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Title:
Ｘ線分析補助装置及びＸ線分析装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2018179744
Kind Code:
A1
Abstract:
本発明のＸ線分析補助装置は、試料Ｓと２次元検出器２との間の距離Ｌ又は試料Ｓで散乱又は回折するＸ線の検出最大範囲Ｘｍａｘの一方を任意に入力して設定するための入力・操作装置２４と、入力・操作装置２４により設定された一方の設定項目の値に基づいて、他方の設定項目を自動的に設定する中央処理装置２０とを備える。そして、上記距離Ｌと検出最大範囲Ｘｍａｘに基づいて、Ｘ線の最大測定枠Ｈｍａｘを表示装置２１の表示画面２２に表示する。さらに、２次元検出器２の検出面がＸ線を検出可能な範囲をあらわすＸ線検出領域Ａも表示装置２１の表示画面２２に表示する。

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Inventors:
Taniguchi Yayoi
Morikawa Keiichi
Application Number:
JP2019508623A
Publication Date:
February 06, 2020
Filing Date:
January 25, 2018
Export Citation:
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Assignee:
Rigaku Corporation
International Classes:
G01N23/201; G01N23/205
Domestic Patent References:
JP2004209152A2004-07-29
JP2013214467A2013-10-17
JPH0674923A1994-03-18
JP2008002966A2008-01-10
JPH08101204A1996-04-16
JP2013137297A2013-07-11
JP2016126823A2016-07-11
JP2017032521A2017-02-09
Attorney, Agent or Firm:
Toshitake Yamamoto



 
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