Login| Sign Up| Help| Contact|

Patent Searching and Data


Title:
細胞観察装置および細胞観察方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2011132587
Kind Code:
A1
Abstract:
反射干渉計測用光源１０６と、定量位相計測用光源１０５と、反射干渉計測用光源１０６から放射され細胞１０１から反射される光を撮像することにより、反射干渉画像を生成する反射干渉検出用カメラ１１０と、定量位相計測用光源１０５から放射され細胞１０１を透過する光を撮像することにより、定量位相画像を生成する定量位相検出用カメラ１１２と、反射干渉画像と定量位相画像との間で、空間的な位置を一致させることにより、両画像の位置合わせを行う画像位置合わせ部２０１と、定量位相画像との間で位置合わせが行われた反射干渉画像より、第１パラメータを抽出する第１抽出部２０４と、反射干渉画像との間で位置合わせが行われた定量位相画像より、第２パラメータを抽出する第２抽出部２０５と、を備える。

Inventors:
Norikazu Sugiyama
Takuji Kataoka
Takahiro Ikeda
Application Number:
JP2012511626A
Publication Date:
July 18, 2013
Filing Date:
April 13, 2011
Export Citation:
Click for automatic bibliography generation   Help
Assignee:
Hamamatsu Photonics Co., Ltd.
International Classes:
C12M1/34; C12Q1/02; G01B11/24
Domestic Patent References:
JP2003098439A2003-04-03
JP2007509314A2007-04-12
JP2004529360A2004-09-24
JP2007524075A2007-08-23
JP2005326495A2005-11-24
JP2007108448A2007-04-26
Foreign References:
US5162990A1992-11-10
WO2009050886A12009-04-23
Other References:
CYTOMETRY, vol. 28, 4, JPN7015000715, 1997, pages 298 - 304, ISSN: 0003033137
Attorney, Agent or Firm:
Yoshiki Hasegawa
Yoshiki Kuroki
Satoru Ishida



 
Previous Patent: 細胞観察装置および細胞観察方法

Next Patent: SPUTTERING TARGET FOR DEPOSITING HIGH REFRACTIVE INDEX FILM