Title:
産業生産ラインで品質管理を操作するための装置、対応する方法及びコンピュータプログラム製品
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2022527633
Kind Code:
A
Abstract:
それぞれ１またはそれ以上の測定信号を供給する産業生産ライン（１０）の製品サンプル（Ｃ）の特性の測定のための１またはそれ以上の装置（３０，４０，５０）を備える、産業生産ライン（１０）の品質管理を実行する装置（２０）であって、装置（２０）は、１またはそれ以上の測定信号を処理し、製品サンプル（Ｃ）の特性を得るように構成された処理モジュールを備え、品質管理は、製品サンプル（Ｃ）の特性の関数として実行され、製品サンプル（Ｃ）の特性の測定のための１またはそれ以上の装置（３０，４０，５０）は、－測定環境の製品サンプル（Ｃ）に向かって第１のＸ線ビーム（ＸＢ，ＸＢＣ）を放出するＸ線源（３３１）と、製品サンプル（Ｃ）によって散乱される第２のＸ線ビーム（ＸＢＲ）を受け入れ、それぞれ１またはそれ以上の測定信号のセット内に供給される第１の受信信号を発生するように構成された粒子検出器（３３５）とを備える蛍光Ｘ線装置（３０）を備える。装置（２０）は、さらに製品サンプル（Ｃ）に向かって第１の光放射ビームを放出する、近赤外（ＮＩＲ）（４０）で動作する放射源と、製品サンプル（Ｃ）によって散乱される第２の光放射ビームを受け入れ、それぞれ１またはそれ以上の測定信号のセット内に供給される第２の受信信号を発生するための光学センサを備える好ましくは近赤外（４０）で動作する光学分光装置を備える。【選択図】図２
Inventors:
Pitta, Giuseppe
La Rosa, Vanessa
La Rosa, Vanessa
Application Number:
JP2021560277A
Publication Date:
June 02, 2022
Filing Date:
March 23, 2020
Export Citation:
Assignee:
DE.TEC.TOR S.R.L.
International Classes:
G01N23/223; G01N21/27; G01N21/35
Attorney, Agent or Firm:
Yamato Kento
Yasuo Yanagibashi
Takuji Yamada
Yasuo Yanagibashi
Takuji Yamada