Login| Sign Up| Help| Contact|

Patent Searching and Data


Title:
X-RAY RADIATION DETECTION MATRIX PRODUCTION METHOD
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2014/200385
Kind Code:
A1
Abstract:
The invention relates to semiconductor technology and can be used in the production of detectors of various lengths of electromagnetic radiation. The essence of the proposed method consists in applying a layer of semiconductor material of a required thickness to a non-conductive ceramic, glass or polymer plate. Said plate is then cut into strips of a required width, the strips are connected, forming a layered plane in which strips of ceramic, glass or polymer alternate with strips of semiconductor material, the resulting plane is then cut into strips which are perpendicular to the initial strips of ceramic, glass or polymer and semiconductor material; strips of ceramic, glass or polymer are inserted into the places where the cuts were made and all of the strips are connected to one another. A common potential electrode is connected to one side of the resulting matrix surface, and on the other side, individual electrodes are installed on each of the semiconductor cells of the matrix. The proposed x-ray radiation detection matrix production method is high-tech and allows for obtaining detection matrices of a required size having detection cells of a specified dimension.

Inventors:
GALASHOV EVGENIJ NIKOLAEVICH (RU)
MANDRIK EGOR MIKHAJLOVICH (RU)
Application Number:
PCT/RU2013/000737
Publication Date:
December 18, 2014
Filing Date:
August 22, 2013
Export Citation:
Click for automatic bibliography generation   Help
Assignee:
GALASHOV EVGENIJ NIKOLAEVICH (RU)
MANDRIK EGOR MIKHAJLOVICH (RU)
International Classes:
H01L31/18; H01L21/304
Domestic Patent References:
WO2010004453A22010-01-14
Foreign References:
RU2445647C22012-03-20
RU2123710C11998-12-20
RU2011125336A2012-12-27
Attorney, Agent or Firm:
SHEKHTMAN, Ekaterina L'vovna (RU)
ШЕХТМАН, Екатерина Львовна (RU)
Download PDF:
Claims:
Формула

1. Способ изготовления детектирующей матрицы рент- геновс ого излучения, отличающийс тем, что производят нане- сение слоя полупроводникового материала требуемой толщины на керамическую, стеклянную или полимерную непроводящую пластину, затем разрезают данную пластину на полосы требуе- мой ширины и соединяют полученные полосы с образованием слоистой плоскости, в которой чередуются полосы керамики, стекла или полимера и полосы полупроводникового материала, далее разрезают полученную плоскость на полосы в направле- нии, перпендикулярном расположению первоначальных полос керамики, стекла или полимера и полупроводникового материа- ла, вставляют в места разрезов полосы керамики, стекла или по- лимера и снова соединяют все полосы между собой, к получен- ной матричной поверхности с одной стороны присоединяют об- щий потенциальный электрод, а с другой с тороны производят монтаж индивидуальных электродов к каждой из полупроводни- ковых ячеек матрицы.

2. Способ изготовления детектирующей матрицы рент- геновского излучения, отличающийся тем, что производят нарезку керамических, стеклянных или полимерных непроводя- щих полос необходимой длины, толщины и ширины, затем через расстояния, равные линейному размеру детектирующей ячейки, вырезают в них пазы глубиной, равной половине ширины поло- сы и толщиной, равной толщине полосы, после чего на поверх- ности металлической пластины, являющейс общим: потен ци- альным электродом, выполняют углубления в виде сетки буду- щей матрицы, в данных углублениях собирают и закрепляют каркас матрицы из керамических, стеклянных или полимерных полос пазами навстречу, ячейки получившейся матрицы запол- няют требуемым полупроводниковым веществом (например, в виде порошка), после чего производят его спекание в ячейках, а затем производят монтаж индивидуальных электродов ячеек матрицы со стороны поверхности, противоположной общему по- те н ци ал ь но му э л е ктро ду .

Description:
Способ изготовления детектирующей матрицы рентгеновского излучения

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано в производстве детекторов электро- магнитных излучений различной длины.

Известны способы изготовления полупроводниковых де- текторов, включающие окисление кремниевой подложки п-типа проводимости, травление окисного слоя с лицевой стороны под- ложки в рабочей области и с ее обратной стороны, формирова- ние р+-п-перехода с рабочей стороны подложки, создание кон- тактов напылением в вакууме и последующее вытравливание окисленного слоя с обратной стороны подложки в рабочей обла- сти и травление подложки в этой же области для ее утончения, а после формирования сильнолегированного слоя п+-типа прово- димости, вытравливание окисного слоя с лицевой стороны под- ложки в рабочей области и формирование диффузией р+-п- перехода (см., например, патенты R.U Ν» .1371475, МП К H01L31/08, опубл. 15.05.1994; RU J «2378738, МПК H01L21/02, опубл. 10.01 .2010).

Основными недостатками существующих способов изго- товления детекторов излучений являются ограниченность разме- ров площади детектирования, связанная с возможными размера- ми полупроводниковых пластин, а также технологическая слож- ность и дороговизна их изготовления. Задачей заявляемого технического решения является раз- работка высокотехнологичного способа изготовления детекти- рующей матрицы рентгеновского излучения, позволяющего по- лучать матрицу произвольных размеров.

Технический результат изобретения заключается в воз- можиости технологичного изготовления детектирующих матриц любого необходимого размера.

Технический результат по первому варианту достигается за счет того, что в способе изготовления детектирующей матри- цы рентгеновского излучения производят нанесение слоя полу- проводникового материала требуемой толщины на керамиче- скую, стеклянную или полимерную непроводящую пластину, за- тем разрезают данную пластину на полосы требуемой ширины и соединяют полученные полосы с образованием слоистой плос- кости, в которой чередуются полосы керамики, стекла или поли- мера и полосы полупроводникового материала, далее разрезают полученную плоскость на полосы в направлении, перпендику- лярном расположению первоначальных полос керамики, стекла или полимера и полупроводникового материала, вставляют в ме- ста разрезов полосы керамики, стекла или полимера и снова со- единяют все полосы между собой, к полученной матричной по- верхности с одной стороны присоединяют общий потенциал ь~ ный электрод, а с другой стороны производят монтаж индивиду- альных электродов к каждой из полупроводниковых ячеек мат- рицы. Технический результат по второму варианту достигается за счет того, что в способе изготовления детектирующей матри- цы рентгеновского излучения производят нарезку керамических, стеклянных или полимерных непроводящих полос необходимой длины, толщины и ширины, зате через расстояния, равные ли- нейному размеру детектирующей ячейки, вырезают в них пазы глубиной, равной половине ширины полосы и толщиной, равной толщине полосы, после чего на поверхности металлической пла- стины, являющейся общим по тенциальным электродом:, вы пол - няют углубления в виде сетки будущей матрицы, в данных углублениях собирают и закрепляют каркас матрицы из керами- чес и , стеклянных или полимерных полос пазами навстречу, ячейки получившейся матрицы заполняют требуемым полупро- водниковым веществом (например, в виде порошка), после чего производят его спекание в ячейках, а затем производят монтаж индивидуальных электродов ячеек матрицы со стороны поверх - ности, противоположной общему потенциальному электроду.

Техническая сущность предлагаемого изобретения иллю- стрируется рисунком, на котором изображена полученная в со- ответствии с заявляемыми способами детектирующая матрица, содержащая ячейки 1 заполненные полупроводниковым матери- алом и керамические, стеклянные или полимерные изоляцион- ные перегородки 2, общий потенциальный электрод 3 и индиви- дуальные электроды 4, Изготовление детектирующей матрицы рентгеновского излучения в соответствии с первым вариантом изобретения про- изводят следующим образом.

На керамическую, стеклянную или полимерную непро- водящую пластину заданной толщины (например, 30 мкм) про- изводят нанесение полупроводникового слоя (например, BiB, HgI2, PbI2, CdZnTe, GaAs, Ge, Se). При этом толщину слоя напыления выбирают в соответствии с линейными размерами детектирующих ячеек. Так, если хотят получить детектирующие ячейки с размерами 50*50 мкм, то наносят слой соответствую- щей толщины. Далее полученную двухслойную пластину разре- зают на полосы заданной ширины. Ширина полос соответствует глубине детектирующих ячеек. I крученные после разрезания полосы соединяют между собой (склеивают, спекают и т.п.) та- ким образом, чтобы слои полупроводникового и изоляционного (керамики, стекла, полимера) материалов чередовались. В ре- зультате получают пластину, состоящую из попеременно распо- ложенных полос изолятора и полупроводника. Полученную пла- стину разрезают на части в направлении, перпендикулярном расположению изначальных полос изолятора и полупроводника, вставляют в места разрезов полосы изолятора (керамики, стекла, полимера), имеющие такие же геометрические размеры (длину, ширину и высоту), что и изначальные полосы изолятора, а затем снова соединяют (склеивают, спекают) все элементы между со- бой. После всех вышеперечисленных действий получают пла- стину, представляющую собой матрицу с ячейками 1 из полу- проводникового материала и изоляционными перегородками 2 из керамики, стекла или полимера. С одной стороны к пластине присоединяют общий потенциальный электрод 3 (например, ме- таллическую пластину), а с другой стороны - к каждой полупро- водниковой ячейке присоединяют индивидуальные электроды 4.

Изготовление детектирующей матрицы рентгеновского излучения в соответствии со вторым вариантом изобретения производят следующим образом.

Керамическую, стеклянную или полимерную непроводя- щую пластину заданной толщины (например, 30 мкм) разрезают на полосы определенной ширины. Ширина полос соответствует глубине детектирующих ячеек. В нарезанных полосах через рас- стояния, равные линейному размеру детектирующей ячейки (например, 50 мкм), вырезают пазы глубиной, равной половине ширины полосы: и толщиной, равной толщине полосы. Затем на металлической пластине, являющейся общим потенциальным электродом 3, размечают и выполняют углубления под изоляци- онные перегородки 2 будущей матрицы, в углубления устанав- ливают собранный из керамических, стеклянных или полимер- ных полос, вставленных друг в друга пазами навстречу, каркас матрицы. В ячейках матрицы 1 производят одновременное вы- ращивание полупроводниковых монокристаллов, либо ячейки заполняют расплавом или порошком полупроводникового мате- риала, после чего производят его спекание и, одновременно, со- единение с общим потенциальным электродом 3 и изоляцион- ными стенками матрицы 2, нагревая до необходимой температу- ры, а затем производят монтаж индивидуальных электродов 4 в каждой ячейке матрицы со стороны поверхности матрицы, про- тивоположной общему потенциальному электроду.

Предлагаемый способ изготовления детектирующей мат- рицы рентгеновского излучения является высокотехнологичным и позволяет получать детектирующие матрицы необходимых размеров с заданными размерами детектирующих ячеек.