Title:
電子部品品質の測定に用いられる自動抜取検査システム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP6784876
Kind Code:
B1
Abstract:
【課題】本発明は電子部品品質の測定に用いられる自動抜取検査抜取検査システムを開示した。【解決手段】ボディを含み、前記ボディの中には輸送チャンバが設置され、前記輸送チャンバの中には輸送装置が設置され、前記輸送装置には電子部品が輸送されており、前記輸送チャンバの前側には抜取検査装置が設置され、前記抜取検査装置は第一計数器を含み、前記輸送チャンバの後側には測定チャンバが連通するように設置され、本発明の電子部品の抜取検査システムはランダムに自動的に電子部品の品質を素早く測定し、測定した部品の不合格品を単独に収集し、合格の電子部品が輸送ベルトに輸送され、他の電子部品と一緒に次の工程の操作を受け、また、品質の抜取検査の過程において自動的に計数でき、抜取検査の数と合格品の数とによって同じロットの製品の合格率を得られる。【選択図】図１
Inventors:
Chen Jiali
Application Number:
JP2019140040A
Publication Date:
November 18, 2020
Filing Date:
July 30, 2019
Export Citation:
Assignee:
Jinan Shen Coat Co., Ltd.
International Classes:
B07C5/344
Domestic Patent References:
| JP1143907A | ||||
| JP62192671A | ||||
| JP2007069061A |
Attorney, Agent or Firm:
Zhou Shiwen