本发明涉及一种用于计量厚度的装置， 特别是一种用于金融自助设备 中检测薄片类有价文件厚度的检测装置。 背景技术

在金融自助设备中为了对批量处理的每一张薄 片类有价文件 （比如纸 币）逐一进行检验， 需要将堆叠的薄片类有价文件一张张分离开来 ， 然后 对分离的单张薄片类有价文件进行图像识别、 厚度检测、 磁信息检测等识 别手段， 以保证所处理的薄片类有价文件的真实性， 其中， 厚度检测在整 个检测中是必不可少的。 厚度检测信息即可以用来判断所处理的薄片类 有 价文件的真伪， 还可以判断机械分离薄片类有价文件是否是一 张， 即是否 是重钞， 以保证计数的准确性。

目前针对薄片类有价文件的厚度检测有众多的 方法， 其中， 采用霍尔 感应器作为检测单元由于其灵敏度高而被广泛 使用， 如图 1和图 2所示即 为目前采用霍尔感应器作为检测单元的厚度检 测装置， 其包括一固定架 7, 在所述固定架 7内平行地对置的基准轴 1和检测轴 3, 基准轴 1上固定 设置有基准辊 2, 检测轴 3上设置有多个一端绕该检测轴 3 自由旋转的检 测辊基座 4, 每一检测辊基座 4的自由端上设置有一检测辊 6, 为了使该自 由端上的检测辊 6始终向基准辊 2靠近， 在检测辊基座 4和固定架 7之间 设置一扭簧 5 , 该扭簧 5的两端分别搭接在检测辊基座 4和固定架 7上为 检测辊基座 4的自由端向基准辊 2方向提供压紧力， 每一检测辊基座 4背 离检测辊 6的一侧设置有一磁铁 在固定架 7上对应于所述的每一磁铁 8 设置有一霍尔感应器 9。 当薄片类有价文件从基准辊 2和检测辊 6之间经 过时， 检测辊 6连同检测辊基座 4被抬起， 霍尔传感器 9通过检测到的来 自磁铁 8的磁通量的变化来判定磁铁 8向上浮动的位移， 从而判定薄片类 有价文件的厚度。 当薄片类有价文件完全通过后， 检测辊 6连同检测辊基 座 4在扭簧 5作用下迅速复位。

霍尔感应器是通过感应磁铁磁通量的变化情况 ， 来判断磁铁与霍尔感 应器之间的位移变化。 磁铁最初与感应器处在一个相对位置， 理论上， 磁 铁上下移动， 最能够真实反映薄片类有价文件厚度的值。 但是由于加工工 艺问题及使用过程中转轴的磨损等情况， 使得检测辊基座 4与检测轴 2之 间会存在缝隙， 从而引起检测辊基座 4左右摇摆； 尽管检测辊基座 4与检 测轴 2通过卡簧限位， 仍然会引起检测辊基座 4在检测轴 2的轴向上移位 震荡。 由于霍尔感应器具有很高的敏感性， 很小的磁通量变化都可以被检 测到。 比如， 假设检测辊基座 4左右晃动的区间是 +/-T, 其引起的磁通量 变化值为 -A C2; 霍尔感应器 9与磁铁 8之间的距离是 L1, 在检测辊基座 4不发生左右摇摆的情况下， 当薄片类有价文件经过基准辊 2和检测辊 6 之间时， 霍尔感应器 9与磁铁 8之间的距离是 L2, 此时对应的磁通量的变 化值为 Δ Cl。 当薄片类有价文件经过检测辊 6与基准辊 2之间时， 检测辊 6被抬起并随检测辊基座 4一起左右偏移， 偏移量是 T, 此时对应的磁通 量变化值为 Δ C3=A C1+ (-Δ d2) =Δ Cl-Δ C2。 那么当 Δ C3=0 时， 霍尔感应器 9无法感应到薄片类有价文件厚度的值； 当 Δ (Τ3>0时， 霍尔 感应器 9检测到的薄片类有价文件的厚度小于正常薄� �类有价文件的厚度 值； 当 Δ C3<0时， 感应器会汇报检测到通过的薄片类有价文件为 负值。

显然， 由于检测辊基座 4在检测轴 2的轴向上移位震荡， 使得厚度检 测装置不能正确地反应通过的薄片类有价文件 的厚度值， 从而导致检测装 置的不正确性， 因此， 针对上述技术缺陷寻求一种解决方案是必要的 。 发明内容

本发明的目的在于提供一种可以有效消除检测 辊基座在检测轴的轴向 上移位震荡而引起的检测不准的薄片类介质厚 度检测装置。

这种薄片类介质厚度检测装置， 其包括：

一固定架， 用于安装和承载如下零部件； 一基准轴， 其两端通过轴承安装于该固定架上， 该基准轴上固定套接 有基准辊；

一检测轴， 其两端固定安装于该固定架上， 该检测轴上设置有至少一 个一端绕该检测轴自由旋转的检测辊基座， 该检测辊基座的自由端上设置 有自由转动的检测辊， 该检测辊与该基准辊形成弹性接触设置；

其特殊之处在于， 与检测辊基座对应地设有弹性压片， 该弹性压片一 端固定于固定架上， 另一端形成一自由端并向该基准辊方向对该检 测辊基 座施加压紧力； 该弹性压片的自由端背向检测辊的一侧固定设 有一磁铁； 以及与该磁铁对置的固定在该固定架上的用于 以非接触方式检测所述磁铁 的位移量的霍尔感应器。

优选的， 所述检测辊基座自由端上设置的自由转动的检 测辊为两个。 进一步的， 所述检测辊基座为两个以上， 且间隔均匀地设置在检测轴 上。

进一步的， 所述检测辊基座为 12个。

优选的， 所述检测辊基座和固定架之间设置一扭簧， 该扭簧的两端分 别搭接在检测辊基座和固定架上， 以提供所述检测辊基座的自由端向基准 辊方向的转动扭力。

该薄片类介质厚度检测装置与现有技术对比分 析具有如下优点： 本检测设置通过对磁铁与检测辊基座的非固定 设计， 即， 通过一弹性 压片承载磁铁， 而弹性压片与霍尔传感器共同固定在固定架上 ， 从而保证 了磁铁与霍尔传感器之间的绝对对置， 以有效解决由于检测辊基座在检测 轴上的位移震荡而导致磁铁与霍尔传感器之间 的偏置震荡而引起的检测错 误问题， 从而保证了检测装置对薄片类介质厚度检测的 准确性。

附图说明

图 1是现有薄片类介质厚度检测装置的结构示意� �；

图 2是现有薄片类介质厚度检测装置的侧向示意� �；

图 3是本发明所提供的薄片类介质厚度检测装置� �构示意图； 图 4是本发明所提供的薄片类介质厚度检测装置� �作原理示意图； 图 5是本发明所提供的薄片类介质厚度检测装置� �侧向示意图。 具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图， 对本发明实施例中的技术方案进 行清楚、 完整地描述， 显然， 所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例， 而不是全部的实施例。 基于本发明中的实施例， 本领域普通技术人员在没 有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实 施例， 都属于本发明保护的 范围。

为进一步阐述本发明所提供的这种薄片类介质 厚度检测装置， 以下结 合本发明的一个优选实施例的图示做进一步的 详细介绍。

参阅图 3所述，本发明所提供的一种优选的薄片类介� �厚度检测装置， 其包括： 一用于安装和承载如下零部件的固定架 17; —基准轴 11 , 其两端 通过轴承 21安装于该固定架 17上， 该基准轴 11上固定套接有基准辊 12; 一检测轴 13, 其两端固定安装于该固定架 17上， 该检测轴 13上间隔均匀 地设置有多个（本实施例中为 12个）一端绕该检测轴自由旋转的检测辊基 座 14, 该检测辊基座 14的自由端上设置有自由转动的检测辊 16, 该检测 辊 16与该基准辊 12形成弹性接触设置。其中， 与检测辊基座 14对应地设 有弹性压片 15, 该弹性压片 15—端固定于固定架 17上， 另一端形成一自 由端并向该基准辊 12方向对该检测辊基座 14施加压紧力； 该弹性压片 15 的自由端背向检测辊 12的一侧固定设有一磁铁 18; 以及与该磁铁 18对置 的固定在该固定架 17上的用于以非接触方式检测所述磁铁 18的位移量的 霍尔感应器 19, 该霍尔感应器 19通过导线与数据处理单元（图中未示出 ) 电联接， 该数据处理单元用于对霍尔感应器 19采集的信息进行处理。

参阅附图 4, 本发明所提供的薄片类介质厚度检测装置工作 原理示意 图，该检测辊基座 14自由端面向基准辊 12的一侧设有容纳检测辊 16的圓 弧形凹槽， 该圓弧形凹槽为两个， 且两个圓弧形凹槽之间设有一隔板， 该 隔板固定设置检测辊 16的转动轴。 检测辊基座 14的自由端与圓弧形凹槽 相背的一侧面被弹性压片 15的自由端弹性抵触， 按压检测辊基座 14的自 由端而维持检测辊 16与基准辊 12之间的紧密性，而弹性压片 15 自由端与 检测辊基座 14相背的一侧固定设有磁铁 18,与磁铁 18所对应的固定架 17 上设有霍尔感应器 19, 因此， 当薄片类介质 20通过基准辊 12与检测辊 16 之间时检测辊基座 14绕检测轴 13转动，而使弹性压片 15的自由端向上方 抬起而移位， 因此造成磁铁 18与霍尔感应器 19之间的距离发生变化， 使 得通过霍尔感应器 19的磁通量发生变化，通过数据处理单元对磁� ��量的变 化进行计算处理得出薄片类介质 20的厚度值。

参阅图 5, 本发明所提供的薄片类介质厚度检测装置的侧 向示意图， 为了保证检测辊基座 14的自由端可以可靠地向基准辊 12弹性压紧， 在检 测辊基座 14和固定架 17之间设置一扭簧 141 , 该扭簧 141的两端分别搭 接在检测辊基座 14和固定架 17上为检测辊基座 14的自由端向基准辊 12 方向提供压紧力。

下面结合图 3至图 5所示， 对该薄片类介质厚度检测装置的工作原理 进行说明。薄片类介质厚度检测装置处于待机 状态时，检测辊基座 14的自 由端受到弹性压片 15 (有扭簧 141的情况下， 加上扭簧 141的弹力 )向基 准辊 12—侧弹压力， 使检测辊 16与基准辊 12紧密接触。 当薄片类介质 20进入检测辊 16和基准辊 12之间时， 由于固定基准辊 12的基准轴 12被 固定， 而设置在可自由转动的检测辊基座上的检测辊 16被向上抬起，使得 磁铁 18与霍尔感应器 19之间的距离发生变化，霍尔感应器 19检测到的磁 通量的变化值通过数据处理单元的数据处理和 计算获得通过薄片类介质的 实际厚度值。

本实施例， 为了对薄片介质的全幅面进行厚度检测而设计 为， 在检测 轴 13上均匀分布 12个检测辊基座 14, 每个检测辊基座 14对应设置了弹 性压片 15, 该弹性压片 15—端固定于固定架 17上， 另一端形成一自由端 并向该基准辊 12方向对该检测辊基座 14施加压紧力；该弹性压片 15的自 由端背向检测辊 12的一侧固定设有一磁铁 18; 以及与该磁铁 18对置的固 定在该固定架 17上的用于以非接触方式检测所述磁铁 18的位移量的霍尔 感应器 19。 因此本领域技术人员可以根据需要对检测辊基 座 14的数量进 行增加或减少， 当只需检测特定位置的厚度时， 那么只需在该特定位置设 置一个检测辊基座 14以及对应的弹性压片 15、 磁铁 18和霍尔感应器 19 即可。

上述厚度检测设置通过对磁铁 18与检测辊基座 14的非固定设计，即， 通过一弹性压片 15承载磁铁 18, 而弹性压片 15与霍尔传感器 19共同固 定在固定架 17上， 从而保证了磁铁 18与霍尔传感器 19之间的绝对对置， 以有效解决由于检测辊基座 14在检测轴 13上的位移震荡而导致磁铁 18 与霍尔传感器 19之间的偏置震荡而引起的检测错误问题，从� ��保证了检测 装置对薄片类介质 20厚度检测的准确性。

以上所述是本发明的优选实施方式， 应当指出， 对于本技术领域的普 通技术人员来说， 在不脱离本发明原理的前提下， 还可以做出若干改进和 润饰， 这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。