Title:
質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析データ処理プログラム
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2015079529
Kind Code:
A1
Abstract:
本発明の質量分析方法は、イオンを開裂させるコリジョンセル（２３２）を挟んで前後に質量分離部（２３１）（２３４）を有する質量分析装置（２）を用いる。試料に対して設定されたプリカーサイオンについてプロダクトイオンスキャンを行うことによって該プリカーサイオンに対応するプロダクトイオンを選出する際に、使用者により入力される非選出イオンに関する情報に基づいて質量電荷比の除外範囲を設定し、プロダクトイオンスペクトルの中から、前記除外範囲を除いた質量電荷比の範囲内で、予め決められた基準を満たすプロダクトイオンを選出する。本発明の質量分析方法によると、目的化合物の測定に適したプロダクトイオンを選出することができる。
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Inventors:
Yuko Kobayashi
Yasuo Ogura
Yasuo Ogura
Application Number:
JP2015550263A
Publication Date:
March 16, 2017
Filing Date:
November 28, 2013
Export Citation:
Assignee:
SHIMADZU CORPORATION
International Classes:
G01N27/62; H01J49/26; H01J49/42
Domestic Patent References:
| JP2012002544A | 2012-01-05 | |||
| JP2013224858A | 2013-10-31 | |||
| JP2006308600A | 2006-11-09 | |||
| JP2012098276A | 2012-05-24 |
Foreign References:
| US20080021687A1 | 2008-01-24 | |||
| WO2002025265A1 | 2002-03-28 |
Attorney, Agent or Firm:
Kyoto International Patent Office