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Title:
高速且つ自動化された超音波プローブ校正のためのシステム及び方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2020501769
Kind Code:
A
Abstract:
関連する超音波プローブの電磁(EM)追跡を校正するための装置であって、EM符号化空間内にEM場を生成するように構成された場発生器を含むEM追跡装置と、超音波プローブ上に配置されたEMセンサと、校正針と、校正針上に配置されたEMセンサと、少なくとも1つのプロセッサと、少なくとも1つのプロセッサによって読み取り可能で実行可能な命令を記憶する非一時的記憶媒体であって、超音波プローブを使用して測定時間における超音波画像形成空間における校正針の位置を決定することと、校正針上に配置されたEMセンサのEM追跡装置によるEM追跡から測定時間における校正針のEM追跡位置を決定することと、測定時間における超音波画像形成空間における校正針の位置と、測定時間における校正針のEM追跡位置とを関連付ける位置合わせを生成することと、を含むEM追跡校正方法を実行するための非一時的記憶媒体を含む。[選択図] 図1

Inventors:
バーラト,シャム
ボニラス ヴァカ,アントニオ
Application Number:
JP2019533382A
Publication Date:
January 23, 2020
Filing Date:
December 18, 2017
Export Citation:
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Assignee:
KONINKLIJKE PHILIPS N.V.
International Classes:
A61B8/00
Attorney, Agent or Firm:
伊東 忠重
伊東 忠彦
大貫 進介