Title:
検査方法、検査装置、及び検査システム
Document Type and Number:
Japanese Patent JP6578522
Kind Code:
B1
Abstract:
【課題】雰囲気温度の変動等を含む外部環境の変動に対応可能であり、ユーザの利便性が向上する検査方法を提供する。【解決手段】本発明の一実施形態に係る検査方法は、充填装置１０により内容物が包装袋に充填されて得られる包装体２のシール部の状態を検査する検査方法であって、電磁波を照射してシール部を含む第１領域Ａ１と、包装体２が含まれていない第２領域Ａ２とを含む照射領域Ａの画像を取得するステップと、取得された画像における画素値を取得するステップと、第２領域Ａ２及びシール部それぞれにおける画素値に基づく閾値に関する情報と、シール部における画素値に関する情報とに基づいてシール部の状態の良否を判定するステップと、を含む。【選択図】図６
Inventors:
Koichi Arai
Takeshi Kobayashi
Hironori Dobashi
Ryoichi Motoda
Hiroyuki Takahashi
Takeshi Kobayashi
Hironori Dobashi
Ryoichi Motoda
Hiroyuki Takahashi
Application Number:
JP2018182899A
Publication Date:
September 25, 2019
Filing Date:
September 27, 2018
Export Citation:
Assignee:
Taisei Lamick Co., Ltd.
Science Energy Co., Ltd.
Science Energy Co., Ltd.
International Classes:
G01N23/04; B65B57/00; B65B57/02; G01N21/90; G01N23/16; G01N23/18
Domestic Patent References:
| JP2018503084A | ||||
| JP2017519198A | ||||
| JP2015155831A | ||||
| JP201670780A | ||||
| JP2007333562A | ||||
| JP2006300887A |
Attorney, Agent or Firm:
Kenji Sugimura
Mitsutsugu Sugimura
Hidetoshi Kohara
Hashimoto Daisuke
Mitsutsugu Sugimura
Hidetoshi Kohara
Hashimoto Daisuke