Title:
周波数測定装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2008114328
Kind Code:
A1
Abstract:
電圧回転ベクトルの振幅、弦長及び回転位相角を積分手法で求め、更に回転位相角変化率及び回転ベクトル回転加速度変化率を求め、１ステップずつ周波数変化率を判別することにより、動的周波数を測定するようにした周波数測定装置に関する。
Inventors:
Kenpei Seki
Application Number:
JP2009504919A
Publication Date:
June 24, 2010
Filing Date:
February 19, 2007
Export Citation:
Assignee:
Mitsubishi Electric Corporation
International Classes:
G01R23/02
Attorney, Agent or Firm:
Masuo Oiwa
Toshihide Kodama
Takenaka Ikuo
Keigo Murakami
Toshihide Kodama
Takenaka Ikuo
Keigo Murakami