Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten, mit einem Auflageteil für

10 die jeweils zu prüfende Leiterplatte, mit einer Viel¬ zahl von einem bestimmten Raster angeordneten Prüf¬ stiften, die direkt oder unter Zwischenschaltung eines Rasteranpassungsadapters auf die Leiterplatte aufsetz¬ bar sind, mit einer mit jedem der Prüfstifte verbunde- - ^• -> nen Schaltermatrix, und mit einem mit der Schalterma¬ trix verbundenen Steuerschaltungsteil.

Man unterscheidet Spezial-Prüfvorrichtungen und Univer- sal-PrüfVorrichtungen. Bei den Spezial-Prüfvorrichtungen 0 wird ein Prüfadapter verwendet, der nur mit soviel Prüf¬ stiften versehen ist, wie zur Prüfung des speziellen Leiterplattentyps erforderlich sind. Für jeden Leiter¬ plattentyp ist demnach ein besonderer Prüfadapter zu erstellen, der dann in die Vorrichtung eingesetzt wer- 5 den muß. Im Gegensatz dazu weist ein Universal- Prüfadapter eine Vielzahl von Prüfstiften auf, die ein so großes Rasterfeld abdecken, daß jeder Raster¬ punkt, unabhängig davon, ob er ein Prüf unkt ist oder nicht, mit einem Prüfstift abgetastet werden kann. Der 0 vorteil der Universal-PrüfVorrichtung gegenüber der Spezial-Prüfvorrichtung liegt auf der Hand. Er be¬ steht darin, daß auf die Lagehaltung verschiedener an die einzelnen Leiterplattentypen angepaßter Adap¬ ter verzichtet werden kann. Statt dessen kann mit einer 5 Unive sal-PrüfVorrichtung jeder beliebige Leiterplatten-

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typ ohne Wechsel des Prüfadapters geprüft werden.

Der Universal-Prüfvorriσhtung sind jedoch hinsichtlich der Größe der zu prüfenden Leiterplatten Grenzen ge- setzt, jedenfalls im Hinblick auf das bisher verwen¬ dete Konstruktionsprinzip. Dieses sieht vor, daß die Gesamheit der Prüfstifte an einer einzigen Träger¬ platte befestigt sind, die ein Rasterfeld abdeckt, wel¬ ches wenigstens so groß ist, wie die größte zu prüfende Leiterplatte. Da die Prüfstifte normalerweise federnd gelagerte Prüfspitzen aufweisen, die auf die Leiter¬ platte aufgedrückt werden oder gegen die die Leiter¬ platte gedrückt wird, ist die nur an ihren Rändern ge¬ haltene Trägerplatte einer starken Biegebelastung aus- gesetzt. Man bedenke in diesem Zusammenhang, daß mo¬ derne Universal-Prüfgerate bis zu 30.000 Prüfstifte aufweisen, von denen jeder mit seiner Prüfspitze einen Druck von ca. 100p ausübt. Damit liegt auf der Träger¬ platte eine Biegelast von etwa 3t. Durchbiegungen der . Trägerplatte führen jedoch zu Meßungenauigkeiten, da die in der Mitte der Trägerplatte gelegenen Prüfstifte weniger stark gegen die zu prüfende Leiterplatte ge¬ drückt werden als die am Rand der Trägerplatte gele¬ genen Prüfstifte. Zur Vermeidung einer Durchbiegung wurde versucht, die Trägerplatte möglichst dick zu machen, bei¬ spielsweise 20 bis 30 mm. Nachteilig ist jedoch, daß man in so dicke Trägerplatten nicht oder nur unter großen Schwierigkeiten Löcher zur Aufnahme der Prüfstifte im Ra¬ ster bohren kann. Außerdem müssen die Prüfstifte eine größere Länge haben als bei dünnen Trägerplatten, da¬ mit sie mit ihrem der Prüfspitze abgewandten Ende aus der Trägerplatte herausschauen und verdrahtet werden können. Man hat versucht, den Schwierigkeiten dadurch zu begegnen, daß man die Trägerplatte in Schichtbauweise hergestellt hat. Dies jedoch verteuert die Prüfvorrich-

tung ebenso wie die Verwendung längerer Prüfstifte. Das bisherige Konstruktionsprinzip ^' bekannter Universal- Prüfvorrichtungen sieht ferner vor, daß jeder Prüfstift mit einer als separater Schaltungsteil ausgebildeten Schaltermatrix durch eine mehr oder weniger lange Lei¬ tung verbunden wird. Die Schaltermatrix hat die Auf¬ gabe, zeitlich nacheinander jeden der Prüfstifte in einen Prüfstromweg einzuschalten. Die Herstellung der Leitungsverbindungen erfolgt bisher von Hand und kann wegen der beengten Verhältnisse nur von einer einzigen Person vorgenommen werden. Diese benötigt für die Ver- ^• drahtung bei einer Universal-Prüfvorrichtung mit 30.000 Prüfstiften etwa zwei Monate. Diese lange Montagezeit hat auch einen entsprechend hohen Preis von Universal- PrüfVorrichtungen der herkömmlichen Art zur Folge.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein neues Konstruktionsprinzip für eine Universal-Prüfvorrichtung anzugeben, mit der die vorstehend beschriebenen Nach- teile vermieden werden können.

Die Erfindung ist dadurch gelöst, daß je eine ein Teil¬ rasterfeld abdeckende Teilzahl von Prüfstiften jeweils an einem von mehreren separierbaren Moduln vorgesehen ist, der den dieser Prüfstift-Teilzahl entsprechenden Teil der Schaltmatrix enthält und mit anderen Moduln und/oder dem Steuerschaltungsteil elektrisch verbind¬ bar ist, daß der Leiterplattenauflage gegenüberliegend eine mit Führungslöchern für die Prüfstifte versehene Rasterlochplatte vorgesehen ist, auf die die Moduln aufsetzbar sind, derart, daß die- Prüfstifte die Füh- rungslδcher durchgreifen, und daß die Moduln so ge¬ formt sind, daß sie zur .Abdeckung eines der zu prüfen¬ den Leiterplatte entsprechenden Teilbereiches des ge- samten durch die Rasterlochplatte definierten Raster-

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feldes baukastenförmig zusammensetzbar sind.

Durch das Modul-Prinzip kann eine dicke Trägerplatte für die Prüfstifte entfallen. Die Rasterlochplatte, die mit der Trägerplatte vergleichbar wäre, hat keine Biegelast mehr aufzunehmen, sondern dient nur noch zur Führung der Prüfstifte. Die beim Andruck der federnd gelagerten Prüfstifte entstehende Drucklast wird von jedem der Moduln selbst aufgenommen. Wegen des block- förmigen Aufbaus eines Moduls und der begrenzten .Anzahl der an ihm vorgesehenen Prüfstifte treten keine Ver¬ formungen an ihm auf. Die Moduln können ihrerseits an ihrer der Rasterlochplatte abgewandten Seite an einem Stützteil befestigt und von diesem abgestützt sein, welches über eine dehnungsfeste Verbindung me¬ chanisch mit dem Auflageteil für die zu prüfende Lei¬ terplatte verbunden ist.

Ein weiterer Vorteil der Verwendung von Moduln besteht darin, daß diese parallel gefertigt werden können. Da¬ durch wird die Montagezeit verkürzt und der Herstellungs¬ preis der PrüfVorrichtung insgesamt verringert. Hinzu kommt, daß die Verbindungen zwischen den Prüfstiften eines Moduls und der in dem Modul enthaltenen Teil- Schaltmatrix wesentlich besser übersehen werden können und zu ihrer Realisierung moderne Schaltmittel verwend¬ bar sind als die bisher üblichen Drähte, die ein nahezu unübersichtliches Drahtgewirr ergaben. Auch diese bessere Übersichtlichkeit und die moderneren Schaltmittel verkürzen die Herstellungszeit und ver¬ ringern den Preis der Vorrichtung. Nicht zuletzt wird auch das Gewicht der Vorrichtung verringert, da die Ver¬ bindungen zwischen den Prüfstiften und der Teil-Schalt¬ matrix in einem Modul optimal kurz gemacht werden können. im Extremfall ist eine direkte Integrierung denkbar.

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Das Modul-Prinzip hat auch für den Anwender Vorteile. Wenn der Anwender mehrere Prüfvorrichtungen der vorste¬ hend beschriebenen Art hat, so genügt es, wenn er sich dazu eine begrenzte Anzahl von Moduln anschafft. Dies deshalb, weil es unwahrscheinlich ist, daß alle Vor¬ richtungen so viele Moduln benötigen, daß das gesamte durch die Rasterlochplatte definierte Rasterfeld ab¬ gedeckt ist. Der Normalfall wird vielmehr sein, daß er bei einer Prüf orrichtung nicht benötigte Moduln bei einer anderen PrüfVorrichtung einsetzen kann, deren zu prüfende Leiterplatten mehr Moduln benötigen. Mit anderen Worten, der Anwender kann die Anschaffungsko¬ sten für eine Universal-Prüfvorrichtung in von ihm bestimmten Grenzen halten, wenn er zunächst nur eine relativ geringe aber ausreichende Anzahl von Moduln bestellt. Es steht im frei, seine PrüfVorrichtung bzw. seine Prüfvorrichtungen später durch die .Anschaf¬ fung weiterer Moduln nachzurüste .

Ein weiterer wesentlicher Vorteil des Modul-Prinzips besteht darin, daß der Service vereinfacht wird. Wenn bei den herkömmlichen Maschinen ein Defekt an einem Prüfstift, der Schaltmatrix oder Verkabelung zwischen den Prüfstiften und der Schaltmatrix auftritt, so ist die PrüfVorrichtung insgesamt nicht mehr funktions¬ fähig. Nach dem neuen Konzept ist es dagegen in ein¬ facher Weise möglich, den betreffenden Modul, an dem der Defekt auftritt, gegen einen einwandfrei funktio¬ nierenden Modul auszutauschen. Der defekte Modul kann dann per Post an die Herstellerfirma zur Reparatur ge¬ schickt werden, da er leicht ist. und relativ geringe Abmessungen hat.

Hinzuweisen ist noch darauf, daß mit der erfindungs- gemäßen PrüfVorrichtung Rasterfeldgrößen abdeckbar sind.

die mit den herkömmlichen Prüfvorrichtungen nicht er¬ reichbar sind. Dies deshalb, weil die durch die Biege¬ belastung der Trägerplatte und den Verkabelungsaufwand gesetzten Grenzen nicht mehr bestehen.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnungen beschrieben.

Es zeigen:

Figur 1 eine schematisierte Seitenansicht einer Univer¬ sal-Prüfvorrichtung;

Figur 2 einen Schnitt II-II durch Figur 1 ;

Figur 3 eine Draufsicht auf die Rasterlochplatte mit fünf Moduln (in anderer .Anordnung als in Figur 2) mit einer daruntergelegenen Leiterplatte und den seitlichen Führungen;

Figur 4 e.inen Schnitt durch einen Modul parallel zu sei¬ ner Schmalseite sowie einen Schnitt durch einen Teil eines weiteren Moduls parallel zu seiner Längsseite sowie die Rasterloσhplatte, die zu prüfende Leiterplatte und den Auflageteil;

Figur 5 einen Schnitt wie Figur 4, hier jedoch unter Ver¬ wendung eines Rasteranpassungsadapters für Leiter¬ platten, deren Löcher nicht im üblichen Raster angeordnet sind;

Figur 6 einen vergrößerten Prüfköpf aus Figur 5.

Die in Figur 1 dargestellte Universal-Prüfvorrichtung ist auf einem Gestell 1 angeordnet, das einen schrägen Tisch 2 trägt. Auf der Oberseite des Tisches befinden sich ein Magazin 4 für die zu prüfenden Leiterplatten 22.

Die Leiterplatten 22 werden mittels eines Schiebers taktweise aus einem Magazin 4 herausgeschoben. Zur Be¬ tätigung des Schiebers dient ein Pneumatic-Zylinder 6.

An das Magazin 4 schließt sich ein Prüfteil 7 an. Der Prüfteil 7 weist ein Anzeigefenster 10 für die festge¬ stellten Fehler auf. Ferner ist der Prüfteil 7 mit einem Tastenfeld 11 zum Eingeben der einzelnen Betriebsfunk¬ tionen versehen. Mittels eines Handgriffes 12 ist der Prüfteil um eine parallel zur schrägen Tischebene 3 in Figur 1 nicht sichtbare Schwenkachse nach oben schwenk¬ bar.

Die geprüften Leiterplatten rutschen infolge der Schwer- kraft auf der schrägen Tischebene 3 in einen Sortierteil 8. Der Steuerung des Sortierteiles 8 wird das Prüfergeb- nis des Prüfteiles 7 mitgeteilt, so daß der Sortierteil 8 die Leiterplatten in solche, die unerwünschte Leiterbahn¬ verbindungen haben, in solche, die unerwünschte Leiter- bahnunterbrechungen haben und in solche, die gut sind, sortiert. Das Stapel der guten Leiterplatten 22 ist in dem Sortierteil 8 erkennbar.

Gemäß Figur 2 besteht der Prüfteil 7 aus einem Unterteil 15 und einem Oberteil 16, die durch ein Scharniergelenk 18 miteinander verbunden sind. Der Oberteil 16 kann, wie bereits in Zusammenhang mit Figur 1 erwähnt, durch Anheben am Händgriff 12 hochgeschwenkt werden. Mittels eines Riegels 29 sind der Unterteil 15 und der Oberteil 16 miteinander verriegelbar.

Auf dem Oberteil 16 ist mit einer weiteren Scharnierver¬ bindung 52 ein Stützteil 17 befestigt. Das Stützteil 17 ist um die Scharnierverbindung 52 gegenüber dem Oberteil 16 hochschwenkbar. Mittels eines Riegels 14 kann auch

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der Stützteil 17 mit dem Oberteil 16 verriegelt werden.

Innerhalb des Unterteiles 15 befindet sich eine Auflage¬ platte 21 für die zu prüfende Leiterplatte 22. Die Auf¬ lageplatte 21 ist mittels drei Hubzylindern 20 anheb¬ bar bzw. absenkbar. Die drei Hubzylinder 20 werden über eine Leitung 35 von einer Fluid-quelle mit Druckflüssig¬ keit oder Druckgas gespeist. In der abgesenkten Stel¬ lung fluchtet die Oberfläche der Auflageplatte 21 mit der Tischplattenoberseite 3 in Figur 1. Die Transport¬ richtung verläuft senkrecht zur Zeichnungsebene. Die auf der Auflageplatte 21 aufliegende Trägerplatte 23 wird beim Transport seitlich durch Führungen 25 begrenzt.

Oberhalb der zu prüfenden Leiterplatte 22, deren Lö¬ cher hier im üblichen Rastermaß angeordnet sind, be¬ findet sich im Oberteil 16 eine Rasterlochplatte 24 mit im ebenfalls in dem üblichen Raster angeordneten Führungslöchern 36 {siehe Figur 4) . Auf der Oberseite der Rasterlochplatte 24 sind Moduln 27 aufgesetzt, die ^* an ihren unteren Stirnseiten mit Prüfstiften 26 ver¬ sehen sind, welche die Führungslöcher 36 in der Raster¬ lochplatte 24 durchgreifen, über der zu prüfenden Lei¬ terplatte 22 befindet sich eine Folie 23 mit Löchern 39 (siehe Figur 4), die nur denjenigen Prüfstiften 26 den Durchtritt auf die Leiterplatte 22 gestatten, welche auf Prüfpunkte der Leiterplatte treffen sollen. Die Folie 23, die aus Isoliermaterial besteht, ist in Transport¬ richtung vor der zu prüfenden Leiterplatte an der Unter¬ seite der Rasterlochplatte 24 befestigt (nicht darge¬ stellt) und verbleibt ständig in der Vorrichtung. Wenn ein neuer Leiterplattentyp geprüft werden soll, muß die Folie gewechselt werden. Die Folie hat die Aufgabe, zu verhindern, daß Prüfstifte, die nicht für ausgewählte

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1 Prüf unkte der Leiterplatte bestimmt sind, zwischen zwei naheliegenden Leiterbahnen auftreffen und möglicherweise einen Kurzschluß herstellen. Ferner soll die ^" Folie ge¬ währleisten, daß die zu prüfende Leiterplatte durch Auftreffen nur der unbedingt notwendigen Zahl von Prüf- stiften mechanisch geschont wird.

Auf die seitlichen Führungen 25 treffen ebenfalls Prüf¬ stifte auf, da das durch die Prüfstifte sämtlicher Mo- duln definierte Teilrasterfeld wegen der festliegenden • Abmessungen der Moduln in der Regel größer als die Lei¬ terplatte ist. Die seitlichen Führungen 25 müssen daher aus Isoliermaterial bestehen. Sie können beispielsweise an der Auflageplatte 21 verschiebbar befestigt sein.

Da die Prüfstifte federnd gelagerte Prüfspitzen 43 (siehe Figur 4) haben und die Leiterplatte 22 mittels der Hubzylinder 20 gegen die Prüfstifte 26 gedrückt wird, besteht die Tendenz, die Moduln 27 ^' nach oben zu drücken. Um dies zu verhindern, ist das Stützteil 17 vorgesehen, das an seiner Unterseite Vorsprünge 129 aufweist, an denen sich die rückwärtigen Stirnseiten der Moduln 27 abstützen können. Da das Stützteil 17 mechanisch über die Scharnierverbindung 52 und die Verriegelung 14, das Oberteil 16 sowie die Scharnierverbindung 18 und die Ver¬ riegelung 29 mit dem Unterteil 15 verbunden ist, können sich die Moduln 27 demnach nicht unter dem Druck der Hub¬ zylinder 20 und unter der Federkraft der Prüfstifte 26 nach oben bewegen. Die Moduln 27 sind außerdem an dem Stützteil 17 befestigt, wie dies durch die Schrauben 130 angedeutet ist. Das bedeutet also, daß die Moduln 27 an dem Stützteil 17 hängen und die Rasterlochplatte 24 nicht durch ihr Gewicht auf Biegung beanspruchen.

Die Zwischenräume zwischen den Vorsprüngen 29 erlauben

es, elektrische Verbindungen 31 zwischen den Moduln 27 herzustellen. Mindestens einer der Moduln ist ferner über eine elektrische Verbindungsleitung 30 mit einem fest in dem Prüfteil vorgesehenen Steuerschaltungsteil 32 verbunden, das seinerseits über eine Leitung 34 mit dem Netz verbunden ist. Der Steuerschaltungsteil steuert die in jedem der Moduln 27 enthaltene Teil-Schalter¬ matrix. Die Teil-Schaltermatrix hat die Aufgabe, zeit¬ lich nacheinander jeden der Prüfstifte in einen Prüf- stromweg einzuschalten. Zu der in jedem Modul enthal¬ tenen Teil-Schaltermatrix kann auch eine A/D-Wandler- schaltung gehören, die die analogen PrüfStromsignale in Digitalsignale umwandelt, welche dann von dem Steuer¬ schaltungsteil 32 ausgewertet werden. Es ist aber auch möglich, daß die A/D-Umwandlung erst im Steuerschaltungs¬ teil 32 erfolgt. Der Steuerschaltungsteil 32 sorgt also dafür, daß nacheinander die Prüfstifte jedes der Moduln 27 (wobei die Moduln 27 selbst zeitlich nacheinander an die Reihe kommen) mit dem Prüfström beaufschlagt werden. Die Schaltermatrix besteht praktisch aus einer Vielzahl von Halbleiter-Schaltern, die von dem SteuerSchaltungs- teil 32 nacheinander aufgerufen werden. In dem Steuer¬ schaltungsteil 32 wird dann das analogeoder digitali¬ sierte Prüfstrom-Signal mit einem Sollwert verglichen. Eine Abweichung wird als Fehler registriert, der bei¬ spielsweise in einem Kurzschluß zwischen zwei Leiter¬ bahnen oder in der Unterbrechung einer Leiterbahn be¬ stehen kann. Der Steuerschaltungsteil 32 steuert dem¬ entsprechend über eine Leitung 33 den Sortierteil 8.

Figur 3 zeigt die Rasterlochplatte 24 von oben. Man er¬ kennt, daß sie mit einer Vielzahl von Führungslöchern 36 versehen sind, die im Rastermaß der zu prüfenden Lei¬ terplatten angeordnet sind. Die Rasterlochplatte 24 deckt ein Rasterfeld ab, das so groß ist, daß jede

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mit der PrüfVorrichtung zu prüfende Leiterplatte mit ihren Abmessungen in dieses Rasterfeld fällt. In Figur 3 ist die zu prüfende Leiterplatte 22 sehr viel kleiner als das Gesamtrasterfeld der Rasterlochplatte 24. Zur Prüfung der Leiterplatte 22 genügen fünf Moduln 27, die baukastenfδrmig so angeordnet sind, daß sie bei geringstmöglicherAnzahl die zu prüfende Rasterfläche der Leiterplatte 22 gerade abdecken.

Man erkennt in Figur 3 ferner die seitlichen Führungen 25 für die zu prüfende Leiterplatte 22. Der Abstand der seitlichen Führungen 25 ist so gewählt, daß die Leiterplatte 22 eine reproduzierbare Position unter den Moduln 27 einnimmt und das Raster der Prüfstifte 26 der Moduln 27 in Übereinstimmung ist mit dem Raster der Leiterplatte 22. Um dies zu gewährleisten, ist außerdem noch ein Anschlag 37 vorgesehen, der in Transportrichtung der zu prüfenden Leiterplatte 22 (siehe strichpunktierter Pfeil) vor der Leiterplatte angeordnet ist. Nachdem die Prüfung erfolgt ist, wird der .Anschlag 37 abgesenkt und die geprüfte Leiter¬ platte 22 kann in Richtung auf die Sortiervorrichtung 8 passieren. Die Doppelpfeile an den seitlichen Füh¬ rungen 25 sollen andeuten, daß Führungen in ^npassung an verschiedene Leiterplattentypen verstellbar sind. In Ergänzung zu Figur 2 soll an dieser Stelle noch darauf hingewiesen werden, daß die Höhe der Führungen 25 über der Auflageplatte 21 gerade gleich der Gesamt¬ höhe der zu prüfenden Leiterplatte 22 und der darauf liegenden Folie 23 sein soll.

Figur 4 zeigt links einen Teilschnitt durch einen Modul 27 mit Blick auf die Schmalseite und rechts einen weiteren Modul 27 mit Blick auf die Breitseite, wobei von letzteren nur ein Teil zu sehen ist. Die

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Prüfstifte 26 des linken Moduls 27 durchgreifen die

Führungsbohrungen 36 der Rasterlochplatte 24 und drücken mit ihren Prüfspitzen 43 entweder durch Löcher 39 in der Folie 23 auf Prüfpunkte der Leiterplatte 22 oder auf die Folie 23. Die Prüfpunkte der Leiterplatte sind in der Regel dort, wo Lötaugen sind, in deren Zentrum sich eine Bohrung 38 in der Leiterplatte 22 befindet.

Die Führungslöcher 36 in der Rasterlochplatte 24 haben einen etwas größeren Durchmesser als die Prüfstifte 26, so daß letztere ohne großen Kraftaufwand hindurch¬ gesteckt und wieder herausgezogen werden können.

Jeder Modul 27 besteht aus einem quaderförmigen lang- gestreckten Gehäuse mit breiten Seitenwänden 44 und schmalen Seitenwänden 45. Die Seitenwände sind von Metallplatten gebildet. In den schmalen Seitenwänden

45 sind Nuten 50 vorgesehen, welche im vorliegenden Fall vier gedruckte- Leiterplatten 46 eingeschoben sind. Auf die Leiterplatten sind IC-Chips 47 aufge¬ setzt und mit ^' den Leiterbahnen verlötet. Die IC-Chips haben die Funktion eines steuerbaren elektrischen Schal¬ ters. In ihrer Gesamtheit bilden die Leiterplatten

46 mit den IC-Chips 47 und ggf. weiteren Bauelementen die den Prüfstiften 26 zugeordnete Teil-Schalte.rmatrix.

Die eine Plattenoberseite jeder Leiterplatte 46 mit den darauf befindlichen Leiterbahnen 50 setzt sich in Richtung auf die Prüfstifte 26 fort. Der Endab¬ schnitt jedes flexiblen Leiterbahnträgers 49 ist mit Löchern für die Enden der Prüfstifte versehen, die mit den Leiterbahnen 50 verlötet sind. Jeder Modul 27 hat beispielsweise 16 x 32 Prüfstifte, von denen bei dem linken Modul 27 nur die eine Schmalseite mit 16 Prüf- stift-en sichtbar ist. Senkrecht zur Zeichnungsebene erstreckt sich vor bzw. hinter jedem Prüfstift 25,

fünfunddreißig weitere Prüfstifte. Jeder der Prüfstifte 26 ist mit einer der Leiterbahnen 50 verlötet.

Die Prüfstifte 26 bestehen aus einer Trägerhülse 40, in die eine Kolbenhülse 41 eingeschoben ist. In der Kolbenhülse 41 ist wiederum ein Kolbenstößel 42 mit Prüfspitze 43 verschiebbar gelagert. In der Kolben¬ hülse 41 ist (nicht sichtbar) eine Feder angeordnet, die den Kolbenstößel 42 mit Prüfspitze 43 in die End¬ position zu drücken sucht.

Die Trägerhülsen 40 sitzen in im Rastermaß der zu prüfenden Leiterplatte 22 angeordneten Bohrungen einer Trägerplatte 51. Die Trägerplatte 51 ist ihrerseits in ein Endstück 48 aus Gießharz eingebettet, welches mit seinem oberen .Abschnitt in das aus den Wänden 44, 45 gebildete Gehäuse eingeschoben ist und dessen un¬ terer Abschnitt die gleichen Außenabmessungen wie das Gehäuse hat. Sinn dieses Endstückes ist es, zu ge¬ währleisten, daß die beiden äußeren Prüfstifte 26 so nahe am Rand des Endstückes zu liegen kommen, daß bei im Baukastensystem zusammengefügten Moduln 27 im Grenzbereich kein Führungsloch 36 der Rasterloch¬ platte 24 frei bleibt. Mit anderen Worten, durch das Gießharzendstück 48 ist ein lückenloses Abdecken ei¬ nes bestimmten Teil-Rasterfeldes durch mehrere neben¬ einander angeordnete Moduln möglich. Ebenfalls dazu beitragen die flexiblen Leiterbahnträger 49, die am unteren Ende breiter sind, als im Übergangsbereich zur Oberfläche der Leiterplatten 46.

Figur 5 zeigt eine Ansicht wie Figur 4, jedoch für den Fall, daß die zu prüfende Leiterplatte 22 Löcher 38 auf¬ weist, die nicht im üblichen Rastermaß angeordnet sind.

Um die im Rastermaß angeordneten Prüfstifte 26 der Moduln 27 in Kontakt mit den Löchern 38 der Leiter¬ platte 22 zu bringen, ist hier ein Rasteranpassungs- adapter 123 dazwischengeschaltet. Dieser weist Ver- bin ungsstifte 140 auf, die schräg verlaufen können.

Diese haben oben einen balligen, vorzugsweise kuge¬ ligen Kopf 139 und unten eine Spitze 141, die mit den Löchern 38 der Leiterplatte 22 bzw. dem Leitermaterial, das die Löcher umgibt, in Kontakt ist. Die Prüfstifte 26 der Moduln 27 haben hier Prüfköpfe 143, die eine kalottenförmige oder hohlkegelförmige Ausnehmung auf¬ weisen, in welche ein balliger Kopf 139 eines Prüf¬ stiftes 140 eingreifen kann. Dies ist vergrößert in Fi¬ gur 6 dargestellt.