24が設けられ、可動部6の最外 周面から空間19に連続するスリット43、44が設 けられている。またこの実施形態では、アン カ部22,24から2本の腕部がスリット54,55を介し 延出している。そして配線層71,72は、空間19 及びスリット43、44,54,55を通って素子部13の外 側に引き出されている。このような構成とす ることで、固定電極の形成空間を利用して、 配線層71,72を可動部6の内側に設けられたアン カ部22,24との接続位置から容易に素子部13の 側に引き出すことが出来る。また第1アンカ 21にはスリット40を備える2本の腕部25,26を形 成し、このスリット40に配線層70を通して素 部13の外部に引き出している。例えば腕部25 26は無くてもよいが、可動部6の内側に第1ア ンカ部21及び第2アンカ部23があるので、可動 6に対する支持部8~11を可動部6の外側に設け 可動部6を外側で安定して支持するには、第 1アンカ部21及び第2アンカ部22に高剛性の腕部 を設け、この腕部を可動部6の中心Oから離れ 方向に引き出すことが好適である。そして の腕部にスリット40を設けることで、配線 70をスリット40に通して素子部13の外部に簡 且つ適切に引き出すことが可能になる。

 図4は、図1(a)とは別の実施形態における 速度センサ100の平面図、図5は、図4に示す加 速度センサ100をD-D線に沿って高さ方向に切断 し矢印方向から見た部分断面図、図6は、図4 示す加速度センサ100をE-E線に沿って高さ方 に切断し矢印方向から見た部分断面図、図7 は、図4に示す加速度センサ100をF-F線に沿っ 高さ方向に切断し矢印方向から見た部分断 図、である。

 図4に示す構造では、第1アンカ部21及び第 2アンカ部23の夫々から延びる各腕部101,102,110, 111が可動部6の外周に沿うように略L字型で形 されている。また各腕部101,102,110,111は、夫 、略E字状で形成されたばね部120を介して可 動部6を支持している。

 図4、図7に示すように、第1アンカ部21か 延びる2本の腕部101,102の間には所定間隔のス リット146が形成され、スリット146内には、酸 化絶縁層4を介してSOI層が残されてなるリブ 145が形成されている。そしてリブ部145上に 線層130が形成されている。リブ部145は配線 130下の全体に形成されている。

 また、図4には、可動部6のY1側に位置する 最外周面にスリット121が形成されており、可 動部6にはスリット121よりも内側に固定電極14 4を形成するための空間が設けられている。 た、可動部6のY2側に位置する最外周面にス ット122が形成されており、可動部6にはスリ ト122よりも内側に固定電極144を形成するた の空間が形成されている。

 図4に示すように、可動部6の内側に形成 れた空間には第3アンカ部22及び第4アンカ部2 4が形成され、各アンカ部22,24から2本の腕部12 3~126が延出して形成されている。また腕部123, 124の間、及び腕部125,126の間には所定間隔の リット127,128が形成され、各スリット127,128は 、可動部6に形成されたスリット121,122と空間 に連続して外部にまで露出するスリットが 成されている。

 図4、5、図6に示すように、スリット127,121 には、酸化絶縁層4を介してSOI層が残されて るリブ部140が形成されている。そしてリブ 140上に配線層129が形成されている。リブ部14 0は配線層129下の全体に形成されている。ま 図4,図5に示すように、スリット122,128を通っ 外部に引き出された配線層131も同様にリブ 141上に形成される。リブ部の幅寸法は、5~20 μm程度である。

 このようにリブ部上に配線層129~131を形成 することで、配線層129~131をアンカ部表面と じSOI層の表面に形成できるので配線層129~131 適切且つ容易に接続不良等起こすことなく 成できる。またリブ部140,141,145の下には絶 層4が残されて支持基板3に固定支持されてい るので、リブ部140,141,145を支持基板3上にしっ かり固定できる。よって振動等によっても配 線層129~131が不用意に動くといった問題がな 電気的安定性を向上させることができる。

 次に図8に示す他の実施形態では、可動部 6の最外周面を囲む領域Gの内側に複数のアン 部150~155,158,159が集約され、アンカ部150~155に ばね部157が連設され、図1(a)や図4と異なって ね部157により腕部を介さずに直接、可動部6 を領域Gよりも内側にて支持している。

 図9に示す他の実施形態は、X軸方向及びY 方向対応型の加速度センサ160である。図9に 示す櫛歯状の可動電極162,164と固定電極161,163 がX軸検知用で、櫛歯状の可動電極166,167と 定電極165,168とがY軸検知用である。図9でも 可動部6の最外周面を囲む領域Hの内側にアン カ部170~178が設けられる。

 また図8,図9に示すように、アンカ部との 続位置から素子部180,181の外側に向けて延出 する配線層182~189は、素子部180,181に形成され スリット190~196を通って素子部180,181の外方 延出している。

 上記した本実施形態の加速度センサはX軸 検知用、Y軸検知用、及びZ軸検知用の個々の 知用として、あるいは図9のような2軸以上 検知用として用いられる。

 本実施形態では櫛歯状電極以外にも適用で るが、特に櫛歯状電極の構成に効果的に適 できる。
 本実施形態は加速度センサのみならず角速 センサ等にも適用可能である。

図1(a)は本実施形態における加速度セン サの平面図、図1(b)は、矢印A方向から見たビ ム部の側面図、図1(c)は、高さ方向に加速度 が作用して変位したビーム部及び可動部の側 面図、 ばね部、ビーム部、及び腕部の一部を す拡大斜視図、 図1(a)に示すB-B線に沿って高さ方向に切 断した切断面を矢印方向から見た部分断面図 、 図1(a)とは別の実施形態における加速度 センサの平面図、 図4に示す加速度センサをD-D線に沿って 高さ方向に切断し矢印方向から見た部分断面 図、 図4に示す加速度センサをE-E線に沿って 高さ方向に切断し矢印方向から見た部分断面 図、 図4に示す加速度センサをF-F線に沿って 高さ方向に切断し矢印方向から見た部分断面 図、 別の実施形態における加速度センサの 面図、 別の実施形態における加速度センサの 面図、 図1に示す加速度センサに用いられる 歯状構造の可動電極と固定電極を高さ方向 ら切断した断面図であり、(a)は初期状態と 初期状態から可動部が下方向に移動したと の図、(b)は初期状態と、初期状態から可動 が上方向に移動したときの図、

符号の説明

1、100、160 加速度センサ
2 SOI基板
3 支持基板
4 酸化絶縁層
5 SOI層(活性層)
6 可動部
8~11 支持部
13、180、181素子部
21~24、150~155、158、159、170~178 アンカ部
29 アンカ側ばね部
30~33 ビーム部
34 可動部側ばね部
40、43、44、54、55、121、122、127、128、146、190~1 96 スリット
57、58、161、163、165、168 固定電極
59、60、162、164、166、167 可動電極
61 第1検出部
62 第2検出部
70~72、129~131、182~189 配線層
140、141、145 リブ部