青木 晃 (〒93 山口県下関市彦島西山町1丁目1番1号 彦島製錬株式会社 機能粉工場内 Yamaguchi, 7500093, JP)
NAKAMURA, Yoshinobu (Ltd. Engineered MetalPowders Plant 1-1, Nishiyamacho 1-chome, Hikoshima, Shimonoseki-sh, Yamaguchi 93, 7500093, JP)
三井金属鉱業株式会社 (〒84 東京都品川区大崎一丁目11番1号 Tokyo, 1418584, JP)
AOKI, Akira (Ltd. Engineered MetalPowders Plant 1-1, Nishiyamacho 1-chome, Hikoshima, Shimonoseki-sh, Yamaguchi 93, 7500093, JP)
青木 晃 (〒93 山口県下関市彦島西山町1丁目1番1号 彦島製錬株式会社 機能粉工場内 Yamaguchi, 7500093, JP)
| 銅塩水溶液にアルカリ溶液を添加して得られた銅塩化合物スラリーに、ヒドラジン系還元剤を添加して亜酸化銅スラリーとし、当該亜酸化銅スラリーを水洗し、再スラリー化した洗浄亜酸化銅スラリーに再びヒドラジン系還元剤を添加する銅粉の製造方法において、 最終還元反応が終了するまでに、リンと銅のモル比がP/Cu=0.0001~0.003となるように、リン化合物を反応スラリーに添加することを特徴とする銅粉の製造方法。 |
| 前記銅塩化合物スラリーの銅濃度を1mol/L~3mol/Lとする請求項1に記載の銅粉の製造方法。 |
| 前記アルカリ溶液がアンモニア水溶液である請求項1または請求項2に記載の銅粉の製造方法。 |
| 前記銅塩化合物スラリーに、ヒドラジン系還元剤を添加し、還元反応を行う際のpHを3.5~6.0に調整する請求項1~請求項3のいずれかに記載の銅粉の製造方法。 |
| 前記銅塩化合物スラリーに、ヒドラジン系還元剤を添加し、還元反応を行う際のpH調整をアンモニア水溶液で行う請求項4に記載の銅粉の製造方法。 |
| 前記洗浄亜酸化銅スラリーに再びヒドラジン系還元剤添加前のスラリーのpHを4.1~6.0に調整することを特徴とする請求項1~請求項5のいずれかに記載の銅粉の製造方法。 |
| 請求項1~請求項6のいずれかに記載の銅粉の製造方法により得られる銅粉であって、 レーザー回折散乱式粒度分布測定法による体積累積平均粒径D 50 が0.1μm~5.0μmであり、 レーザー回折散乱式粒度分布測定法により測定した粒度分布の標準偏差SD及び前記体積累積平均粒径D 50 を用いて表されるSD/D 50 の値が0.2~0.5であることを特徴とする銅粉。 |
| 大気雰囲気中、400℃で30分熱処理後の炭素含有量が0.01質量%未満である請求項7に記載の銅粉。 |
本発明は、湿式法による銅粉の製造方法 関し、特に、銅塩水溶液を出発液として、 段還元により銅粉を得る製造方法と、この 造方法により得られる銅粉に関する。
銅粉は、銅ペーストや銅インクの原料と て広く用いられてきた。例えば、銅ペース は、粒径数μmの微小な粒子からなる銅粉に 脂成分を適宜配合してなるものであり、ス リーン印刷法を用いたプリント配線板の回 形成、各種電気的接点部等に応用され、焼 または固化させ導体膜として導電性を発揮 るものである。
プリント配線板等の小型化を受けて、当 銅ペーストにより形成された回路の導電性 信頼性等の点で、銅粉の更なる改良が市場 おいて求められている。例えば、微細配線 は、電気的特性に関する微少な変動が製品 影響を及ぼす場合があるので、導電性フィ ーについても電気的安定性が高精度なレベ で求められている。また、微細配線のファ ンライン化のために、微粒な導電性フィラ が求められている。しかし、銅粉は微粒に る程表面エネルギーが高くなり、凝集しや いので、粒度分布幅が広くなり、微粒均一 銅粉を得るのは難しい。そこで、微粒均一 銅粉が求められている。
また、導体形成の際、銅粉粒子に含まれ 炭素成分により、高温焼成時に炭酸ガスが 生し、導体が不均一となり安定した導体形 の妨げとなる点が課題となっている。具体 には、銅粉粒子内部に炭素を多く含有する 粉を銅ペーストの材料に用いると、高温焼 時に、形成された焼結膜の内部において炭 ガスが発生する。この炭酸ガスにより、焼 膜の表面にクラックが発生したり、導体の 部欠陥が発生しやすくなる。このように、 素、その他の不純物を含む銅粉は、抵抗値 の電気的特性に品質変動が生じる。このた 、不純物が極力少ない純度の高い銅粉が求 られていた。
銅粉の製造方法の例として特許文献1には 、湿式還元法を用いて、良好な粒径に制御さ れたフレーク銅粉が開示されている。また、 特許文献2には、リン含有量が0.01~0.10質量%で り、且つ、酸素含有量が0.30質量%以下であ 銅粉末を用いる外部電極用銅ペースト組成 が開示されている。この特許文献2には、外 電極用銅ペースト組成物に用いられる球状 銅粉末として平均粒径を1~4μmとしており、 部電極用銅ペースト組成物に適度な粘性及 塗布性を得るために、有機ビヒクルを使用 ている。なお、この特許文献2に開示の銅粉 末の製造方法は、湿式還元法、乾式法等、特 に限定しておらず、水アトマイズ法により得 られるものが好適であることが記載されてい る。
微粒均一且つ低不純物な銅粉へのニーズ 対し、アトマイズ法により製造された微粒 粉の場合、炭素量が低く、分散性の点でも れた銅粉を製造することができるが、粗粒 含み、微細配線などには不向きであるとと に他の不純物を含む傾向がある。そして、 粒を解消するために分級を強化すれば製造 期化や収率の低下により、製造コストが高 なるといった問題があった。
一方、従来の湿式還元法による銅粉は、 次粒子自体は微粒で均一になる傾向がある のの、反応性の観点から有機系の還元剤を いることが多かった(例えば、特許文献3)。 の結果、銅粉における有機剤吸着量が多く るため、炭素の含有量が多くなる傾向があ 。
また、無機還元剤を用いた湿式還元法の 合(例えば、特許文献4)、炭素含有量につい の上記課題は解消されるものの、凝集が生 やすく、得られる銅粉の粒度は分布が広く ロードなものであった。
本発明は上記課題を受けて、粒度分布幅 極めて狭く、且つ不純物の含有量が少なく 導電率を高め、均質で高品質な銅粉と、こ ような銅粉を安定的且つ効率良く得られる 粉の製造方法を提供することを目的とする
そこで、本発明者等は、鋭意研究を行っ 結果、湿式還元法を用いた以下の銅粉の製 方法を採用することで上記課題を達成する 粉を得るに到った。
銅粉の製造方法:本発明に係る銅粉の製造 法は、銅塩水溶液にアルカリ溶液を添加し 得られた銅塩化合物スラリーに、ヒドラジ 系還元剤を添加して亜酸化銅スラリーとし 当該亜酸化銅スラリーを水洗し、再スラリ 化した洗浄亜酸化銅スラリーに再びヒドラ ン系還元剤を添加する銅粉の製造方法にお て、最終還元反応が終了するまでに、リン 銅のモル比がP/Cu=0.0001~0.003となるように、リ ン化合物を反応スラリーに添加することを特 徴とする。
更に、本発明に係る銅粉の製造方法は、 記銅塩化合物スラリーの銅濃度を1mol/L~3mol/L とすることが好ましい。
本発明に係る銅粉の製造方法は、前記ア カリ溶液がアンモニア水溶液であることが ましい。
本発明に係る銅粉の製造方法は、前記銅 化合物スラリーに、ヒドラジン系還元剤を 加し、還元反応を行う際のpHを3.5~6.0に調整 ることが好ましい。
本発明に係る銅粉の製造方法は、前記銅 化合物スラリーに、ヒドラジン系還元剤を 加し、還元反応を行う際のpH調整をアンモ ア水溶液で行うことが好ましい。
本発明に係る銅粉の製造方法は、前記洗 亜酸化銅スラリーに再びヒドラジン系還元 添加前のスラリーのpHを4.1~6.0に調整するこ が好ましい。
本発明に係る銅粉:本発明に係る銅粉は、上 銅粉の製造方法により得られる銅粉であっ 、レーザー回折散乱式粒度分布測定法によ 体積累積平均粒径D 50 が0.1μm~5.0μmであり、レーザー回折散乱式粒 分布測定法により測定した粒度分布の標準 差SD及び前記体積累積平均粒径D 50 を用いて表されるSD/D 50 の値が0.2~0.5であることを特徴とする。
また、本発明に係る銅粉は、大気雰囲気 、400℃で30分熱処理後の炭素含有量が0.01質 %未満であることが好ましい。
本発明に係る銅粉の製造方法は、不純物 含有を極力排除しながら、粒度分布幅が極 て狭い銅粉を製造することができる。そし 、本発明に係る銅粉は、このような製造方 で得られるものである。
以下、本発明に係る銅粉の製造方法及び 粉の最良の実施の形態に関して説明する。
銅粉の製造方法:まず、本発明に係る銅粉 製造方法の前提となる工程の概略を説明す 。最初に、銅塩水溶液にアルカリ溶液を添 して銅塩化合物スラリーにする。この銅塩 合物スラリーにヒドラジン系還元剤を添加 て亜酸化銅スラリーとする(第1還元処理)。 に、亜酸化銅スラリーを水洗し再スラリー して洗浄亜酸化銅スラリーとし、この洗浄 酸化銅スラリーに再びヒドラジン系還元剤 添加する工程(第2還元処理)を経て銅粉を還 析出させて銅粉を得るのである。
そして、本発明に係る銅粉の製造方法で 、上記工程において、最終還元反応終了時 でに、モル比でP/Cu=0.0001~0.003となる量のリ 化合物を反応スラリーに添加することを特 とする。即ち、上記方法において、銅に対 て極めて微量のリン成分を添加することよ 析出粒子の成長過程での凝集を抑えて、粒 分布幅が極めて狭く且つ低不純物である高 質な銅粉を製造することができるのである 以下、銅粉の製造方法を詳述する。
まず、銅塩水溶液にアルカリ溶液を添加 ることにより、銅塩と反応させて銅塩化合 が生成し、これを銅塩化合物スラリーとす 。例えば、銅塩水溶液にアルカリ溶液を30 掛けて徐々に添加し、その後30分静置して熟 成させることにより、銅塩と反応させて、二 価の銅化合物を得る。
ここで、銅塩水溶液は、水に水溶性銅塩 加え、部分溶解させたものである。水溶性 塩は、硫酸銅、硝酸銅、酢酸銅、塩化銅等 考えられ、中でも硫酸銅、硝酸銅が好まし 。また、アルカリ溶液としては、アンモニ 水溶液、水酸化カリウム、水酸化ナトリウ 等が挙げられる。特に、アンモニア水溶液 用いると、不純物を排除し、純度の高い銅 が得られる点で好ましい。
銅塩化合物スラリーの銅濃度は、1mol/L~3mo l/Lとすることが好ましい。銅塩化合物スラリ ーの銅濃度が1mol/L未満であると、従来と比べ 生産の効率化を図るという効果が得られない 。一方、銅塩化合物スラリーの銅濃度が3mol/L を上回ると、凝集が生じやすくなり、粒度分 布の制御が難しく製造安定性が望めない。そ して、より好ましい銅塩化合物スラリーの銅 濃度は、1.5mol/L~2.5mol/Lである。
アルカリ溶液は、中和生成物としての銅 化合物を得られる量であれば良く、後の工 におけるpHとの関係を考慮する。例えば、 ルカリ溶液としてアンモニア水溶液を用い 場合、その添加量は、銅1molに対してアンモ ア成分が1.0mol~3.8molとなるように用いる。ア ンモニア成分がこの範囲を外れると、後の還 元工程における適正なpH範囲へのコントロー が困難となる。
本発明に係る銅粉の製造方法は、銅塩化 物スラリーの銅濃度を比較的高濃度となる うに液量を調整するのが好ましい。従来の 式還元法では、還元前の銅塩化合物スラリ の銅濃度を高くすると、析出粒子の凝集が じやすく、粒度分布幅が狭い銅粉を効率良 製造することが出来なかった。しかし、本 明に係る銅粉の製造方法では、pH変動範囲 調整、使用物質の混合条件等を種々調整す ことで、還元反応前の銅塩化合物スラリー 銅濃度を上記範囲としても、粒度分布幅が めて狭い銅粉を得ることができる。
次に、前記銅塩化合物スラリーにヒドラ ン系還元剤を添加して亜酸化銅スラリーと る(第1還元)。本発明に係る銅粉の製造方法 は、銅塩化合物を亜酸化銅に還元する程度 ヒドラジン系還元剤の添加量を調整して亜 化銅スラリーとする。即ち、第1還元処理に より、亜酸化銅スラリーを調製し、後の第2 元処理時の反応を安定化させ、還元析出さ る粒子の均一化を図るのである。
この第1還元処理時にヒドラジン系還元剤 を用いると、亜酸化銅粒子の表面に対して還 元剤成分が残留する可能性が低く、汚染物質 となりにくい。
ヒドラジン系還元剤としては、抱水ヒド ジン、硫酸ヒドラジン、無水ヒドラジン等 々のものが考えられるが、抱水ヒドラジン 最も好ましい。これらのヒドラジン系還元 は、単独または混合して用いることが可能 ある。そして、ヒドラジン系還元剤は、反 系の溶液に迅速に拡散させ、均一な反応を るために、溶液の状態で反応に用いること 好ましい。
ヒドラジン系還元剤の添加量は、銅塩化 物スラリー中の銅1molに対して0.3mol~0.5molと るのが好ましい。ヒドラジン系還元剤の添 量が、上記銅1molに対して0.3mol未満の場合に 、未反応の銅塩化合物が多く残留するため ましくない。一方、ヒドラジン系還元剤の 加量が上記銅1molに対して0.5molを超えるよう に添加すると、亜酸化銅の段階で還元反応を 止めることができない。
なお、銅塩化合物スラリーにヒドラジン 還元剤を添加し還元反応を行う際のpHを3.5~6 .0に調整する。この溶液pHが上記範囲を外れ と、得られる亜酸化銅粒子の粒径のバラツ が大きくなり、最終的製品である銅粉粒子 粒度分布幅が広くなる。
この銅塩化合物スラリーから亜酸化銅ス リーにする第1還元処理では、ヒドラジン系 還元剤を添加しつつ、pH調整剤としてアンモ ア水溶液を用いて、pH変動を制御しながら 元処理を行うのが好ましい。このように、pH 調整剤としてアンモニア水溶液を用いるのは 、銅塩化合物スラリーの生成時にアルカリ溶 液としてアンモニアを用いて中和したことを 考慮すると、使用物質を同一にして、異種成 分の使用を可能な限り排除して、残留不純物 を極力排除するためである。この結果、得ら れる銅粉の純度コントロールが容易となる。
上述の第1還元処理においては、銅塩化合 物スラリー中の銅1molに対し、添加終了時に いて、ヒドラジン系還元剤が0.3mol~0.5molとし アンモニア水溶液が(アンモニアとして)0.2mo l~0.4molの割合となるように連続添加すること 好ましい。こうして添加された反応スラリ のpHは、還元剤及びpH調整剤の添加開始時の 始点pHと添加終了時の終点pHとの差が3.0以下 なるように調整すればよい。
ここで、亜酸化銅スラリーは亜酸化銅を 有するスラリーを意味し、亜酸化銅以外の 成成分を含む場合もある。後述する洗浄亜 化銅スラリーについても同様である。
そして、得られた亜酸化銅スラリーのpH 3.5~6.0の範囲にすると、以降の工程において 応スラリーのpH変動を好適な範囲に抑えら る。この結果、得られる銅粉の粒径の均一 を図ることができる。亜酸化銅スラリーをpH 6.0よりアルカリ性側とすると、亜酸化銅スラ リー中の銅成分が亜酸化銅に止まらずメタル を形成して凝集が生じる。一方、亜酸化銅ス ラリーをpH3.5より酸性側とすると、亜酸化銅 還元が不十分となり、製造効率が低下する
そして、第1還元処理時の反応スラリー温 度は、40℃~60℃の範囲を採用することが好ま い。40℃未満の温度では、還元反応速度が く工業的生産性を満足しない。一方、反応 ラリーの温度が60℃を超えると、還元速度が 速くなりすぎて不均一な還元反応が起こるた め、得られる銅粉の粉体特性が劣化する。
次に、亜酸化銅スラリーを水洗し、再ス リー化して洗浄亜酸化銅スラリーとする。 ず、亜酸化銅スラリーを静置して亜酸化銅 子を沈殿させる。亜酸化銅粒子の沈殿後、 澄液を除去して水を添加することにより亜 化銅粒子を洗浄し、再スラリー化して洗浄 酸化銅スラリーとする。洗浄亜酸化銅スラ ーのpHが4.1~6.0であると、以降の工程におけ pH変動を好適な範囲に抑えられ、得られる 粉の粒径を精度良く揃えることができる。
亜酸化銅粒子の洗浄方法に関しては、特 の限定はなく、公知の洗浄方法を採用する とが可能である。しかし、以下に示すリパ プ洗浄を採用して、洗浄レベルを洗浄中の 酸化銅スラリーのpH値で管理することが好 しい。リパルプ洗浄は、亜酸化銅を沈殿さ て上澄みを廃棄し、洗浄水を注ぎ足すとい 操作を複数回行う。そして、リパルプ洗浄 、洗浄水を注ぎ足した洗浄亜酸化銅スラリ のpHが4.1~6.0の範囲のいずれか一定のpH値にな るまで繰り返し洗浄するのが好ましい。洗浄 亜酸化銅スラリーのpHが4.1より酸性側にある 、還元効率が悪くなる。一方、洗浄亜酸化 スラリーのpHが6.0よりアルカリ性側にある 、その後、銅粉を得るために還元剤を添加 る際の反応のバラツキが大きく、分散性が る等粉体特性が悪くなる。
そして、より好ましくは、洗浄亜酸化銅 ラリーは、pH4.3~4.7の範囲のいずれか一定のp Hになるまで洗浄する。洗浄亜酸化銅スラリ のpHをこの範囲とすることにより、工程安定 性に最も優れる。
こうして調製された洗浄亜酸化銅スラリ にヒドラジン系還元剤を添加して銅粉を還 析出させる(第2還元処理)。そして、析出粒 を濾過、洗浄、乾燥させて銅粉を得る。添 するヒドラジン系還元剤の量は、添加終了 において、洗浄亜酸化銅スラリーに含まれ 銅1molに対して0.3mol~1.5molの割合で添加する とが好ましい。そして、銅塩化合物スラリ に添加するヒドラジン系還元剤と、洗浄亜 化銅スラリーに添加するヒドラジン系還元 は、トータルで銅1molに対して0.6mol~2.0molの割 合にする。
ヒドラジン系還元剤の添加により還元反 を行う直前のスラリーpHを4.1~6.0の範囲に調 するのが好ましい。還元反応時のpHが4.1よ 酸性側であると、粗粒が増えて分散性が悪 なる。一方、還元反応時のpHが6.0よりアルカ リ性側にあると、還元剤が多くなり微粒な析 出粒子数が過剰に多くなる。
なお、銅塩化合物スラリーにヒドラジン 還元剤を添加する(第1還元処理)と同様に、 ドラジン系還元剤を添加する(第2還元処理) の洗浄亜酸化銅スラリーの銅濃度を、1mol/L~ 3mol/Lとなるように液量調整すると、粒度分布 幅が狭い銅粉を得ることができる。なお、よ り好ましい銅濃度は、1.5mol/L~2.5mol/Lである。
添加するヒドラジン系還元剤の温度は40 ~60℃の範囲の一定温度レベルに保つことが ましい。ヒドラジン系還元剤の温度が40℃よ り低いと、還元反応が鈍くなり、工業上望ま しい生産性を満たさない。一方、ヒドラジン 系還元剤の温度が60℃より高いと、還元反応 早くなりすぎて粒径が不揃いとなりやすい
第1還元処理と第2還元処理で用いる還元 は、同種のヒドラジン系還元剤を用いるの 、還元剤としてのヒドラジン類の還元能が 体特性の良好な銅粉を得るのに適している 加えて、銅粉の還元に用いる異種成分を可 な限り少なくし、銅粉の粒子表面への不純 質の混入を抑制することができる。
なお、第2還元処理が終了した段階の反応 スラリーの状態のまま、流体ミル法(ファイ ロールミル等)、層流混合法(T.K.フィルミッ ス等)を用いて、高速で遠心流動するスラリ 内で、粒子同士を衝突させて解砕し、一次 子に近付け、同時に粒子表面の平滑化を行 解粒処理を施し、粒子分散性を更に向上さ ることも好ましい。
リン化合物の添加:本発明に係る銅粉の製 方法は、上述の製造方法において、最終還 反応が終了するまでに、リンと銅のモル比 P/Cu=0.0001~0.003となるように、リン化合物を反 応スラリーに添加することが特徴である。リ ン化合物を添加することにより、リン化合物 が立体障害として作用し、析出粒子の凝集成 長を防ぎ、単分散化を図ることができる。そ の結果、得られた銅粉の粒度分布は飛躍的に 狭くすることができる。
リン化合物は、反応スラリー中のリンと のモル比がP/Cu=0.0001~0.003と、極めて微量を 加する。不純物含有量を抑えて、高純度の 粉を得るためには、製造工程における添加 質の量や種類を極力抑える必要がある。し し、微粒化を図ると、凝集しやすくなるの 、微粒且つ粒度分布幅の極めて狭い銅粉を るためには、リン化合物の添加が有効であ 。本発明者等は、リン化合物の添加量を最 限とすべく検討した結果、上記割合でリン 合物を添加すると、最も効果的であること 想到したのである。
ここで、図1に、リン化合物の添加割合と、 粒度分布幅との相関を示す。図1のグラフで 、横軸にリン化合物の添加割合を示すP/Cuを り、縦軸には銅粉の粒度分布幅の広さを示 値として、体積累積平均粒径D 50 及びレーザー回折散乱式粒度分布測定法によ り測定した粒度分布の標準偏差SDを用いて表 れるSD/D 50 の値をとった。
ここでいう標準偏差SDとは、レーザー回折 乱式粒度分布測定法を用いて得られる全粒 データのバラツキを表す指標であり、この が大きな程、バラツキが大きなものとなる そして、標準偏差SDと、体積累積平均粒径D 50 との比であるSD/D 50 により粒度分布幅の程度を示す。この値が大 きい程、粒度分布幅が広いと言える。
図1を見ると、リンを添加しない場合(P/Cu=0) らP/Cu=0.0001より少ないリン添加量の場合は SD/D 50 の値が0.55を上回る値となり、リンを添加す ことによる単分散化の効果が十分に得られ い。これに対し、リン添加割合が、P/Cu=0.0001 以上にすると、SD/D 50 の値が顕著に低下する。そして、本発明の上 限であるP/Cu=0.003を上回る量のリンを添加し も、SD/D 50 の値に変化が見られない。そもそも、本発明 は、不純物含有量を抑えた高純度の銅粉を得 ることを目的としているので、リンの添加量 は最小限に抑えたい。したがって、リンの添 加量の上限をP/Cu=0.003とする。
リン化合物の添加時期は、洗浄亜酸化銅 ラリーにヒドラジン系還元剤を添加し、そ 還元反応が終了するまでのいずれかの段階 リン化合物を上記割合で添加すれば良い。 に、洗浄亜酸化銅スラリーを調製した後に 加すると、洗浄後になるので、リン化合物 添加量を少量に抑えることができるので、 純物含有量を抑える点で好ましい。
リン化合物としては、反応スラリーにお てリン成分を効率良く分散させるためには 溶性リン化合物が好ましい。水溶性リン化 物としては、リン酸ナトリウム、リン酸、 亜リン酸アンモニウムのいずれかを用いる とが好ましい。特に、次亜リン酸アンモニ ムを用いると、微粒且つ均一な粒径の粒子 析出に好適である。
以上のようにして得た銅粉は、濾過、洗 、乾燥等の一般的工程を経て、銅粉として 品化される。そして、この銅粉は、耐酸化 を向上させるため、有機表面処理を施すこ が好ましい。表面処理剤としては、必要に じて脂肪酸又はアミン類のいずれかを含む が好ましく、具体的には、オレイン酸、ス アリン酸等の脂肪酸やオクタデシルアミン オレイルアミン等のアミン類が好ましい。 た、乾燥した銅粉の状態でも、必要に応じ 分級装置、ハイブリタイザー、ターボクラ ファイア等の粒子同士の衝突処理が可能な 置を用いて解粒処理を行い、粒子分散性を 上させることも可能である。
本発明に係る銅粉:本発明に係る銅粉は、上 銅粉の製造方法により得られる銅粉である そして、レーザー回折散乱式粒度分布測定 による体積累積平均粒径D 50 が0.1μm~5.0μmであり、粒度分布幅の広さを示 前記SD/D 50 の値が0.2~0.5であることを特徴とするもので る。言い換えると、上記銅粉の製造方法を いると、D 50 =0.1μm~5.0μmの大きさの銅粉を前記SD/D 50 の値が0.2~0.5という粒度分布幅が狭い状態で 造可能となる。
本発明に係る銅粉は、D 50 が0.1μm未満となると、微粒化に伴う凝集が生 じる。その一方で、凝集を抑えるためにリン 化合物の添加量を増やすと、微細配線の形成 回路の導電不良を起こさないレベルの低不純 物量にするという本発明の目的が達成できな い。一方、D 50 が5.0μmを上回るレベルとなると、微細配線の 形成には適さない。なお、より好ましい平均 粒径D 50 は0.5~3.5μmである。
そして、一般に、微粒粉は凝集しやすいが 本発明に係る銅粉は、D 50 が0.1μm~5.0μmという微粒な範囲の粒径であり がら、SD/D 50 =0.2~0.5という粒度分布幅が極めて狭いシャー な銅粉である。上述の通り、SD/D 50 は、銅粉の粒度分布幅の程度を示す。そして 、SD/D 50 の値が0.2~0.5という範囲であると、凝集が少 く、0.5を上回ると、粒子のバラツキが多く 微細配線の形成に適さない。
また、本発明に係る銅粉は、大気雰囲気 、400℃で30分熱処理した後の炭素含有量が0. 01質量%未満であり、炭素含有量が極めて低い 。ここで、本発明に係る銅粉は酸化防止のた めの有機表面処理を施しているが、この表面 処理剤は、200℃~300℃付近で銅粉の表面から 失する。したがって、400℃で30分焼成後の銅 粉は、表面処理剤が除去された状態であり、 この状態で測定した銅粉の炭素含有量は、焼 成により導体膜が形成される温度下の銅粉の 炭素含有量を推定できるのである。なお、本 明細書における銅粉の炭素含有量は、炭素分 析装置(堀場製作所社製 EMIA-320V)を用いて測 した。
本発明に係る銅粉を銅ペースト等に用い 場合、銅ペーストの焼成時に、導体表面の 結開始温度以前に表面処理剤は消失し、そ 後、銅体表面に焼結膜が形成された後は、 体内部に炭酸ガスが発生しないので、導体 面のクラックの発生を防止し、高品質な導 を形成することができる。
以下、実施例及び比較例を示して本件発 を具体的に説明する。本発明は以下の実施 に制限されるものではない。なお、以下の 施例及び比較例2における銅粉の製造条件が 対比しやすいように、製造条件の概略を表1 掲載する。
まず、純水6.5Lに硫酸銅6000gを投入して撹 し、その後、液温を50℃に保持しつつ、硫 銅水溶液(銅塩水溶液)の液量が9Lとなるよう 、更に水を添加して、濃度を調整した。当 硫酸銅水溶液に、アンモニア水溶液(濃度25w t%)2537mlを30分で添加して中和し、銅塩化合物 ラリーを得た。そして、銅塩化合物スラリ を30分静置して熟成させた。ここまでは銅 化合物スラリーの液温を50℃に保持したが、 熟成後は液温を45℃に調整した。
次に、銅塩化合物スラリーの銅濃度が2.0m ol/Lとなるように水を添加して液量を調整し 。この銅塩化合物スラリーをpH6.3、液温50℃ 条件に保ち、ここに、ヒドラジン1水和物( ドラジン系還元剤)450gとpH調整剤としてのア モニア水溶液(濃度25wt%)591mlとを30分間かけ 連続添加し、亜酸化銅スラリーとした(第1還 元処理)。そして、還元反応を完全に行うた 、更に30分間撹拌を続けた。
その後、リパルプ洗浄のため、亜酸化銅 ラリーに純水を加えて18Lに液量調整した後 静置して亜酸化銅粒子を沈殿させ、静置後 上澄液を14L抜く操作を、pHが4.7になるまで り返した。そして、温めた純水8Lを加えて全 液量を12Lにし、液温を45℃に維持して、銅濃 を2.0mol/Lに調整し、これを洗浄亜酸化銅ス リーとした。
銅濃度調整後の洗浄亜酸化銅スラリーに 次亜リン酸アンモニウム3.02gを添加し、5分 撹拌した(リン化合物添加工程)。
再び、洗浄亜酸化銅スラリーの銅濃度が2 .0mol/Lとなるように水を添加して液量を調整 た。この洗浄亜酸化銅スラリーに、ヒドラ ン1水和物(ヒドラジン系還元剤)1200gを30分間 添加した。次に、更に15分間撹拌を行い、 元反応を完全に行わせ銅粉を還元析出させ (第2還元処理)。
析出した銅粒子を濾過して採取した。そ て、洗浄後、当該銅粉に、オクタデシルア ン1.5gを溶解させたメタノール溶液5Lに入れ 機表面処理を施し、濾別分離後、70℃、5時 の加熱乾燥を行い、更に解砕処理を施して 粉を得た。
実施例1で得られた銅粉について、D 10 、D 50 、D 90 、BET比表面積、タップ充填密度、炭素含有量 を測定した。また、得られた銅粉のBET比表面 積に基づいて比表面積径D BET を算出した。また、実施例1で得られた有機 面処理後の銅粉を、大気雰囲気、400℃で30分 焼成した後の炭素含有量を測定した。この結 果を表2に示す。また、粒度体積基準分布図 図2に示し、走査型電子顕微鏡(SEM)像を図3に す。以下、それぞれの測定方法について示 。
レーザー回折散乱式粒度分布測定法による体 積累積平均粒径D 50 :銅粉0.1gをSNディスパーサント5468の0.1%水溶液 (サンノプコ社製)と混合し、超音波ホモジナ ザ(日本精機製作所製 US-300T)で5分間分散さ た後、レーザー回折散乱式粒度分布測定装 Micro Trac HRA 9320-X100型(Leeds+Northrup社製)を いて、流量速度50cm 3 /minで測定した。体積累積50%における粒径をD 50 とし、同様にして、体積累積10%ならびに90%の 粒径D 10 、D 90 を測定した。
タップ充填密度(TD):パウダースターPT-E(ホ カワミクロン株式会社製)を用いて測定した
比表面積:試料2.00gを75℃で10分間の脱気処理 行った後、モノソーブ(カンタクロム社製)を 用いてBET1点法で測定した。そして、比表面 径D BET は、得られた銅粉を真球と仮定し、BET1点法 測定した比表面積SSAと、銅の真比重8.92とを いた式D BET =6/(8.92×SSA)を用いて算出した。
炭素含有量:400℃で30分保持後の炭素含有量 を炭素分析装置(堀場製作所社製 EMIA-320V)を いて測定した。
実施例2は、実施例1と比べて、リン化合 の添加時期が異なる例である。
即ち、洗浄亜酸化銅スラリーに次亜リン アンモニウムを添加する代わりに、硫酸銅 溶液の液温を50℃に保持しつつ、リン化合 としてリン酸三ナトリウム12水和物11.06gを添 加する以外は実施例1と同様の方法で銅粉を た。
実施例2で得られた銅粉について、実施例 1と同様のデータを測定、算出した。この結 を表2に示す。また、体積基準粒度分布図を 4に示し、走査型電子顕微鏡(SEM)像を図5に示 す。
[比較例1]
比較例1は、湿式還元法による銅粉の製造に
際し、有機系還元剤を用いる例である。
まず、60℃の純水3Lに硫酸銅5水和物400gを 加し、二価の銅イオンを含む銅塩水溶液を 備する。そして、温度60℃に保持した銅塩 溶液に、純水を加え、銅濃度を2mol/Lとした
次に、銅塩水溶液の液温を60℃に保ち、25 %水酸化ナトリウム水溶液460mlとを順に添加し 、銅塩化合物スラリーを得た。
次に、銅塩化合物スラリーの液温を50℃ 維持して、ヒドラジン1水和物100gを30分間で 加した。更に60分間撹拌を行い、還元反応 完全に行わせ銅粉を還元析出させた。
このようにして得た銅粉を濾過して採取 た。そして、当該銅粉に、オクタデシルア ン1.5gを溶解させたメタノール溶液5Lに入れ 機表面処理を施し、30分間撹拌し、80℃、5 間の加熱乾燥を行って粉体を得た。得られ 銅粉の粉体特性について、実施例1と同様の ータを測定した。この結果、粒度分布はシ ープであるものの、400℃で30分焼成後の炭 含有量が0.07wt%となった。
[比較例2]
比較例2は、湿式還元法による銅粉の製造に
際し、リン化合物を添加しない例である。即
ち、リン化合物を全く添加しない点以外は、
実施例1と同様の方法で銅粉を得た。得られ
銅粉の粉体特性について、実施例1と同様の
ータを測定、算出した。この結果を表2に示
す。また、比較例2で得られた銅粉の体積基
粒度分布図を図6に示す。
[比較例3]
比較例3は、特許文献4に開示の方法を用い
、銅含有溶液の濃度を実施例1の銅塩含有ス
リーと同等の濃度とした例である。まず、
酸銅五水和物395gと純水0.05Lとを混合し、更
、ピロリン酸ナトリウム40gを添加して銅含
溶液を作製した。次に、この銅含有溶液中
、濃アンモニア水(濃度28%)500gを加え、混合
て銅アンモニア錯イオン溶液を作製した。
の銅アンモニア錯イオン溶液中に純水を加
て全液量を0.79Lにし、実施例1と同じ銅濃度
した。この銅アンモニア錯イオン溶液に、
元剤として飽水ヒドラジン200gを30℃の温度
で添加して混合した後、液温を80℃まで上
させて2時間維持することにより反応を十分
行わせた。その後、金属銅として得られた
粉末を溶液中から回収し、洗浄した。
なお、上述の通り、比較例3では、リン化 合物であるピロリン酸ナトリウムを銅含有溶 液作製時に添加し、その後、還元反応を行わ せている。得られた銅粉の粉体特性について 、実施例1と同様のデータを測定、算出した この結果を表2に示す。また、比較例3で得ら れた銅粉の体積基準粒度分布図を図7に示し 走査型電子顕微鏡(SEM)像を図8に示す。
以下、実施例で得られた銅粉と比較例で られた銅粉とを対比する。
まず、実施例について、図2の粒度体積基準 分布図を見ると、粒径1μmを頻度ピークとし 、粒度分布幅が狭くシャープな分布を示し いる。それは、SD/D 50 、D 90 /D 10 の値が低いことからも明らかである。タップ 充填密度(TD)は低い値を示した。更に、収率 96%と高い値を示している。大気雰囲気、400 で30分焼成後の炭素含有量については、測定 装置で検出可能な下限である0.01wt%に達する とはならなかったので、0.01wt%未満とした。
次に、実施例1及び実施例2と比較例1とを 比すると、実施例1及び実施例2の炭素含有 は0.01wt%未満であるのに対し、比較例1は0.07wt %であり、炭素含有量が多い。有機還元剤を 用した比較例1の銅粉は、本発明に係る銅粉 炭素含有量を大きく上回る値を示し、この うな炭素含有量レベルの銅粉は、本発明の 題である微粒且つ、導体の安定した形成と 電性向上を図ることが難しい。
次に、実施例2と比較例2とを対比すると、 均粒径ならびに炭素含有量は同等である。 かし、SD/D 50 、D 90 /D 10 は実施例が著しく低く、SD/D 50 に至っては、約3割程度の顕著な差が見られ 実施例の粒度分布幅が狭いことが明白であ 。
比較例3で得られた銅粉は、図7に示す銅粉 走査型電子顕微鏡(SEM)像を見ると、凝集が多 く発生していることが明らかである。また、 図7に示す走査型電子顕微鏡像の画像解析に り得られる一次粒子の平均径は2μm程度であ ものの凝集が激しく、その結果、D 50 =34.68μm程度となっている。また、SD/D 50 は低いものの上記のとおり、凝集粒子の大き さは実施例に比べ、はるかに大きく、微粒銅 粉としての粒度分布を呈したものとは言い難 い。したがって、粗粒が多く含まれ微細配線 の形成には不適である。また、収率も実施例 に劣ることは明らかである。即ち、比較例3 方法では、粒度分布がシャープな微粒銅粉 高収率で製造することは難しいことが示さ た。
本発明に係る銅粉の製造方法は、粒子の 一化を図り、従来品より不純物が少ない銅 を製造することができる。そして、得られ 銅粉は、スクリーン印刷法による導体形成 の材料として用いると、微細配線の形成不 を防ぎ、且つ電気的安定性に優れた導体形 が可能となる。したがって、本発明に係る 粉は、微細配線の形成材料に好適である。
