Beschreibung

Titel

Verfahren zum Testen

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Testen, ein elektronisches Bauelement sowie ein Computerprogramm und ein Computerprogrammprodukt.

Stand der Technik

Die stetig steigenden Anforderungen an die Qualität von elektronischen Systemen hat insbesondere im Halbleiterbereich zu erheblichen Anstrengungen bei der Entwicklung von Testverfahren geführt. Da mit den Herstellungsprozessen von Halbleitern eine endliche Defektdichte verbunden ist, ist eine unmittelbare Abhängigkeit der Produktqualität von der Leistungsfähigkeit der angewendeten Testverfahren gegeben. Demnach ist eine möglichst vollständige Prüfung aller für eine jeweilige Anwendung relevanten Merkmale erforderlich.

Der vergleichsweise hohe Kostenanteil der Bauelementeprüfungen an den Stückkosten, der sich u. a. aus der hierfür erforderlichen Testzeit ergibt, führt zu einer Verlagerung von Testverfahren in die Bauelemente in Form von sog. "DFT"(Design for Test) -Maßnahmen. Die fortschreitende Komplexitätssteigerung der Bauelemente durch Strukturweitenreduktion führt dazu, dass zunehmend leistungsfähigere "On Chip"-Testhilfen eingesetzt werden, die üblicherweise an einem gefertigten Bauelement durchgeführt werden.

Offenbarung der Erfindung

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Testen, das mit mindestens einem elektronischen Bauelement, das in einer elektronischen Baugruppe integriert und durch spezifische

Testfunktionen zur Variation von Betriebsbedingungen schaltungstechnisch erweitert ist, ausgeführt wird.

Mit diesem Verfahren kann mindestens ein Bauelement der Baugruppe und somit ggf. auch die komplette Baugruppe getestet werden, wobei mehrere Bauelemente der elektronischen Baugruppe üblicherweise gleichzeitig getestet werden.

Zur Variation der Betriebsbedingungen können unterschiedliche, für einen Betrieb erforderliche, elektronische Betriebsparameter, wie bspw. eine Versorgungsspannung oder ggf. eine Stromstärke, für das mindestens eine Bauelement variiert werden.

Die zur Ausführung des Verfahrens u.a. vorgesehenen Testfunktionen können über mindestens einen Kommunikationskanal, der innerhalb der elektronische Baugruppe mit dem mindestens einen schaltungstechnisch erweiterten, elektronischen Bauelement verbunden ist, modifiziert werden. über den mindestens einen Kommunikationskanal ist das mindestens eine schaltungstechnisch erweiterte Bauelement mit mindestens einem weiteren Bauelement verbunden.

In Ausgestaltung des Verfahrens ist vorgesehen, dass durch das mindestens eine schaltungstechnisch erweiterte, elektronische Bauelement mindestens ein weiteres elektronisches Bauelement, das in der elektronischen Baugruppe integriert ist, getestet wird. Alternativ oder ergänzend kann das mindestens eine elektronische Bauelement einen Selbsttest durchführen.

Weiterhin ist es möglich, durch das mindestens eine elektronische Bauelement, das schaltungstechnisch erweitert ist, Referenzen abzugleichen.

Das schaltungstechnisch erweiterte Bauelement ist in der elektronischen Baugruppe, die in der Regel mehrere Bauelemente umfasst, eingebaut. Für eine Erweiterung einer Teststrategie für mindestens ein Bauelement und somit ggf. auch der elektronischen Baugruppe wird zur Variation von Betriebsbedingungen eine spezifische Testhilfe bzw. -funktion für das mindestens eine

Bauelement eingesetzt.

Eine Testfunktion umfasst üblicherweise eine Variation mindestens einer Versorgungsspannung, insbesondere jener Versorgungsspannungen, die für die Baugruppenprüfung in verbautem Zustand bereitgestellt werden.

In Ausgestaltung ist es weiterhin möglich, dass die Betriebsbedingungen durch das mindestens eine schaltungstechnisch erweiterte, elektronische Bauelement variiert werden.

Das mindestens eine schaltungstechnisch erweiterte, elektronische Bauelement kann in einer Ausführungsform der Erfindung als ein ggf. modifizierter BIST (built-in-self-test) -Baustein ausgebildet sein, dessen Funktion nicht allein darauf beschränkt ist, lediglich einen Selbsttest durchzuführen. Das Bauelement bzw. der Baustein ist derart schaltungstechnisch erweitert, dass darin mindestens eine Testfunktion implementiert ist, so dass das Bauelement sich selbst und/oder andere Bauelemente der Baugruppe testen kann. Eine derartige Implementierung kann softwaretechnisch erfolgen. Ein Programm zur Durchführung der Testfunktion kann in dem mindestens einen schaltungstechnisch erweiterten Bauelement gespeichert und bedarfsweise wieder gelöscht werden.

Das mindestens eine Bauelement oder ein entsprechendes Schaltungsteil ist derart erweitert, dass während des Tests, bspw. nach einem Abgleichschritt, Betriebsparameter konfiguriert werden.

In einer Variante des Verfahrens kann ein Zugriff auf das mindestens eine Bauelement über eine Schnittstelle, insbesondere über eine Test- oder Kommunikationsschnittstelle, der elektronischen Baugruppe erfolgen.

Das Verfahren kann u.a. für mindestens ein als Halbeleiterelement ausgebildetes Bauelement, das in einer als Steuergerät ausgebildeten elektronische Baugruppe integriert ist, ausgeführt werden.

Die Erfindung betrifft außerdem ein elektronisches Bauelement, das in einer elektronischen Baugruppe integriert und zur Variation von Betriebsbedingungen durch spezifische Testfunktionen schaltungstechnisch erweitert ist, so dass dieses elektronische Bauelement zur Durchführung eines Tests ausgebildet ist.

- A -

Dabei kann das elektronische Bauelement dazu ausgebildet sein, mindestens ein weiteres elektronisches Bauelement, dass in der Baugruppe integriert ist, zu testen und/oder einen Selbsttest durchzuführen.

Eine vorgesehene elektronische Baugruppe weist mindestens ein erfindungsgemäßes elektronisches Bauelement auf.

Das mindestens eine erfmdungsgemäße Bauelement ist zur Durchführung von wenigstens einem Schritt des erfindungsgemäßen Verfahrens ausgebildet. Demnach kann dieser wenigstens eine Schritt auch durch die erfindungsgemäße elektronische Baugruppe ausgeführt werden. Dieses schaltungstechnisch erweiterte Bauelement kann bspw. als Controller bzw. Kontrollmodul oder Versorgungseinheit ausgebildet sein.

Die Erfindung betrifft außerdem ein Computerprogramm mit Programmcodemitteln, um alle Schritte eines erfindungsgemäßen Verfahrens durchzuführen, wenn das Computerprogramm auf einem Computer oder einer entsprechenden Recheneinheit, insbesondere in einer beschriebenen elektronischen Baugruppe, ausgeführt wird.

Das erfindungsgemäße Computerprogrammprodukt mit Programmcodemitteln, die auf einem computerlesbaren Datenträger gespeichert sind, ist zum Durchführen aller Schritte eines beschriebenen Verfahrens ausgebildet, wenn das Computerprogramm auf einem Computer oder einer entsprechenden Recheneinheit, insbesondere in einer vorgestellten elektronischen Baugruppe, ausgeführt wird.

Die Erfindung ermöglicht bspw. ein Testverfahren für ein Steuergerät mit variablen

Betriebsbedingungen.

In Ausgestaltung der Erfindung kann in der elektronischen Baugruppe eine sog. "BIST"- bzw. built-in-self-test-Struktur implementiert sein, die als ein elektronischer Baustein und somit der schaltungstechnisch erweiterten Baugruppe zur Durchführung des Tests sowie eines Selbsttests ausgebildet ist. Diese primär für den Test von integrierten Schaltkreisen konzipierten Strukturen zum Ausführen des Tests lassen sich bei der Erfindung typischerweise auch zum Test der Baugruppe einsetzten. Ein Einsatz des beschriebenen schaltungstechnisch erweiterten

elektronischen Bauelements bietet sich u.a. bei der Implementierung von elektronischen Baugruppen mit integrierten Versorgungsbausteinen an.

Mit der Erfindung können u.a. Qualitätsanforderungen auf Ebene der Baugruppe zur Verbesserung der Prüftiefe der Bauelemente im Schaltungsverbund sowie bei der Prüfung der Bauelemente nach einer Gerätefertigung erfüllt werden. Eine mögliche Variante des Verfahrens sieht die Anwendung von BIST-Strukturen von Bauelementen zum Selbsttest in einer Applikation, wie z.B. im IEEE Standard 1149.1 beschrieben, vor, wobei ebenfalls Betriebsbedingungen variiert werden können.

Bei der elektrischen Prüfung der elektronischen Baugruppe bzw. von einzelnen Bauelementen der Baugruppe in verbautem Zustand, können nunmehr wie bei der Prüfung isolierter Bauelemente die Betriebsbedingungen, insbesondere Betriebsparameter wie die Versorgungsspannungen, variiert werden.

Eine Ausführung der Erfindung beruht somit auf der schaltungstechnischen Erweiterung von Bauelementen und somit von Baugruppen durch spezifische Testfunktionen zur Variation der Betriebsbedingungen, die für die Baugruppenprüfung in verbautem Zustand bereitgestellt werden. Dabei können existierende Funktionen bzw. vorhandene Testhilfen so modifiziert werden, dass sie über die bestehenden Kommunikationskanäle kontrolliert werden. Beispielsweise können

Schaltungsteile, die primär einem Abgleich von Referenzen oder Spannungsquellen dienen, so erweitert werden, dass auch nach einem Abgleichschritt eine Möglichkeit zur Konfiguration der entsprechenden Parameter geschaffen wird.

Ein Zugriff auf die Testfunktion erfolgt vorzugsweise über eine Testschnittstelle oder ein

Testinterface, wie es beispielsweise auch im IEEE Standard 1149.1 beschrieben ist. Alternativ oder ergänzend kann der Zugriff über eine vorhandene interne Kommunikationsschnittstelle eines jeweiligen elektronischen Bauelements erfolgen.

Bei der Prüfung des mindestens einen Bauelements und ggf. der Baugruppe werden in

Ausgestaltung vorhandene "built-in-self-test"-Funktionen bzw. Test- oder Selbsttest-Routinen der Geräte-Software bei unterschiedlichen Betriebsbedingungen ausgeführt. Dabei können sowohl digitale wie auch analoge Merkmale der Baugruppe in die Prüfung einbezogen werden.

Bei einer Variante der Erfindung kann sich die Prüfung mit unterschiedlichen Betriebsbedingungen vorteilhaft auf die Prüftiefe auswirkt. Außerdem kann durch Prüfung mit Variation der Versorgungsspannung das Problem von nicht erkennbaren Fehlfunktionen beim Betrieb in Grenzlagen bzw. in Grenzbereichen bzgl. einer physikalischen Belastbarkeit weitgehend behoben werden.

Bei einem Testbetrieb mit erhöhter Versorgungsspannung für die Baugruppen in Relation zum Normalbetrieb wird die Baugruppe einem elektrischen und thermischen Stress ausgesetzt, der zur Aktivierung latenter Schwachstellen genutzt wird, wohingegen eine Prüfung mit abgesenkter

Versorgungsspannung Testbedingungen in bezug auf Treiberfähigkeit, Schaltgeschwindigkeit und Störempfindlichkeit, bspw. bei der Prüfung analoger Leistungsmerkmale, definiert.

Zur Durchführung einer Variante des Verfahrens wird üblicherweise ein Schaltungsteil benutzt, der auch als Bauelement ausgebildet sein kann, zur Bereitstellung der erforderlichen

Versorgungsspannungen der Baugruppe dient und in elektronischen Baugruppen enthalten sein kann.

Weitere Vorteile und Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung und der beiliegenden Zeichnung.

Es versteht sich, dass die voranstehend genannten und die nachstehend noch zu erläuternden Merkmale nicht nur in der jeweils angegebenen Kombination, sondern auch in anderen Kombinationen oder in Alleinstellung verwendbar sind, ohne den Rahmen der vorliegenden Erfindung zu verlassen.

Kurze Beschreibung der Zeichnung

Figur 1 zeigt in schematischer Darstellung eine beispielhafte Ausführung einer elektronischen Baugruppe.

Figur 2 zeigt in schematischer Darstellung ein Diagramm zu einer Ausführungsform zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens.

Ausführungsformen der Erfindung

Die Erfindung ist anhand von Ausfuhrungsbeispielen in der Zeichnung schematisch dargestellt und wird im folgenden unter Bezugnahme auf die Zeichnung ausführlich beschrieben.

Die in Figur 1 schematisch dargestellte beispielhafte Ausführung einer elektronischen Baugruppe 2 umfasst als Bauelemente einen Controller 4, eine Versorgungseinheit 6 sowie eine erste Peripherieeinheit 8 und eine n-te Peripherieeinheit 10, die hier als zu testende Bauelemente vorgesehen sind. Der Controller 4 weist eine externe Kommunikationsschnittstelle 12 auf, die über einen Anschluss der Baugruppe 2 zugänglich ist.

Die hier beschriebene Ausführungsform der Baugruppe 2 weist zusätzlich eine Testschnittstelle 14 auf. Die Baugruppe 2 ist hier zugleich als ein Steuergerät ausgebildet. Falls dieses Steuergerät nicht durch ein Abdeckelement geschlossen ist, kann auf die Testschnittstelle 14 direkt oder mittelbar über eine externe Schnittstelle der Baugruppe 2 zugegriffen werden.

Die Versorgungseinheit 6 weist eine konfigurierbare Einheit 18 zum Variieren von Spannungen von Versorgungssystemen 24, 26, 28, die über eine Versorgungsleitung 20 bereitgestellt werden, sowie eine Schnittstelle 22 auf. Somit ist diese Versorgungseinheit 6 als eine Ausgestaltung eines schaltungstechnisch erweiterten Bauelements ausgebildet.

Während einer Prüfung der Baugruppe 2 wird in diesem Fall über die Kommunikationsschnittstelle 12 des Controllers 4 eine Ablage von Versorgungssystemen 24, 26, 28 in der Versorgungseinheit 6 aktiviert. Alternativ kann eine derartige Ablage über die

Testschnittstelle 14 aktiviert werden. Außerdem sind die beschriebenen Komponenten der Baugruppe über mehrere Kommunikationskanäle 30 miteinander verbunden.

Die Prüfung der Baugruppen 2 erfolgt schrittweise durch wiederholte Ausführung der vollständigen Testroutinen des Controllers 4 und somit der im Controller 2 vorhandenen BIST-

Funktionen bzw. eingebauter Funktionen zum Test der einzelnen Bauelemente, zur Prüfung analoger Parameter sowie ggf. verfügbarer Verdrahtungsprüfungen bei unterschiedlichen

Versorgungsspannungen. Demnach ist hier weiterhin der Controller 4 als eine weitere Ausgestaltung eines schaltungstechnisch erweiterten Bauelements ausgebildet.

Die Versorgungseinheit 6 sowie der Controller 2 sind hier jeweils durch spezifische Testfunktionen schaltungstechnisch erweitert. Somit sind diese beiden schaltungstechnisch erweiterten Bauelemente zum Testen der Peripherieeinheiten 6, 8 ausgebildet.

Das in Figur 2 schematisch dargestellte Diagramm zur Durchführung einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens umfasst in einem ersten Verfahrensschritt 40 ein Anheben der Versorgungsspannung über mindestens einen Nominalwert. In einem zweiten Verfahrensschritt 42 erfolgt eine Abarbeitung einer Prüfroutine für eine maximale Dauer, wobei hier eine thermische und elektrische Beanspruchung zur Aktivierung latenter Defekte einer elektronischen Baugruppe vorgesehen ist.

In einem dritten Verfahrensschritt 44 wird die Versorgungsspannung unter einen Nominalwert abgesenkt, wobei hier eine Prüfung mit Vorhalt bezüglich Pegel und Schaltgeschwindigkeit vorgesehen ist. Ein Abarbeitung der Prüfroutinen ausgehend von der im dritten Verfahrensschritt 44 getroffenen Maßnahme wird in einem vierten Verfahrensschritt 46 durchgeführt.

In einem fünften Verfahrensschritt 48 erfolgt ein Betrieb bei Nominalwerten ohne Ablage. Ein

Abarbeiten der Prüfiroutinen wird in einem sechsten Verfahrensschritt 50 unter Berücksichtigung der im fünften Verfahrensschritt 48 getroffenen Maßnahmen durchgeführt.

Die einzelnen Verfahrensschritte 40, 42, 44, 46, 48, 50 werden in Ausgestaltung der Erfindung durch ein Bauelement durchgeführt, das in der Baugruppe integriert ist. Dieses Bauelement ist durch spezifische Testfunktionen schaltungstechnisch erweitert, die es erlauben, die Verfahrungsschritte 40, 42, 44, 46, 48, 50 unter Variation von Betriebsbedingungen, hier Anheben und Absenken der Versorgungsspannung, durchzuführen.