Title:
ヘッド試験装置およびヘッド試験解析システム
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2007116472
Kind Code:
A1
Abstract:
ヘッドが記録媒体にアクセスする際に出力するアクセス信号を外部装置に適切かつ容易に取り込ませる。磁気ヘッドが搭載される搭載部１３０と、搭載部１３０に搭載された磁気ヘッドに試験用アクセスを実行させるヘッド操作部１５１１と、試験用アクセスの際に磁気ヘッドが出力する試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号が所定基準を満たしているか否かを判定することでその磁気ヘッドを試験する試験部１５１２と、試験用アクセス信号を入手し、その入手した試験用アクセス信号をこのヘッド試験装置の外部に出力する信号出力部１５１３と、信号出力部１５１３が出力した試験用アクセス信号がこのヘッド試験装置の外部で試験用アクセスに同期して取り込まれるのに使用される基準信号を出力する基準出力部１５２１とを備えた。
Inventors:
Tetsuya Mura
Eiji Takada
Eiji Takada
Application Number:
JP2008509623A
Publication Date:
August 20, 2009
Filing Date:
March 31, 2006
Export Citation:
Assignee:
富士通株式会社
International Classes:
G01M99/00; G11B5/455
Domestic Patent References:
| JP2001176002A | 2001-06-29 | |||
| JP2004145986A | 2004-05-20 | |||
| JP2001291218A | 2001-10-19 | |||
| JPS63205503A | 1988-08-25 | |||
| JPH1069617A | 1998-03-10 |
Attorney, Agent or Firm:
Masaki Yamada
Mikami Yui
Mikami Yui
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