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Title:
TWO-PORT RESISTANCE SWITCH ELEMENT AND SEMICONDUCTOR DEVICE
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2009/019980
Kind Code:
A1
Abstract:
This invention provides a resistance switch element having a very small size of approximately 20 nm x 20 nm in terms of the whole element size and having higher electric conductivity by taking advantage of the smallness of the diameter of a multilayered carbon nanotube or a multilayered carbon nanofiber per se in a simpler method which does not require a molecule inclusion step. Specifically, there is provided a two-port resistance switch element characterized by comprising multilayered carbon nanofibers or multilayered carbon nanotubes while providing nanoscale-width gaps therebetween.

Inventors:
SUGA HIROSHI (JP)
NAITOU YASUHISA (JP)
HORIKAWA MASAYO (JP)
SHIMIZU TETSUO (JP)
Application Number:
PCT/JP2008/063176
Publication Date:
February 12, 2009
Filing Date:
July 23, 2008
Export Citation:
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Assignee:
NAT INST OF ADVANCED IND SCIEN (JP)
SUGA HIROSHI (JP)
NAITOU YASUHISA (JP)
HORIKAWA MASAYO (JP)
SHIMIZU TETSUO (JP)
International Classes:
H01L29/06; B82B1/00; C01B31/02
Foreign References:
JP2007049084A2007-02-22
JP2007123828A2007-05-17
JP2005175164A2005-06-30
JP2005079335A2005-03-24
JP2006128438A2006-05-18
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Claims:
 多層カーボンナノファイバーをナノスケールの間隙幅をもって配置したことを特徴とする2端子抵抗スイッチ素子。
 上記間隙幅をもって配置した多層カーボンナノファイバーに電極を設けたことを特徴とする請求項1に記載の2端子抵抗スイッチ素子。
 多層カーボンナノチューブをナノスケールの間隙幅をもって配置したことを特徴とする2端子抵抗スイッチ素子。
 上記間隙幅をもって配置した多層カーボンナノチューブに電極を設けたことを特徴とする請求項3に記載の2端子抵抗スイッチ素子。
 上記間隙幅は、0.1nm~20nmの範囲であることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の2端子抵抗スイッチ素子。
 請求項1乃至5のいずれか1項に記載の2端子抵抗スイッチ素子を組み込んだ半導体デバイス。
Description:
2端子抵抗スイッチ素子及び半導 体デバイス

 本発明は、2端子抵抗スイッチ素子特に多 層カーボンナノチューブあるいは多層カーボ ンナノファイバーを用いた2端子抵抗スイッ 素子及び半導体デバイスに関するものであ 。

 現在電気素子の微細化が進み、それぞれの 子の微細化限界が近づきつつある。例えば 現在の主力メモリ素子であるCMOSの場合、そ の機能を発現するチャネル長の最小値は6nmで あると予想されている。この限界を超える新 技術開発のため、様々なアイデアを元に新た な素子の開発が世界中で進められている。
 メモリ素子に関して例示すると、原子移動 分子の特性変化を介し、On/Off状態間で大き 抵抗変化を生じる2端子抵抗スイッチ素子が 研究されている。以下に代表的な例を紹介す る。

 非特許文献1で紹介された手法は、硫化銀電 極と白金電極の間の電気化学反応を利用して 銀粒子の伸縮及び収縮を行い、電極間を銀原 子で架橋・切断をコントロールし原子スイッ チを実現するものである。
 非特許文献2で紹介されている手法は、カテ ナン系分子の酸化還元反応を利用し、電圧で この分子の酸化還元反応を誘起させチャンネ ルを開き、スイッチ素子を実現している。
 以上のように近年、少数の金属原子の伸縮 しくは分子の酸化還元反応を利用したスイ チ素子が報告されている。

 また発明者らは、図1に示すように、ナノ スケール間隙幅を持った金属電極間に電圧を 印加することによる2端子抵抗スイッチ素子 提案している(特許文献1、非特許文献3)。こ 文献で提案している手法は、0.1nm~20nm程度の ギャップ幅をもつ金電極間に電圧を印加する ことによってギャップ幅をコントロールする ものである。この手法によればギャップ部の 抵抗値をコントロールでき、そのギャップ幅 のコントロールを利用して不揮発性メモリと して応用できることを示した。

 さらに発明者らは、カーボンナノチュー を用いて、20nm以下の空隙幅のギャップ電極 を作製することにより、現在のシリコンプロ セスの限界配線幅(45nm)をはるかに下回る領域 面積でのスイッチングデバイスを作製するこ とを試みた。電極の材料が単層カーボンナノ チューブ単体を用いた場合は、スイッチング 現象は確実に起こらなかったが、フラーレン 分子(C60)やカロテン分子を内包した単層カー ンナノチューブを用いると、スイッチング 象が高い確率で発現することを確認した。

 しかし、フラーレン分子やカロテン分子を 包したカーボンナノチューブによるスイッ 素子の作製に当たっては、カーボンナノチ ーブに分子を内包させる工程が必要になる め、作製効率の点で難点があった。さらに 単層カーボンナノチューブは半導体の性質 もつ場合と金属の性質を持つ場合があるが 電極として適切な金属性質の単層カーボン ノチューブだけを選別する精製コストは非 に高価であり、また、単層カーボンナノチ ーブは熱や酸化に対して脆弱であるという 題がある。

特願2006-189380号(特開2007-123828号) Nature 433, (2005) 47-50. SCIENCE 289, (2000) 1172-1175. Nanotechnology 17, (2007) 5669-5674.

 本発明の課題は、多層カーボンナノチュ ブあるいは多層カーボンナノファイバー自 の直径の小ささを利用し、素子全体として2 0nm×20nm程度の極めて小さな抵抗スイッチ素子 を、分子内包工程を必要としないより簡単な 手法で、より優れた電気伝導率で提供するこ とである。

 上記課題は次のような手段により解決され 。
(1)多層カーボンナノファイバーをナノスケー ルの間隙幅をもって配置したことを特徴とす る2端子抵抗スイッチ素子。
(2)上記間隙幅をもって配置した多層カーボン ナノファイバーに電極を設けたことを特徴と する(1)に記載の2端子抵抗スイッチ素子。
(3)多層カーボンナノチューブをナノスケール の間隙幅をもって配置したことを特徴とする 2端子抵抗スイッチ素子。
(4)上記間隙幅をもって配置した多層カーボン ナノチューブに電極を設けたことを特徴とす る(3)に記載の2端子抵抗スイッチ素子。
(5)上記間隙幅は、0.1nm~20nmの範囲であること 特徴とする(1)ないし(4)のいずれかに記載の2 子抵抗スイッチ素子。
(6)(1)乃至(5)のいずれかに記載の2端子抵抗ス ッチ素子を組み込んだ半導体デバイス。

 本発明では、多層カーボンナノチューブ るいは多層カーボンナノファイバーを採用 ているため、化学気相反応法(CVD)によって 大量に合成可能であり、分子内包などの手 を必要としない。かつ、多層カーボンナノ ューブは、次世代LSI配線としても期待され ほど、電気伝導、熱伝導共に優れ、単層カ ボンナノチューブよりも流すことができる 流量は大きい利点がある。

On/Off状態を繰り返し変化させたときの 子抵抗の変化図 試料の作成手順を示す図 作製した試料の走査電子顕微鏡像

 本発明の2端子抵抗スイッチ素子は、ナノ スケールで向かい合った多層カーボンナノチ ューブに電圧を印加することにより電気的ス イッチを実現するものである。印加した電圧 をゆっくりとOVに近づけるとスイッチがOnに り、逆に瞬時に0Vに近づけるとスイッチがOff になる素子である。

 図1に、On、Offと繰り返し状態を変化させた きの素子抵抗の変化を示す。2端子抵抗スイ ッチ素子は、約500kωのOn状態と約10MωのOff状 との二つの抵抗状態をとっていることがわ る。+12Vを素子に印加した状態からの印加電 の下げ方を変えることによって、この2種類 の抵抗値を作り分けることができる。
 低いオン抵抗(約500kω)は、+12Vからゆっくり OVに電圧を落とすこと(例えば電圧の変化速 は約1V/s)で実現する。そして高いオフ抵抗( 10Mω)は、+12Vから瞬時に0Vに電圧を下げた時( 電圧の変化速度は約0.2V/1μs)に実現する。
 なおカーボンナノチューブ間の間隙幅は、0 .1nm~20nmの範囲であればよい。

 電界の印加方法によりこのように2種類の 抵抗を素子に持たせることができる。それぞ れの抵抗状態は低電圧領域で抵抗を維持する ため、この変化は不揮発性を有する。そして 、このOn/Offの変化は可逆的な変化であり、同 じ素子に200回以上繰り返し測定を行っても同 様のスイッチング特性を示す。

 試料の作製方法を図2に模式図として示す。 図2aのように、シリコン酸化層を有するシリ ン基板上にメタルマスクにて約650nm~1μmの間 隙幅で金もしくはパラジウムの金属電極を蒸 着する。その電極上に、SEMの試料室に組み込 まれた精密マニピュレーターを使って、図2b 示すように、多層カーボンナノチューブを 本架設する。
 多層カーボンナノチューブ架設後の電極の 査型電子顕微鏡像を図3に示す。

 その後、試料を窒素雰囲気で500℃24時間 熱することにより金属原子をカーボンナノ ューブ上を移動させて、カーボンナノチュ ブと金属電極の界面抵抗を20kω程度に安定に させる。(図2c)最後に、図2dに示すように電極 間に数十μA以上の電流をナノチューブに流し 、切断する。このとき切断されたナノチュー ブはわずか数nmの間隙幅を有して切断される そして、ナノスケールで多層カーボンナノ ューブが向かい合った構造が作製される。 しくは、高い抵抗となる局所的な欠陥構造 多層カーボンナノチューブの一部分に形成 れる。

 なお、上記の実施例は、あくまでも本発明 理解を容易にするためのものであり、本発 はこれに限定されるものではない。すなわ 、本発明の技術思想に基づく変形、他の態 は、当然本発明に包含されるものである。
 例えば実施例では多層カーボンナノチュー を例示しているが、2層以上の構造を持つカ ーボンナノファイバーなどを用いても、抵抗 スイッチ素子とすることができる。
 また本発明の2端子抵抗スイッチ素子をメモ リやストレージ装置等に組み込んで半導体デ バイスが得られることはいうまでもない。




 
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