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Title:
外れ値要因推定支援装置、外れ値要因推定支援方法及び外れ値要因推定支援プログラム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP6719612
Kind Code:
B1
Abstract:
【課題】外れ値の要因を容易に推測することを課題とする。【解決手段】過去における外れ値が生じた要因と、その要因が生じた際の基礎統計量、距離が、対応付けられて格納されている過去統計データ122、計測値等が格納されている計測データ121を保持され、計測データ121を構成するデータは、一方は同種のデータで構成される変数に対応付けられ、他方ではレコードに対応付けられており、所定の外れ値を指定する入力装置132と、計測データ121において、指定された外れ値と同一のレコードに属すデータについてマハラノビス距離を算出する距離算出処理部111と、マハラノビス距離に基づいて、変数のランキングを算出し、変数における基礎統計量と、過去統計データ122に格納されている基礎統計量とを比較することで、要因を推定し、変数のランキングと、要因とを表示するランキング表示処理部112と、を有することを特徴とする。【選択図】図1

Inventors:
Tomohiro Yoneda
Kenkichi Kato
Shota Yamane
Application Number:
JP2019053875A
Publication Date:
July 08, 2020
Filing Date:
March 20, 2019
Export Citation:
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Assignee:
Hitachi Industrial Control Solutions Co., Ltd.
International Classes:
G05B23/02; G06F17/18; G06Q10/04; G06Q50/08
Domestic Patent References:
JP2011253489A
JP201572515A
JP20193389A
JP200538256A
JP2009258890A
JP201916209A
Foreign References:
WO2017109903A1
Attorney, Agent or Firm:
Isono International Patent and Trademark Office



 
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