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Title:
TARGET AND METHOD FOR PRODUCING A TARGET
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2019/201795
Kind Code:
A1
Abstract:
The invention relates to a target for physical vapor deposition, having the following chemical composition: - 95 mol% to 100 mol% of a mixture of at least two of the following compounds: tantalum diboride (TaB2) and/or tungsten boride (WB2 and/or W2B5) and/or mixed phases of tantalum diboride (TaB2) and tungsten boride (WB2 and/or W2B5); - 0.01 mol% to 5 mol% of carbon (C); - in particular less than 0.01 mol% of borides other than tantalum diboride (TaB2) and/or tungsten boride (WB2 and/or W2B5) and/or mixed phases of tantalum diboride (TaB2) and tungsten boride (WB2 and/or W2B5), the sum of the mixture of tantalum diboride (TaB2) and/or tungsten boride (WB2 and/or W2B5) and/or mixed phases of tantalum diboride (TaB2) and tungsten boride (WB2 and/or W2B5) and the carbon (C) being at least 99.8 mol% with respect to the metal purity, and having the following physical properties: - a density of greater than 90%, preferably greater than 95%, of the theoretical density of the chemical composition defined above; - an average grain size of grains of the mixture of tantalum diboride (TaB2) and/or tungsten boride (WB2 and/or W2B5) and/or mixed phases of tantalum diboride (TaB2) and tungesten boride (WB2 and/or W2B5) of less than 10 micrometers, preferably less than 3 micrometers.

Inventors:
POLCIK PETER (DE)
Application Number:
PCT/EP2019/059515
Publication Date:
October 24, 2019
Filing Date:
April 12, 2019
Export Citation:
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Assignee:
PLANSEE COMPOSITE MAT GMBH (DE)
International Classes:
C23C14/06; C04B35/58; C04B35/645; C23C14/34
Domestic Patent References:
WO2019068933A12019-04-11
Foreign References:
US4259119A1981-03-31
Other References:
O.V. SOBOL ET AL: "Peculiarities of structure state and mechanical characteristics in ion-plasma condensates of quasibinary system borides W2B5-TiB2", SCIENCE OF SINTERING, vol. 38, no. 1, 1 January 2006 (2006-01-01), YU, pages 63 - 72, XP055535061, ISSN: 0350-820X, DOI: 10.2298/SOS0601063S
PAUL H MAYRHOFER ET AL: "High-entropy ceramic thin films; A case study on transition metal diborides", ARXIV.ORG, CORNELL UNIVERSITY LIBRARY, 201 OLIN LIBRARY CORNELL UNIVERSITY ITHACA, NY 14853, 28 February 2018 (2018-02-28), XP081213554, DOI: 10.1016/J.SCRIPTAMAT.2018.02.008
MORAES V ET AL: "Substoichiometry and tantalum dependent thermal stability of [alpha]-structured W-Ta-B thin films", SCRIPTA MATERIALIA, ELSEVIER, AMSTERDAM, NL, vol. 155, 13 June 2018 (2018-06-13), pages 5 - 10, XP085431399, ISSN: 1359-6462, DOI: 10.1016/J.SCRIPTAMAT.2018.06.005
Attorney, Agent or Firm:
GANGL, Markus et al. (AT)
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Claims:
Patentansprüche:

1. Target für die physikalische Dampfphasenabscheidung, mit folgender chemischer Zusammensetzung:

- 95 mol% bis 100 mol% aus einer Mischung von wenigstens zwei der nachstehenden Verbindungen: Tantaldiborid (TaB2) und/oder Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) und/oder Mischphasen von Tantaldiborid (TaB2) und Wolframborid (WB2 und/oder W2B5)

- 0,01 mol% bis 5 mol% Kohlenstoff (C)

- insbesondere weniger als 0,01 mol% andere Boride als Tantaldiborid (TaB2) und/oder Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) und/oder Mischphasen von Tantaldiborid (TaB2) und Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) wobei in Bezug auf die metallische Reinheit die Summe aus der Mischung von Tantaldiborid (TaB2) und/oder Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) und/oder Mischphasen von Tantaldiborid (TaB2) und Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) und dem Kohlenstoff (C) wenigstens 99,8 mol% beträgt, und mit folgenden physikalischen Eigenschaften:

- einer Dichte größer als 90 %, vorzugsweise größer als 95 %, der theoretischen Dichte der oben definierten chemischen Zusammensetzung - einer mittleren Korngröße von Körnern der Mischung von Tantaldiborid (TaB2) und/oder Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) und/oder Mischphasen von Tantaldiborid (TaB2) und Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) kleiner als 10 Mikrometer, vorzugsweise kleiner 3 Mikrometer. 2. Target nach Anspruch 1 , wobei das molekulare Verhältnis von Tantal (Ta) zu

Wolfram (W) in der Mischung von Tantaldiborid (TaB2) und/oder Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) und/oder Mischphasen von Tantaldiborid (TaB2) und Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) in einem Bereich liegt von 1 :99 bis 99:1 , bevorzugt in einem Bereich von 10:90 bis 90:10.

3. Target nach wenigstens einem der vorangehenden Ansprüche, wobei der Kohlenstoff (C) in Form von Graphit vorliegt.

4. Target nach wenigstens einem der vorangehenden Ansprüche, wobei nur Tantaldiborid (TaB2) und/oder Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) und/oder Mischphasen von Tantaldiborid (TaB2) und Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) in Form von röntgenografisch identifizierbaren Phasen vorliegen.

5. Target nach wenigstens einem der vorangehenden Ansprüche, wobei das Tantaldiborid (TaB2) und/oder Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) und/oder Mischphasen von Tantaldiborid (TaB2) und Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) derart homogen verteilt im Target vorliegen, dass bei Auswahl von zumindest fünf quadratischen oder kreisförmigen unterschiedlichen Messbereichen mit einer Größe von jeweils mindestens 1 mm2 die an der Oberfläche des jeweiligen Messbereichs ermittelte mittlere chemische Zusammensetzung nicht mehr als 20 %, bevorzugt nicht mehr als 10 %, von einer gemittelten chemischen Zusammensetzung, berechnet aus allen ausgewählten Messbereichen, abweicht.

6. Target nach wenigstens einem der vorangehenden Ansprüche, wobei in einer röntgenografischen Untersuchung des Targets eine isotrope Struktur ohne bevorzugte kristallografische Kornausrichtung erkennbar ist, wobei ein

Aspektverhältnis von Körnern aus Tantaldiborid (TaB2) und/oder Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) und/oder Mischphasen von Tantaldiborid (TaB2) und Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) kleiner als 1 ,5, bevorzugt kleiner als 1 ,2, besonders bevorzugt im Wesentlichen 1 , ist.

7. Target nach wenigstens einem der vorangehenden Ansprüche, wobei gegebenenfalls vorliegende andere chemische Elemente als Tantal (Ta), Wolfram (W), Bor (B) und Kohlenstoff (C) im Gefüge der Mischung von Tantaldiborid (TaB2) und/oder Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) und/oder Mischphasen von Tantaldiborid (TaB2) und Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) gelöst sind und nicht als gesonderte Phasen röntgenografisch detektierbar sind.

8. Target nach wenigstens einem der vorangehenden Ansprüche, wobei eine HV30 Vickershärte des Targets größer als 1800 HV30, bevorzugt größer als 2300 HV30 ist. 9. Verfahren zur Herstellung eines Targets für die physikalische

Dampfphasenabscheidung, insbesondere eines Targets nach wenigstens einem der vorangehenden Ansprüche, wobei in Form eines Pulvers vorliegendes Tantaldiborid (TaB2) und in Form eines Pulvers vorliegendes Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) - sowie gegebenenfalls pulverförmiger Kohlenstoff, falls dieser nicht als Verunreinigung vorliegt - gemischt und gegebenenfalls mechanisch gemahlen werden und der so hergestellte Pulveransatz in einem formgebenden Werkzeug mittels Heißpressen oder Spark-Plasma-Sintern (SPS) verdichtet wird, dadurch gekennzeichnet, dass der Pulveransatz besteht aus: - 95 mol% bis 100 mol% aus einer Mischung von Tantaldiborid (TaB2) und

Wolframborid (WB2 und/oder W2B5)

- und gegebenenfalls 0,01 mol% bis 5 mol% Kohlenstoff (C) wobei in Bezug auf die metallische Reinheit die Summe aus der Mischung von Tantaldiborid (TaB2) und Wolframborid (WB2 und/oder W2B5) und dem Kohlenstoff (C) wenigstens 99,8 mol% beträgt, und dass das Heißpressen oder Spark-Plasma-Sintern (SPS) mit einer Temperatur von mindestens 1750 °C, bevorzugt mindestens 1850 °C, besonders bevorzugt mindestens 1950 °C erfolgt.

10. Verfahren nach dem vorangehenden Anspruch, wobei das Heißpressen oder

Spark-Plasma-Sintern (SPS) bei einem Druck von mindestens 20 MPa, bevorzugt mindestens 30 MPa erfolgt.

11. Verfahren nach wenigstens einem der vorangehenden Ansprüche, wobei das Heißpressen oder Spark-Plasma-Sintern (SPS) in einem Vakuum oder in einer inerten Schutzgasatmosphäre erfolgt.

12. Verwendung eines Targets nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 8 in einem physikalischen Gasphasen-Abscheide-Verfahren (PVD) zur Abscheidung von Dünnschichten auf einem Substrat.

Description:
Target und Verfahren zur Herstellung eines Targets

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Target (eine Beschichtungsquelle) für die physikalische Dampfphasenabscheidung mit den Merkmalen des Oberbegriffs des Anspruchs 1 und ein Verfahren zur Herstellung eines Targets mit den Merkmalen des Anspruchs 9.

Im Stand der Technik werden in großem Umfang Verfahren der physikalischen Dampfphasenabscheidung zur Herstellung verschiedenster Schichten eingesetzt. Aufgrund des breiten Anwendungsspektrums solcher Schichten müssen verschiedenartige Beschichtungsmaterialien abgeschieden werden können.

Bei der physikalischen Dampfphasenabscheidung kommen dabei verschiedene Techniken zum Einsatz, wie z. B. Verdampfen, Kathodenzerstäubung (sputter deposition) oder Lichtbogenverdampfung (cathodic arc deposition oder Arc-Source- Verdampfungstechnik).

Ein Target ist für die Verwendung in einem PVD (physical vapor deposition, physikalische Dampfabscheidung) Prozess zur Abscheidung von Schichten auf ein dafür vorgesehenes Substratmaterial geeignet. Im Sinne der Erfindung sind unter dem Begriff Target Sputtertargets oder Are Kathoden zu verstehen.

Die Targets werden je nach Werkstoff durch unterschiedliche Technologien hergestellt. Dabei kann man grundsätzlich zwischen pulver- und schmelzmetallurgischen Prozessen unterscheiden. Bei den pulvermetallurgischen Technologien gibt es viele unterschiedliche Möglichkeiten, die entsprechend der Zusammensetzung des Targets unter Berücksichtigung der Eigenschaften der integrierten Elemente gewählt werden müssen. Beispielhaft sind hier Pressen, Sintern, Heißisostatisches Pressen (HIP), Schmieden, Walzen, Heißpressen (HP) oder Spark Plasma Sintern (SPS) auch in Kombination untereinander zu nennen. Gattungsgemäße Targets und Verfahren werden beschrieben in WO 2008/96648 A1 , JP 05195199, JP55128560 und WO 2011/137472 A1.

Insbesondere beschreibt die JP55128560 die Herstellung eines Sinterkörpers mit mindestens zwei unterschiedlichen Diboriden, wobei zwingend Metalle wie Nickel, Eisen und Kobalt in Form von Boriden als Binder und Sinterhilfsmittel verwendet werden, um den Nachteil der niedrigen Porosität der Herstellung bei verhältnismäßig niedrigen Sintertemperaturen zu kompensieren. Nachteilig ist, dass diese Metalle bei Einsatz eines Sinterkörpers als Targets die Reinheit der abgeschiedenen Schichten beeinträchtigen.

Es ist auch bekannt, Schichten aus Tantaldiborid (TaB 2 ) und Wolframborid (WB 2 und/oder W 2 B 5 ) mittels Co-Sputtern herzustellen, wobei gesonderte Targets aus im Wesentlichen reinen Tantaldiborid (TaB 2 ) und im Wesentlichen reinen Wolframborid (WB 2 und/oder W 2 B 5 ) eingesetzt werden. Nachteilig ist, dass bei industriellen Beschichtungsprozessen aufgrund der räumlichen Trennung der gesonderten Targets mit rotierenden Substraten zwangsläufig Multilagenschichten entstehen und keine chemisch homogene Schicht.

Aufgabe der Erfindung ist die Bereitstellung eines gattungsgemäßen Targets und eines gattungsgemäßen Verfahrens zur Herstellung eines Targets, welches eine hohe Dichte aufweist, mit welchem hochreine, chemisch homogene Schichten herstellbar sind und welches eine feine und isotrope Mikrostruktur aufweist.

Diese Aufgabe wird durch ein Target mit den Merkmalen des Anspruchs 1 und ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 9 gelöst. Vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen definiert. Schutz wird auch begehrt für eine Verwendung eines erfindungsgemäßen Targets in einem physikalischen Gasphasen-Abscheide-Verfahren (PVD) zur Abscheidung von Dünnschichten auf einem Substrat.

Die Erfindung kommt ohne den Einsatz von Bindern oder Sinterhilfsmitteln wie beispielsweise Nickel, Kobalt oder Eisen als pulverförmige Zugaben aus, weil das erfindungsgemäße Verfahren zur Herstellung eines Targets bei verhältnismäßig hohen Temperaturen stattfindet. Dies führt aber zwangsläufig dazu, dass das Gefüge bei diesen hohen Temperaturen sehr stark vergröbern würde, was wiederum nachteilig für den Einsatz als Target wäre. Die Erfindung vermeidet diese Vergröberung, indem ein Pulver aus mindestens zwei unterschiedlichen Phasen, nämlich Tantaldiborid (TaB 2 ), Wolframborid (WB 2 und/oder W 2 B 5 ), und ggf. Kohlenstoff, vorzugsweise Graphit, (falls der Kohlenstoff nicht in Form einer Verunreinigung einer oder beider der Phasen Tantaldiborid (TaB 2 ) oder Wolframborid (WB 2 und/oder W 2 B 5 ) vorliegt), zum Einsatz kommt. Dies gewährleistet die Beibehaltung einer feinen Mikrostruktur trotz der verhältnismäßig hohen Verdichtungstemperatur.

Erfindungsgemäß beträgt die Summe aus der Mischung von wenigstens zwei der nachstehenden Verbindungen: Tantaldiborid (TaB 2 ) und Wolframborid (WB 2 und/oder W 2 B 5 ) und dem Kohlenstoff (C) wenigstens 99,8 mol%. Dabei handelt es sich um die metallische Reinheit ohne Betrachtung solcher Elemente wie Sauerstoff (O), Stickstoff (N) oder Wasserstoff (H).

Ein für das erfindungsgemäße Verfahren verwendbarer Pulveransatz besteht aus:

95 mol% bis 100 mol% aus einer Mischung von Tantaldiborid (TaB 2 ) und Wolframborid (WB 2 und/oder W 2 B 5 )

und gegebenenfalls 0,01 mol% bis 5 mol% Kohlenstoff (C)

Aufgrund von Verunreinigungen von Tantaldiborid (TaB 2 ) und/oder Wolframborid (WB 2 und/oder W 2 B 5 ) können in den erfindungsgemäßen Targets andere Boride als Tantaldiborid (TaB 2 ) und Wolframborid (WB 2 und/oder W 2 B 5 ) detektierbar sein (weniger als 0,01 mol%).

Bei einem Ausführungsbeispiel der Erfindung ist vorgesehen, dass der Kohlenstoff (C) in Form von Graphit vorliegt.

Für eine Mischung eines Pulveransatzes für Targets mit der Zusammensetzung von TaB 2 /W 2 B 5 35/65 mol% sind beispielhaft folgende Pulver verwendet worden:

- TaB 2 mit einem d50 Wert für die Korngröße von 2,5 pm

- WB 2 und/oder W 2 B 5 mit einem d50 Wert für die Korngröße von 9,4 pm

- Graphitpulver mit einer Korngröße kleiner 6 pm

Die Pulver sind in einem Verhältnis von TaB 2 /W 2 B 5 von 35/65 mol% gemischt worden. Die fertig gemahlene Pulvermischung ist durch Fleißpressen in Werkzeugen mit dem Durchmesser von 165 mm zu Ronden mit den Abmessungen von dia 165 x 8 mm bei einem Pressdruck von 30 MPa und einer Temperatur von 2000 °C verdichtet worden.

Bei einem Ausführungsbeispiel der Erfindung ist vorgesehen, dass das Tantaldiborid (TaB 2 ) und/oder Wolframborid (WB 2 und/oder W 2 B 5 ) und/oder Mischphasen von Tantaldiborid (TaB 2 ) und Wolframborid (WB 2 und/oder W 2 B 5 ) derart homogen verteilt im Target vorliegen, dass bei Auswahl von zumindest fünf quadratischen oder kreisförmigen unterschiedlichen Messbereichen mit einer Größe von jeweils mindestens 1 mm 2 die an der Oberfläche des jeweiligen Messbereichs ermittelte mittlere chemische Zusammensetzung nicht mehr als 20 %, bevorzugt nicht mehr als 10 %, von einer gemittelten chemischen Zusammensetzung, berechnet aus allen ausgewählten Messbereichen, abweicht.

Bei einem Ausführungsbeispiel der Erfindung ist vorgesehen, dass in einer röntgenografischen Untersuchung des Targets eine isotrope Struktur ohne bevorzugte kristallografische Kornausrichtung erkennbar ist, wobei ein Aspektverhältnis von Körnern der Mischung aus Tantaldiborid (TaB 2 ) und/oder Wolframborid (WB 2 und/oder W 2 B 5 ) und/oder Mischphasen von Tantaldiborid (TaB 2 ) und Wolframborid (WB 2 und/oder W 2 B 5 ) kleiner als 1 ,5, bevorzugt kleiner als 1 ,2, besonders bevorzugt im Wesentlichen 1 , ist.

Bei einem Ausführungsbeispiel der Erfindung ist vorgesehen, dass nur Tantaldiborid (TaB 2 ) und/oder Wolframborid (WB 2 und/oder W 2 B 5 ) und/oder Mischphasen von Tantaldiborid (TaB 2 ) und Wolframborid (WB 2 und/oder W 2 B 5 ) in Form von röntgenografisch identifizierbaren Phasen vorliegen.

Bei einem Ausführungsbeispiel der Erfindung ist vorgesehen, dass eine HV30 Vickershärte des Targets größer als 1800 HV30, bevorzugt größer als 2300 HV30 ist.

In Bezug auf das Verfahren ist bei einem Ausführungsbeispiel der Erfindung vorgesehen, dass das Heißpressen oder Spark-Plasma-Sintern (SPS) bei einem Druck von mindestens 20 MPa, bevorzugt mindestens 30 MPa erfolgt.

In Bezug auf das Verfahren ist bei einem Ausführungsbeispiel der Erfindung vorgesehen, dass das Heißpressen oder Spark-Plasma-Sintern (SPS) in einem Vakuum oder in einer inerten Schutzgasatmosphäre erfolgt.